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      電子元件焊接質(zhì)量檢測(cè)技術(shù)

      2009-03-14 06:59:48王付軍
      新媒體研究 2009年4期
      關(guān)鍵詞:焊接檢測(cè)

      王付軍

      [摘要]從焊接質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)出發(fā),介紹電子元件焊點(diǎn)質(zhì)量常用檢測(cè)技術(shù)方法,包括從目測(cè)、自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)、電氣檢測(cè)等,并分析各種檢測(cè)技術(shù)的優(yōu)缺點(diǎn),指出焊接質(zhì)量檢測(cè)的發(fā)展趨勢(shì)。

      [關(guān)鍵詞]焊接 AOI SMT 檢測(cè)

      中圖分類號(hào):TN6文獻(xiàn)標(biāo)識(shí)碼:A文章編號(hào):1671-7597(2009)0220123-01

      一、引言

      隨著科學(xué)技術(shù)的進(jìn)步,電子產(chǎn)品的功能越來(lái)越多,越來(lái)越復(fù)雜,使用元件的體積越來(lái)越小,無(wú)引線或引線很短的元器件貼片元器件的出現(xiàn)了,表面貼裝器件(SMT)本身的體積也越來(lái)越小,引腳和走線越來(lái)越密,使組裝板尺寸越來(lái)越小,同時(shí)產(chǎn)品的焊接技術(shù)已發(fā)生了新的變化。因此焊接質(zhì)量已成為影響產(chǎn)品質(zhì)量的關(guān)鍵因素,焊接質(zhì)量的檢測(cè)越來(lái)越重要,也越來(lái)越復(fù)雜。計(jì)算機(jī)、光學(xué)、圖像處理技術(shù)的飛躍發(fā)展為自動(dòng)檢測(cè)技術(shù)提供了技術(shù)基礎(chǔ)。

      二、電子元件焊接質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)

      焊點(diǎn)質(zhì)量要求為:(1)表面潤(rùn)濕程度。熔融焊料在被焊金屬表面上應(yīng)鋪展,并形成完整、均勻、連續(xù)的焊層,其接觸角應(yīng)不大于90度;(2)焊料量。焊料量應(yīng)適中,避免過(guò)多或過(guò)少;(3)焊點(diǎn)表面。焊點(diǎn)表面應(yīng)完整、連續(xù)和圓滑,但不要求極光亮的外觀;(4)焊點(diǎn)位置。元器件的焊端或引腳在焊盤上的位置偏差,應(yīng)在規(guī)定的范圍內(nèi)。

      三、常見檢測(cè)方法

      焊點(diǎn)質(zhì)量常用檢測(cè)方法有破壞性,非破壞性和環(huán)境檢測(cè)三種,如表1-1所示。

      (一)目測(cè)法

      目視檢測(cè)是常用的一種非破壞檢測(cè)方法,可用萬(wàn)能投影儀和十倍放大鏡進(jìn)行檢測(cè),檢測(cè)速度和精度和檢測(cè)人員能力有關(guān)。人工視覺檢查對(duì)防止焊點(diǎn)失效非常重要,特別是在短期應(yīng)用中,但是人工視覺檢查卻無(wú)法有效地發(fā)現(xiàn)焊點(diǎn)缺陷。在使用MIL檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)的時(shí)代,要檢查產(chǎn)品的可靠性是徒勞的,據(jù)分析,幾乎50%的焊點(diǎn)失效都是現(xiàn)場(chǎng)失效,即它們都通過(guò)了主觀性人工視覺檢查工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)。

      人工目測(cè)檢驗(yàn)可以觀測(cè)的焊點(diǎn)缺陷情況包括:漏焊、錯(cuò)焊、橋連、錯(cuò)位、焊膏未熔化等,具有較強(qiáng)的靈活性。對(duì)檢測(cè)者的能力有一定要求,具有較大的主觀性,可重復(fù)性也較差。

      (二)自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)(AOI)

