崔春娟,張 軍,吳 昆,鄒德寧,劉 林,傅恒志
(1西安建筑科技大學(xué) 冶金工程學(xué)院,西安710055;2西北工業(yè)大學(xué) 凝固技術(shù)國家重點(diǎn)實(shí)驗(yàn)室,西安710072)
凝固速率對Si-Ta合金固液界面穩(wěn)定性的影響
崔春娟1,2,張 軍2,吳 昆1,鄒德寧1,劉 林2,傅恒志2
(1西安建筑科技大學(xué) 冶金工程學(xué)院,西安710055;2西北工業(yè)大學(xué) 凝固技術(shù)國家重點(diǎn)實(shí)驗(yàn)室,西安710072)
以Si-Ta合金為研究對象,采用零功率法研究凝固速率對定向凝固固液界面穩(wěn)定性的影響。結(jié)果表明:當(dāng)凝固速率在0.3~9.0mm/min范圍內(nèi),隨著凝固速率的增大,固液界面經(jīng)歷了平界面→淺胞狀界面→鋸齒狀界面→淺胞狀界面→平界面的演化規(guī)律。在較低的凝固速率范圍之內(nèi),實(shí)驗(yàn)結(jié)果與理論計(jì)算基本吻合。然而,在較高凝固速率時(shí),實(shí)驗(yàn)結(jié)果與理論計(jì)算出現(xiàn)偏差,這是由于熱力學(xué)和動(dòng)力學(xué)均發(fā)生變化,使得在凝固速率V=5.0mm/min時(shí)固液界面就已經(jīng)達(dá)到了穩(wěn)定的平界面。
定向凝固;電子束懸浮區(qū)熔;凝固速率;固液界面
對于合金的凝固過程,界面形態(tài)的產(chǎn)生和演化伴隨著熱量、質(zhì)量和動(dòng)量的傳輸過程,而且正是這三種傳輸過程相互耦合決定著凝固界面的形態(tài)。研究界面形態(tài)和組織演化是凝固的核心問題。對凝固過程的界面形態(tài)和穩(wěn)定性進(jìn)行系統(tǒng)的實(shí)驗(yàn)和研究,不僅能夠發(fā)展和完善凝固理論,而且對獲得優(yōu)良組織和性能所需的凝固技術(shù)都有重要的指導(dǎo)作用。在共晶凝固過程中,固液界面對凝固組織的選擇與演化起著決定性的影響。界面結(jié)構(gòu)決定了晶體的生長機(jī)制,而不同的生長機(jī)制表現(xiàn)出不同的動(dòng)力學(xué)規(guī)律。因此界面結(jié)構(gòu)對生長動(dòng)力學(xué)的影響比生長系統(tǒng)的類型對動(dòng)力學(xué)的影響更本質(zhì)。
共晶生長穩(wěn)定性應(yīng)該是兩相共生共長體系的穩(wěn)定性。生長界面的穩(wěn)定性分析對定向復(fù)合生長的意義尤為顯著。共晶合金固液界面的穩(wěn)定性與單相合金的情況有所不同。對于純二元共晶合金,在定向凝固情況下,生長著的相鄰兩相前沿液相成分的差異引起原子側(cè)向擴(kuò)散比較容易,溶質(zhì)富集程度遠(yuǎn)較單相合金小,成分過冷也小。但在非規(guī)則共晶組織中,由于非小平面相和小平面相長大機(jī)制不同,晶體長大所需的動(dòng)力學(xué)過冷度有較大差異,因此可以定性地理解維持平界面所需的熔體內(nèi)的溫度梯度GL與凝固速率V的比值(GL/V)應(yīng)更大些。在實(shí)際的定向共晶復(fù)合體的研究和生產(chǎn)中,界面前GL/V值是其保持穩(wěn)定態(tài)生長的基本判據(jù),也是對定向凝固工藝的直接要求。對于Si-Ta合金而言,Si相和TaSi2相都有高的熔化熵ΔSf,ΔSfSi約為27.63J/K·mol[1],ΔSfTaSi2約為19.88J/K·mol[2],兩相的ΔSf/R>2(R是氣體常數(shù))。根據(jù)經(jīng)典共晶凝固理論,Si-Ta合金的定向凝固組織應(yīng)該為小平面-小平面共晶。然而,由于在凝固過程中采用了高溫度梯度(GL=350~500K/cm)的電子束懸浮區(qū)熔定向凝固技術(shù),以及較高的凝固速率(V=0.3~9.0mm/min),凝固過程中的熱力學(xué)和動(dòng)力學(xué)均發(fā)生了較大的變化。盡管具有高的熔化熵,Si-TaSi2共晶在凝固速率V=0.3~9.0mm/min時(shí)為棒狀共晶組織[3],其固液界面演化規(guī)律決定了凝固組織形態(tài)及晶體生長方式。
