輸電線路絕緣子表面局部放電紫外圖像檢測(cè)方法

黃 凱，趙 偉，王曉鐘，王 毅，安韻竹

（1.國(guó)網(wǎng)山東省電力公司淄博供電公司，山東 淄博 255032；2.山東理工大學(xué)電氣與電子工程學(xué)院，山東 淄博 255049）

0 引言

電力設(shè)備絕緣表面局部放電檢測(cè)是保證電力輸電配電系統(tǒng)在線運(yùn)行電力設(shè)備安全的重要手段之一［1］。電力設(shè)備絕緣表面的局部放電現(xiàn)象，通常伴隨著電、熱、光、聲、化學(xué)成分等多方面的變化［2］。各國(guó)學(xué)者也根據(jù)局部放電過程中存在的這些物理化學(xué)變化，提出來一些局部放電檢測(cè)的方法［3］。根據(jù)實(shí)際檢測(cè)信號(hào)是否為電信號(hào)，將這些不同方法劃分為兩類，即基于電量的檢測(cè)法、基于非電量的檢測(cè)法?；陔娏康臋z測(cè)法有脈沖電流法、泄漏電流法和電壓分布法，基于非電量檢測(cè)法有超聲波檢測(cè)法［4］、紅外線成像法［5］和紫外成像法［6-7］。

如今電力系統(tǒng)檢測(cè)電力設(shè)備絕緣的局部放電推薦采用接觸式的檢測(cè)方法，但這類方式勞動(dòng)強(qiáng)度大并且具有一定的危險(xiǎn)性［8］。近年來，隨著紫外檢測(cè)技術(shù)的不斷發(fā)展，紫外成像儀可以實(shí)現(xiàn)白天對(duì)電力設(shè)備局部放電的檢測(cè)［9］。紫外檢測(cè)技術(shù)是通過檢測(cè)電力設(shè)備絕緣表面局部放電過程中輻射的紫外光子數(shù)來實(shí)現(xiàn)局部放電強(qiáng)度的檢測(cè)［10］。該方法可用于檢測(cè)導(dǎo)線污閃、絕緣子破損、導(dǎo)線破損、復(fù)合絕緣子安裝不當(dāng)?shù)纫鸬慕^緣表面的局部放電現(xiàn)象。其檢測(cè)結(jié)果不受日光的影響，但與空氣濕度、氣壓、溫度、檢測(cè)距離等因素有關(guān)［11-13］。由于紫外檢測(cè)技術(shù)是對(duì)局部放電的光信號(hào)進(jìn)行檢測(cè)，因此，該技術(shù)可以及時(shí)發(fā)現(xiàn)電力設(shè)備絕緣表面的早期局部放電現(xiàn)象。

由于電力設(shè)備絕緣長(zhǎng)期暴露在外界環(huán)境下，利用紫外成像儀拍攝絕緣表面局部放電過程時(shí)會(huì)受到各種外界因素如噪聲的干擾，拍攝的電力設(shè)備絕緣表面的局部放電紫外觀測(cè)圖像存在部分白噪聲，從而影響紫外成像儀的檢測(cè)結(jié)果，無法準(zhǔn)確判斷電力設(shè)備絕緣的實(shí)際運(yùn)行狀態(tài)。為此，提出采用圖像處理方法對(duì)電力設(shè)備絕緣的紫外觀測(cè)圖像進(jìn)行處理［14］，減少背景噪聲對(duì)紫外檢測(cè)結(jié)果的影響。具體圖像處理算法流程為采用紫外圖像分割法、數(shù)學(xué)形態(tài)學(xué)與局部濾除相結(jié)合的方法對(duì)電力設(shè)備絕緣表面局部放電的紫外圖像進(jìn)行降噪處理，確定紫外圖像的局部放電范圍，在此基礎(chǔ)上計(jì)算局部放電圖像光斑面積。

