馬 敏,吳 軻,胡亞峰,崔自強(qiáng),王化祥
(1.中國民航大學(xué) 電子信息與自動(dòng)化學(xué)院,天津300300; 2.天津大學(xué) 電氣信息與自動(dòng)化工程學(xué)院,天津300072)
電容層析成像技術(shù)(electrical capacitance tomography, ECT)是近幾十年發(fā)展起來的一種新型可視化檢測技術(shù),應(yīng)用于多相流檢測、流型辨識(shí)等,可以通過測量橫截面的介電常數(shù)分布來確定材料分布情況[1]。與X射線、γ射線等傳統(tǒng)的X線斷層成像技術(shù)相比,ECT技術(shù)具有成本低、響應(yīng)速度快、攜帶方便、無輻射、無侵入性、魯棒性等優(yōu)點(diǎn)[2~4]。
在提高ECT系統(tǒng)數(shù)據(jù)采集精度和速度方面的研究上,已有研究人員取得了相關(guān)成果。第一套實(shí)時(shí)ECT系統(tǒng)由曼徹斯特理工學(xué)院(UMIST)在1991年開發(fā),他們研究對(duì)比了各種測量電路,如充電/放電電路、交流C/V轉(zhuǎn)換電路、自平衡測量電路用于電容測量;在這些電路中,交流電路最適合ECT系統(tǒng),它不受雜散電容和電荷注入的影響[5];趙進(jìn)創(chuàng)等用激勵(lì)信號(hào)幅值可控雙模式交流型C/V轉(zhuǎn)換電路實(shí)現(xiàn)微小電容檢測,電路具有抗雜散電容能力,線性和分辨力良好且輸出穩(wěn)定[6];王雷等提出的微弱電容測量電路解決了電子開關(guān)電荷注入效應(yīng)對(duì)測量分辨率的影響,可以達(dá)到較高的數(shù)據(jù)采集速率[7];高彥麗等分析設(shè)計(jì)了程控增益負(fù)反饋交流型電容測量電路來提高電路的測量范圍和靈敏度[8];鄭偉軍等研制了一套基于DSP處理器和USB2.0技術(shù)的高速ECT數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)[9];崔自強(qiáng)等提出了數(shù)字相敏解調(diào)與持零開關(guān)策略相結(jié)合的方法,改善了系統(tǒng)數(shù)據(jù)信噪比和采集速率[10];律德財(cái)?shù)炔捎酶邏航涣骷?lì)電路,驗(yàn)證了在370 V的激勵(lì)電壓下具有良好的靈敏度、分辨率等特性[11]。
目前,ECT系統(tǒng)均采用正弦波信號(hào)作為激勵(lì)源,經(jīng)過交流C/V轉(zhuǎn)換電路,測量信息存儲(chǔ)在輸出的正弦波信號(hào)里,與激勵(lì)信號(hào)同頻同幅的正弦余弦信號(hào)作為參考信號(hào),對(duì)輸出的信號(hào)進(jìn)行數(shù)字相敏解調(diào),從中提取出電容信息[12]。數(shù)字相敏解調(diào)需占用大量的邏輯資源,且對(duì)數(shù)據(jù)處理速度要求高。本文提出的三角波作為激勵(lì)信號(hào),微分電路作為C/V轉(zhuǎn)換電路的方法不需要對(duì)輸出進(jìn)行解調(diào),節(jié)省了邏輯資源,且減少了電路的穩(wěn)定時(shí)間,能提高系統(tǒng)的實(shí)時(shí)性。
ECT的測量原理為通過在電極施加激勵(lì)電壓信號(hào),其它的電極作為測量電極連接到C/V轉(zhuǎn)換電路將電容信號(hào)轉(zhuǎn)換為電壓信號(hào)。
圖1 ECT傳感器結(jié)構(gòu)模型圖Fig.1 ECT sensor structure model
