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    電子加速器屏蔽設計方法研究

    2023-10-26 03:37:30陳家鐸蔣詩平
    核安全 2023年5期
    關鍵詞:中子側(cè)向屏蔽

    陳家鐸,蔣詩平,2,*,王 琳,2,吳 君

    (1. 中國科學技術大學國家同步輻射實驗室,合肥 230029;2. 中國科學技術大學核科學技術學院,合肥 230027)

    電子加速器運行時形成瞬發(fā)的軔致輻射和中子的混合輻射場。屏蔽設計常用的經(jīng)驗公式包括Moe在設計APS屏蔽時提出的經(jīng)驗公式[1]和Jenkins提出的針對側(cè)向屏蔽的公式[2]。一些研究表明Jenkins經(jīng)驗公式計算結(jié)果比蒙特卡羅模擬結(jié)果保守;對單一屏蔽材料,經(jīng)驗公式可簡單、保守地完成對高能電子加速器的屏蔽計算,對于多種屏蔽材料,采用蒙特卡羅模擬方法更合適;靶的尺寸和材料都會影響屏蔽體外的劑量[3-6]。

    已有研究僅指出了經(jīng)驗公式與蒙特卡羅方法之間存在的差異但缺少不同經(jīng)驗公式之間的比較,也缺少對差異來源的分析。有些研究定性指出靶的改變對結(jié)果有影響,缺少量化分析,也缺少對蒙卡建模的優(yōu)化方法,當前研究將針對這些不足之處進行補充說明。

    1 計算模型

    HALF是第四代同步輻射光源,由2.5 GeV電子直線加速器、電子儲存環(huán)、同步輻射光束線站組成。其中儲存環(huán)大廳高350 cm,儲存環(huán)管道周長480 m,管道內(nèi)徑26 mm,外徑28 mm,距離地面120 cm,電子能量2.5 GeV,電流500 mA。正常運行工況下,電子受磁鐵的作用在管道內(nèi)做圓周運動,丟束工況下,假設某處彎轉(zhuǎn)磁鐵瞬間失效,電子沿著管道的切線方向繼續(xù)運動,與管壁發(fā)生相互作用,形成瞬發(fā)輻射場。

    距離管道4 m處用環(huán)狀內(nèi)墻屏蔽,在儲存環(huán)外放置鋸齒墻屏蔽,鋸齒墻距離管道最近1.8 m。光源的整體布局如圖1所示,鋸齒墻與管道相對位置和參數(shù)如圖2所示。

    圖1 合肥先進光源布局圖Fig.1 Layout of HALF

    圖2 儲存環(huán)與屏蔽體相對位置示意圖Fig.2 Relative position diagram of storage ring and shielding wall

    Moe、Jenkins經(jīng)驗公式用于計算電子損失在一點時屏蔽體外的劑量。

    Moe經(jīng)驗公式如公式(1) ~(3)所示[1]。

    公式(1) ~(3)中,H——N個能量為(GeV)的電子產(chǎn)生的劑量當量,單位為mSv;

    FBREM,F(xiàn)GRN,F(xiàn)MEN,F(xiàn)HEN——單位能量的電子打靶產(chǎn)生的軔致輻射、巨共振中子、中能中子、高能中子引起的靶周圍1 m處的劑量當量,單位為mSv· m2· J-1;

    RBREM,RGRN,RMEN,RHEN——軔致輻射、巨共振中子、中能中子、高能中子的衰減長度,單位為g· cm-2;

    ρ,d——屏蔽體的密度和厚度,單位為g· cm-3,cm;

    θ的含義如圖3所示,單位為rad;

    圖3 經(jīng)驗公式模型Fig.3 Calculation model of side shield of empirical formula

    θB,θn含義與θ相同,單位為度;

    r——靶到屏蔽體外探測點的距離,單位為cm;

    Z——靶材料的原子序數(shù),Cz是Z的函數(shù),對于鐵和銅,Cz=1。

    Jenkins公式如公式(4)和(5)所示[2]:

    式中,E0,ρ,d,θ的含義及單位與Moe公式相同;

    D.E.()表示歸一化源電子引起的中子或光子的劑量當量,單位為Sv· e-1;

    λ1,λ2,λ3分別表示高能中子、巨共振中子、中能中子的衰減長度,單位為g· cm-2;

    a——靶到屏蔽體的距離,單位為c。

    兩經(jīng)驗公式給出的屏蔽材料的衰減長度如表1所示。

    表1 經(jīng)驗公式給出的混凝土的衰減長度Table 1 Attenuation length of concrete in empirical formula

    Moe和Jenkins分別利用APS儲存環(huán)和斯坦福儲存環(huán)的測量結(jié)果,結(jié)合已有研究,通過數(shù)據(jù)擬合和理論推導得到經(jīng)驗公式。Moe和Jenkins將次級輻射分為軔致輻射、巨共振中子(<20 MeV)、中能中子(20~100 MeV)和高能中子(>100 MeV)四部分,并假設電磁簇射在靶中完全發(fā)展且產(chǎn)生的次級輻射不被靶和空氣吸收,所有的輻射都在屏蔽體內(nèi)指數(shù)衰減。Moe出于保守估計,使用的衰減系數(shù)比Jenkins給出的更小[7]。Moe公式適用于計算高能電子作用于厚靶時全空間的劑量分布。Jenkins公式適用于計算高能電子作用于厚靶時與初始電子入射方向夾角20~160 度范圍內(nèi)的劑量分布。有研究指出經(jīng)驗公式更適用于幾何簡單、屏蔽體單一的情況[1,2,6]。