1 紫外成像儀的原理

工作在大氣環(huán)境下的輸電線路和變電站配電設(shè)備，在某些情況下會(huì)隨著絕緣子絕緣性能降低在絕緣子表面出現(xiàn)局部放電現(xiàn)象，放電部位會(huì)放射出很多的紫外線，可以通過絕緣子表面局部放電的產(chǎn)生和增強(qiáng)來間接評(píng)價(jià)設(shè)備運(yùn)行時(shí)的絕緣狀態(tài)，及時(shí)地對(duì)設(shè)備絕緣缺陷進(jìn)行檢測(cè)。目前，光學(xué)檢測(cè)方法的靈敏度、分辨率和抗干擾能力是判斷各種放電過程強(qiáng)度的最佳方法。采用紫外檢測(cè)技術(shù)可以發(fā)現(xiàn)電力設(shè)備絕緣表面的早期局部放電現(xiàn)象，有助于現(xiàn)場(chǎng)電力設(shè)備的運(yùn)行與維護(hù)，減少因電力設(shè)備絕緣出現(xiàn)相關(guān)問題引發(fā)電力系統(tǒng)故障。與紅外成像儀相比，紫外成像儀能夠有效發(fā)現(xiàn)一些早期局部放電現(xiàn)象。因此，可采用應(yīng)用范圍更為廣泛的紫外成像儀完成對(duì)電力設(shè)備絕緣局放程度的檢測(cè)和分析。

紫外成像儀具有兩個(gè)光路，一個(gè)光路利用可見光觀測(cè)電力設(shè)備影像，另一個(gè)光路利用低于280 nm波長(zhǎng)的紫外信號(hào)觀測(cè)電力設(shè)備絕緣表面的局部放電現(xiàn)象［15］。最終紫外成像儀檢測(cè)到的電力設(shè)備絕緣表面局部放電現(xiàn)象的紫外圖像是由上述兩路光信號(hào)檢測(cè)影像疊加而成。與電量法如脈沖電流法相比，紫外成像法對(duì)電力設(shè)備絕緣表面的局部放電位置的定位更為精確。但該方法檢測(cè)到的紫外信號(hào)強(qiáng)度與絕緣表面局部放電強(qiáng)度之間的量化關(guān)系，目前還無法對(duì)兩者之間的對(duì)應(yīng)關(guān)系精確對(duì)應(yīng)。

2 電力設(shè)備絕緣表面局部放電紫外圖像光斑面積計(jì)算方法

2.1 紫外圖像光斑區(qū)域分割

將紫外成像儀采集的圖像信號(hào)保存到計(jì)算機(jī)后，為便于分析和計(jì)算，利用MATLAB 軟件編寫程序?qū)⒆贤鈭D像轉(zhuǎn)換為灰度圖像，灰度圖像以像素灰度矩陣的形式存儲(chǔ)。電力設(shè)備絕緣表面局部放電區(qū)域呈現(xiàn)為一些白色大斑［16］，這部分區(qū)域像素矩陣中的元素多在255附近，而其他非放電區(qū)域?qū)?yīng)的圖像像素矩陣的位置元素通常明顯小于255。因此，根據(jù)電力設(shè)備絕緣表面局部放電紫外圖像像素矩陣中元素的這一分布規(guī)律，可以采用閾值分割算法［17］確定局部放電光斑區(qū)域。例如將絕緣局部放電照片進(jìn)行局部放電區(qū)域與非放電區(qū)域的分類，從而對(duì)放電區(qū)域進(jìn)行計(jì)算和分析。利用閾值法進(jìn)行圖像分割的最大特點(diǎn)是計(jì)算簡(jiǎn)便并且效率高。

閾值法分割圖像的準(zhǔn)確性主要取決于圖像分割時(shí)采用的閾值T1的準(zhǔn)確性。因此，為了保證紫外圖像局部放電區(qū)域分割的準(zhǔn)確性，在進(jìn)行圖像閾值分割時(shí)，其閾值T1取值同時(shí)考慮灰度分布直方圖和圖像自身特點(diǎn)兩方面。不同紫外圖像在處理時(shí)采用閾值不同?；叶葓D像經(jīng)過閾值法分割后，將圖像區(qū)域分割為局部放電光斑區(qū)和非放電區(qū)兩部分，為了便于計(jì)算分析，通常將紫外灰度圖像轉(zhuǎn)換為紫外二值圖像。即對(duì)應(yīng)的像素矩陣中的灰度轉(zhuǎn)化為0 或者1，局部放電光斑區(qū)對(duì)應(yīng)的像素矩陣位置元素取1，非放電區(qū)對(duì)應(yīng)的像素矩陣位置元素取0。通過閾值分割［18］和二值處理后，電力設(shè)備絕緣表面局部放電紫外圖像將轉(zhuǎn)化為黑白圖像，放電區(qū)域?yàn)榧儼咨欠烹妳^(qū)域?yàn)榧兒谏?。閾值法分割及二值化圖像的操作原理如圖1所示。

