周 航,張 斌,馮其波,崔建英,梁 晨,黃悅朗
(北京交通大學(xué) 發(fā)光與光信息技術(shù)教育部重點(diǎn)實(shí)驗(yàn)室,北京100044)
激光超聲是一種高效的無損檢測技術(shù),相比于傳統(tǒng)超聲檢測,具有非接觸和遠(yuǎn)距離測量的特點(diǎn),更加適于惡劣的測量環(huán)境以及復(fù)雜結(jié)構(gòu)的被測樣品,成為學(xué)者們的研究重點(diǎn)[1-6]。如何在保證表面無損的情況下,盡可能提高超聲波的激發(fā)效率,是激光超聲檢測應(yīng)用的關(guān)鍵問題之一。改變光源空間分布形式是一種好的方法,可以兼顧二者。點(diǎn)光源激發(fā)是常用方式,已被廣泛研究和應(yīng)用。SONG等人研究了線光源與點(diǎn)光源激發(fā)出的超聲信號幅值及波形,總結(jié)了二者信號的特點(diǎn)與區(qū)別[7]。ARIAS等人建立了線激光源激發(fā)超聲場的模型,探究了超聲場與線源寬度、脈沖輪廓、透入深度的關(guān)系,并考慮了熱擴(kuò)散效應(yīng)的影響[8]。SUN等人依據(jù)缺陷與線光源激發(fā)的超聲橫波之間的作用規(guī)律,實(shí)現(xiàn)了對材料內(nèi)部缺陷的定位[9]。ACHENBACH等人基于線光源激發(fā)超聲,提出了用于缺陷檢測的掃描激光源法、陣列激光源法等[10-15]。
環(huán)形光源亦是改變光源空間分布激發(fā)超聲的一種手段,可以通過使用錐透鏡或者空間光調(diào)制器來獲得。照射被測表面的光束為環(huán)形光束,更加適于諸如管道、彎頭等特殊形狀材料。CAO等人應(yīng)用環(huán)形光源在管狀材料中激發(fā)出了超聲導(dǎo)波[16]。為探究環(huán)光源激發(fā)超聲的規(guī)律以及用于缺陷檢測的優(yōu)勢,作者利用多物理場耦合軟件COMSOL,仿真研究了環(huán)形光束照射被測表面激發(fā)出的超聲全場波形及其傳播特性。發(fā)現(xiàn)了中心軸上固定角度處匯集的疊加橫波,并通過改變環(huán)形光源半徑和環(huán)寬的仿真總結(jié)了疊加橫波變化規(guī)律。模擬了加入不同缺陷情況下超聲場的變化情況,提出利用環(huán)形光源進(jìn)行缺陷檢測的方法。環(huán)光源激發(fā)能有效降低激光對被測樣品的輻照功率,同時(shí)提高超聲信號的強(qiáng)度和信噪比。本文中的研究結(jié)果為利用疊加橫波特性實(shí)現(xiàn)缺陷檢測和定位提供了參考。
與激發(fā)超聲的點(diǎn)光源和線光源類似,環(huán)形光源亦是通過錐透鏡或者空間光調(diào)制器,對激光源進(jìn)行空間調(diào)制所獲得的,是一種環(huán)狀的激光光斑平面分布形式,其主要參量包括光斑的環(huán)寬度以及環(huán)半徑。使用有限元方法,應(yīng)用多物理場仿真軟件COMSOL Multiphysics,對調(diào)制所得環(huán)光源照射一鋁制均勻圓板(直徑20mm,高6mm)激發(fā)的超聲波場及其傳播過程進(jìn)行分析。由于激光在鋁板上的穿透深度僅為10nm,可以忽略不計(jì),因此在仿真中,采用截面為高斯分布的環(huán)形光源以面熱源的形式加載到物體表面。
假設(shè)熱傳導(dǎo)的過程中沒有熱損耗,且材料吸收的能量完全轉(zhuǎn)化為熱能,在柱坐標(biāo)系下環(huán)光源的熱源形式可以表示為:
Q(r,t)=P0(1-R)f(r)g(t)
(1)
式中,P0是單脈沖激光的能量,R為鋁表面對激光的反射率,f(r)和g(t)分別為脈沖激光的空間分布和時(shí)間分布[17-18]:
f(r)=exp[-(r-rc)2/r12]
(2)
g(t)=(t/t0)exp(-t/t0)
(3)