    2 計算結(jié)果

    FLUKA(FLUktuierende KAskade)是由CERN開發(fā)的一款通用的蒙特卡羅粒子輸運工具。利用經(jīng)驗公式和FLUKA計算儲存環(huán)中所有電子損失在管壁一點時屏蔽體外的輻射劑量當量。FLUKA建模與計算結(jié)果如圖4所示。模擬中使源電子在管道內(nèi)沿管道切線方向運動,以0.004度打入外側(cè)管壁,在管壁中穿行的有效距離約5 cm,形成瞬發(fā)的軔致輻射和中子的混合輻射場,部分輻射穿過屏蔽體產(chǎn)生能量沉積。FLUKA通過探測不同位置的通量,經(jīng)過系數(shù)轉(zhuǎn)換得到不同位置的劑量當量。經(jīng)驗公式與蒙卡方法得到的屏蔽體外劑量當量如表2所示??芍獌山?jīng)驗公式的結(jié)果差異較大,與FLUKA的結(jié)果也不相同。

    表2 FLUKA與經(jīng)驗公式計算得到屏蔽體外的劑量當量Table 2 Dose equivalent outside the shield calculated by FLUKA and empirical formula

    3 側(cè)向屏蔽的分析與改進

    模擬2.5 GeV電子作用于半徑2 cm,長6 cm的圓柱銅靶,在靶周圍放置包圍靶的半徑為170~350 cm的圓環(huán)柱混凝土屏蔽體,計算屏蔽體內(nèi)劑量分布,比較FLUKA與經(jīng)驗公式的計算結(jié)果。圖4和圖5分別給出了在束流平面,與粒子入射成90度和45度的方向上屏蔽體內(nèi)的各組分劑量隨屏蔽體厚度的變化。

    圖5 與粒子入射成90度的方向上劑量隨屏蔽體厚度變化Fig.5 Dose varies with thickness of the shield in the direction of 90 degree from the direction of the particle incident

    從圖5和圖6可以看出,Moe公式給出的劑量大于Jenkins公式與FLUKA的結(jié)果。和Jenkins公式相比,Moe公式中光子、低能中子、中能中子衰減更慢,高能中子衰減更快,因此在屏蔽體不是特別厚時,巨共振中子與光電的劑量貢獻占主導,Moe公式預測的劑量較大,Jenkins預測的結(jié)果更準確。

    圖6 與粒子入射成45度的方向上劑量隨屏蔽體厚度變化Fig.6 Dose varies with thickness of the shield in the direction of 45 degree from the direction of the particle incident

    然而在表2對鋸齒墻長墻的計算結(jié)果中,Moe和Jenkins公式給出的結(jié)果都比FLUKA的結(jié)果大很多。這是由于經(jīng)驗公式適用于電子損失在厚靶的情況。電子打靶過程中,隨著靶加厚,電子能量更多損失在靶上,側(cè)向發(fā)射更多的次級粒子,側(cè)面屏蔽體外的劑量更大。而儲存環(huán)的管壁只有1 mm厚,粒子在靶中實際穿行距離只有5 cm,沒有達到厚靶的標準。出于輻射防護保守估計的考慮,計算側(cè)向屏蔽時應當選擇尺寸合適的靶。靶的尺寸包括厚度與橫截面大小,由于儲存環(huán)和加速器的主要材料組成為鐵和銅,兩者原子序數(shù)相近、輻射的相互作用差距?。?,9],本文不區(qū)分材料對結(jié)果的影響。在簡單模型下認為靶為銅制圓柱,分別考慮半徑與厚度對側(cè)面劑量的作用。

    首先給定足夠厚的靶,改變靶的半徑,利用FLUKA模擬電子從底面中心平行于側(cè)面發(fā)射,收集射出的與側(cè)面法線方向角度小于45度的次級粒子并據(jù)此計算側(cè)向能注量。計算得到的側(cè)向能注量隨半徑變化如圖7所示。

    圖7 次級粒子能注量隨初始電子能量與靶半徑的變化Fig.7 Energy fluence of secondary particles varies with energy of primary electron and radius of target

    由圖7可以看出,當靶半徑在0.1 cm到1 cm之間變化時,能注量存在2~3倍的差異。隨著靶半徑增大,中子能注量增大,且在半徑大于0.4 cm后接近定值;光子能注量先增大后減小,在半徑約為0.5 cm時達到最大。

    給定靶半徑為0.5 cm,改變靶的厚度,比較不同厚度靶側(cè)面能注量。圖8給出了側(cè)向次級粒子能注量隨厚度的變化,隨著靶的加厚次級粒子的能注量持續(xù)增長,最終在靶厚度達到15 cm時接近飽和。

    圖8 側(cè)向能注量隨初始電子能量與靶厚的變化Fig.8 Side energy distribution varies with energy of primary electron and thickness of target

    更新FLUKA建模,將靶設計為15 cm厚,半徑0.5 cm的鐵靶,重新計算儲存環(huán)點損模式下2.5 GeV電子打靶的結(jié)果,得到側(cè)向屏蔽體外最大劑量為7.5 μSv,與Jenkins公式給出的7.8 μSv符合良好。

    4 結(jié)論

    (1)在利用蒙特卡羅方法計算側(cè)面屏蔽時,應當使用半徑0.5 cm,厚度大于15 cm的靶。

    (2) Jenkins公式的結(jié)果與蒙特卡羅符合的更好,Moe公式結(jié)果更保守。

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