ECT成像系統(tǒng)由3個(gè)部分組成:電極陣列傳感器、數(shù)據(jù)采集單元、圖像重建單元。圖1為常用的ECT傳感器模型,外部的金屬屏蔽罩接地可以降低外部噪聲干擾。電極均勻分布在管壁,安裝在電極之間的徑向電極可以減少相鄰電極之間的邊緣效應(yīng)。測量采用單激勵(lì)的方式,首先通過在電極1上施加電壓信號(hào),2-N電極作為測量電極,然后對(duì)電極2施加激勵(lì)信號(hào),3-N電極測量。按此規(guī)律一直持續(xù)到第N-1個(gè)電極激勵(lì)。對(duì)于N個(gè)電極的傳感器,具有的獨(dú)立測量值個(gè)數(shù)為N(N-1)/2[13]。
ECT測量的難點(diǎn)在于周圍壞境的干擾太大,而傳感器電極之間的電容值較微小。將微小的電容從雜散電容中提取出來的方法會(huì)影響ECT系統(tǒng)的成像精度。對(duì)于ECT的微小電容測量電路要求有:1) 抗雜散電容的能力強(qiáng);2) 動(dòng)態(tài)測量范圍大;3) 響應(yīng)速度快[14]。雜散電容主要來源有測量電極與屏蔽電極之間的電容、連接電極的屏蔽電纜的電容和電容測量電路中的COMS開關(guān)電容。總雜散電容約為150 pF,而測量電極對(duì)之間的電容范圍為10~11 F到10~14 F。因此,要從大的雜散電容中提取出電極之間的微小電容信號(hào),要求電容測量電路必須對(duì)雜散電容免疫[15];此外,還要求電路具有高的SNR以及較寬的帶寬以實(shí)現(xiàn)高速數(shù)據(jù)采樣率[16]。
本設(shè)計(jì)采用的交流C/V轉(zhuǎn)換電路如圖2所示,Cx為被測電容,C1、C2為寄生電容,C1的一端接地,C1一端的電流不會(huì)流入運(yùn)算放大器,不會(huì)對(duì)Cx的測量帶來影響;C2一端接地,另一端接在運(yùn)放的反相端,處于虛地狀態(tài),故其兩端電壓為零,不會(huì)產(chǎn)生電流,它對(duì)輸出Vo不會(huì)產(chǎn)生影響。運(yùn)放反相輸入端的流入電流為Vi流經(jīng)Cx單獨(dú)產(chǎn)生,所以此電路對(duì)寄生電容有一定的抑制作用。
圖2 C/V轉(zhuǎn)換電路Fig.2 C/V converter circuit
將激勵(lì)電壓Vi施加到電路的輸入端,電流流過電容被轉(zhuǎn)換成電壓。C/V轉(zhuǎn)換器的輸出電壓與輸入電壓的關(guān)系式為:
(1)
式中:ω為輸入信號(hào)的角頻率;Cx為被測電容;Cf、Rf分別為反饋電容和反饋電阻。
目前采取的方法是取|jωCfRf|?1,則:
(2)
輸出電壓值與測量的電容值成比例關(guān)系,采用正弦波激勵(lì)信號(hào)作為載波存儲(chǔ)被測信號(hào)的相位與幅值信息,輸出的電壓信號(hào)經(jīng)采樣后傳送給處理器進(jìn)行相敏解調(diào),利用數(shù)字正交解調(diào)的方法從中提取幅值信息,經(jīng)計(jì)算即可得到電容值。
本文提出采用三角波作為激勵(lì)信號(hào),利用微分電路的特性來測量電容信號(hào)。由于外界噪聲的存在,微分電路運(yùn)放對(duì)交流信號(hào)有放大作用;同時(shí)網(wǎng)絡(luò)為高通濾波器,信號(hào)的相位滯后90°,系統(tǒng)不穩(wěn)定,很容易進(jìn)入自激震蕩。在反饋端并聯(lián)電容,使信號(hào)產(chǎn)生了90°的相移,能讓系統(tǒng)保持穩(wěn)定。
由于電路結(jié)構(gòu)未變,微分電路的輸入電壓與輸出電壓的關(guān)系仍如式(1)所示。
若取|jωCfRf|?1,則:
Vo(t)=-jωCxRfVi(t)
(3)
