任麗莉,陳偉衡,劉廣君,2
(1.中國(guó)空空導(dǎo)彈研究院,河南 洛陽(yáng) 471009;2.航空制導(dǎo)武器航空科技重點(diǎn)實(shí)驗(yàn)室,河南 洛陽(yáng) 471009)
干擾機(jī)是電子戰(zhàn)組成中的重要一環(huán)[1]。隨著新體制雷達(dá)的不斷出現(xiàn),干擾算法和策略相應(yīng)革新[2]。如何快速實(shí)現(xiàn)干擾算法和產(chǎn)生干擾信號(hào)成為了干擾機(jī)設(shè)計(jì)過(guò)程中重要的工程問(wèn)題[3-4]。當(dāng)前現(xiàn)場(chǎng)可編程門(mén)陣列(FPGA)設(shè)計(jì)方式多采用ISE和Isim等基于硬件描述語(yǔ)言的電路設(shè)計(jì)和驗(yàn)證軟件,對(duì)干擾算法進(jìn)行實(shí)現(xiàn)和測(cè)試,Xillinx公司發(fā)布的系統(tǒng)級(jí)建模工具System Generator擴(kuò)展了Simulink平臺(tái)的功能[5-8]。在可視化設(shè)計(jì)環(huán)境下,該工具加速簡(jiǎn)化了FPGA的開(kāi)發(fā)流程,無(wú)需使用硬件描述語(yǔ)言即可在其開(kāi)發(fā)環(huán)境內(nèi)實(shí)現(xiàn)軟/硬仿真、執(zhí)行和驗(yàn)證,當(dāng)前國(guó)內(nèi)眾多領(lǐng)域已經(jīng)采用System Generator作為主要開(kāi)發(fā)工具[9-12]。
借鑒System Generator的開(kāi)發(fā)思想,提出了基于System Generator的干擾模塊設(shè)計(jì)方法,使得干擾樣式的產(chǎn)生電路具有易復(fù)用、易生成和易修改的優(yōu)勢(shì),能夠用于實(shí)現(xiàn)數(shù)字干擾合成(DJS)、欺騙和壓制類(lèi)干擾設(shè)計(jì)。本文詳細(xì)闡述了基于System Generator的干擾模塊設(shè)計(jì)思路和方法,并以干擾中具有代表性的射頻噪聲干擾為例,通過(guò)本文方法進(jìn)行FPGA硬件實(shí)現(xiàn),實(shí)驗(yàn)結(jié)果證明了本文方法的有效性。
基于System Generator的干擾算法開(kāi)發(fā)流程如圖1所示。
圖1 基于System Generator的干擾算法開(kāi)發(fā)流程
基于System Generator的干擾算法開(kāi)發(fā)流程為:首先,對(duì)干擾公式進(jìn)行抽象設(shè)計(jì),在System Generator自帶模塊庫(kù)中找出對(duì)應(yīng)的運(yùn)算模塊進(jìn)行自頂向下的搭建。然后,通過(guò)與Simulink結(jié)合,調(diào)用Simulink中提供的可視化測(cè)試模塊對(duì)干擾模塊設(shè)計(jì)進(jìn)行驗(yàn)證。最后,通過(guò)半實(shí)物仿真的方法,將Simlink產(chǎn)生的數(shù)據(jù)通過(guò)加載到FPGA上進(jìn)行電路測(cè)試,并將數(shù)據(jù)導(dǎo)出進(jìn)行分析驗(yàn)證。
該開(kāi)發(fā)方法可以在完全可視化的操作界面下完成算法的設(shè)計(jì)驗(yàn)證、修改和測(cè)試,降低了開(kāi)發(fā)難度,提高了設(shè)計(jì)和測(cè)試速度,直接從Simulink和System Generator現(xiàn)有庫(kù)中粘貼復(fù)制現(xiàn)有工程模塊即可在設(shè)計(jì)中直接使用,提高了算法實(shí)現(xiàn)速度和仿真結(jié)構(gòu)搭建速度。
為了進(jìn)一步說(shuō)明設(shè)計(jì)的基于System Generator的設(shè)計(jì)方法,本節(jié)實(shí)現(xiàn)射頻噪聲干擾。射頻噪聲干擾信號(hào)為窄帶高斯過(guò)程[13]:
J(t)=U(t)cos[ωt+φ(t)]
(1)
式中:U(t)包絡(luò)函數(shù)服從高斯分布;φ(t)服從[0,2π]均勻分布,并且與U(t)相互獨(dú)立。
載頻為常數(shù),且遠(yuǎn)大于干擾信號(hào)的譜寬。
通過(guò)對(duì)數(shù)學(xué)原理的分析可知,可以將其自頂向下地切分為3個(gè)部分[14]:
第1部分需要產(chǎn)生高斯分布的包絡(luò)函數(shù)。由隨機(jī)信號(hào)理論可知,在(0,1)上服從均勻分布的隨機(jī)數(shù)經(jīng)過(guò)box_muller變換,可以產(chǎn)生服從N(0,1)的白色高斯隨機(jī)數(shù)[10]。其中box_muller變換算法如下:設(shè)x和y是2個(gè)互相獨(dú)立并在(0,1)上均勻分布的隨機(jī)數(shù),做如下變換:
(2)
可以得到2個(gè)相互獨(dú)立的正態(tài)N(0,1)隨機(jī)數(shù)m,n。
第2部分由于射頻噪聲干擾是一個(gè)窄帶過(guò)程,所以載頻要遠(yuǎn)大于帶寬。根據(jù)數(shù)字信號(hào)處理理論,包絡(luò)函數(shù)產(chǎn)生的頻率就是其帶寬,所以通過(guò)控制其產(chǎn)生頻率,即可控制其帶寬。
第3部分,通過(guò)頻譜搬移的方法將其搬移到指定頻域。
通過(guò)上述分析可以得到射頻噪聲干擾的System Generator實(shí)現(xiàn)的流程,如圖2所示。
圖2 射頻噪聲產(chǎn)生流程圖
根據(jù)上述理論分析以及實(shí)踐流程可以實(shí)現(xiàn)硬件搭建,電路結(jié)構(gòu)如圖3所示。
電路設(shè)計(jì)思路為通過(guò)射頻噪聲產(chǎn)生模塊產(chǎn)生2路符合帶寬要求、相互獨(dú)立的正態(tài)隨機(jī)分布序列,然后控制choice管腳、signal_choice_improve模塊和Complex_Multipiler 3.1,選擇通過(guò)DDS Complier 4.0進(jìn)行頻譜搬移,或者將噪聲信號(hào)直接疊加到雷達(dá)信號(hào)上,實(shí)現(xiàn)靈巧射頻噪聲(signal_re和signal_im)。其中射頻噪聲模塊的搭建方式如4所示。
首先,根據(jù)數(shù)字信號(hào)處理理論,產(chǎn)生滿足高斯分布的包絡(luò)函數(shù),首先需要產(chǎn)生隨機(jī)序列,使用Xilinx Linear Feedback Shift Register,為了獲得良好的隨機(jī)性,一共并行輸出27位,其中的低10位作為只讀存儲(chǔ)器(ROM)的片選地址,通過(guò)線性反饋移位寄存器(LFSR)產(chǎn)生均勻分布的偽隨機(jī)數(shù)。包絡(luò)函數(shù)產(chǎn)頻率就是其帶寬,所以通過(guò)控制其產(chǎn)生頻率,即可控制其帶寬。故采用分頻器設(shè)計(jì),當(dāng)計(jì)數(shù)時(shí)間達(dá)到band,產(chǎn)生enable標(biāo)志位,從而控制隨機(jī)數(shù)產(chǎn)生的速度。
圖3 射頻噪聲電路實(shí)現(xiàn)
圖4 射頻噪聲模塊電路實(shí)現(xiàn)
然后,運(yùn)用線性反饋移位寄存器 (LFSR)產(chǎn)生2路滿足均勻分布的隨機(jī)數(shù)。
之后,如圖5所示實(shí)現(xiàn)box_muller算法[15],由于計(jì)算十分復(fù)雜、結(jié)構(gòu)繁雜并且運(yùn)算速度低,直接將對(duì)數(shù)加權(quán)表、正弦函數(shù)表和余弦函數(shù)表均存儲(chǔ)在內(nèi)部ROM中,通過(guò)將隨機(jī)數(shù)當(dāng)成地址的方式直接通過(guò)尋址找到得數(shù)。通過(guò)查表法搭建box_muller算法,降低FPGA運(yùn)算量。其中sin、log和cos模塊都是通過(guò)內(nèi)部隨機(jī)存儲(chǔ)器(RAM)搭建形成,預(yù)先將數(shù)據(jù)存入,然后根據(jù)隨機(jī)數(shù)進(jìn)行尋址,避免了大運(yùn)算量。算法實(shí)現(xiàn)結(jié)構(gòu)如圖5所示,關(guān)鍵輸入輸出端口如表1所示。
