基于Inception-SSD算法的零件識別

余永維，韓 鑫，杜柳青

(重慶理工大學(xué) 機(jī)械工程學(xué)院，重慶 400054)

1 引 言

零件識別和定位是柔性裝配機(jī)器人視覺任務(wù)中的重要組成部分。傳統(tǒng)圖像識別方法主要采用人工設(shè)計(jì)特征，例如SIFT(Scale-Invariant Feature Transform)特征[1]、LBP(Local Binary Pattern)特征[2]、HOG(Histogram of Oriented Gradient)特征[3]等，傳統(tǒng)人工特征方法效率低下，對特征多樣性變化缺乏魯棒性，已經(jīng)不能夠滿足現(xiàn)代工業(yè)檢測需求。

近年來，深度學(xué)習(xí)方法在自然圖像檢測方面表現(xiàn)出優(yōu)越性能[4]，深度卷積神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)能夠完善分類器模型并自主訓(xùn)練提取目標(biāo)特征，訓(xùn)練后得到的特征泛化性遠(yuǎn)高于人工提取特征。目前基于卷積神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)的目標(biāo)檢測算法主要有兩種，一種是基于區(qū)域的目標(biāo)檢測算法，如Faster-RCNN(Regions with Convolutional Neural Networks)[5]，Mask-RCNN[6]等，該類算法檢測精度高，但檢測速度慢，不能實(shí)現(xiàn)實(shí)時(shí)檢測；另一種是基于回歸的目標(biāo)檢測算法，如YOLO(You Only Look Once)[7]，SSD(Single shot MultiBox Detector)[8]等，該類算法檢測速度快，可以達(dá)到實(shí)時(shí)檢測的要求，將卷積神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)應(yīng)用于圖像檢測領(lǐng)域的研究中，國內(nèi)學(xué)者做了大量的工作：張博等[9]提出了一種基于Mask R-CNN算法的多目標(biāo)圖像ORB除誤匹配方法，該方法主要用到區(qū)域神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)提取目標(biāo)類別信息并生成標(biāo)簽，然后通過各個卷積層進(jìn)行像素矯正，該方法相對于傳統(tǒng)方法目標(biāo)匹配精度提高了18.6%。方明等[10]提出了一種基于改進(jìn)YOLO算法的安全帽佩戴情況檢測方法，利用卷積神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)由淺至深的語義信息提取并配合MobileNet輕量化模型，在保證檢測精度的同時(shí)有效的提高了檢測速度并減小了參數(shù)數(shù)量。王中宇等[11]將卷積神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)運(yùn)用到自動駕駛場景語義分割中，提出一種融合了圖像底層像素信息、通道與空間信息的語義分割網(wǎng)絡(luò)，該方法能夠更加精細(xì)的分割目標(biāo)，有效提高了均交比和均像素精度等關(guān)鍵指標(biāo)。

本文的研究主要針對裝配零件的檢測，傳統(tǒng)的目標(biāo)檢測方法對零件檢測環(huán)境要求極高，且不能兼顧目標(biāo)識別精度和檢測實(shí)時(shí)性，故本文引入了深度學(xué)習(xí)方法到目標(biāo)零件檢測中，綜合比較目前的主流目標(biāo)識別方法優(yōu)缺點(diǎn)，選取了SSD作為基礎(chǔ)算法。但SSD算法在復(fù)雜工況下檢測精度稍有遜色，為了克服這一缺陷，提出一種基于Inception-SSD框架的零件深度學(xué)習(xí)識別方法，建立了融合Inception預(yù)測結(jié)構(gòu)的SSD優(yōu)化框架Inception-SSD，在SSD額外層中引入Inception結(jié)構(gòu)，以增加神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)寬度和對不同尺度特征適應(yīng)性，實(shí)現(xiàn)不同尺度特征融合，優(yōu)化模型對復(fù)雜環(huán)境的適應(yīng)性，提高復(fù)雜環(huán)境下的檢測精度，同時(shí)對其損失函數(shù)和非極大值抑制進(jìn)行優(yōu)化，以克服模型表達(dá)能力不足的缺點(diǎn)。

