沈成業(yè) 金 偉 高 星 錢盛杰 李斌彬
(寧波市特種設(shè)備檢驗研究院)
石化行業(yè)中,經(jīng)常采用伴熱的方式給工藝管道加熱或保溫,使管內(nèi)介質(zhì)保持在合適的溫度范圍,以免受到外部低溫環(huán)境的影響,夾套管就是常用的伴熱形式之一。 夾套管是一種具有雙層套管結(jié)構(gòu)的特殊類型管道[1],是在小直徑內(nèi)管的基礎(chǔ)上套上同心的大直徑套管組合而成的。 內(nèi)管用于輸送工藝介質(zhì),外管內(nèi)流動著起加熱或保溫作用的熱載體[2]。
夾套管的內(nèi)管檢測是壓力管道無損檢測領(lǐng)域的一大難點,而內(nèi)管的質(zhì)量是保證整條管線安全運行的重要組成部分。 夾套管主要的安全隱患是腐蝕減薄和焊接接頭缺陷。 國內(nèi)很多化工企業(yè)發(fā)生過夾套管泄漏事故,對人民的生命和財產(chǎn)安全造成了極大的威脅。 張曉筱等對天然氣凈化廠硫磺回收單元液硫池廢氣夾套管線多次腐蝕泄漏進行了失效原因分析,發(fā)現(xiàn)廢氣夾套管線失效的兩大原因: 一是施工工藝和質(zhì)量把控不嚴(yán);二是由于管道中的工藝介質(zhì)引起的腐蝕。 并提出了相應(yīng)的改進措施,以期延長夾套管線的使用壽命[3]。
對于夾套外管的檢測,可以利用常規(guī)無損檢測技術(shù)進行。 夾套內(nèi)管埋藏在夾套內(nèi)部,無法觸碰,常規(guī)無損檢測技術(shù)難以實施檢測。 而夾套管的失效往往是從夾套內(nèi)管起源的,因此很有必要開展對內(nèi)管檢測技術(shù)的研究。 目前,有學(xué)者利用常規(guī)超聲檢測技術(shù)對夾套內(nèi)管進行測厚,但該技術(shù)為A超顯示,圖像不直觀,且存在多層介質(zhì)的界面波干擾問題,需要經(jīng)驗豐富的操作人員來進行檢測。 利用相控陣超聲檢測技術(shù)來實現(xiàn)對夾套內(nèi)管的超聲成像研究在國內(nèi)外還未有報道。 相控陣檢測夾套內(nèi)管雖然也存在多層介質(zhì)回波的干擾,但可以形成A、B、C、D、S等多種掃描圖像,成像直觀且克服了常規(guī)超聲在多層介質(zhì)中的衰減問題,大幅提高了檢測靈敏度。
為了檢測夾套內(nèi)管的腐蝕情況,利用相控陣延時聚焦法則將超聲波匯聚于夾套內(nèi)管的內(nèi)側(cè)。超聲波通過夾套管的外層和內(nèi)層時傳播介質(zhì)為鋼,通過中間層時傳播介質(zhì)為導(dǎo)熱油。檢則時超聲波由鋼進入油,再由油進入鋼中,并在夾套內(nèi)管中聚焦。 因此,超聲波在傳播過程中經(jīng)歷了兩次油-鋼界面,聲能衰減嚴(yán)重。相控陣能將聲能集中在需要檢測的區(qū)域, 大幅增加了檢測的靈敏度和信噪比,使之能有效檢測出夾套內(nèi)管的腐蝕情況。
如圖1所示,為夾套管內(nèi)的3層介質(zhì)波束聚焦模型。
圖1 夾套管內(nèi)的3層介質(zhì)波束聚焦模型
以相控陣的中心陣元為0號陣元, 設(shè)中心陣元的左、右兩側(cè)分別有N個陣元,左側(cè)陣元命名為1、2、…、N號陣元,右側(cè)陣元命名為-1、-2、…、-N號陣元。以左側(cè)陣元中任意一個奇數(shù)陣元m為例,推導(dǎo)其聚焦延時計算公式。 設(shè)陣元間距為d,第m號陣元與0號陣元的距離為Sm,則Sm=md。 超聲波由鋼進入到油會發(fā)生折射作用,設(shè)第m號陣元鋼-油界面的入射角為αm,折射角為βm。 接著,超聲波由油進入鋼中又會發(fā)生折射作用,其折射率和第1層鋼-油界面一樣, 因此此時油-鋼界面的入射角為βm,折射角為αm。 設(shè)c1和c2分別為鋼和油中的聲速,根據(jù)折射定律可得:
設(shè)d1、d2、d3分別為夾套外管、油層和夾套內(nèi)管的厚度,根據(jù)聲波傳播的橫向距離可得:
由于文中聲束的不偏轉(zhuǎn)聚焦,故位于參考點兩邊的相控陣列陣元信號的延時量相等,即:τ1=τ-1,τ2=τ-2,…,τm=τ-m。 因此,僅需要計算左邊陣元的信號延時量。
記激發(fā)陣元個數(shù)為2N, 第m號陣元接收信號為ym(t),則超聲相控陣波束形成輸出為:
在理論分析3層介質(zhì)波束聚焦模型的基礎(chǔ)上,筆者利用CIVA軟件對夾套管聲場進行建模仿真研究,3層介質(zhì) (鋼-油-鋼) 厚度分別為8、18、6mm。
選取頻率為5.0MHz、陣元寬度為0.9mm、間距為1.0mm、長度為10mm、偏轉(zhuǎn)角為0°的相控陣參數(shù),焦點落在內(nèi)管的外側(cè)。 設(shè)激發(fā)陣元個數(shù)為n,分別對n為4、8、16、32個激發(fā)陣元的聲場聚焦性能進行仿真(圖2)。 由聲場仿真圖可得,當(dāng)n為4、8時,聲場的聚焦效果較差,聲波無法形成有效的匯聚;當(dāng)n為16、32時,聲場的聚焦效果較好。
圖2 激發(fā)陣元個數(shù)n對聚焦性能的影響
圖3為不同激發(fā)陣元個數(shù)的相對聲壓幅值比對,其中紅線、黑線、藍線、綠線分別對應(yīng)的是激發(fā)陣元個數(shù)n為4、8、16、32的相對聲壓幅值。 幅值越高則代表超聲在該介質(zhì)中的聲能越大,越有利于檢測出缺陷。 從圖4可以看出,激發(fā)陣元個數(shù)越高,聲場的匯聚效果越好。 但過多的激發(fā)陣元個數(shù)會增加系統(tǒng)的復(fù)雜性,因此在保證一定聚焦效果的同時沒有必要無限增大激發(fā)陣元個數(shù),從圖3中可以看出,n=16在第3層介質(zhì)中具有良好聚焦效果且其相對聲壓幅值只比n=32的低了3.9dB。但n=4、n=8的情況下,聲場在第3層介質(zhì)中已經(jīng)失去聚焦性能。 特別是n=4的情況下,聲場在第2層介質(zhì)中已經(jīng)開始發(fā)散,最終造成在聚焦點附近出現(xiàn)較低的相對聲壓幅值。 所以,綜合考慮之后選取n=16的激發(fā)陣元個數(shù)作為檢測該工件的工藝參數(shù)。
圖3 不同激發(fā)陣元數(shù)的相對聲壓幅值比對
為了抑制旁瓣, 應(yīng)使陣元寬度a盡量接近陣元間距d[4]。 CIVA建模設(shè)置參數(shù)時,初步選取頻率5.0MHz、陣元間隙0.1mm、偏轉(zhuǎn)角0°、陣元個數(shù)為16,焦點落在內(nèi)管外側(cè),對陣元寬度a為0.3、0.6、0.9、1.2mm的4組數(shù)據(jù)進行仿真, 仿真結(jié)果如圖4所示。
圖4 陣元寬度a對聚焦性能的影響
由圖4聲場仿真圖可得, 當(dāng)陣元寬度a為0.3mm和0.6mm時, 聲場在內(nèi)管的聚焦性能較差,當(dāng)陣元寬度a=1.2mm時,出現(xiàn)了柵瓣效應(yīng),主聲束兩側(cè)出現(xiàn)了兩個較明顯的柵瓣。 故陣元尺寸選取a=0.9mm較為理想。