式中,r為半徑,t為時(shí)間,rc為環(huán)形光源的半徑,光源截面為高斯分布,rl為光環(huán)高斯分布的半寬,t0是激光脈沖上升時(shí)間。空間分布的具體形式如圖1所示。
Fig.1 The spatial distribution of ring laser sourcea—z-axis view b—y-axis view
熱彈激發(fā)過程中金屬的溫度和位移場可用熱擴(kuò)散方程和熱彈性方程描述:
(4)
(5)
式中,T表示溫升,U為位移場,ρ為材料密度,c為材料比熱容,α為線膨脹系數(shù),κ為導(dǎo)熱系數(shù),λ和μ為拉梅常數(shù)。鋁制材料參量如表1所示。
Table 1 Parameters of aluminum sample
為達(dá)到求解精度和計(jì)算速度間的平衡,采用變網(wǎng)格劃分方式,激光輻照集中處使用較密網(wǎng)格,超聲傳播過程中以衰減為主,采用較稀疏網(wǎng)格。網(wǎng)格單元最小為20μm,最大為100μm。采用廣義α法求解時(shí)間步長,最小時(shí)間步長為0.01s,最大時(shí)間步長5ns,模擬總時(shí)長為5000ns,可以包含超聲波的整個(gè)傳播過程。
設(shè)置rc=3mm,rl=0.3mm,激光在材料表面可以激發(fā)出包括橫波S,縱波L,表面波R和頭波H在內(nèi)的多種模式超聲波,如圖2所示。圖2a~圖2d中分別給出了0.6μs,1.0μs,1.5μs,2.0μs時(shí)刻的環(huán)形光源激發(fā)出的全場波形圖。
Fig.2 The ultrasonic displacement fielda—0.6μs b—1.0μs c—1.5μs d—2.0μs
Fig.3 a—ultrasonic displacement curves at different depth of central axis over time b—ring laser source and the direction of shear wave propagation
從圖中可以看出,縱波強(qiáng)度較低,速度較快,能量分布較為均勻,方向性不明顯;而橫波強(qiáng)度較高,速度較低,能量分布不均勻,方向性較明顯,因此具有作為缺陷檢測波的優(yōu)勢。縱波L和橫波S在環(huán)形光源中心軸線上都有交匯現(xiàn)象,疊加縱波Ls和疊加橫波Ss分別在圖2b、圖2c中做出了標(biāo)示。圖3a中表示出了中軸線上不同位置處隨時(shí)間變化的位移曲線。依次可以觀察到Ls波和Ss波的峰值。Ls波的峰值在中軸線上深度約2mm處達(dá)到最大,之后開始遞減;Ss波的峰值在深度約4.5mm處達(dá)到最大。從圖中可知,Ss波的強(qiáng)度比Ls波的強(qiáng)度要高很多,更適合用作檢測波。同時(shí)可以判斷,軸上4.5mm處為Ss波的能量最集中處,峰值寬度較窄,說明橫波的傳播有較好的方向性。環(huán)形光源光環(huán)中心A與軸上深度4.5mm處O的連線即為橫波的集中傳播方向,如圖3b所示,傳播角度θ為:
θ=arctan(rc/d)
(6)
計(jì)算可得θ≈33.4°。
為探究環(huán)形光源的激發(fā)效率,在上述鋁板樣品中建立入射總能量與環(huán)形光源模型相同的點(diǎn)光源激發(fā)超聲模型。點(diǎn)光源空間上為高斯分布,時(shí)間分布與環(huán)形光源相同。將環(huán)形光源激發(fā)的超聲模型與點(diǎn)光源激發(fā)的模型進(jìn)行比較。圖4是環(huán)形光源截面右側(cè)激光作用點(diǎn)處和點(diǎn)光源激光作用點(diǎn)處的波形比較圖。與點(diǎn)光源相比,環(huán)光源作用點(diǎn)處聲波場不再具有對稱性,靠近環(huán)心一側(cè)的橫波能量明顯大于傳向外側(cè)的橫波能量,超聲波場的能量有向環(huán)形光源中心軸集中的趨勢。將同一位置(軸上深度4.5mm處)不同激發(fā)源對應(yīng)的時(shí)間相關(guān)位移曲線進(jìn)行比較,所得結(jié)果如圖5所示。第1個(gè)和第2個(gè)峰值分別為縱波和橫波在4.5mm處疊加的最大峰值,由于環(huán)形光源的疊加效應(yīng),其激發(fā)出的超聲振幅遠(yuǎn)大于點(diǎn)光源激發(fā)出的超聲振幅。
