熊玖遠(yuǎn)
摘要:介紹了一種發(fā)動(dòng)機(jī)金屬屑分析方法,可幫助航司快速完成發(fā)動(dòng)機(jī)磁堵金屬屑成分分析,為飛機(jī)的正常運(yùn)行提供保障。
關(guān)鍵詞:X射線熒光光譜儀;掃描電鏡;能譜儀;金屬屑
Keywords: XRF;SEM;EDS;metal debris
0 引言
長(zhǎng)期以來,發(fā)動(dòng)機(jī)磁堵金屬屑分析一直是影響航司正常運(yùn)行的難題。發(fā)動(dòng)機(jī)磁堵金屬屑是發(fā)動(dòng)機(jī)內(nèi)部損傷的重要表象特征,由于發(fā)動(dòng)機(jī)內(nèi)部不同部件使用的材料大多各不相同,通過分析金屬屑成分或牌號(hào)可以評(píng)估發(fā)動(dòng)機(jī)內(nèi)部損傷位置,從而評(píng)估飛機(jī)是否可以繼續(xù)安全運(yùn)行,但簡(jiǎn)單的目視很難準(zhǔn)確判斷金屬屑成分,無法判斷發(fā)動(dòng)機(jī)是否可用。為確保運(yùn)行安全,多數(shù)航司要求在發(fā)現(xiàn)磁堵金屬屑時(shí),將金屬屑送實(shí)驗(yàn)室分析,飛機(jī)在分析未出結(jié)果之前不能放行。送檢涉及金屬屑運(yùn)輸及實(shí)驗(yàn)室分析時(shí)間,一般情況下同城需要2~3h才能拿到分析結(jié)果;如當(dāng)?shù)貨]有授權(quán)的金屬屑分析單位,則必須送往其他城市檢測(cè),等待時(shí)間更長(zhǎng),造成飛機(jī)延誤或取消,運(yùn)行品質(zhì)受到影響。根據(jù)2019年我司運(yùn)行數(shù)據(jù),兩個(gè)無金屬屑分析單位的主基地因等待化驗(yàn)結(jié)果而導(dǎo)致的延誤時(shí)間合計(jì)約1000min,共取消6天的航班,形成典型的運(yùn)行安全與運(yùn)行品質(zhì)矛盾。隨著機(jī)隊(duì)規(guī)模逐漸擴(kuò)大,磁堵檢查工卡更加頻繁,矛盾日益凸顯。
1 調(diào)研
為解決這一問題,我司計(jì)劃在無可靠實(shí)驗(yàn)室的基地建立金屬性分析能力,以實(shí)現(xiàn)在各基地均能快速完成金屬屑成分分析的目標(biāo)。但金屬屑分析對(duì)我司是一個(gè)全新的領(lǐng)域,新能力開發(fā)工作需經(jīng)過充分的調(diào)研與評(píng)估后才能正式展開。
調(diào)研發(fā)現(xiàn),國(guó)內(nèi)主要實(shí)驗(yàn)室和已開發(fā)此能力的航司均采用了掃描電鏡+能譜儀的組合來分析金屬屑成分。這種分析方法已得到國(guó)內(nèi)各司驗(yàn)證,可靠性得到充分肯定,但缺點(diǎn)是設(shè)備操作的專業(yè)性較強(qiáng),投入成本和后期的使用成本較高。
調(diào)研還發(fā)現(xiàn),國(guó)外一些航司已在使用某射線熒光光譜(XRF)設(shè)備執(zhí)行航線金屬屑分析,設(shè)備使用相對(duì)簡(jiǎn)單,但國(guó)內(nèi)業(yè)內(nèi)缺乏使用該設(shè)備的相關(guān)經(jīng)驗(yàn)。
2 分析與評(píng)估
由于調(diào)研的兩種類型的設(shè)備優(yōu)缺點(diǎn)均較明顯,在最終確定之前需針對(duì)兩種設(shè)備進(jìn)行充分的理論研究與分析。
2.1 X射線熒光光譜(XRF)
如圖1所示,XRF設(shè)備工作時(shí),通過入射X射線(一次X射線)激發(fā)被測(cè)樣品。受激發(fā)的樣品中的每一種元素會(huì)放射出二次X射線,且不同的元素放射的二次X射線具有特定的能量特性或波長(zhǎng)特性。探測(cè)系統(tǒng)測(cè)量這些放射出來的二次X射線的能量及數(shù)量。儀器軟件將探測(cè)系統(tǒng)收集到的信息轉(zhuǎn)換成樣品中各種元素的種類及含量,即完成定量分析及定性分析。
2.2 掃描電鏡+能譜儀
掃描電鏡+能譜儀工作時(shí),通過約20kV的加速電壓將電子加速到高能狀態(tài),并通過電磁透鏡聚焦成一束極細(xì)的電子束,轟擊樣品表面,當(dāng)樣品原子的核外電子被高能電子束轟擊后,部分會(huì)吸收能量并發(fā)生能級(jí)躍遷,在此過程中釋放特征X射線。此時(shí),利用SEM內(nèi)置的能譜儀探頭接收并分析該特征X射線,便得到極其微小范圍內(nèi)的成分信息。
2.3 設(shè)備對(duì)比分析