2 SSD算法原理

SSD算法以VGG16為基礎(chǔ)網(wǎng)絡(luò)，其模型結(jié)構(gòu)如圖1所示，輸入圖片的尺寸需要轉(zhuǎn)化成300×300，再將其輸入進(jìn)SSD網(wǎng)絡(luò)中；SSD是以VGG-16卷積神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)為基礎(chǔ)，將VGG-16中的全連接層(fc6和fc7)改成卷積層(conv_fc6與conv_fc7)，并在后面增加不同大小的卷積層用于對多尺度目標(biāo)的預(yù)測，如圖1所示。VGG-16網(wǎng)絡(luò)后面新增的幾個卷積層conv_fc7，conv8_2，conv9_2，conv10_2，conv11_2，加上VGG-16網(wǎng)絡(luò)的conv4_3，SSD網(wǎng)絡(luò)有著不同的層次的特征圖，分別用于不同尺度目標(biāo)的邊框偏移與類別預(yù)測。最后通過非極大值抑制(Non-Maximum Suppression, NMS)得到最終的檢測結(jié)果。

SSD采取了全卷積直接回歸預(yù)測的方式，不再產(chǎn)生區(qū)域候選框，極大地提升了SSD網(wǎng)絡(luò)的檢測速度。但SSD算法面對工業(yè)中一些視覺干擾、表面特征相似、零件堆疊等復(fù)雜情況時(shí)，有時(shí)也會發(fā)生漏檢和誤檢，而在實(shí)際的工廠生產(chǎn)環(huán)境中，以上的復(fù)雜情況往往不可避免。

圖1 SSD網(wǎng)絡(luò)結(jié)構(gòu)Fig.1 SSD network structure

3 基于深度學(xué)習(xí)模型Inception-SSD的零件識別方法

在SSD算法網(wǎng)絡(luò)額外層尺寸較小，包含小目標(biāo)信息有限，且額外層只有一種類型卷積內(nèi)核，即3×3內(nèi)核，存在目標(biāo)細(xì)節(jié)特征遺漏的情況。同時(shí)SSD算法網(wǎng)絡(luò)具有復(fù)雜的神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)模型結(jié)構(gòu)，想要提升其網(wǎng)絡(luò)性能，一般采取的方法是增加網(wǎng)絡(luò)寬度與深度。然而，這將導(dǎo)致網(wǎng)絡(luò)參數(shù)數(shù)量增加，進(jìn)而造成計(jì)算量增加和過度擬合的問題。為此，本文提出Inception-SSD網(wǎng)絡(luò)結(jié)構(gòu)，通過將Inception預(yù)測結(jié)構(gòu)融入到SSD網(wǎng)絡(luò)額外層中，從而拓寬卷積神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)寬度，以此提升算法性能。

Inception結(jié)構(gòu)具有密集矩陣的高性能特點(diǎn)，同時(shí)還保持著網(wǎng)絡(luò)稀疏結(jié)構(gòu)，Inception模塊原始結(jié)構(gòu)圖如圖2所示，其結(jié)構(gòu)中使用了3個尺寸不同的濾波器(1×1，3×3，5×5)，目的在于降低卷積運(yùn)算過程的算力成本，解決計(jì)算量增加的問題。 GoogLeNet Inception-V1[12]證明，解決參數(shù)增加引起的計(jì)算量增加和過度擬合問題，基本方法是將完整連接層中至少一半的卷積層轉(zhuǎn)換為稀疏結(jié)構(gòu)。 因此，Inception網(wǎng)絡(luò)可以在不增加網(wǎng)絡(luò)復(fù)雜性情況下，捕獲到更多目標(biāo)信息。相比Inception-V1，Inception-V2和Inception-V3[13]增加了準(zhǔn)確度和簡化計(jì)算復(fù)雜度的優(yōu)化，提出了更加優(yōu)越的因子分解方法，將濾波器5×5拆分為兩個3×3，使卷積運(yùn)算更加高效。Inception-V4[14]則引入了縮減模塊到結(jié)構(gòu)中，以改變網(wǎng)格高度與寬度，并輔以殘差結(jié)構(gòu)連接，將縮減模塊的性能發(fā)揮到最大,解決了梯度彌散的問題。