Fig.4 Waveform near the laser operating pointa—ring source b—point source
Fig.5 Ultrasonic displacement curves of point laser source and ring laser source over time at the same position
考慮到環(huán)形光源由于激光光源的整形引起光能量的損失,因此將入射環(huán)光源能量減半進(jìn)行模擬,與點(diǎn)光源對比所得結(jié)果如圖6所示??梢钥闯觯谀芰繙p半情況下,環(huán)形光源激發(fā)出的超聲振幅仍然大于點(diǎn)光源激發(fā)出的超聲振幅。在實(shí)際使用中調(diào)制方式對光源能量的損耗常在50%以下[19],因此環(huán)光源激發(fā)更加具有應(yīng)用優(yōu)勢。
Fig.6 Ultrasonic displacement curves of point laser source and attenuated ring laser source over time at the same position
可以看出,環(huán)形光源相對于點(diǎn)光源來說,能夠降低表面能量集中度,減少表面的損傷可能。環(huán)形光源產(chǎn)生的超聲波橫波會在環(huán)源中心軸線上產(chǎn)生疊加,使其在表面能量分散的情況下仍能保持較高的激發(fā)強(qiáng)度。由于橫波較明顯的方向性,在固定的角度處,可以得到強(qiáng)度最大值的Ss波。
為研究Ss波的變化規(guī)律,分別改變環(huán)形光源半徑rc、環(huán)半寬rl進(jìn)行仿真研究。對于上述模型,分別取rc為4.5mm,6mm,為確保獲取軸上全部位移信息,將鋁板加厚至12mm,保持激光輸入能量不變進(jìn)行模擬。遍歷中心軸上點(diǎn),給出位移達(dá)到最大值附近點(diǎn)位移隨時(shí)間的變化曲線,如圖7所示。
Fig.7 The curves of different displacement on the central axis over timea—rc=4.5mm b—rc=6.0mm
當(dāng)rc取4.5mm,6mm時(shí),疊加橫波的軸上強(qiáng)度最大位置分別是7mm,9.5mm,應(yīng)用(6)式可以得到橫波傳播方向角分別為32.5°,32.1°,與rc=3.0mm時(shí)的方向角33.4°基本一致??梢钥闯?,環(huán)形光源半徑rc變化不會引起橫波傳播方向較大的改變,橫波疊加波在軸上的疊加點(diǎn)深度d與環(huán)形光源半徑rc成正比,rc越大,d越大。對于不同rc,皆在固定角度θ下滿足如下關(guān)系:
d=rc/tanθ
(7)
同樣地,分別設(shè)置環(huán)半寬rl為0.6mm,0.9mm時(shí)進(jìn)行激發(fā),結(jié)果如圖8所示??梢钥闯?rl會影響所激發(fā)超聲場的強(qiáng)度,隨著rl的增加,接收點(diǎn)的超聲信號會減小。這是因?yàn)閞l的增加會導(dǎo)致激光輻照位置能量集中度的有效降低,從而降低了超聲場的激發(fā)效率。