低速的界面形態(tài)和高速的絕對穩(wěn)定性界面已經(jīng)有大量的較深入的研究[4-6],而高熔化熵的材料在亞快速凝固過程中由于熱力學(xué)和動(dòng)力學(xué)均發(fā)生變化,比較復(fù)雜,對其界面演化規(guī)律的研究較少,并且該階段的特殊組織有可能獲得性能優(yōu)異的合金,在實(shí)際生產(chǎn)中可節(jié)約大量的成本。本工作以Si-Ta共晶合金為研究對象,以Chalmers“成分過冷”理論及 Mullins和Sekerka的界面穩(wěn)定性理論為理論依據(jù),研究了凝固速率對定向凝固固液界面穩(wěn)定性的影響。
實(shí)驗(yàn)用母合金是由Czochralski法熔配的Si-6%(質(zhì)量分?jǐn)?shù))Ta合金的穩(wěn)態(tài)生長部分切制而成的,試棒尺寸是6mm×6mm×30mm,在ESZ1.5型電子束懸浮區(qū)熔(EBFZM)設(shè)備上定向凝固試棒,在定向凝固進(jìn)行到穩(wěn)態(tài)的時(shí)候,瞬時(shí)切斷發(fā)射電流和加速電壓,并把陰極速率調(diào)為零,采用零功率法獲取固液界面。定向凝固的試樣經(jīng)常規(guī)金相技術(shù)處理,采用HNO3/HF緩沖溶液侵蝕,然后采用HITACHI S-570掃描電鏡觀察凝固組織特征和固液界面形態(tài)。
圖1 不同凝固速率的固液界面形貌(a)V=0.3mm/min;(b)V=1.0mm/min;(c)V=2.0mm/min;(d)V=4.0mm/min;(e)V=5.0mm/min;(f)V=9.0mm/minFig.1 Microstructure of the solid-liquid interface at different solidification rates(a)V=0.3mm/min;(b)V=1.0mm/min;(c)V=2.0mm/min;(d)V=4.0mm/min;(e)V=5.0mm/min;(f)V=9.0mm/min
通過對Si-Ta合金的固液界面演化規(guī)律的研究發(fā)現(xiàn),凝固速率對固液界面形貌起著很重要的影響作用。凝固速率的變化引起溶質(zhì)再分配,凝固界面前沿的溶質(zhì)濃度發(fā)生變化,從而引起界面前沿的濃度場、溫度場發(fā)生變化,造成凝固界面前沿以不同形態(tài)呈現(xiàn)。當(dāng)凝固速率在0.3~9.0mm/min范圍內(nèi)變化時(shí),其固液界面形貌如圖1所示,其中凝固組織生長方向從下而上。從圖1(a)可知,凝固速率為0.3mm/min時(shí)合金的凝固界面形態(tài)為平界面,而圖1(b)中當(dāng)V=1.0mm/min時(shí)界面已不是嚴(yán)格的平界面形態(tài),表現(xiàn)為淺胞狀界面形態(tài)。當(dāng)凝固速率增加到V=2.0mm/min時(shí)(圖1(c)),固液界面發(fā)展為規(guī)則排列的鋸齒,典型的胞狀界面就形成了。而隨著凝固速率的增大,當(dāng)V=4.0mm/min時(shí)固液界面轉(zhuǎn)化為淺胞狀界面(圖1(d))。當(dāng)V≥5.0mm/min時(shí),界面又恢復(fù)為平界面,如圖1(e)所示,當(dāng)凝固速率進(jìn)一步增大,當(dāng)V=9.0mm/min時(shí)固液界面仍然是穩(wěn)定的平界面。說明隨定向凝固速率的增加,合金凝固界面形態(tài)從平界面逐漸轉(zhuǎn)變?yōu)闇\胞狀界面→胞狀界面→淺胞狀界面,最終演化為穩(wěn)定的平界面。
電子束懸浮區(qū)熔定向凝固,實(shí)際上是大量電子轟擊加熱材料表面,由電能轉(zhuǎn)化為動(dòng)能,再由動(dòng)能轉(zhuǎn)化為熱能,使試樣在一個(gè)狹窄的區(qū)域內(nèi)熔化,熔區(qū)依靠表面張力與自身的質(zhì)量平衡并保持一定的形狀,同時(shí)電子槍以一定的速率向上移動(dòng),從而使試樣實(shí)現(xiàn)自下而上的定向凝固。由于加熱功率與熔區(qū)長度及凝固速率均有一定的關(guān)系。隨著凝固速率的增大,為了保證試樣能夠充分地熔化,就需要相當(dāng)大的過熱度,于是就要適當(dāng)?shù)卦龃蠹訜峁β?,與此同時(shí),熔區(qū)相應(yīng)地變長。劉艷紅的計(jì)算[7]表明:在較低的凝固速率范圍內(nèi),由于增大加熱功率而引起的溫度梯度的增大量與由于熔區(qū)變長而導(dǎo)致的溫度梯度的減小量能夠得到部分的抵消,因此,在較低的凝固速率時(shí),固液界面前沿液相中的溫度梯度隨加熱功率變化的改變量很小,可以忽略凝固速率對溫度梯度的影響,界面形態(tài)演化規(guī)律符合共晶平界面穩(wěn)定性判據(jù)。目前沿用的共晶平界面穩(wěn)定性判據(jù)[8]為