圖2 Inception原始結(jié)構(gòu)圖Fig.2 Inception original structure diagram

綜合考慮到Inception-V1到V4的變化，在SSD網(wǎng)絡(luò)的改進(jìn)過程中，為了能夠保留更多目標(biāo)的原始細(xì)節(jié)特征，對Inception網(wǎng)絡(luò)結(jié)構(gòu)進(jìn)行適應(yīng)性優(yōu)化，首先將5×5的卷積核替換成兩個3×3的卷積核，以提升計(jì)算速度，同時(shí)減少Inception網(wǎng)絡(luò)中每層特征圖數(shù)量，保持特征圖總和與原SSD網(wǎng)絡(luò)額外層特征圖總數(shù)相同。為了能夠反映本文引入的Inception網(wǎng)絡(luò)結(jié)構(gòu)不同尺度卷積核的重要性，對結(jié)構(gòu)中現(xiàn)存的兩種卷積核1×1和3×3附以加權(quán)，比值為1∶2，然后在每個卷積層之后都使用批量標(biāo)準(zhǔn)化操作(Batch Normalization，BN)，以增加算法的整體魯棒性。在靠近輸出端添加1×1Conv來降低參數(shù)數(shù)量，加快計(jì)算速度。最后將整個結(jié)構(gòu)輔以殘差結(jié)構(gòu)連接，綜合提升算法的訓(xùn)練與測試性能。圖3為優(yōu)化后的Inception網(wǎng)絡(luò)結(jié)構(gòu)。

圖3 優(yōu)化后的Inception網(wǎng)絡(luò)結(jié)構(gòu)Fig.3 Improved Inception network structure

用Inception網(wǎng)絡(luò)替換SSD原結(jié)構(gòu)中的Conv8，Conv9，Conv10和Conv11層，即它們中每一層都被獨(dú)立的卷積組代替。將Conv4_3，Conv6_2，Conv7_2，Conv8_2 ，Conv9_2 和Conv10_2作為特征提取層來提取目標(biāo)特征，并將Conv6和Conv7的輸出作為Inception特征層的輸入。

基于深度學(xué)習(xí)模型Inception-SSD的零件識別原理如圖4所示，在目標(biāo)檢測階段，首先將圖片尺寸調(diào)整為300×300，然后輸入改進(jìn)SSD網(wǎng)絡(luò)，先通過VGG16 conv5_3特征提取網(wǎng)絡(luò)，輸出大小為38×38尺度的特征圖，在經(jīng)過兩個conv3×3特征提取網(wǎng)絡(luò)，分別輸出19×19和10×10尺度的特征圖，然后進(jìn)入Inception特征提取網(wǎng)絡(luò)，得到尺度為3×3，1×1的特征圖，各種尺度的特征圖分別通過BN、激活層等系列操作，分別實(shí)現(xiàn)對輸入圖片進(jìn)行5種尺度的特征檢測。輸出特征圖包含了位置信息、網(wǎng)格單元的置信度、類別信息的三類信息。然后將得到的特征圖集合得到8 732個候選框(default box)，最后通過非極大值抑制，輸出最終檢測結(jié)果。Inception-SSD采用全卷積方式，其感受野為整幅圖像，還需要對每個感受野做分類，對于不同尺度、形狀的目標(biāo)物體，Inception-SSD將對其類別與位置信息直接進(jìn)行回歸預(yù)測，并將其分散于不同特征層來實(shí)現(xiàn)，從而提升了網(wǎng)絡(luò)整體檢測精度與速度，通過Inception稀疏結(jié)構(gòu)來感知更多小尺度特征圖，在優(yōu)化神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)的同時(shí)提高對小目標(biāo)零件識別精度。