Fig.8 The displacement curves at 4.5mm depth of central axis over timecorresponding to different rl
由于疊加橫波方向性好,且強(qiáng)度高,當(dāng)材料內(nèi)部缺陷出現(xiàn)在橫波傳播路徑上時(shí),會阻擋大部分橫波能量,導(dǎo)致疊加橫波的強(qiáng)度發(fā)生變化,因此可以采用光源掃描的方式,通過檢測疊加橫波的變化來確定缺陷的存在。在上述鋁板模型中改變r(jià)c使橫波聚焦于激發(fā)點(diǎn)對面處,在材料內(nèi)部加入圖9所示方孔型缺陷,改變?nèi)毕莸奈恢?,得到模擬結(jié)果如圖10所示。當(dāng)缺陷未處于橫波傳播路徑上時(shí),橫波正常于環(huán)形光源中心軸上產(chǎn)生疊加,在疊加點(diǎn)可以得到很強(qiáng)的超聲信號。當(dāng)缺陷處于橫波傳播路徑上時(shí),在疊加點(diǎn)測得的超聲信號產(chǎn)生明顯衰減。當(dāng)缺陷完全隔絕橫波傳播路徑時(shí),疊加點(diǎn)測得的超聲信號進(jìn)一步衰減,達(dá)到最低水平。這證明疊加橫波強(qiáng)度在接收端受缺陷影響而產(chǎn)生的變化,可以應(yīng)用于材料的無損檢測中。這種方法有比較高的信噪比,檢測手段也相對簡單。
Fig.9 Schematic diagram of different defect locations
Fig.10 The displacement curve of superposition points over time corresponding to different defect positions
Ss波的具體變化形式,由材料內(nèi)部缺陷相對于環(huán)形光源的大小和位置決定。如圖11所示,光源以速率v掃描移動(dòng),當(dāng)內(nèi)部缺陷可以完全包含在圓錐體ABO內(nèi)時(shí),接收端信號由高強(qiáng)度經(jīng)歷兩次衰減-恢復(fù)過程;當(dāng)內(nèi)部缺陷的尺度可以同時(shí)阻擋所有橫波傳播路徑時(shí),接收端信號變化規(guī)律為由高強(qiáng)度衰減,再恢復(fù)至高強(qiáng)度,只經(jīng)歷一次衰減-恢復(fù)過程。
Fig.11 Schematic diagram of ring light source defect detection
依據(jù)以上原理,可以采用雙面掃描的方式,依據(jù)兩側(cè)所得超聲信號變化的不同規(guī)律,得到樣品內(nèi)部缺陷的位置與尺寸信息,具體可分為3種情況。當(dāng)缺陷的尺度和位置使其兩次掃描均可阻擋所有橫波傳播路徑時(shí),雙面掃描對應(yīng)超聲信號時(shí)域變化如圖12所示。兩側(cè)掃描過程所得超聲振幅變化均只經(jīng)歷一次衰減-恢復(fù)過程,由圖中幾何關(guān)系可知此時(shí)裂紋徑向長度l和裂紋深度h分別為:
l=v(t3-t1)
(8)
(9)
式中,w為試件的厚度,v為光源移動(dòng)的速度。
Fig.12 Detection schematic diagram of the first case
當(dāng)缺陷的尺度和位置使其兩次掃描均可全部包含在圓錐體內(nèi)時(shí),雙面掃描對應(yīng)超聲信號時(shí)域變化如圖13所示。兩側(cè)掃描過程所得超聲振幅變化均經(jīng)歷兩次衰減-恢復(fù)過程,此時(shí)裂紋徑向長度l與裂紋深度h分別為:
l=v(t2-t1)
(10)
(11)
當(dāng)缺陷尺度和位置使其兩次掃描變化不同時(shí),雙面掃描對應(yīng)超聲信號時(shí)域變化如圖14所示。兩側(cè)掃描過程所得超聲振幅變化分別經(jīng)歷一次和兩次衰減-恢復(fù)過程,此時(shí)裂紋長度l與裂紋深度h適用于(8)式和(9)式。