      隨著器件封裝尺寸的減小和印制電路板(PCB)貼片密度的增加,SMA檢查難度越來(lái)越高,人工目測(cè)的穩(wěn)定性和可靠性都難以滿足生產(chǎn)和質(zhì)量控制的需要,越來(lái)越小的PCB特性使手工檢查不可靠,人力檢查的可重復(fù)性水平低,視覺疲勞不可避免地導(dǎo)致疏忽缺陷。因此,采用專用檢查儀器實(shí)現(xiàn)自動(dòng)檢測(cè)就越來(lái)越重要。首先用于生產(chǎn)實(shí)際的檢測(cè)儀器是光學(xué)儀器,這類儀器的一個(gè)共同特點(diǎn)是,通過(guò)光源對(duì)SMA進(jìn)行照射,用光學(xué)鏡頭將SMA反射光進(jìn)行采集和運(yùn)算,經(jīng)計(jì)算機(jī)圖像處理系統(tǒng)處理,從而判斷SMA上的元件位置及焊接情況。這類設(shè)備稱為自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)(AOI)設(shè)備。AOI可以應(yīng)用于SMT生產(chǎn)線的多個(gè)環(huán)節(jié),從而產(chǎn)生最好的質(zhì)量檢測(cè)和控制效果。

      AOI的基本原理是用光學(xué)手段獲取被測(cè)物圖形,一般通過(guò)一傳感器(攝像機(jī))獲得檢測(cè)物的照明圖像并數(shù)字化,然后以某種方法進(jìn)行比較、分析、檢驗(yàn)和判斷,相當(dāng)于將人工目視檢測(cè)自動(dòng)化、智能化。

      (三)X-Ray檢測(cè)

      X-Ray檢測(cè)是利用X射線可穿透物質(zhì)并在物質(zhì)中有衰減的特性來(lái)發(fā)現(xiàn)缺陷,主要檢測(cè)焊點(diǎn)內(nèi)部缺陷,如BGA、CSP和FC焊點(diǎn)等。目前X射線設(shè)備的X光束斑一般在1~5μm范圍內(nèi),不能用來(lái)檢測(cè)亞微米范圍內(nèi)的焊點(diǎn)微小開裂。

      (四)超聲波檢測(cè)

      超聲波檢測(cè)利用超聲波束能透入金屬材料的深處,由一截面進(jìn)入另一截面時(shí),在界面邊緣發(fā)生反射的特點(diǎn)來(lái)檢測(cè)焊點(diǎn)的缺陷。來(lái)自焊點(diǎn)表面的超聲波進(jìn)入金屬內(nèi)部,遇到缺陷及焊點(diǎn)底部時(shí)就會(huì)發(fā)生反射現(xiàn)象,將反射波束收集到熒光屏上形成脈沖波形,根據(jù)波形的特點(diǎn)來(lái)判斷缺陷的位置、大小和性質(zhì)。超聲波檢驗(yàn)具有靈敏度高、操作方便、檢驗(yàn)速度快、成本低、對(duì)人體無(wú)害等優(yōu)點(diǎn),但是對(duì)缺陷進(jìn)行定性和定量判定目前尚存在困難。

      掃描超聲波顯微鏡(C-SAM)主要利用高頻超聲(一般為100MHz以上)在材料不連續(xù)的地方界面上反射產(chǎn)生的位相及振幅變化來(lái)成像,是用來(lái)檢測(cè)元器件內(nèi)部的分層、空洞和裂紋等一種有效方法。采用微聲像技術(shù),通過(guò)超聲換能器把超聲脈沖發(fā)射到元件封裝中,在表面和底板這一深度范圍內(nèi),超聲反饋回波信號(hào)以稍微不同的時(shí)間間隔到達(dá)轉(zhuǎn)化器,經(jīng)過(guò)處理就得到可視的內(nèi)部圖像,再通過(guò)選通回波信號(hào),將成像限制在檢測(cè)區(qū)域,得到缺陷圖。一般采用頻率從100MHz到230MHz,最高可達(dá)300MHz,檢測(cè)分辨率也相應(yīng)提高。

      (五)電氣檢測(cè)