由式(3)可知,此時(shí)電路具有微分功能。
正弦波作為激勵(lì)信號(hào)時(shí),電流流過反饋電容和反饋電阻,輸入與輸出的關(guān)系如式(1)所示。為研究電路的瞬態(tài)過程,將式(4)的信號(hào)作為激勵(lì)信號(hào):
(4)
輸出的Laplace形式為:
(5)
則輸出的時(shí)域響應(yīng)為:
(6)
式中:α=arccot(ωCxRf);τ為C/V轉(zhuǎn)換電路的時(shí)間常數(shù),τ=CfRf;Vi為輸入信號(hào)的幅值。
τ的取值決定電路輸出的穩(wěn)定時(shí)間,通常電路的穩(wěn)定時(shí)間為5τ,因此,τ越小,系統(tǒng)響應(yīng)越快[17]。在以正弦波為激勵(lì)信號(hào)的設(shè)計(jì)中,取|jωCfRf|?1,滿足式(2),輸出與輸入信號(hào)的頻率無關(guān),與被測電容大小成正比。由于ECT系統(tǒng)實(shí)時(shí)性要求高,采用的激勵(lì)信號(hào)頻率一般為幾百kHz,為滿足|jωCfRf|?1,此時(shí)時(shí)間常數(shù)τ的取值在10-3左右。這將影響電路的響應(yīng)時(shí)間并限制系統(tǒng)的數(shù)據(jù)采集速率。
采用周期T、幅值為A的三角波作為激勵(lì)信號(hào),數(shù)學(xué)表達(dá)式為:
(7)
式中:Vi(t)為t時(shí)刻的輸入電壓值;n=0,1,2,3,…,且t>0;T為激勵(lì)信號(hào)周期。用三角波作為激勵(lì)信號(hào),利用微分電路的特性對(duì)采集到的電容信號(hào)進(jìn)行C/V轉(zhuǎn)換處理。電路輸入與輸出關(guān)系如式(3)所示,則輸出的時(shí)域響應(yīng)為:
(8)
式中:n=0,1,2,3…,且t>0;τ=CfRf;T,A分別為激勵(lì)信號(hào)的周期和幅值。在此設(shè)計(jì)中,為保留電路的微分特性,取|jωCfRf|?1,由于激勵(lì)頻率為幾百kHz,τ的值非常小,至少在10-7的數(shù)量級(jí)。此時(shí)的電路穩(wěn)定時(shí)間會(huì)大于5τ,但由于τ的值非常小,與正弦波為激勵(lì)信號(hào)的C/V轉(zhuǎn)換電路相比,電路的穩(wěn)定時(shí)間減少了幾個(gè)數(shù)量級(jí),能有效提高系統(tǒng)的實(shí)時(shí)性。由式(8)可知,被測電容值與輸入信號(hào)頻率并不會(huì)影響電路的穩(wěn)定時(shí)間。圖3為本設(shè)計(jì)電路在測量5 pF電容時(shí)的輸出響應(yīng)圖,由圖3可知電路的穩(wěn)定時(shí)間縮短為0.65 μs。由式(8)可得電路的穩(wěn)態(tài)輸出為:
(9)
式中:n=0,1,2,3,…,且t>0。則穩(wěn)態(tài)輸出與輸入的關(guān)系為:
V(o)p-p=4V(i)p-pfCxRf
(10)
式中f為激勵(lì)信號(hào)頻率。
由式(10)可知,輸出的電壓峰峰值與被測電容值、輸入信號(hào)的頻率和幅值成正比,輸出電壓信號(hào)為方波。
圖3 電路瞬時(shí)響應(yīng)曲線Fig.3 Circuit transient response curve
為了保證有較寬的測量范圍,C/V轉(zhuǎn)換電路必須有較高的靈敏度,靈敏度的定義為:
(11)
