劉 斌,趙 靜 ,譙 倩 ,李志偉 ,朱均超 ,許 亮 ,張寶峰
(1.天津市復(fù)雜系統(tǒng)控制理論及應(yīng)用重點(diǎn)試驗(yàn)室,天津 300384;2.天津理工大學(xué)電氣電子工程學(xué)院,天津 300384)
微結(jié)構(gòu)三維測量的方法主要分為接觸式測量和非接觸式測量。接觸式測量使用探針對(duì)被測物表面進(jìn)行掃描。三坐標(biāo)測量機(jī)(coordinate measuring machine,CMM)是一種常見的接觸式測量儀。接觸式測量[1]可以獲得清晰的被測物表面形狀輪廓,完成較長距離的測量。但被測物表面會(huì)因探針的碰觸而留下瑕疵,無法測量比探針端半徑還要小的溝槽。目前,非接觸式測量的常用方法有白光干涉法[2]、雙目法[3]、激光三角法[4]、光度法、結(jié)構(gòu)光法[5]、聚焦法等。聚焦法[6]利用圖像清晰度評(píng)價(jià)函數(shù)判定聚焦最清晰位置,進(jìn)而獲得深度信息,適合測量范圍較小的物體。其精度較高且成本低,但易受光照不均等因素影響。
實(shí)現(xiàn)微小物體表面輪廓的非接觸測量,其關(guān)鍵問題在于如何精確獲取表面輪廓的深度信息。針對(duì)這個(gè)問題,提出了改進(jìn)的聚焦判定方法,對(duì)圖像的清晰度評(píng)價(jià)算法進(jìn)行了優(yōu)化。
基于自動(dòng)聚焦技術(shù)的三維測量系統(tǒng)由工業(yè)攝像機(jī)、環(huán)形光源、高精度三維位移臺(tái)、計(jì)算機(jī)組成。系統(tǒng)測量過程示意圖如圖1所示。
圖1 系統(tǒng)測量過程示意圖
測量流程如下。
①探頭由工業(yè)相機(jī)、光學(xué)鏡頭和光源組成,搭載于三維平移臺(tái)裝置上。環(huán)形光源將被測物照亮,工業(yè)攝像機(jī)拍攝被照亮的被測物,計(jì)算機(jī)可通過控制高精度電動(dòng)三維位移臺(tái),對(duì)被測物表面進(jìn)行垂直掃描,采集圖像序列。
②工業(yè)相機(jī)的作用類似于接觸式測量法中的探針,但以基于圖像的聚焦判定代替了傳統(tǒng)的力接觸,實(shí)現(xiàn)非接觸的輪廓點(diǎn)測量。其所采集的圖像數(shù)據(jù)通過數(shù)據(jù)線傳輸至計(jì)算機(jī),對(duì)圖像序列進(jìn)行清晰度評(píng)價(jià)計(jì)算,從而可確定最清晰圖像所在位置,進(jìn)而獲取該點(diǎn)深度方向的z值坐標(biāo)。
③當(dāng)位移臺(tái)載著被測物沿x軸與y軸移動(dòng),可完成表面輪廓的形貌測量,最終形成三維點(diǎn)云數(shù)據(jù)。
通過該方法獲取被測表面點(diǎn)的深度信息依賴于圖像清晰度評(píng)價(jià)的聚焦判定。要保證系統(tǒng)的深度尺寸測量精度就需要單峰、靈敏、無偏、魯棒的聚焦判定方法。常用的聚焦判定算法有Tenengrad算法[7]、Brenner算法[8]、ImprovedBre算法[9]、AbsVar算法[10]、Roberts算法[11]、Laplacian算法[12]、Autocorrection算法[13]、Entropy算法[14]。
但在實(shí)際測量過程中,由于環(huán)境光與被測表面的反射特性,容易造成光照不均現(xiàn)象。同時(shí),電荷耦合器件(charge coupled device,CCD)相機(jī)信號(hào)轉(zhuǎn)換的噪聲等也會(huì)一定程度降低圖像質(zhì)量,產(chǎn)生圖像細(xì)節(jié)信息被掩蓋的情況,易導(dǎo)致常用算法失去穩(wěn)定性。
本系統(tǒng)采集的標(biāo)準(zhǔn)量塊表面采集圖像如圖2所示。
圖2 標(biāo)準(zhǔn)量塊表面采集圖像
為保證系統(tǒng)測量精度,需要對(duì)圖像進(jìn)行預(yù)處理,彌補(bǔ)光照不均,增強(qiáng)圖像細(xì)節(jié)信息,為基于圖像清晰度的聚焦判定提供高質(zhì)量圖像數(shù)據(jù)。