圖1 閾值法分割及二值化過程

2.2 紫外圖像的濾波降噪

數(shù)學(xué)形態(tài)學(xué)［19］的基本思想對(duì)數(shù)字圖像處理的理論和技術(shù)的發(fā)展具有重大的推進(jìn)作用。筆者采用數(shù)字圖像處理方法的核心技術(shù)就是基于數(shù)學(xué)形態(tài)學(xué)的基礎(chǔ)之上。數(shù)學(xué)形態(tài)學(xué)由膨脹、腐蝕、開啟和閉合這4 個(gè)基本運(yùn)算組成，其中腐蝕運(yùn)算和膨脹運(yùn)算屬于數(shù)學(xué)形態(tài)學(xué)的兩種基本數(shù)學(xué)運(yùn)算，可以很有效地完成圖像的相關(guān)處理。對(duì)電力設(shè)備絕緣表面紫外圖像，可以利用數(shù)學(xué)形態(tài)學(xué)在腐蝕運(yùn)算后繼續(xù)采用膨脹運(yùn)算，從而可以非常高效地把紫外圖像中的毛刺、白噪聲等濾掉；如果采用數(shù)學(xué)形態(tài)學(xué)在膨脹運(yùn)算過后再采用腐蝕運(yùn)算，這種處理過后能夠?qū)⑧徑繕?biāo)連接起來。利用數(shù)學(xué)形態(tài)學(xué)對(duì)圖像在腐蝕運(yùn)算后繼續(xù)采用膨脹運(yùn)算后，會(huì)使被處理圖像變?。焕脭?shù)學(xué)形態(tài)學(xué)對(duì)圖像進(jìn)行膨脹運(yùn)算后再采用腐蝕運(yùn)算，又可使被處理圖像增大。

數(shù)學(xué)形態(tài)學(xué)正是運(yùn)用這樣一些計(jì)算方法，數(shù)學(xué)形態(tài)學(xué)在計(jì)算時(shí)選取某個(gè)結(jié)構(gòu)元素探針，對(duì)數(shù)字圖像的相關(guān)特點(diǎn)信息進(jìn)行分析歸納，找出圖像不同區(qū)域之間的相互聯(lián)系與區(qū)別，從而實(shí)現(xiàn)對(duì)數(shù)字圖像進(jìn)行一系列相關(guān)圖像處理。圖2 示例了像素點(diǎn)先膨脹運(yùn)算再腐蝕運(yùn)算處理前后的變化過程。

圖2 先膨脹運(yùn)算再腐蝕運(yùn)算前后像素點(diǎn)的變化

電力設(shè)備絕緣面長(zhǎng)期暴露在室外，通常會(huì)受到噪聲的干擾。采用閾值分割數(shù)字圖像［20］，圖像邊界多為不平滑邊界，為了保持圖像邊界的平滑性，可以通過數(shù)學(xué)形態(tài)學(xué)的開啟運(yùn)算和閉合運(yùn)算的組合實(shí)現(xiàn)。為此，對(duì)電力設(shè)備絕緣表面的局部放電圖像進(jìn)行先膨脹后腐蝕的閉合運(yùn)算，實(shí)現(xiàn)對(duì)閾值分割后圖像邊界的平滑處理和內(nèi)部空洞的填補(bǔ)處理。在絕緣局部放電圖像的處理過程中，采用圖片腐蝕的操作方法可以令膨脹過后的照片恢復(fù)原狀，放電區(qū)域趨于圓潤(rùn)，噪聲點(diǎn)也隨之減少。紫外成像儀檢測(cè)到的絕緣子放電區(qū)域大多呈圓形，因此結(jié)構(gòu)元素形狀選為圓形，其半徑由具體圖像確定。這樣就可以順利對(duì)絕緣子放電區(qū)域進(jìn)行求取邊界的處理。