式中:GL為固液界面前沿的溫度梯度(K/cm);V是凝固速率(μm/s);mL是液相線斜率(K/mol);Cα,max和Cβ,max分別為α,β相的極限濃度;DL是溶質(zhì)在液相中的擴(kuò)散系數(shù)(m2/s);Sα是 α相的半寬;λ是相間距(μm)。該判據(jù)是由層片共晶界面前沿成分分布的表達(dá)式得出來的,并未考慮界面曲率效應(yīng)因素,而實(shí)際上曲率效應(yīng)對共晶生長有著決定性的影響。因此,潘冶[9]等探討了棒狀共晶平界面穩(wěn)定性問題,他們把棒狀組織的橫截面簡化為規(guī)則的六邊形組成,并根據(jù)Jackson-Hunt理論寫出和α相前的過冷度。由于TaSi2相的典型棒狀晶形態(tài)及Si基體與棒狀相交界處的下凹特性[10],可以證明Si-Ta合金在生長時(shí)是以非小平面/非小平面(non-faceted/non-faceted)方式生長。
因此在棒狀共晶凝固過程中,兩相前的過冷度ΔTα,ΔTβ為[9]
式中:Kα為α相的溶質(zhì)平衡分凝因子;mα,mβ分別是α相和β相的液相線斜率(K/mol);Γα和Γβ分別是α相和β相的Gibbs-Thompson系數(shù);θα和θβ分別是α相,β相和液相界面張力在三相交界點(diǎn)處作用方向與水平方向間的夾角。R為纖維間距的一半(μm);γα是基體的半徑(μm);rβ為纖維的半徑(μm);J0和J1是0階和1階Bessel函數(shù);γn是J1(x)=0的根(≈nπ)。
根據(jù) Si-Ta合金的相圖[10],其物性參數(shù)分別為mα=4.5℃/%,mβ=11.7℃/%,Ce=6%,Cα,max=0%,Cβ,max=76%。目前尚不能從文獻(xiàn)中查找到Γα(Si),Γβ(TaSi2)和DL的值,因此取共晶凝固的典型數(shù)據(jù):Γα=0.2℃·μm,Γβ=0.2℃·μm,DL=5×10-9m2/s。由于Si-TaSi2兩相的幾何配置的特點(diǎn),近似地取θα=30°,θβ= 45°[9]。 由 于rβ= 1.08μm,R=10.3μm[3],對于式(5)用 VISUAL FORTRAN6.6軟件內(nèi)置的庫函數(shù)計(jì)算得P=4.17817(當(dāng)n=1000000時(shí),誤差在千萬分之一)。
共晶兩相以宏觀平界面生長,則必須有ΔTα=ΔTβ,聯(lián)立式(2)和式(3),并將有關(guān)數(shù)據(jù)代入,求解,估算出使Si-TaSi2共晶保持平界面生長的臨界速率為Vc≈0.3498mm/min,理論計(jì)算與實(shí)驗(yàn)結(jié)果吻合得較好,如圖1(a)所示,V=0.3mm/min時(shí)固液界面為穩(wěn)定的平界面。
在Si-Ta合金凝固過程中,固液界面形態(tài)主要受凝固界面前沿的溫度場、溶質(zhì)擴(kuò)散場及界面能效應(yīng)的控制,界面前沿的溫度梯度GL和凝固速率V是兩個(gè)最主要的影響因數(shù)。而溫度梯度也是速率的函數(shù),具體表示如下[11]
式中:KL和KS分別為液、固相的熱導(dǎo)率;Gs為固相溫度梯度;ρ為合金密度;h為鑄件與冷卻介質(zhì)的復(fù)合換熱系數(shù);α為導(dǎo)溫系數(shù);T0為冷卻介質(zhì)溫度;T為鑄件溫度;d為試樣尺寸;Lf為結(jié)晶潛熱??梢?,凝固速率對界面形態(tài)的影響是非常重要的。
定向凝固中合金的界面溫度T*為
式中:TL是平衡液相溫度;ΔTD[12]是由生長過程中界面前沿液相中溶質(zhì)的富集及側(cè)向擴(kuò)散綜合形成的成分過冷;ΔTr[12]是由于相生長時(shí)界面形狀偏離平面呈現(xiàn)曲面所需的曲率過冷;ΔTk[13]是動(dòng)力學(xué)過冷度。
式中:λ為共晶的層片間距或纖維間距(μm);kα為α相的溶質(zhì)平衡分凝因子;CE為共晶點(diǎn)成分(質(zhì)量分?jǐn)?shù),%);σαβ是α相和β相之間的界面能;TE是合金的共晶點(diǎn)溫度(K);ΔHm是合金的摩爾熱焓(kJ/mol);μ是動(dòng)力學(xué)系數(shù)(μm/s·K2)。