激勵(lì)信號(hào)的頻率為200 kHz,峰峰值為10 V,則由式(10)可得Rf=100 kΩ時(shí)的電路靈敏度的峰峰值達(dá)0.8 V/pF;同時(shí),為了滿足|jωCfRf|?1,取反饋電容為1 pF。C/V轉(zhuǎn)換輸出需進(jìn)行A/D轉(zhuǎn)換處理,由于被測電容的動(dòng)態(tài)范圍一般在40 dB,為了充分利用ADC的量程測量信號(hào)的信噪比,可采用交流PGA(可編程增益)對(duì)C/V轉(zhuǎn)換的輸出進(jìn)行不同倍數(shù)處理。課題組采用TI公司的可編程增益放大器THS7001作為C/V轉(zhuǎn)換輸出的后級(jí)放大,穩(wěn)定時(shí)間為0.2 μs。
當(dāng)采用正弦波激勵(lì)信號(hào)時(shí),如果滿足|jωCfRf|?1,則輸出電壓與輸入電壓呈比例關(guān)系。圖4所示為被測電容值大小相同、激勵(lì)信號(hào)幅值頻率相同的情況下,激勵(lì)源為正弦波與激勵(lì)源為三角波經(jīng)各自C/V轉(zhuǎn)換后的輸出波形。圖中左側(cè)y軸為正弦波標(biāo)尺,單位為V;右側(cè)y軸為方波標(biāo)尺,單位為mV。由輸出波形能快速計(jì)算出三角波測量電路的被測電容值;而利用正弦波作為激勵(lì)源的C/V電路的輸出仍為正弦波,不能直觀地計(jì)算出被測電容值,需經(jīng)過相敏解調(diào)的方法從輸出中提取幅值信息。
圖4 正弦波激勵(lì)與三角波激勵(lì)輸出波形Fig.4 Sine wave excitation and triangular wave excitation output waveforms
對(duì)參數(shù)選取后的電路進(jìn)行仿真,圖5所示為測量5 pF電容時(shí)在multisim中的仿真電路輸出,由圖可讀出輸出的峰峰值為3.998 V,與理論值相符。
圖5 測量電路仿真輸出波形Fig.5 Measuring circuit simulation output waveform
由于ECT被測電容的范圍為10-11~10-14F,從中選取部分電容值進(jìn)行仿真,被測電容值與電路的輸出關(guān)系見圖6,擬合函數(shù)為V=0.799 8Cx-0.001 3。由于C/V轉(zhuǎn)換電路的分辨率為0.8 V/pF,采用的AD芯片供電為±12 V,則C/V電路在測量大于30 pF的電容時(shí)進(jìn)入飽和。電路最小可測量10 fF電容,因此電路的動(dòng)態(tài)測量范圍可達(dá)69 dB。本電路設(shè)計(jì)ECT測量各個(gè)環(huán)節(jié)所需時(shí)間見表1所示。對(duì)于12電極ECT成像系統(tǒng)成像速度計(jì)算式為:
(12)
式中tall為數(shù)據(jù)在各個(gè)環(huán)節(jié)消耗總時(shí)間。
表1 ECT測量環(huán)節(jié)所需時(shí)間
圖6 電容測量的電路輸出Fig.6 Output of capacitance measuring circuit
圖7 三角波激勵(lì)信號(hào)Fig.7 Triangular wave excitation signal
圖8 輸出采樣波形Fig.8 Output sampling waveform
實(shí)驗(yàn)之前利用Multisim仿真電路驗(yàn)證了方案的可行性,并與正弦波激勵(lì)進(jìn)行了比較。圖7所示為三角波激勵(lì)信號(hào),峰峰值為10 V,頻率200 kHz。由實(shí)驗(yàn)結(jié)果可知,由于輸入信號(hào)與輸出信號(hào)成微分關(guān)系,輸入的三角波在波峰至波谷和波谷至波峰時(shí)斜率固定且相反,因此微分電路輸出在兩段時(shí)間內(nèi)是定值且相反,為方波的形式。輸出方波的頻率與輸入頻率一致,采用10 MHz采樣頻率的AD芯片對(duì)輸出信號(hào)進(jìn)行采樣,1個(gè)周期采樣點(diǎn)的個(gè)數(shù)為50個(gè)。圖8所示為示波器對(duì)方波采樣的結(jié)果。在測量中,信噪比(SNR)用來比較所需要的電平信號(hào)與噪聲電平的比例,定義為:
(13)
圖9為選取的幾個(gè)電容值進(jìn)行測量并計(jì)算信號(hào)的信噪比所得的曲線。圖中由每個(gè)電容測量150次計(jì)算所得。由圖中數(shù)據(jù)可知:測量的電容值越小,信噪比越低。這是因?yàn)樗鶞y的電容值越小,電路的輸出電壓越低,而噪聲的成分所占比重越大。
圖9 測量值信噪比Fig.9 Measured SNR
由于方波是由基波和其它部分諧波累加而成,濾波器的截止頻率不能太低,否則會(huì)導(dǎo)致方波失真。所以噪聲無法完全濾除,仍然會(huì)有低頻的噪聲存在。由圖8可以看出,電路有一定的穩(wěn)定時(shí)間,這段時(shí)間采樣的數(shù)據(jù)是不可用的。而由于噪聲的存在,噪聲的幅值與方波信號(hào)的幅值疊加,導(dǎo)致信號(hào)產(chǎn)生毛刺,而理想方波的幅值在每一個(gè)時(shí)刻均為相等的,所以對(duì)于采樣到的數(shù)據(jù)得到的波形中,舍去幅值波動(dòng)比較大采樣點(diǎn)的數(shù)據(jù),然后將剩下的采樣點(diǎn)幅值做平均計(jì)算,能減小噪聲的幅值對(duì)方波信號(hào)幅值的影響。本文采用中值濾波的方法對(duì)采樣得到的數(shù)據(jù)進(jìn)行處理。利用方波的峰峰值來計(jì)算被測電容的值,降低噪聲對(duì)結(jié)果的影響,改善測量的精度。
表2為采用中值濾波前后信號(hào)信噪比的對(duì)比。由表2中數(shù)據(jù)可知,在濾波之前噪聲所占的比例較大,嚴(yán)重影響信號(hào)的精度。在經(jīng)過中值濾波對(duì)數(shù)據(jù)進(jìn)行處理后,信號(hào)的信噪比得到大幅提升。
表2 信號(hào)濾波前后信噪比對(duì)比Tab.2 Signal-to-noise ratio of signal between without filtering and after filtering dB
本文采用示值重復(fù)性系統(tǒng)測量的方法來驗(yàn)證電路的穩(wěn)定性。在測量條件恒定不變的條件下,短時(shí)間內(nèi)對(duì)恒定電容值的電容進(jìn)行重復(fù)測量,實(shí)驗(yàn)所得數(shù)據(jù)用Bessel公式計(jì)算標(biāo)準(zhǔn)差,按t分布給出擴(kuò)展不確定度和相應(yīng)的置信區(qū)間。Bessel公式為:
(14)
式中xi為重復(fù)測量所得的n個(gè)數(shù)據(jù)。
取4個(gè)市售2 pF電容(誤差為(0.25 pF)串聯(lián),所得電容經(jīng)LCR測量儀測量為0.485 pF,經(jīng)微分電路重復(fù)測量100次的測量結(jié)果如圖10所示。其示值重復(fù)性(置信區(qū)間為95.4%)為0.002 23。
圖10 電路測量數(shù)據(jù)Fig.10 Circuit measurement data
實(shí)驗(yàn)分析表明,三角波激勵(lì)的電容測量電路具有穩(wěn)定性好、速度快、測量范圍廣的特性,符合ECT測量電路的要求;微分電路瞬態(tài)響應(yīng)時(shí)間小,因此本方法的測量速度比正弦波激勵(lì)的方法快。將其用于12電極ECT測量,可使測量速度提高到3 124幀/s。數(shù)據(jù)處理過程不需要相敏解調(diào)的特點(diǎn)也簡化了軟件設(shè)計(jì),縮短了系統(tǒng)的開發(fā)周期。