圖4 Inception-SSD識別原理Fig.4 Identification principle of Inception-SSD

4 模型優(yōu)化

4.1 SSD損失函數(shù)優(yōu)化

根據(jù)SSD算法檢測目標(biāo)位置和類別的回歸原理，其目標(biāo)函數(shù)為置信度損失(conf)和位置損失(loc)的加權(quán)和，具體表達(dá)式如下：

(1)

其中：N表示與真實(shí)目標(biāo)框相匹配的默認(rèn)框數(shù)量，如果N=0，則總體損失值為0；c表示預(yù)測框置信度，l表示預(yù)測框位置信息；g是真實(shí)框位置信息；α是一個權(quán)重參數(shù)，經(jīng)過交叉驗(yàn)證將其設(shè)為1；位置損失函數(shù)采用了Smooth L1函數(shù)；類別置信損失函數(shù)采用交叉熵?fù)p失函數(shù)。

針對SSD模型對堆疊零件檢測效果不佳的問題，在原始損失函數(shù)基礎(chǔ)上增加排斥損失[15]，以提高對遮擋情況下零件的檢測準(zhǔn)確率，改進(jìn)后的損失函數(shù)如下：

L=L(x,c,l,g)+γLRePGT.

(2)

假設(shè)G+= {G}表示所有真實(shí)目標(biāo)框的集合，P+={P}表示與真實(shí)目標(biāo)框匹配且IoU>0.5的候選區(qū)域框集合，對于候選框P(P∈P+)而言，指定一個IoU值最大的目標(biāo)框作為真實(shí)目標(biāo)，如式(3)：

(3)

對于P∈P+而言，因?yàn)榕懦鈸p失，指定目標(biāo)之外的相鄰真實(shí)目標(biāo)框與區(qū)域候選框產(chǎn)生排斥，排斥目標(biāo)即為除其本身之外與其IoU值最大的真實(shí)目標(biāo):

(4)

(5)

因此排斥損失計(jì)算如下：

(6)

4.2 SSD非極大值加權(quán)優(yōu)化

SSD算法基于前饋卷積神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)，最后再通過非極大值抑制得到最終檢測結(jié)果。當(dāng)IoU值高于閾值時(shí)，邊界框(bounding box)就會被識別為相同目標(biāo)。設(shè)B表示邊界框集，Ci表示第i個邊界框置信度，則非極大值抑制可表示如下：

box=BargmaxCi，

(7)

(8)

其中，box表示具有最高置信度的邊界框，這些邊界框?qū)⒈蛔鳛樽罱K輸出。然而，非極大值檢測結(jié)果可能會包含特征的最大值，因此直接調(diào)用非極大值抑制結(jié)果是不合適的。假設(shè)所有邊界框都來自于同一個對象，如果只考慮最大值結(jié)果，就會忽略掉通過保持邊界框最高置信度來充分利用對象信息的問題。針對以上問題，在原來非極大值抑制的基礎(chǔ)上進(jìn)行加權(quán)，稱之為非極大值加權(quán)(Non-Maximum Suppression Weighting, NMW)：

(9)

wi=Ci×iou(Bi,BargmaxCi)，

(10)

(11)