由上可知,可以通過環(huán)光源雙面掃描的方式,依據(jù)兩側(cè)超聲信號時(shí)域變化形式的不同,判斷缺陷的尺度和位置的種類,再依據(jù)相應(yīng)公式,可得到裂紋的深度和尺寸信息,實(shí)現(xiàn)缺陷的檢測和定位。
Fig.13 Detection schematic diagram of the second case
Fig.14 Detection schematic diagram of the third case
為驗(yàn)證方法的可行性,選取分類中的第3種情況進(jìn)行了數(shù)值模擬。缺陷位置和尺寸如圖15所示,為邊長4mm,厚0.1mm的扁平裂紋,置于鋁板一側(cè)表面以下4mm處。圖16是雙面掃描情況下接收點(diǎn)超聲信號峰值隨光源移動(dòng)而變化的關(guān)系圖。光源每移動(dòng)1mm設(shè)置一檢測點(diǎn),在超聲信號變化迅速的區(qū)域,每0.5mm設(shè)置一檢測點(diǎn)。由于光源勻速運(yùn)動(dòng),橫軸采用光源移動(dòng)距離代替時(shí)間進(jìn)行劃分??梢钥闯觯盘栕兓内厔菖c第3類情況基本相符,按照模擬所得時(shí)間信息,代入(8)式、(9)式,得到缺陷的尺寸和深度信息分別為l=4mm和h=4.125mm,與預(yù)設(shè)的裂紋信息基本相符,可以證明此方法的可行性。
Fig.15 Sketch map of defect location and size
還可以看到,在橫波傳播路徑完全阻擋的情況下,在接收點(diǎn)仍可接收到一定強(qiáng)度的超聲波,客觀上壓縮了超聲信號受缺陷調(diào)制變化的幅度。造成這種現(xiàn)象的原因,一方面是因?yàn)橛袡M波可以通過缺陷與另一表面的反射到達(dá)接收點(diǎn),另一方面是因?yàn)槌暡úㄩL和缺陷尺寸在同一數(shù)量級,超聲信號在經(jīng)過缺陷時(shí)會發(fā)生衍射效應(yīng),使其有部分能量繞過缺陷到達(dá)接收點(diǎn)。但二者的影響十分有限,并不改變橫波疊加點(diǎn)的位置和超聲強(qiáng)度的變化趨勢,因此環(huán)光源雙面掃描的方法仍然是一種可行的缺陷檢測方法。
Fig.16 Relationship between peak value of ultrasonic signal at receiving point and light source in case of double seanning
建立了環(huán)形光源在金屬表面激發(fā)超聲波的模型,并利用有限元的方法分析了環(huán)形光源超聲波場的激發(fā)過程和傳播特性。在環(huán)形光源分散表面能量的情況下,利用橫波良好的方向性在固定角度處找到了環(huán)形光源中心軸上的疊加橫波場,且其強(qiáng)度比點(diǎn)光源在同位置激發(fā)的超聲橫波更高。橫波傳播方向不受環(huán)形光源半徑的影響。環(huán)形光源的半徑越大,橫波在中心軸上疊加點(diǎn)的深度越深。環(huán)寬越窄,激發(fā)出的超聲場強(qiáng)度越高,同樣對表面的損傷可能性也越高,這為如何避免表面損傷提供了參考。基于上述理論,可以利用環(huán)心疊加橫波來檢測缺陷,模擬中檢驗(yàn)了模型的正確性。結(jié)果說明,環(huán)形光源是一種良好的光源空間調(diào)制方式,能夠擴(kuò)大激光能量,激發(fā)出更強(qiáng)的超聲波而不至于損傷材料,用于缺陷檢測能夠獲得更高的信號信噪比。提出了一種環(huán)形光源雙面掃描的缺陷位置和尺寸確定方法,在模擬中驗(yàn)證了方法的可行性,為環(huán)形光源激發(fā)超聲應(yīng)用于無損檢測提供了依據(jù)。