常用的圖像增強(qiáng)算法有對(duì)數(shù)法[15]、指數(shù)法[16]、直方圖法[17]、高反差保留法[18]、Retinex算法[19]。其中Retinex圖像增強(qiáng)算法基于照度反射模型,對(duì)光照分量進(jìn)行估計(jì),可有效彌補(bǔ)光照損失?;赗etinex理論,相機(jī)采集到的圖像由入射光分量和物體的反射分量構(gòu)成。相機(jī)所采集到的圖像I(x,y)可以理解為是被測物的反射分量R(x,y)與入射光分量L(x,y)相乘的結(jié)果。該過程可由式(1)表示:
I(x,y)=R(x,y)L(x,y)
(1)
顏色恒常性理論認(rèn)為物體的反射分量反應(yīng)了物體的本質(zhì)信息,Retinex算法利用數(shù)學(xué)方法去除圖像中的光照部分,得到物體的反射分量[20-22]。
將式(1)進(jìn)行對(duì)數(shù)變換,得到:
log[R(x,y)]=log[I(x,y)]-log[L(x,y)]
(2)
式中:光照分量L(x,y)是從原圖像提取的光照近似融合圖像。
對(duì)基于Retinex算法的原理進(jìn)行了研究,實(shí)現(xiàn)了改進(jìn)算法。將圖像中的低頻和高頻信息分別處理、提取,再進(jìn)行融合,進(jìn)而與圖像清晰度判定函數(shù)結(jié)合,形成了改進(jìn)的聚焦評(píng)價(jià)方法。
相機(jī)采集到的圖像中,光照分量變化緩慢的部分表現(xiàn)為頻域的低頻分量,因此,采用合適的低通濾波器可以近似估計(jì)出圖像的光照信息。采用的CCD相機(jī)采集的圖像是由(2 048×2 048)個(gè)像素點(diǎn)構(gòu)成的,選取均值濾波器提取圖像光照近似信息。該濾波器是由方框?yàn)V波歸一化后的一種特殊情況,屬于線性濾波的一種,是將當(dāng)前像素點(diǎn)(x,y)的灰度值由模板中各個(gè)像素點(diǎn)的平均灰度值代替,即:
(3)
較小的模板濾波器的濾波效果還保留著圖像的大致輪廓,較大模板濾波器的濾波效果較好地模擬出了圖像的光照信息。因此,采用(495×495)像素大小的模板來對(duì)原圖像I(x,y)進(jìn)行濾波平滑,估計(jì)近似光照信息i(x,y)。濾波模板M如下:
(4)
隨著位移臺(tái)載著被測物作垂直運(yùn)動(dòng),相機(jī)與被測物之間的距離隨之變化,采集到的圖像由不清晰到清晰再到不清晰。采用canny算子提取原圖像集中每幅圖像的邊緣細(xì)節(jié)g(x,y),每幅圖像canny算子中的參數(shù)k計(jì)算如下:
k=1-(0.8×ε)
(5)
式中:ε為每幅圖像歸一化后的梯度值。
采用Tenengrad算法求得圖像梯度值:
D(x,y)=∑y∑X|G(x,y)|,G(x,y)>T
(6)
T為設(shè)定好的邊緣檢測閾值,G(x,y)的形式如下:
(7)
GX和Gy分別為點(diǎn)(x,y)基于Sobel算子水平和垂直方向的卷積。
搜索邊緣細(xì)節(jié)圖g(x,y)中灰度值為255的像素點(diǎn),找到近似光照信息圖像i(x,y)中相應(yīng)位置。將該像素點(diǎn)的灰度值設(shè)為i(x,y)的平均值,生成融合了光照近似信息和邊緣細(xì)節(jié)的融合圖像L(x,y),代入式(2)可求得反射分量R(x,y)。
改進(jìn)的聚焦判定方法流程如下。首先,對(duì)圖像進(jìn)行高低頻信息提取,獲取低頻信息作為圖像光照近似信息、高頻信息作為圖像邊緣細(xì)節(jié)信息。然后,將高、低頻圖像進(jìn)行圖像融合。隨后,對(duì)融合后的圖像用Retinex算法進(jìn)行圖像增強(qiáng)處理。最后,采用Tenengrad梯度函數(shù)對(duì)圖像進(jìn)行清晰度計(jì)算。改進(jìn)的聚焦判定方法流程如圖3所示。
圖3 改進(jìn)的聚焦判定方法流程圖
