陳淑清,楊秀麗,潘春祥,劉鐵軍
(空軍航空大學(xué) 基礎(chǔ)部,吉林 長(zhǎng)春 130025)
激光近場(chǎng)光鑷是近年發(fā)展起來(lái)的一種微測(cè)量與操作系統(tǒng),它可實(shí)現(xiàn)對(duì)樣品的非接觸、無(wú)損傷微/納操作。物體表面亞波長(zhǎng)區(qū)域(近場(chǎng)區(qū)域)內(nèi)存在一種迅速衰減的隱失場(chǎng),該局域隱失場(chǎng)在近場(chǎng)區(qū)域內(nèi)起主導(dǎo)作用[1]。微粒置于隱失場(chǎng)時(shí)能將該隱失場(chǎng)轉(zhuǎn)化為傳播場(chǎng),在轉(zhuǎn)化過程中光子動(dòng)量發(fā)生改變,相應(yīng)的微粒的動(dòng)量也發(fā)生改變,從而對(duì)微粒產(chǎn)生力的作用[2]。激光近場(chǎng)光鑷即利用光纖探針針尖附近的局域隱失場(chǎng)來(lái)對(duì)微粒進(jìn)行納米操作,該方法可以突破衍射極限,有可能實(shí)現(xiàn)幾十納米微粒的操作。另外,由于作用范圍與捕獲空間非常小,該方法還可以消除遠(yuǎn)場(chǎng)光鑷中那種背景干擾現(xiàn)象。在納米操作系統(tǒng)小型化和集成化的趨勢(shì)下,與遠(yuǎn)場(chǎng)光鑷相比,激光近場(chǎng)光鑷更易集成于系統(tǒng)之中,因此,該方法將成為納米微粒和生物單分子最強(qiáng)有力的操作工具之一。
雖然已有文獻(xiàn)對(duì)近場(chǎng)光鑷中的某些理論問題進(jìn)行了研究,并得到了一些具有指導(dǎo)意義的結(jié)論,但所提供的信息還不足以透徹地理解光纖探針的場(chǎng)傳播與分布特性,特別是對(duì)光纖探針結(jié)構(gòu)參數(shù)的優(yōu)化分析很少[3-6]。由于光與物質(zhì)間主要是電場(chǎng)在起作用,因此電場(chǎng)的分布特性決定了光纖探針的近場(chǎng)光學(xué)特性,而錐形鍍膜光纖探針的入射波波長(zhǎng)、出射孔徑、錐角和金屬膜厚度是決定電場(chǎng)分布的主要因素。因此,為獲取最優(yōu)的光纖探針結(jié)構(gòu),文中應(yīng)用三維FDTD計(jì)算方法進(jìn)行三維空間的數(shù)值仿真,分析了各參量對(duì)近場(chǎng)光學(xué)特性的影響規(guī)律。
鍍膜光纖探針優(yōu)化模型如圖1所示。
圖1 錐形鍍膜光纖探針優(yōu)化模型
探針長(zhǎng)度 H=600nm,大端直徑φ1=700nm,針尖出口孔徑φ2=100nm,纖芯為SiO2,介電常數(shù)ε=2.25,折射率n=1.5,光纖外層的Al厚T=80nm,其導(dǎo)電率σ設(shè)為無(wú)限大。假設(shè)入射光為波長(zhǎng)λ=632.8nm的均勻平面波,其波函數(shù)為E=Eysin(2πft)=sin(2πft),沿y方向偏振并沿-z方向從光纖的大端入射。三維FDTD法是求解Maxwell方程的一種數(shù)值解法,它能直接在時(shí)域進(jìn)行計(jì)算,物理圖像清晰,可模擬各種復(fù)雜的電磁結(jié)構(gòu),具有廣泛的適用性,并且對(duì)同一問題與其它方法相比,能節(jié)約存儲(chǔ)空間和計(jì)算時(shí)間[7-8]。計(jì)算中將針尖孔徑中心設(shè)為坐標(biāo)原點(diǎn),將整個(gè)所需計(jì)算的三維空間劃分為100×99×130個(gè)網(wǎng)格單元陣列,每個(gè)單元格在x,y,z坐標(biāo)方向的網(wǎng)格空間步長(zhǎng)分別為Δx=Δy=Δz=10nm,時(shí)間步長(zhǎng)為Δt=Δx/2c,其中c為真空中的光速。
近場(chǎng)光鑷中探針尖端出射的光強(qiáng)越大越好,故通過計(jì)算電場(chǎng)隨不同波長(zhǎng)λ、孔徑φ2、錐角θ和金屬膜厚度T的變化情況來(lái)對(duì)光纖探針的結(jié)構(gòu)參數(shù)進(jìn)行優(yōu)化選擇。在其它參量相同的情況下,x=0平面和z=0平面上總電場(chǎng)|E|隨不同波長(zhǎng)的變化情況如圖2所示。
圖2 不同波長(zhǎng)下電場(chǎng)總量的分布結(jié)果
從圖中可以看出,波長(zhǎng)越大,則光在這段波導(dǎo)中形成的駐波場(chǎng)越強(qiáng),從探針尖端出射的光強(qiáng)越小。當(dāng)入射波波長(zhǎng)λ=1 523nm時(shí),光波受到邊界的反射與入射波疊加形成駐波圖樣,通過截止面衰減出去的波很少,故針尖出射端光強(qiáng)很小。
不同出射孔徑下總電場(chǎng)|E|的分布如圖3所示。
從圖中可以看出,隨著孔徑的增大,探針內(nèi)駐波變?nèi)?,截止平面與探針尖端距離也變小,從而出射光場(chǎng)強(qiáng)度與范圍均變大,產(chǎn)生的隱失場(chǎng)范圍也更寬。當(dāng)孔徑φ2為200nm時(shí),小于截止直徑部分的探針長(zhǎng)度最小,因此其出射光場(chǎng)強(qiáng)度最大。隨著孔徑增大,駐波分布圖樣趨于對(duì)稱,故探針內(nèi)駐波分布與光纖探針的尺寸有一定關(guān)系。
圖3 不同孔徑下電場(chǎng)總量的分布結(jié)果