掃描電鏡+能譜儀(SEM+EDS)和X射線熒光光譜設(shè)備(XRF)由于原理上的區(qū)別,體現(xiàn)在工作方式上也是不同的。SEM+EDS方法需要先看到樣品的微觀形貌圖即SEM圖片,找到待分析的目標(biāo)位置或顆粒,再進(jìn)行實(shí)時(shí)微區(qū)掃描,這就需要操作員掌握一定的SEM操作技巧,否則在沒有SEM圖像的情況下能譜分析結(jié)果無意義。掃描電鏡的最低放大倍數(shù)一般較大,所以SEM+EDS的方法一般只用于高倍的微區(qū)分析。XRF則是宏觀檢測(cè)方法,能夠檢測(cè)出幾乎所有金屬屑的總體成分,便于整體把控。
也正是由于以上區(qū)別,從最終的分析結(jié)果來看,XRF分析方法對(duì)設(shè)備操作人員的依賴性更低,分析結(jié)果更可靠、更穩(wěn)定。
另外,XRF的檢出限是PPM級(jí)別,且對(duì)于特定條件下的重金屬元素可能達(dá)到亞PPM的檢出限,而SEM中的EDS檢出限一般只有100PPM,定量準(zhǔn)確度差距較大。
如表1所示,相較于電鏡設(shè)備, XRF設(shè)備具有操作便捷、使用環(huán)境要求低、檢測(cè)準(zhǔn)確度高、價(jià)格適中及人員培訓(xùn)簡(jiǎn)單等特點(diǎn),更適于維修基地環(huán)境使用。因此,我司經(jīng)評(píng)估后決定引進(jìn)XRF設(shè)備。
3 XRF設(shè)備驗(yàn)證
3.1 設(shè)備設(shè)置
為避免油液、灰塵等雜質(zhì)對(duì)分析結(jié)果的影響,在設(shè)備初始設(shè)置時(shí),手動(dòng)刪除C、O、Si等非金屬元素,在分析結(jié)果中將不呈現(xiàn)此類元素。比較各型號(hào)發(fā)動(dòng)機(jī)的金屬屑成分表,這些元素在常見金屬牌號(hào)中含量均較小,也非關(guān)鍵元素,因此不影響對(duì)結(jié)果的判斷。
3.2 設(shè)備試用
為驗(yàn)證設(shè)備的準(zhǔn)確性,在設(shè)備引進(jìn)初期采用雙分析的方式進(jìn)行確認(rèn)。發(fā)現(xiàn)金屬屑后先使用該設(shè)備分析,再將金屬屑送往可靠實(shí)驗(yàn)室分析;或?qū)?shí)驗(yàn)室已分析過的金屬屑再次在該設(shè)備上驗(yàn)證,比對(duì)二者的分析結(jié)果,確認(rèn)設(shè)備設(shè)置的合理性和設(shè)備分析的準(zhǔn)確性。
經(jīng)過初期對(duì)已知成分的多次驗(yàn)證分析及數(shù)十次的盲樣雙分析,確認(rèn)分析結(jié)果與國(guó)內(nèi)專業(yè)實(shí)驗(yàn)室一致,驗(yàn)證設(shè)備可用。
4 XRF設(shè)備投入使用
4.1 應(yīng)用標(biāo)準(zhǔn)
確認(rèn)設(shè)備可用后,建立設(shè)備的使用標(biāo)準(zhǔn),包括培訓(xùn)、授權(quán)及操作規(guī)范、報(bào)告評(píng)估要求、記錄保存要求等。確保設(shè)備由合格人員操作,確保分析結(jié)果符合工程標(biāo)準(zhǔn),確保結(jié)果的應(yīng)用符合維修要求。例如,評(píng)估工程師發(fā)現(xiàn)分析報(bào)告信息不足或有錯(cuò)漏可能影響評(píng)估結(jié)論時(shí),應(yīng)要求分析工程師重新分析或轉(zhuǎn)送其他化驗(yàn)機(jī)構(gòu)分析。
4.2 成果展示
如表2所示,自該設(shè)備投入使用以來,已完成發(fā)動(dòng)機(jī)金屬屑分析超過30次,多數(shù)為不影響發(fā)動(dòng)機(jī)運(yùn)行的純銀或普通合金鋼元素,有效減少了這些發(fā)動(dòng)機(jī)因等待化驗(yàn)造成的不必要延誤/取消。分析中也發(fā)現(xiàn)了M50等關(guān)鍵材料,保障了發(fā)動(dòng)機(jī)運(yùn)行安全。
5 總結(jié)
引進(jìn)XRF設(shè)備用于檢測(cè)發(fā)動(dòng)機(jī)磁堵金屬屑是維修方法上的一次創(chuàng)新。我司經(jīng)過調(diào)研、分析評(píng)估、設(shè)備驗(yàn)證及投入使用等幾個(gè)階段的工作,已準(zhǔn)備大范圍推廣使用,計(jì)劃在無可靠實(shí)驗(yàn)室的基地均配備XRF設(shè)備,以確保在磁堵發(fā)現(xiàn)金屬屑后快速檢驗(yàn),保障運(yùn)行安全,使運(yùn)行品質(zhì)維持在較高水平。