5 實(shí)驗(yàn)與分析

5.1 零件數(shù)據(jù)集

卷積神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)模型往往需要在大量數(shù)據(jù)集基礎(chǔ)上訓(xùn)練，然后對權(quán)重進(jìn)行相應(yīng)優(yōu)化得到效果穩(wěn)定的最終模型。目前，目標(biāo)識別領(lǐng)域研究主要采用的數(shù)據(jù)集有ImageNet[16]，MS COCO[17]以及PASCAL VOC[18]等。以上數(shù)據(jù)集都取自我們?nèi)粘Ｉ钪械某Ｒ娢矬w，而本文研究面向工業(yè)柔性裝配機(jī)器人視覺系統(tǒng)實(shí)際應(yīng)用，對待裝配零件進(jìn)行識別，因此本文選用工業(yè)相機(jī)對所需檢測零件進(jìn)行自主拍攝，并對每張拍攝圖片進(jìn)行手工標(biāo)注，完成零部件數(shù)據(jù)集制作工作，為后期模型訓(xùn)練做準(zhǔn)備。

為了驗(yàn)證本文提出的Inception-SSD深度學(xué)習(xí)識別模型是否有效，在數(shù)據(jù)集制作上，本文針對性的選擇了如圖5所示的5類零件用于測試Inception-SSD的檢測效果，并拍攝了5 000張零件圖作為數(shù)據(jù)集，其中隨機(jī)選擇4 000張圖片用于訓(xùn)練模型，剩下1 000張圖片作為測試集。

圖5 5類模型訓(xùn)練零件圖Fig.5 Five types of parts for model training

為了能夠呈現(xiàn)直觀的識別效果，在數(shù)據(jù)集制作過程中對不同零件標(biāo)注了相應(yīng)英文單詞。如圖5所示，Bolt表示M8鍍鋅十字大扁頭螺釘、Nut1表示M10尼龍防松螺母、Nut2表示M8鍍鎳滾花大頭螺母、Capnut1表示M8鍍鋅螺帽、Capnut2表示M6鍍鋅蓋型螺帽。為了保證實(shí)驗(yàn)結(jié)果可靠性，在數(shù)據(jù)集制作過程中，通過改變光照強(qiáng)度、變換相機(jī)拍攝位姿、變換零件位姿、模擬零件堆疊的方式來保證數(shù)據(jù)集更加貼近實(shí)際生產(chǎn)環(huán)境。

對于數(shù)據(jù)集標(biāo)注工作，在Ubuntu16.04下，使用軟件LabelImg對每張零件圖進(jìn)行位置信息和類別信息標(biāo)注，每標(biāo)注一張圖片就會生成相應(yīng)xml信息文件，對于標(biāo)記完之后的圖片進(jìn)行微調(diào)，生成xml文件分別保存，根據(jù)xml文件提取出每種零件所包含的訓(xùn)練集與測試集圖片數(shù)量分配情況及圖片尺寸信息，如表1所示。

表1 零件數(shù)據(jù)集圖像樣本分布

5.2 模型訓(xùn)練方法

Inception-SSD模型的訓(xùn)練主要分為預(yù)訓(xùn)練和微調(diào)兩個階段，預(yù)訓(xùn)練階段會在caffe框架中以自制零件圖數(shù)據(jù)集為基礎(chǔ)訓(xùn)練得到一個SSD模型，然后用該模型來初始化Inception-SSD網(wǎng)絡(luò)，得到Inception-SSD模型相關(guān)初始化參數(shù)，微調(diào)階段則注重根據(jù)自制零件圖數(shù)據(jù)集對相關(guān)權(quán)重進(jìn)行微調(diào)，最后用測試集數(shù)據(jù)驗(yàn)證Inception-SSD模型的檢測精度與實(shí)時(shí)性。

本實(shí)驗(yàn)Inception-SSD模型訓(xùn)練是基于Linux操作系統(tǒng)，訓(xùn)練環(huán)境為Ubuntu16.04，訓(xùn)練之前進(jìn)行相關(guān)重要參數(shù)修改，如表2所示。

表2 相關(guān)訓(xùn)練參數(shù)