在超聲相控陣參數(shù)設(shè)計時,超聲波頻率的選取至關(guān)重要。 頻率對超聲檢測的影響有多個方面。 頻率越高,相控陣探頭的焦點越小,聚焦能力和分辨力越高,但容易產(chǎn)生旁瓣和柵瓣[5]。筆者針對陣元寬度為0.9mm、 間距為1.0mm、 長度為10mm、陣元個數(shù)為16、偏轉(zhuǎn)角為0°的相控陣參數(shù),焦點落在內(nèi)管的外側(cè), 分別選取頻率f為2.5、5.0、10.0MHz進行仿真,結(jié)果如圖5所示。
由圖5聲場仿真圖可得,當(dāng)f=2.5MHz時,聲場的聚焦能力和分辨力較低,當(dāng)f=10.0MHz時,出現(xiàn)了柵瓣效應(yīng)。 故頻率選取f=5.0MHz作為檢測該工件的工藝參數(shù)。
根據(jù)上述理論分析和聲場仿真,最終確定相控陣探頭的設(shè)計參數(shù), 采用一維線性相控陣探頭,聲束聚焦模式為單點聚焦,其體參數(shù)如下:
陣元數(shù) 64個
頻率 5.0MHz
陣元寬度a 0.9mm
陣元間距d 1.0mm
圖5 頻率f對聚焦性能的影響
帶寬 60%
圖6為設(shè)計參數(shù)下的相控陣聲場圖和聲壓幅值曲線。 從圖6a可以看出,聲場在夾套內(nèi)管處形成了良好的匯聚, 保證了檢測的靈敏度和信噪比。 從圖6b可以看出,聲場在夾套外管中不斷匯聚,到鋼-油界面處能量迅速衰減,接著又在油層中不斷匯聚,到油-鋼界面處又經(jīng)歷一次衰減,最終在夾套內(nèi)管中不斷匯聚到達聚焦點。
圖6 設(shè)計參數(shù)下的相控陣聲場圖和聲壓幅值曲線
對設(shè)計得到的相控陣參數(shù)進行缺陷響應(yīng)研究。 缺陷響應(yīng)可以模擬聲波與工件中缺陷的作用,通過工藝參數(shù)的設(shè)置,獲得最佳檢測效果。 筆者設(shè)計了外徑為250mm、內(nèi)徑為200mm、外管壁厚為8mm、內(nèi)管壁厚為6mm的夾套管試塊,并在夾套和內(nèi)管中充滿導(dǎo)熱油。 其中,內(nèi)管下表面加工成2、4、6mm高度的階梯形試樣。 圖7為缺陷響應(yīng)模型和聲場延時聚焦法則。 圖8a為6mm階梯高度所對應(yīng)的A掃(左)和B掃(右)圖像,圖8b為4mm階梯高度所對應(yīng)的A掃(左)和B掃(右)圖像,圖8c為 2mm階梯高度所對應(yīng)的A掃(左)和B掃(右)圖像。
圖7 缺陷響應(yīng)模型和聲場延時聚焦法則
圖8 不同階梯高度所對應(yīng)的A掃(左)和B掃(右)圖像
最后, 利用CIVA軟件進行true B scan成像,得到如圖9所示的夾套管B掃圖像,該圖中的各個界面波和夾套內(nèi)壁回波圖像清晰完整,較好地解決了夾套內(nèi)管的腐蝕檢測問題。
圖9 夾套管B掃圖像
4.1 分析了夾套管內(nèi)的3層介質(zhì)波束聚焦模型,通過計算推導(dǎo)出相控陣的延時聚焦公式。
4.2 利用CIVA軟件仿真可以實現(xiàn)對相控陣探頭的參數(shù)設(shè)計和檢測工藝制定。 通過合理設(shè)置相控陣工藝參數(shù),可以實現(xiàn)對夾套內(nèi)管的腐蝕檢測。
4.3 根據(jù)CIVA聲場仿真可以分析超聲波在夾套管3層介質(zhì)中的傳播情況, 通過對夾套內(nèi)管處超聲波聚焦能力的分析,得到了一組較為理想的夾套管腐蝕檢測的相控陣探頭參數(shù)。
4.4 通過缺陷響應(yīng)研究發(fā)現(xiàn),相控陣超聲檢測技術(shù)可以對階梯高度分別為2、4、6mm的試塊進行檢測,根據(jù)不同的底波深度可以確定夾套內(nèi)管的腐蝕情況,成功實現(xiàn)了夾套內(nèi)管的腐蝕檢測。