因此,生長速率在固液界面的形態(tài)演化中起著重要而復(fù)雜的作用。一方面,促進(jìn)成分過冷效應(yīng)增大;另一方面,又促進(jìn)界面曲率效應(yīng)強(qiáng)化。在生長速率較低的近平衡條件下,前者占主要地位,對固液界面的影響較大,后者雖然對固液界面也有作用,但更多的是促進(jìn)成分過冷加劇,使界面的穩(wěn)定性降低。隨著凝固速率的提高,平界面失穩(wěn),固液界面形態(tài)由平界面逐漸發(fā)展為淺胞狀(圖1(b)),隨著凝固速率的進(jìn)一步增大,固液界面發(fā)展為鋸齒狀的胞狀界面(圖1(c))。當(dāng)生長速率促進(jìn)成分過冷增大的作用減弱時(shí),固液界面又由胞狀界面轉(zhuǎn)變?yōu)闇\胞狀界面(圖1(d))。當(dāng)生長速率促進(jìn)成分過冷增大的作用與它促進(jìn)界面曲率效應(yīng)強(qiáng)化的作用相等時(shí),即表明界面曲率效應(yīng)同成分過冷的作用相抵消,達(dá)到了界面的絕對穩(wěn)定。根據(jù)界面穩(wěn)定性的動(dòng)力學(xué)理論,即MS穩(wěn)定性理論,平界面絕對穩(wěn)定性判據(jù)[14-16]為
式中:Vm為臨界速率;Γ為 Gibbs-Thomson系數(shù);k0為平衡溶質(zhì)分配系數(shù);ΔT0為平衡結(jié)晶溫度間隔;C0為合金的原始成分。采用波譜儀分析了Si-Ta的成分,Ta的含量為5.54%,表明電子束區(qū)熔技術(shù)得到的凝固組織是亞共晶組織。采用高溫差示掃描量熱儀獲取Si-Ta合金的加熱和冷卻曲線,升溫速度為10K/min,精度為±1K。DSC曲線如圖2所示。
圖2 Si-Ta合金的DSC曲線Fig.2 DSC curves of the Si-Ta alloy
從圖2可以看出,當(dāng)加熱溫度達(dá)到1407.3℃時(shí),合金開始熔化,到1435.1℃時(shí)全部熔化完畢。因此結(jié)晶溫度間隔約為ΔT0=27.8K[17]。
代入典型數(shù)據(jù)DL=5×10-9m2/s,K0=0.5,Γ=10-7m·K,那么Si-Ta合金固液界面達(dá)到絕對穩(wěn)定的臨界生長速率為
很顯然,這么快的凝固速率與實(shí)驗(yàn)中達(dá)到穩(wěn)定平界面的凝固速率V=5.0mm/min相差甚遠(yuǎn)。
此外,馬東[18]等通過進(jìn)一步的分析,提出了高溫度梯度絕對穩(wěn)定性,并也給出了一個(gè)定量判據(jù)
代入典型數(shù)據(jù)K0=0.5,Γ=10-7m·K 以及ΔT0=27.8K
可以看出,如此高的溫度梯度在一般的凝固條件下是達(dá)不到的,只有在激光快速凝固的條件下才有可能達(dá)到。同時(shí),由式(13)可知,平衡結(jié)晶溫度間隔ΔT0對溫度梯度絕對穩(wěn)定性具有更為重要的影響,因此,一般高溫度梯度絕對穩(wěn)定性比高速絕對穩(wěn)定性更不易為人們所觀察到。
顯然,不論是絕對穩(wěn)定性臨界速率判據(jù)還是絕對穩(wěn)定性臨界溫度梯度判據(jù)均不適合Si-Ta合金體系。究其原因,一方面,因?yàn)閷σ话憬饘賮碚f,凝固過程中的動(dòng)力學(xué)過冷度相對較小,可忽略不計(jì),只有在深過冷等快速凝固條件下才考慮。然而對Si-Ta合金體系而言,由于兩相的熔化熵都很高,研究表明[19],Si相和TaSi2相在定向凝固過程中發(fā)生小平面相生長向非小平面相生長的轉(zhuǎn)變,其轉(zhuǎn)變的動(dòng)力學(xué)過冷度能達(dá)到7K,可見,動(dòng)力學(xué)過冷度的影響是很大的。另一方面,對電子束區(qū)熔設(shè)備而言,當(dāng)凝固速率較高時(shí),隨著凝固速率的進(jìn)一步增大,Si-Ta合金高溫下非常好的導(dǎo)熱性抵消了加熱功率增大所引起的熔區(qū)變長現(xiàn)象,熔區(qū)長度和熔區(qū)形狀基本保持不變,這就使得EBFZM定向凝固固液界面前沿液相中的溫度梯度明顯增大,溫度梯度的穩(wěn)定化效應(yīng)會完全克服溶質(zhì)擴(kuò)散的不穩(wěn)定化效應(yīng)。這時(shí),界面總是穩(wěn)定的。因此當(dāng)凝固速率V≥5.0mm/min時(shí),固液界面重新恢復(fù)成平界面(圖1(e)),凝固速率進(jìn)一步增大到V=9.0mm/min,固液界面仍然為穩(wěn)定的平界面(圖1(f))。
(1)當(dāng)凝固速率在0.3~9.0mm/min范圍內(nèi),隨著凝固速率的增大,Si-Ta合金固液界面經(jīng)歷了平界面→淺胞狀界面→鋸齒狀界面→淺胞狀界面→平界面的演化規(guī)律。