2.3 紫外圖像放電區(qū)域確定

通過2.2 節(jié)的分析，本節(jié)將對(duì)電力設(shè)備絕緣表面局部放電的紫外圖像采取數(shù)學(xué)形態(tài)學(xué)濾波操作，有效地改善了紫外二值圖像中的噪聲點(diǎn)的分布，但這種方法無法將噪聲點(diǎn)完全去除，可能仍然存在部分干擾噪聲點(diǎn)。此時(shí)，采用局部濾波的方法，進(jìn)一步對(duì)紫外二值圖像去噪。根據(jù)電力設(shè)備絕緣表面局部放電紫外圖像的特點(diǎn)，局部放電區(qū)域多為大塊區(qū)域，因此，可通過設(shè)定像素閾值來確定放電區(qū)域，對(duì)紫外二值圖像進(jìn)行濾波處理。具體圖像處理過程如下：

1）對(duì)電力設(shè)備絕緣表面局部放電紫外二值化圖像的連通區(qū)域進(jìn)行編號(hào)，并分別計(jì)算編號(hào)的連通域內(nèi)的像素點(diǎn)數(shù)；

2）分別計(jì)算灰度矩陣中每個(gè)連通域中的像素?cái)?shù)；

3）分析實(shí)際電力設(shè)備局部放電紫外圖像的灰度值分布規(guī)律，并依據(jù)其灰度值分布規(guī)律確定局部放電區(qū)域的灰度閾值T2。若圖像的某個(gè)連通域內(nèi)像素?cái)?shù)小于T2，則將連通域灰度值取為0。

采用濾波操作后，電力設(shè)備絕緣表面局部放電紫外圖像中的局部放電區(qū)域?yàn)樘幚砗髨D像中的白色區(qū)域。為了能夠確定放電區(qū)域的邊界，本算法中采用4-連接邊沿方式提取局部放電區(qū)域邊界位置，并記錄放電光斑對(duì)應(yīng)的所有像素信息。

2.4 紫外圖像光斑面積計(jì)算

在電力設(shè)備絕緣表面局部放電的紫外二值圖像中，局部放電區(qū)域呈現(xiàn)為白色光斑，對(duì)應(yīng)像素矩陣位置的元素值取“1”，而非放電區(qū)域呈現(xiàn)為黑色區(qū)域，對(duì)應(yīng)像素矩陣中元素值取“0”。因此，統(tǒng)計(jì)電力設(shè)備表面局部放電的紫外二值圖像中局部放電區(qū)域內(nèi)的像素點(diǎn)的總數(shù)目，即該像素點(diǎn)數(shù)目可表征這個(gè)局部放電區(qū)域的大小。本文中，定義這個(gè)局部放電區(qū)域的像素總數(shù)為“光斑面積”。在圖像處理過程中，通過利用MATLAB 軟件編寫程序提取出電力設(shè)備絕緣表面局部放電的紫外二值圖像的局部放電區(qū)域，記錄絕緣表面局部放電區(qū)域的坐標(biāo)位置，通過二值圖像矩陣中的行和列的像素?cái)?shù)值的乘積獲得。電力設(shè)備絕緣表面局部放電區(qū)域面積計(jì)算如式（1）所示。

A=aN（1）

式中：A為電力設(shè)備絕緣表面放電區(qū)域?qū)嶋H光斑面積；a為每個(gè)像素面積；N為光斑面積內(nèi)實(shí)際像素總數(shù)。像素點(diǎn)的實(shí)際面積與紫外攝像儀的設(shè)備設(shè)置參數(shù)、拍攝距離等均緊密相關(guān)。

采用MATLAB 軟件對(duì)電力設(shè)備絕緣表面局部放電圖像進(jìn)行處理、計(jì)算和分析，實(shí)現(xiàn)對(duì)電力設(shè)備絕緣表面局部放電區(qū)域圖像光斑面積的計(jì)算。圖像處理程序的操作流程如圖3所示。

圖3 圖像處理的操作流程

如圖3 所示，首先將紫外圖像轉(zhuǎn)化為二值化圖像，采用膨脹腐蝕的形態(tài)學(xué)方法進(jìn)行局部濾波，計(jì)算濾波后圖像的封閉區(qū)域個(gè)數(shù)。若存在多個(gè)封閉區(qū)域，再進(jìn)行濾波直至保存最大的一個(gè)封閉區(qū)域?yàn)橹?。最后確定最大封閉區(qū)域的位置坐標(biāo)，提取局部放電區(qū)域的邊界坐標(biāo)并根據(jù)式（1）計(jì)算放電區(qū)域光斑面積。