表2中，Weight-decay表示權(quán)重衰減系數(shù)，將每次學(xué)習(xí)后的參數(shù)按照固定比例降低，以防止出現(xiàn)過擬合現(xiàn)象；Momentum表示動量參數(shù)，對梯度下降到最優(yōu)過程的速度有一定影響；Base_lr表示基礎(chǔ)學(xué)習(xí)率，決定權(quán)值更新速度；batch_size表示每批次訓(xùn)練樣本量大小；Max_iter表示最大迭代次數(shù)。本次模型訓(xùn)練實(shí)驗(yàn)設(shè)置總迭代次數(shù)為50 000次，最大迭代次數(shù)為60 000次，訓(xùn)練完成后得到的訓(xùn)練過程中損失值變化曲線如圖6所示。

圖6 損失值變化曲線Fig.6 Loss value curve

從圖6可以看出，當(dāng)訓(xùn)練次數(shù)達(dá)到10 000次以后，損失值開始趨于平穩(wěn)，考慮到深度神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)迭代次數(shù)過多會出現(xiàn)過擬合情況，故在訓(xùn)練文件中做了相應(yīng)修改，使得在訓(xùn)練過程中每迭代5 000次就保存一次SSD訓(xùn)練模型。而后隨機(jī)選擇500張測試圖片，根據(jù)文獻(xiàn)[19]的方法，選擇迭代5 000次到50 000次之間的SSD模型，用召回率進(jìn)行測試，召回率Recall計(jì)算公式如下：

Recall=TP/(TP+FN)，

(12)

在所有標(biāo)簽為正例的樣本中，式中TP表示零件正確預(yù)測數(shù)，F(xiàn)N表示零件錯誤預(yù)測數(shù)，測試結(jié)果如表3所示。

表3 迭代次數(shù)與召回率

根據(jù)表中數(shù)據(jù)可知，SSD網(wǎng)絡(luò)最優(yōu)迭代次數(shù)為15 000次。故選擇15 000次迭代的SSD模型作為零件檢測最終模型。

5.3 零件檢測實(shí)驗(yàn)

(1)單類零件檢測實(shí)驗(yàn)

由圖7和圖8可以看出單類零件檢測效果，本文提出的Inception-SSD算法在零件堆疊、遮擋和視覺干擾的情況下檢測效果較好。

(2)多類零件檢測實(shí)驗(yàn)

在零件檢測效果測試中，本文特意模擬了實(shí)際生產(chǎn)中，工作臺多類零件堆疊遮擋、零件裝配、無關(guān)雜物干擾、變換相機(jī)位姿等復(fù)雜情況下，測試效果如圖9～圖11所示，檢測準(zhǔn)確率達(dá)到97%以上，能夠滿足實(shí)際生產(chǎn)環(huán)境對零件的檢測要求。

為了對比Inception-SSD算法與其他目標(biāo)檢測算法的檢測效果，引入測試集圖片進(jìn)行驗(yàn)證，檢測對比數(shù)據(jù)如表4所示，數(shù)據(jù)對比結(jié)果表明：正常情況下，各個算法檢測平均準(zhǔn)確率相差不大；復(fù)雜情況下，本文方法檢測平均準(zhǔn)確率達(dá)到97.8%，相比原SSD算法提升11.7%，相比YOLO算法提升10.4%，相比Faster R-CNN，檢測速率遙遙領(lǐng)先達(dá)到41 Frame/s，可實(shí)現(xiàn)實(shí)時(shí)檢測。綜上述，Inception-SSD算法在提高復(fù)雜情況檢測精度同時(shí)還保證了實(shí)時(shí)性，對復(fù)雜情況下的零件識別效果顯著。

圖7 單類零件檢測效果Fig.7 Detection effect of single type part

圖8 正常光照、過量曝光和光線不足檢測效果Fig.8 Detection effect of normal , overexposure and underexposure

圖9 多類零件混雜堆疊擺放和裝配狀態(tài)下檢測效果Fig.9 Detection effect of multi-class parts in hybrid stacking and assembling state