(2)在較低的凝固速率范圍之內(nèi),固液界面演化遵守成分過冷理論,實(shí)驗(yàn)結(jié)果與理論計(jì)算基本吻合。
(3)在較高速率時(shí),實(shí)驗(yàn)結(jié)果與理論計(jì)算出現(xiàn)偏差,這是因?yàn)闊崃W(xué)和動(dòng)力學(xué)均發(fā)生變化,使得在凝固速率V≥5.0mm/min時(shí)固液界面就達(dá)到了穩(wěn)定的平界面。
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Influence of Solidification Rate on Solid-liquid Interface of Si-Ta Alloy
CUI Chun-juan1,2,ZHANG Jun2,WU Kun1,ZOU De-ning1,LIU Lin2,F(xiàn)U Heng-zhi2
(1School of Metallurgical Engineering,Xi’an University of Architecture and Technology,Xi’an 710055,China;2State Key Laboratory of Solidification Processing,Northwestern Polytechnical University,Xi’an 710072,China)
The influence of solidification rate on the solid-liquid interface of Si-Ta alloy was studied by the zero power method.The results show that the solid-liquid interface morphology has the following evolution processing:planar interface→shallow cell interface→cell interface→shallow cell interface→planar interface when the solidification rate varies from 0.3mm/min to 9.0mm/min.At the lower solidification rates,the experiment results can be consistent with Jackson-Hunt theory well.However,there is a deviation between the theory calculation and the experiment at the higher solidification rates.This is caused by the change of the thermodynamics and kinetics,and the solid-liquid interface can get to planar interface at the solidification rateV=5.0mm/min.
directional solidification;electron beam floating zone melting;solidification rate;solid-liquid interface
TG244+.3;O782
A
1001-4381(2012)08-0060-05
國家自然科學(xué)基金資助項(xiàng)目(50102004);高等學(xué)校博士學(xué)科點(diǎn)專項(xiàng)科研基金新教師基金資助(20096120120017);陜西省自然科學(xué)專項(xiàng)研究基金資助(2012JQ6004);陜西省教育廳專項(xiàng)科研基金(12JK0425);西安建筑科技大學(xué)科技計(jì)劃資助項(xiàng)目(人才科技基金RC0907)(基礎(chǔ)研究基金JC1109)
2011-12-20;
2012-04-09
崔春娟(1972—),女,博士,副教授,主要從事共晶合金的定向凝固技術(shù)與理論的研究,聯(lián)系地址:西安建筑科技大學(xué)冶金工程學(xué)院(710055),E-mail:cuichunjuan@xauat.edu.cn