由CCD工業(yè)相機(jī)、鏡頭和環(huán)形光源構(gòu)成圖像采集系統(tǒng)。位移臺(tái)系統(tǒng)為電動(dòng)三維位移臺(tái),其位移重復(fù)性精度小于3 μm。將被測物放置在平移系統(tǒng)上,完成掃描測量。
采用改進(jìn)的Retinex算法與其他常用方法對(duì)圖2所示的原圖進(jìn)行圖像增強(qiáng)處理,圖像增強(qiáng)法對(duì)比如圖4所示。
圖4 圖像增強(qiáng)法對(duì)比圖
從圖4可以看出,提出的改進(jìn)算法能有效地在去除光照不勻影響的同時(shí),保留了足夠的圖像細(xì)節(jié)信息,為之后圖像清晰度評(píng)價(jià)提供了細(xì)節(jié)充足的圖像。
將本文提出的算法與其他常用算法對(duì)CCD相機(jī)采集到的70張圖進(jìn)行清晰度計(jì)算,每個(gè)算法的結(jié)果歸一化處理后得到如圖5所示的清晰度評(píng)價(jià)算法對(duì)比曲線圖。
圖5 清晰度評(píng)價(jià)算法對(duì)比曲線
AbsVar算法的單峰性和靈敏度不佳。Tenengrad算法、Brenner算法、ImprovedBre算法、Roberts算法與Laplacian算法在37到43張圖之間,清晰度值已趨于平緩,靈敏度降低。采用的清晰度評(píng)價(jià)算法在該區(qū)域仍能有效判定最清晰的第40張圖,比其他算法單峰性與無偏性更好,靈敏度更高。
采用由2 mm高度的標(biāo)準(zhǔn)量塊與0.5 mm高度的標(biāo)準(zhǔn)量塊組成1.5 mm高的臺(tái)階進(jìn)行三維測量測試,計(jì)算臺(tái)階高度,并將結(jié)果與標(biāo)準(zhǔn)臺(tái)階理論高度進(jìn)行對(duì)比。
對(duì)標(biāo)準(zhǔn)臺(tái)階表面進(jìn)行掃描測量,點(diǎn)與點(diǎn)的距離為200 μm,在每個(gè)點(diǎn)上的垂直掃描步進(jìn)為15 μm,X軸掃描范圍為670~3 870 μm,Y軸掃描范圍為-300~+300 μm。圖6為臺(tái)階掃描范圍示意圖。
圖6 臺(tái)階掃描范圍示意圖
標(biāo)準(zhǔn)臺(tái)階測量結(jié)果如圖7所示。上表面測量44個(gè)點(diǎn)三維空間點(diǎn),擬合平面為0.006 4x+0.039 9y-0.999 2z+2.240 6=0。下表面測量24個(gè)點(diǎn)三維空間點(diǎn),擬合平面為0.003 4x+0.010 4y-0.999 9z+0.752 1=0。
圖7 標(biāo)準(zhǔn)臺(tái)階測量結(jié)果
計(jì)算每個(gè)下表面點(diǎn)到上表面擬合平面的距離,作為臺(tái)階高度測量值,評(píng)估系統(tǒng)的重復(fù)性測量精度。重復(fù)性驗(yàn)證試驗(yàn)數(shù)據(jù)如表1所示。
表1 重復(fù)性驗(yàn)證試驗(yàn)數(shù)據(jù)
試驗(yàn)數(shù)據(jù)表明,系統(tǒng)的平均偏差為0.007 mm,標(biāo)準(zhǔn)差為0.012 mm。
本文提出了一種基于自動(dòng)聚焦技術(shù)的三維測量方法,對(duì)標(biāo)準(zhǔn)量塊進(jìn)行垂直掃描。將所采集的圖像序列通過數(shù)據(jù)線傳輸至計(jì)算機(jī),將改進(jìn)的Retinex算法與Tenengrad梯度函數(shù)相結(jié)合,對(duì)圖像序列進(jìn)行清晰度評(píng)價(jià)計(jì)算,實(shí)現(xiàn)聚焦評(píng)定,獲取標(biāo)準(zhǔn)量塊的深度信息。提出的改進(jìn)聚焦判定算法,增強(qiáng)了圖像的細(xì)節(jié)信息,提高了測量的適用性和穩(wěn)定性。該方法的硬件系統(tǒng)成本低,并且可實(shí)現(xiàn)無接觸測量。試驗(yàn)結(jié)果表明,該測量系統(tǒng)精度優(yōu)于15 μm。