圖10 無關(guān)雜物干擾檢測效果Fig.10 Detection effect of irrelevant interference

圖11 過量曝光和變換相機(jī)角度檢測效果Fig.11 Detection effect of overexposure and change camera angle

表4 本文Inception-SSD與其他算法檢測效果對比

根據(jù)實(shí)際情況，多種零件相互堆疊最貼近生產(chǎn)實(shí)際，故分別隨機(jī)采取了200張正常和復(fù)雜情況下多種零件堆疊測試圖片，用于測試本文的Inception-SSD算法和原SSD算法檢測性能，檢測結(jié)果如表5所示。

表5 復(fù)雜工況下誤檢數(shù)據(jù)對比

從表5中對比數(shù)據(jù)可以看出，Inception-SSD算法性能相比原SSD算法有較大提升。在實(shí)際生產(chǎn)中，由于相距變大或較大雜物干擾情況下，零件會在成像平面呈現(xiàn)適應(yīng)性像素縮小的狀況，對此特意增加了100張適應(yīng)性像素縮小3倍的零件測試圖像，以此驗(yàn)證改進(jìn)SSD算法對小目標(biāo)零件的檢測效果。實(shí)驗(yàn)結(jié)果如表6所示。與原SSD算法零件識別效果對比如圖12所示。

表6 適應(yīng)性像素縮小零件檢測準(zhǔn)確率對比

從表6的對比數(shù)據(jù)可得，在優(yōu)化SSD神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)結(jié)構(gòu)同時(shí)提高對小目標(biāo)零件的識別精度，檢測準(zhǔn)確率綜合提升12.4%。從圖12對比識別效果和表4～表6的實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)得出，本文Inception-SSD目標(biāo)識別算法相比于原SSD算法有以下幾點(diǎn)提升：

(1)測試集驗(yàn)證中復(fù)雜情況下零件檢測準(zhǔn)確率總體提升11.7%。對于適應(yīng)性像素縮小零件，檢測準(zhǔn)確率綜合提升12.4%。

(2)復(fù)雜情況下，零件堆疊、遮擋誤檢漏檢率降低10.7%。

(3)通過模型得到的坐標(biāo)框更加貼近真實(shí)零件邊緣，減小定位坐標(biāo)和真實(shí)坐標(biāo)之間的誤差，為后續(xù)的研究提供更加精確地定位。

圖12 算法改進(jìn)前后檢測效果對比

6 結(jié) 論

本文提出基于Inception-SSD框架的零件深度學(xué)習(xí)識別方法，在SSD網(wǎng)絡(luò)額外層中，插入Inception結(jié)構(gòu)，以提高SSD網(wǎng)絡(luò)模型檢測精度而又不影響其檢測速度，并在每個卷積層后使用BN操作，增加算法整體魯棒性，再輔以殘差結(jié)構(gòu)連接，提升算法訓(xùn)練與測試性能；同時(shí)在損失函數(shù)中增加排斥損失，在非極大值抑制中引入加權(quán)算法，提升Inception-SSD算法對模型表達(dá)能力。在訓(xùn)練階段，結(jié)合損失值變化曲線與不同迭代次數(shù)模型進(jìn)行召回率測試，選取最佳零件檢測模型。實(shí)驗(yàn)表明，在非結(jié)構(gòu)性復(fù)雜條件下，本文方法在識別準(zhǔn)確率達(dá)到97.8%，檢測速率41 frame/s，在保障證實(shí)時(shí)檢測的同時(shí)還保證了精度，相比原SSD網(wǎng)絡(luò)效果顯著提升，與其他算法相比優(yōu)勢突出，能夠滿足實(shí)際生產(chǎn)中零件檢測需求。如何進(jìn)一步提高本文方法的泛化能力，增強(qiáng)數(shù)據(jù)集包容性，是本文接下來的研究方向。