圖5 box_muller算法的實(shí)現(xiàn)
表1 射頻噪聲干擾模塊接口說(shuō)明
最后,使用直接數(shù)字式頻率合成器(DDS)和復(fù)數(shù)乘法器,通過(guò)頻譜搬移的方式將高斯噪聲搬移到指定頻率。例如本文采用350 MHz的時(shí)鐘頻率,時(shí)鐘周期為2.857 142 86 ns。當(dāng)前DDS使用的相位精度為10 bit數(shù)據(jù),頻率分辨率為:
(3)
噪聲的產(chǎn)生速度等于帶寬,故通過(guò)分頻器控制噪聲產(chǎn)生的速度,分頻器中的計(jì)數(shù)器為27位,通過(guò)外部管腳控制計(jì)數(shù)終止位置:
(4)
通過(guò)采用System Generator和Simulink的半實(shí)物仿真測(cè)試、基于ChipScope的板級(jí)測(cè)試和基于Matlab的信號(hào)特征測(cè)試的3種測(cè)試方法,共同對(duì)生成的射頻噪聲干擾硬件電路模塊進(jìn)行測(cè)試,證明本文提出的設(shè)計(jì)方法能夠有效設(shè)計(jì)和生成噪聲壓制。
基頻為75 MHz,射頻噪聲帶寬為17 MHz,使用時(shí)鐘為350 MHz。本節(jié)主要體現(xiàn)硬件設(shè)計(jì)中延遲時(shí)鐘和信號(hào)頻譜質(zhì)量,滿足設(shè)計(jì)要求。如圖6所示組建基于Simulink的半實(shí)物測(cè)試平臺(tái)。將硬件產(chǎn)生數(shù)據(jù)讀出Simulink,對(duì)比硬件產(chǎn)生的數(shù)據(jù)和電路設(shè)計(jì)仿真結(jié)果之間的關(guān)系,驗(yàn)證硬件產(chǎn)生的數(shù)據(jù)與電路設(shè)計(jì)仿真一致。圖7為硬件產(chǎn)生數(shù)據(jù)和仿真數(shù)據(jù)之間的對(duì)比,表明硬件數(shù)據(jù)與仿真數(shù)據(jù)相符,證明硬件電路滿足設(shè)計(jì)要求。圖8為硬件產(chǎn)生數(shù)據(jù)的頻譜分析,證明與設(shè)置符合,其中主要干擾帶寬集中在-8.5 MHz和8.5 MHz之間,滿足干擾設(shè)計(jì)要求。
圖6 射頻噪聲半實(shí)物仿真測(cè)試結(jié)構(gòu)
圖7 仿真數(shù)據(jù)和FPGA生成數(shù)據(jù)對(duì)比
圖8 FPGA生成數(shù)據(jù)頻譜質(zhì)量
對(duì)實(shí)際硬件產(chǎn)生數(shù)據(jù)進(jìn)行抓取并導(dǎo)出數(shù)據(jù),進(jìn)行基于Matlab的信號(hào)特征測(cè)試。抓取數(shù)據(jù)效果圖如圖9所示。
圖9 chipscope抓取干擾數(shù)據(jù)
對(duì)抓取的數(shù)據(jù)進(jìn)行功率譜分析,結(jié)果如圖10所示??梢钥闯鲋饕盘?hào)能量集中在所設(shè)置的17 MHz內(nèi),與硬件設(shè)置值一致,證明射頻噪聲干擾電路有效。
圖10 抓取到的信號(hào)特征分析
本文提出了基于System Generator的干擾模塊設(shè)計(jì)方法。將Simulink和System Generator結(jié)合,在FPGA上實(shí)現(xiàn)干擾算法。文中詳述了System Generator的開(kāi)發(fā)流程,為工程實(shí)踐提供了理論依據(jù)。以具有代表性的射頻噪聲干擾為例,采用本文提出的設(shè)計(jì)方法進(jìn)行了電路實(shí)現(xiàn)和半實(shí)物仿真驗(yàn)證。電路實(shí)現(xiàn)過(guò)程和實(shí)驗(yàn)結(jié)果證明該方法能夠快速有效地生成干擾模塊,具有易復(fù)用、易生成和易修改的優(yōu)勢(shì)。