關(guān)鍵詞: 空氣耦合超聲; 隱身涂層; 數(shù)值模擬; 脫粘缺陷
中圖分類號(hào): TB9 文獻(xiàn)標(biāo)志碼: A 文章編號(hào): 1674–5124(2025)02–0148–07
0引言
雷達(dá)隱身涂層在軍事領(lǐng)域應(yīng)用廣泛,通過在飛機(jī)鋁合金表面噴涂特定的吸波涂層材料,可以吸收雷達(dá)波并減少自身紅外輻射,從而最大限度地減少被敵方雷達(dá)偵察設(shè)備發(fā)現(xiàn)的可能性。在長期服役過程中,會(huì)導(dǎo)致涂層出現(xiàn)厚度減薄、界面脫粘等隱患,進(jìn)而導(dǎo)致涂層無法有效地吸收電磁波,從而降低飛機(jī)的隱身能力[1-4]。
目前,對(duì)于涂層測(cè)厚及缺陷檢測(cè)主要采用太赫茲法、渦流檢測(cè)法和紅外熱成像法等方法[5]。如何普等人針對(duì)熱障涂層內(nèi)部結(jié)構(gòu)復(fù)雜、太赫茲波在熱障涂層內(nèi)傳播衰減嚴(yán)重等問題,提出利用太赫茲波強(qiáng)度關(guān)系的熱障涂層厚度測(cè)量方法;何濤提出一種基于表面溫度峰值時(shí)刻的不透明涂層厚度測(cè)量方法,研究不同激勵(lì)方式下涂層結(jié)構(gòu)表面溫度場(chǎng)的變化規(guī)律,探究涂層厚度與涂層結(jié)構(gòu)表面溫度場(chǎng)的關(guān)系,實(shí)現(xiàn)了對(duì)涂層厚度的非接觸式測(cè)量[6-7]。然而,這些方法都存在一定的局限性。例如,太赫茲法設(shè)備昂貴且檢測(cè)精度受環(huán)境限制[8];渦流檢測(cè)法對(duì)基體的導(dǎo)電性敏感,同時(shí)存在邊緣效應(yīng)[9];紅外熱成像法容易受到環(huán)境影響,在戶外等檢測(cè)環(huán)境中易受溫度干擾[10]。
因此,在工業(yè)生產(chǎn)中,需要一種可靠簡(jiǎn)便的方法來對(duì)涂層進(jìn)行缺陷檢測(cè),以確保涂層的質(zhì)量。本文基于非接觸式空氣耦合超聲檢測(cè)技術(shù)非接觸、非破壞、非浸入和安全無害的特點(diǎn)[11-12],結(jié)合COMSOL有限元仿真模型,構(gòu)建與樣品材料屬性、樣品幾何、預(yù)置缺陷和聲學(xué)特性一致的有限元模型,提出一種超聲檢測(cè)數(shù)值模擬方法,分析超聲波在被檢樣品內(nèi)部的傳播特性。接著利用python對(duì)仿真信號(hào)進(jìn)行時(shí)頻域處理分析,基于小波變換模極大值的方法,在多尺度下采用均值化處理,消除模極大值在單一尺度上的誤差。根據(jù)極大值平均值出現(xiàn)的時(shí)間點(diǎn)、能量關(guān)系對(duì)照材料屬性、樣品幾何、預(yù)置缺陷和聲學(xué)特性,識(shí)別出每一個(gè)極大值平均值對(duì)應(yīng)的異質(zhì)界面,并計(jì)算聲時(shí)差,實(shí)現(xiàn)涂層內(nèi)弱粘結(jié)缺陷的識(shí)別和定位功能。最后搭建實(shí)驗(yàn)系統(tǒng),從理論和實(shí)驗(yàn)兩方面著手對(duì)隱身涂層脫粘缺陷進(jìn)行了檢測(cè),驗(yàn)證空氣耦合超聲檢測(cè)方法的可行性和可靠性。
1原理
1.1隱身涂層厚度超聲檢測(cè)原理