      電氣檢測(cè)是產(chǎn)品在加載條件下通電,以檢測(cè)是否滿足所要求的規(guī)范。它能有效地查出目視檢測(cè)所不能發(fā)現(xiàn)的微小裂紋和橋連等。檢測(cè)時(shí)可使用各種電氣測(cè)量?jī)x,檢測(cè)導(dǎo)通不良及在釬焊過(guò)程中引起的元器件熱損壞。前者是由微小裂紋、極細(xì)絲的錫蝕和松香粘附等引起,后者是由于過(guò)熱使元器件失效或助焊劑分解氣體引起元器件的腐蝕和變質(zhì)等。由于電氣檢測(cè)為離線檢測(cè),不能及時(shí)地反饋信息。

      四、檢測(cè)技術(shù)的發(fā)展趨勢(shì)

      對(duì)于小型企業(yè),一般采用目測(cè)法,人工目測(cè)檢驗(yàn)可以觀測(cè)的焊點(diǎn)缺陷情況包括:漏焊、錯(cuò)焊、橋連、錯(cuò)位、焊膏未熔化等,具有較強(qiáng)的靈活性。對(duì)檢測(cè)者的能力有一定要求,具有較大的主觀性,可重復(fù)性也較差。

      當(dāng)前應(yīng)用最廣的檢測(cè)技術(shù)是自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)技術(shù),其發(fā)展趨勢(shì)是:

      1.分類檢測(cè),我們知道AOI在SMT流水線中放置的位置不同,檢測(cè)的重點(diǎn)就不同,并且不同的元件,要檢測(cè)的缺陷類型也不同,譬如說(shuō)焊點(diǎn)主要檢測(cè)的就是有無(wú)錫膏,是否多錫、少錫等,元件本體就要檢測(cè)是否缺件、偏移、錯(cuò)件等情況,帶有絲印的還要做OCV,IC要檢測(cè)是否有橋接等等,另外有一些三極管就要有極性檢測(cè);這樣不同的檢測(cè)類型,就要選擇不同的檢測(cè)方法,不同的方法針對(duì)某種或者某幾種缺陷類型才能提高檢測(cè)效果,減少誤判。

      2.Bad Mark的檢測(cè),拼板與多MARK檢測(cè),和BarCode等功能AOI要適應(yīng)印刷機(jī)的變化,像Bad Mark就可以不檢測(cè),機(jī)器檢測(cè)到一塊PCB板就不印刷了,AOI也應(yīng)該檢測(cè)到Bad Mark就報(bào)出Bad Mark;另外某些印刷機(jī)可能是多板同時(shí)印刷的,像陰陽(yáng)板這樣的情況現(xiàn)在也比較常見,那么檢測(cè)的時(shí)候

      AOI的程序就需要是兩個(gè)或者多個(gè)PCB的檢測(cè)程序同時(shí)運(yùn)行,才能達(dá)到要求;另外一個(gè)就是一些板子用條形碼來(lái)標(biāo)記板子,那么就需要AOI加入barcode功能來(lái)識(shí)別這些條形碼。這些功能都是為了適應(yīng)SMT行業(yè)變化和要求,給AOI帶來(lái)的一些發(fā)展。

      五、總結(jié)

      選用哪種檢測(cè)技術(shù),要具體情況具體分析,各種檢測(cè)技術(shù)都有其優(yōu)缺點(diǎn)。如應(yīng)用最多的AOI檢測(cè)技術(shù),優(yōu)點(diǎn)是自動(dòng)發(fā)現(xiàn)和糾正缺陷,但只能檢查外觀缺陷。因此較好的解決方案是幾種檢測(cè)技術(shù)結(jié)合一起,就能達(dá)到較好的檢測(cè)效果。

      參考文獻(xiàn):

      [1]Prasad R.Surface Mount Technology Principles and Prac-tice.New York:Chapman & Hall,1997.

      [2]周德儉,SMT組裝質(zhì)量檢測(cè)中的AOI技術(shù)與系統(tǒng)[J].電子工業(yè)專用設(shè)備,2002,31(2):87-95.

      [3]謝納新,淺談AOI在SMT生產(chǎn)線上的配置[J].材料與封裝,2005,12:86-88.

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