錐角為20°,53°和90°時(shí),總電場(chǎng)|E|在x=0平面和z=0平面上的分布如圖4所示。
圖4 不同錐角下電場(chǎng)總量的分布結(jié)果
從圖中可以看出,探針孔出射電場(chǎng)隨角度增大而增大。當(dāng)光進(jìn)入鍍有金屬膜的光纖探針時(shí),根據(jù)波導(dǎo)理論,隨探針孔徑逐漸減小,各種模式波逐個(gè)被截止。在光纖探針直徑等于TE11模截止直徑的情況下,該位置處的光強(qiáng)達(dá)到最大值,除一部分光在截止平面發(fā)生反射外,另一部分光穿過截止平面以指數(shù)衰減的形式向探針的出射端傳播。由于光纖探針尖端的光強(qiáng)取決于探針出射端與TE11模的截止平面間的距離,因此,如果光纖探針錐角變大,在較短截止區(qū)的作用下,探針尖端的出射光場(chǎng)變強(qiáng),近場(chǎng)分布變得集中。
總電場(chǎng)|E|隨不同膜厚的變化情況如圖5所示。
圖5 不同膜厚下電場(chǎng)總量的分布結(jié)果
探針內(nèi)電場(chǎng)分布保持不變,出射電場(chǎng)強(qiáng)度亦不變,但膜層越薄,則膜層外側(cè)近場(chǎng)增強(qiáng)現(xiàn)象越明顯。在計(jì)算時(shí)假設(shè)金屬膜為理想導(dǎo)體,即光在金屬中的穿透深度為零,很薄一層金屬即可將光完全屏蔽,這與實(shí)際情況有差別,特別在靠近針尖頂端部分,如果金屬膜的厚度不夠,則可能有部分光從探針中泄露出來(lái)對(duì)近場(chǎng)分布產(chǎn)生一定的影響。根據(jù)光纖探針各縱截面上光場(chǎng)的分布情況可知,電磁波從探針針尖出射后會(huì)繞射到金屬膜外表面,到達(dá)金屬膜外側(cè)后,在金屬膜的棱角處由于尖端效應(yīng),將出現(xiàn)二次近場(chǎng)增強(qiáng)現(xiàn)象。從探針金屬膜外側(cè)電場(chǎng)分布圖來(lái)看,當(dāng)膜厚T=200nm時(shí),金屬膜外側(cè)的近場(chǎng)增強(qiáng)幾乎可以忽略。
針對(duì)近場(chǎng)光鑷中鍍金屬膜光纖探針的結(jié)構(gòu)優(yōu)化,采用三維FDTD方法計(jì)算了不同波長(zhǎng)、孔徑、錐角和金屬膜厚度下總電場(chǎng)的變化情況。從結(jié)果可以看到,選擇較小入射波長(zhǎng)、較大孔徑、較大錐角并鍍上合適膜厚的光纖探針,可以明顯提高光纖探針的通光效率,獲得較大的局域近場(chǎng)增強(qiáng)效應(yīng)。該計(jì)算就近場(chǎng)光鑷光纖探針近場(chǎng)特性方面進(jìn)行了有益的探索和嘗試,對(duì)光學(xué)探針的制作及其性能的改善將具有重要意義。
[1]朱星.近場(chǎng)光學(xué)與近場(chǎng)光學(xué)顯微鏡[J].北京大學(xué)學(xué)報(bào):自然科學(xué)版,1997,33(3):394-407.
[2]B H Liu,L J Yang,Y Wang,et al.Nano-manipulation performance with enhanced evanescent field close to near-field optical probes[J].Opt.Commun.,2011,284(12):3039-3046.
[3]L Novotny,D W Pohl,B Hecht.Scanning nearfield optical probe with ultrasmall spot size[J].Opt.Lett.,1995,20(9):970-972.
[4]A Castiaux,C Girard,M Spajer,et al.Near-field optical effects inside a photosensitive sample coupled with a SNOM tip[J].Ultramicroscopy,1998,71(1/4):49-58.
[5]D A Christensen.Analysis of near-field tip patterns including object interaction using finite difference time domain calculations[J]. Ultramicroscopy,1995,57:189-195.
[6]H Furukawa,S Kawata.Analysis of image formation in a near-field scanning optical microscope effects of multiple scattering[J].Opt.Commun.,1996,132(1/2):170-178.
[7]王長(zhǎng)清,祝西里.電磁場(chǎng)計(jì)算中的時(shí)域有限差分法[M].北京:北京大學(xué)出版社,1994.
[8]B H Liu,L J Yang,Y Wang,et al.Analysis of local field enhancement including tip interaction for the application to nano-manipulation using FDTD calculations[J].Proc.intl.MATADOR Conf.,2010(1/3):15-18.