3 算例分析

以南非corocam 504拍攝的室內(nèi)紫外燈管的圖片為例，計(jì)算拍攝到的紫外光子區(qū)域光斑面積。圖4是室內(nèi)利用紫外成像儀采集到的紫外燈的紫外圖像，對(duì)該紫外圖像的光斑面積進(jìn)行計(jì)算。

圖4 絕緣子局部放電時(shí)的紫外彩色圖像

首先利用MATLAB 軟件讀取采集到的絕緣子局部放電的彩色圖像，并通過編程操作將彩色圖像將其變?yōu)榛叶葓D像，如圖5所示。

圖5 絕緣子局部放電的灰度圖像

轉(zhuǎn)化為灰度圖像之后，下一步通過程序在灰度圖像的基礎(chǔ)上繪制出圖像的灰度值分布曲線如圖6所示。

圖6 紫外圖像的灰度值分布曲線

由圖像的灰度值分布曲線可以看出，絕緣子表面出現(xiàn)局部放電現(xiàn)象時(shí)，放電區(qū)域圖像的灰度值分在200～255范圍內(nèi)，而其他非放電區(qū)域背景部分灰度分布在100以下，兩部分的灰度值分布具有明顯的區(qū)別。根據(jù)該圖像的灰度值分布曲線，可選取放點(diǎn)區(qū)域的圖像分割閾值T1為230。通過編程圖像分割處理后，將圖像對(duì)應(yīng)的像素矩陣元素值低于230的均取為0，而像素矩陣元素值在230～255 范圍內(nèi)的均取為1，將其紫外圖像轉(zhuǎn)換成黑白二值化圖。二值化后，放電圖像如圖7所示。

圖7 絕緣子局部放電的二值圖像

為了更好地對(duì)圖片進(jìn)行降噪處理，經(jīng)過多次嘗試后發(fā)現(xiàn)，當(dāng)在創(chuàng)建圓盤半徑為2輸入程序之中對(duì)紫外圖像進(jìn)行處理時(shí)，對(duì)放電區(qū)域的二值圖像進(jìn)行膨脹和腐蝕處理的降噪效果最佳。通過編程操作實(shí)踐了第1 節(jié)的理論分析利用閉運(yùn)算對(duì)圖像進(jìn)行降噪處理，通過strel 和imerode 指令實(shí)現(xiàn)。圖像中的噪聲點(diǎn)被填充，操作后呈現(xiàn)出的絕緣子局部放電區(qū)域更加圓潤(rùn)和清晰，如圖8所示。

圖8 經(jīng)膨脹腐蝕處理后的放電紫外圖像

計(jì)算圖像的封閉區(qū)域數(shù)n，當(dāng)?shù)玫降挠?jì)算結(jié)果n大于1 時(shí)，即圖像中存在封閉區(qū)域，則可以繼續(xù)求取封閉區(qū)域的個(gè)數(shù)，通過編程操作留下最大的一個(gè)聯(lián)通域既可以提取出的絕緣子局部放電的核心區(qū)域以及光斑邊界，去除噪聲點(diǎn)并且提取出絕緣子局部放電的核心區(qū)域后，就能夠利用軟件計(jì)算出放電區(qū)域的像素?cái)?shù)目，進(jìn)而判斷出放電區(qū)域光斑面積的大小，利用軟件得到如圖9所示。

圖9 絕緣子局部放電的最大聯(lián)通域

利用bwperim 指令識(shí)別并提取出最大聯(lián)通域圖像中的放電邊界如圖10所示。

圖10 絕緣子放電邊界的提取

在原來的放電紫外圖像中繪制亮斑邊界。將提取出的光斑邊界位置并添加到原圖中，對(duì)比通過圖像處理所提取出的絕緣子放電面積是否能與原圖中放電面積相互重合，從而驗(yàn)證提取出光斑區(qū)域的準(zhǔn)確性。如圖11 所示，通過對(duì)紫外圖像進(jìn)行減弱噪聲點(diǎn)處理后提取出的光斑區(qū)域，添加到原圖相同的位置后，兩區(qū)域基本重合，證明提取的放電區(qū)域是準(zhǔn)確的。在分析不同因素對(duì)絕緣子放電區(qū)域產(chǎn)生的不同影響時(shí)，需要對(duì)不同條件下的多張圖片進(jìn)行提取放電區(qū)域和計(jì)算光斑面積，最后都經(jīng)過在放電原圖中添加提取到的亮斑邊界這個(gè)步驟，驗(yàn)證提取的區(qū)域是否準(zhǔn)確，避免了分析結(jié)果出現(xiàn)偏差、與理論實(shí)際不相符的情況。