涂層缺陷檢測(cè)的難點(diǎn)在于涂層的密度、泊松比、楊氏模量等參數(shù)缺乏統(tǒng)一的標(biāo)準(zhǔn),且通常涂層厚度在幾十至幾百納米之間,大多都與基體、粘接層形成三層甚至多層異質(zhì)結(jié)構(gòu)。
圖1中,p1為入射超聲信號(hào),在介質(zhì)一與介質(zhì)二界面發(fā)生反射和透射,反射波形成第1次回波即pr1;透射波在界面二發(fā)生反射傳播至介質(zhì)一與介質(zhì)二界面,透射部分形成第2次回波即pr2,反射部分重新傳播至介質(zhì)三重復(fù)上述過程,形成第3次回波pr3及后續(xù)更高次回波。
本文采用超聲垂直入射式檢測(cè)方法,在超聲波垂直入射條件下,隱身涂層厚度計(jì)算的數(shù)學(xué)模型為:
由式(1)可知,若介質(zhì)二與介質(zhì)三之間存在脫粘缺陷,則會(huì)導(dǎo)致其pr1 與pr2 聲程差減小,進(jìn)而計(jì)算得涂層厚度會(huì)隨聲程差減小而減小,由此可根據(jù)隱身涂層厚度變化判定是否存在脫粘缺陷,此即為隱身涂層脫粘缺陷檢測(cè)原理。
1.2涂層超聲反射信號(hào)處理原理
然而,這種多界面異質(zhì)薄層結(jié)構(gòu)通常會(huì)導(dǎo)致分層缺陷反射回波信號(hào)互相混疊、難以區(qū)分[13]。而超聲信號(hào)由于突變點(diǎn)多,頻譜隨時(shí)間變化大,因此需要能夠反映信號(hào)的局部時(shí)頻譜特征的分析方法。
針對(duì)上述問題,利用基于小波變換模極大值的方法對(duì)涂層超聲信號(hào)進(jìn)行信號(hào)處理,并在模極大值的基礎(chǔ)上提取模極大值的平均幅值,以實(shí)現(xiàn)良好的時(shí)間定位性和實(shí)時(shí)性。
2數(shù)值模擬與仿真分析
2.1模型建立
為驗(yàn)證此方法可行性,使用COMSOL建立仿真模型,如圖2 所示,超聲陣列換能器參數(shù)見表1。
為與實(shí)驗(yàn)設(shè)備互相匹配,發(fā)射和接收探頭的寬度設(shè)置為8mm,探頭的激勵(lì)函數(shù)設(shè)置為頻率為3MHz的3個(gè)周期的漢寧窗函數(shù),采樣頻率設(shè)置為100MHz,根據(jù)模型的深度,采集信號(hào)的總時(shí)長為10μs。
2.2仿真結(jié)果
通過觀察不同時(shí)刻的聲場(chǎng)快照?qǐng)D可以看到超聲波在基體和涂層中傳播規(guī)律,顏色深淺表示超聲波能量的大小,在COMSOL中用固體的總位移表示,顏色越深則能量越大。
在圖3和圖4中,可以觀察到:隨著傳播時(shí)間的推移,超聲波傳播到空氣和涂層的接觸面時(shí),一部分超聲波發(fā)生反射,一部分超聲波發(fā)生透射。
當(dāng)超聲波傳播時(shí)間為7μs時(shí),如圖5所示,經(jīng)涂層上表面和下底面反射的超聲波出現(xiàn)位置上的差異,接收到的超聲波在時(shí)間上會(huì)出現(xiàn)差異。若已知超聲波在涂層中的速度,則可根據(jù)速度乘以時(shí)間求得涂層的厚度。
而由于模極大值的平均值基于小波變換,小波基函數(shù)會(huì)對(duì)小波變換的結(jié)果產(chǎn)生影響,不同的小波基函數(shù)在處理突變信號(hào)時(shí)的精度也會(huì)差異,所以需要優(yōu)選小波基函數(shù)使得獲取的時(shí)間差誤差最小。
本文選用Cgau8小波基函數(shù)對(duì)圖6 中的信號(hào)進(jìn)行小波變換,尺度均使用120,結(jié)果如圖7 所示,小波時(shí)頻分析結(jié)果能分辨出信號(hào)中的波包,且能大概判斷出不同頻率下的極大值點(diǎn),即顏色較深的地方為信號(hào)的拐點(diǎn)。
為了能更清楚地得出時(shí)間差,可以求出模極大值的平均值,如圖8所示。
為驗(yàn)證存在缺陷時(shí)本方法的可行性,在模型中預(yù)制了缺陷用于驗(yàn)證,如圖9所示。缺陷寬度設(shè)置為10mm,缺陷厚度設(shè)置為50μm,此時(shí)涂層理論厚度約為430μm。
通過對(duì)涂層進(jìn)行信號(hào)分析找到信號(hào)的突變點(diǎn),找出時(shí)間差并計(jì)算厚度,進(jìn)而可實(shí)現(xiàn)對(duì)缺陷的定位。如圖10所示,存在缺陷時(shí)已經(jīng)不能通過時(shí)域信號(hào)判斷時(shí)間差進(jìn)而對(duì)缺陷進(jìn)行定位。于是計(jì)算這兩個(gè)缺陷回波的模極大值的平均值,如圖11所示。
3實(shí)驗(yàn)
3.1實(shí)驗(yàn)平臺(tái)搭建與實(shí)驗(yàn)設(shè)置
實(shí)驗(yàn)使用日本探頭株式會(huì)社生產(chǎn)的高靈敏度非接觸式空氣耦合超聲波檢測(cè)系統(tǒng),型號(hào)NAUT21-I,軟件基于LabVIEW開發(fā)。由控制軟件、脈沖發(fā)射接收器JPR600C、信號(hào)采集器、PC、顯示器構(gòu)成五軸掃查系統(tǒng),如圖12所示。實(shí)驗(yàn)采用中心頻率3MHz的空氣耦合聚焦換能器,探頭直徑8mm,采樣頻率100MHz。實(shí)驗(yàn)使用計(jì)算機(jī)控制掃查架進(jìn)行檢測(cè),探頭擺放位置如圖13所示。
如圖14所示,試驗(yàn)樣品為在鈦合金基體上利用等離子噴涂方法噴涂ZrO2涂層制作而成,基材為 T300,厚度約5mm。涂層由底漆層、中間層和面層組成,底漆層厚度約50μm,面層厚度約為30μm,中間層厚約450μm,涂層總厚度約為530μm,尺寸大小為180mmx180mm。缺陷采取噴清漆的方法制作(清漆聲阻抗與空氣接近,可視為缺陷),在基體(鈦合金)和底漆層預(yù)埋圓形缺陷,預(yù)埋缺陷均分布于試塊上。
圖15與圖16為實(shí)驗(yàn)采集到的試件預(yù)制缺陷處的歸一化時(shí)域波形圖與其小波變換時(shí)頻圖。
為分析涂層預(yù)制缺陷處與無缺陷處的超聲回波信號(hào)差異,根據(jù)模極大值平均值出現(xiàn)的時(shí)間點(diǎn)、能量關(guān)系對(duì)照材料屬性、樣品幾何和聲學(xué)特性,識(shí)別出每一個(gè)極大值平均值對(duì)應(yīng)的異質(zhì)界面,并計(jì)算聲時(shí)差,實(shí)現(xiàn)涂層缺陷的識(shí)別和定位?,F(xiàn)將無缺陷處與預(yù)制缺陷處小波變換模極大值的平均幅值圖作對(duì)照分析,結(jié)果如圖17所示。
4結(jié)束語
針對(duì)隱身涂層脫粘缺陷檢測(cè)需求,本文提出了基于小波變換多尺度模極大值的隱身涂層缺陷檢測(cè)方法,并對(duì)本方法的可行性和準(zhǔn)確性進(jìn)行了實(shí)驗(yàn)驗(yàn)證。