圖11 添加亮斑邊界至原灰度圖像中

計(jì)算紫外圖像光斑面積的具體方法為：在MATLAB軟件中使用“area=regionprops（D，‘a(chǎn)rea’）”指令，regionprops 函數(shù)用于提取紫外二值圖像的光斑面積，針對(duì)圖10中經(jīng)過降噪處理后提取出的光斑區(qū)域進(jìn)行像素?cái)?shù)的計(jì)算，即像素矩陣中元素值為1的像素點(diǎn)的數(shù)目，求得光斑區(qū)域面積。經(jīng)計(jì)算得到圖10 中的紫外燈光斑面積為9 913 pixel，即該紫外圖像光斑區(qū)域包含有9 913個(gè)像素點(diǎn)。

4 驗(yàn)證分析

以干凈絕緣子為研究對(duì)象，分別施加35 kV、40 kV、45 kV、50 kV、60 kV和66 kV工頻電壓，并用紫外攝像儀記錄絕緣子表面的局部放電紫外圖像。通過拍攝到的紫外圖像，分別記錄不同電壓作用下標(biāo)定放電區(qū)域的光子數(shù)目，并對(duì)紫外圖像進(jìn)行處理計(jì)算局部放電區(qū)光斑面積。分析放電標(biāo)定區(qū)域光子數(shù)目和光斑面積隨外施工頻電壓幅值的變化規(guī)律，看二者所得出的結(jié)論是否一致，避免單一記錄光子數(shù)存在較大的誤差。對(duì)干凈絕緣子施加不同等級(jí)的電壓紫外成像儀采集到的光子數(shù)統(tǒng)計(jì)結(jié)果如圖12所示。

如圖12所示，隨著工頻電壓幅值的升高，紫外成像儀檢測(cè)到的光子數(shù)目增多。即絕緣子在較高電壓作用下局部放電情況更劇烈，可見局部放電的劇烈程度和光子的數(shù)目成正比。利用MATLAB 計(jì)算出絕緣子實(shí)際局部放電區(qū)域并計(jì)算出放電區(qū)域的像素?cái)?shù)，所得結(jié)果如圖13所示。

圖12 不同電壓下干凈絕緣子檢測(cè)到的光子數(shù)

圖13 不同電壓下干凈絕緣子檢測(cè)到的放電區(qū)域面積

顯然，由于絕緣子表面電場(chǎng)強(qiáng)度的增大，絕緣子表面局部放電強(qiáng)度增大，紫外圖像的光斑面積和檢測(cè)到的光子數(shù)量均隨著外施工頻電壓幅值的增大而增大。

5 結(jié)語

從圖像處理的理論基礎(chǔ)出發(fā)，基于圖像處理的基本原理和技術(shù)思路，研究電力設(shè)備絕緣表面局部放電紫外圖像的圖像分割、濾波降噪及光斑面積計(jì)算方法。首先通過閾值法進(jìn)行圖像的分割，接著對(duì)圖像進(jìn)行降噪處理，對(duì)圖像處理以消除噪點(diǎn)；利用局部濾出的方法進(jìn)一步對(duì)圖像進(jìn)行降噪處理以更好地提取出絕緣子局部放電區(qū)域，最后利用程序?qū)μ崛〕龅淖贤鈭D像進(jìn)行光斑面積的計(jì)算。

通過對(duì)干凈絕緣子施加不同電壓等級(jí)的工頻電壓，分別通過實(shí)驗(yàn)和仿真計(jì)算干凈絕緣子表面的光子數(shù)和光斑面積，對(duì)實(shí)驗(yàn)和仿真計(jì)算進(jìn)行比較，得出相同的結(jié)論，隨著工頻電壓的增大，絕緣子表面局部放電增強(qiáng)，放電區(qū)域的電子數(shù)增多，紫外檢測(cè)到的光斑面積增大。