音頻大地電磁（AMT）在東昆侖金多金屬礦勘查中的應(yīng)用

王朝錦，盧寶鍇，寇 明

（1.四川省核工業(yè)地質(zhì)調(diào)查院，四川 成都 610000；2.四川川核地質(zhì)工程有限公司，四川 成都 610000）

1 地質(zhì)特征

本區(qū)屬于秦祁昆晚加里東造山系（Ⅰ級）東昆侖造山帶（Ⅱ級）伯喀里克-香日德元古宙古陸塊體（Ⅲ級），西南部邊緣斜跨雪山峰—布爾汗布達造山亞帶（Ⅲ級）。區(qū)內(nèi)經(jīng)歷了多個構(gòu)造旋回的演化過程，既保留有古陸形成時的基底構(gòu)造，又疊加了加里東期-印支期造山運動形成的構(gòu)造形跡，形成了各類構(gòu)造交織的復(fù)雜格局[1]。

區(qū)內(nèi)地層比較簡單，主要分布有古元古代金水口巖群一段（Pt1J1）、晚更新世沖洪積物、全新世沖洪積物及沖積物。金水口巖群走向與主構(gòu)造線方向近于一致，為北西向，其間發(fā)育軸向為北西向的一系列背、向斜閉合褶皺。巖性為含黑云二長片麻巖、混合質(zhì)片麻巖；

侵入巖較發(fā)育，不但出露面積大，而且形成較大的巖體，呈巖基、巖株狀。根據(jù)巖體與地層的接觸關(guān)系、不同類型侵入體間的相互接觸關(guān)系、同位素測年結(jié)果等資料，確定侵入活動發(fā)生于華力西中期[2]。主要巖性有淺灰色中粗粒斑狀二長花崗巖及中細粒二長花崗巖、細粒石英閃長巖；其中中粗粒斑狀二長花崗巖與金、鉬、鉛礦化關(guān)系密切。

2 地球物理特征

前人在區(qū)內(nèi)開展了1：1萬高精度磁法測量，對金水口巖群一段地層和酸性巖磁性特征進行統(tǒng)計分析（表1）。

表1 勘探區(qū)巖石磁參數(shù)統(tǒng)計

物性特征顯示：金水口巖群一段（Pt1J1）地層在受熱事件干擾及礦化作用過程中較強磁性物質(zhì)成分的普遍聚集有限，但在局部可能聚集并成礦。石英閃長巖和花崗閃長巖磁性較強，表明該巖石較強磁性物質(zhì)成分具較高背景，為磁性物質(zhì)成礦有利地質(zhì)體。

1：1萬高精度磁法測量成果圈定出6處正磁異常區(qū)（圖2），正磁異常主要發(fā)生在中酸性巖體的分布區(qū)，通過異常特征、存在的礦化蝕變線索、成礦地質(zhì)背景及物性標本對比進行綜合分析，確定其主要由巖性引起，但對找礦工作有一定的間接指導(dǎo)意義。

前人資料顯示，C4磁異常形態(tài)不規(guī)則，表現(xiàn)出北西向串珠狀排列的子異常特征，反映出北西向斷裂破碎帶特征（圖1）。

地質(zhì)調(diào)查顯示除北西向主斷裂外，北東、近東西向斷裂構(gòu)造縱橫交錯，并普遍發(fā)育破碎蝕變帶，具備了良好的成礦地質(zhì)條件。

采用大地電磁測深（AMT）手段，對前期發(fā)現(xiàn)的C4磁異常進行查證，定位異常，推斷解釋異常體在深部的展布特征，在此基礎(chǔ)上深度解剖區(qū)內(nèi)電、磁資料，為尋找深部礦體提供依據(jù)。

圖1 高精度磁法測量△T等值線平面圖

3 AMT法野外工作方法與技術(shù)

本次音頻大地電磁測深（AMT）測量采用加拿大Phoenix公司生產(chǎn)的V8多功能電法采集系統(tǒng)，在AMT法的施測中，采用四個電極參與測量，每兩個電極組成一對電偶極子，即X-Dipole電偶極子和Y-Dipole電偶極子相互垂直，根據(jù)開工實驗結(jié)果，本次工作極距選擇為40m，測量時間為45min。V8接收機放在兩組電偶極子的中心，測深裝置采用張量觀測方式，接收電極為不極化電極[3]。

4 AMT探測成果

圖2 AMT測線布置示意圖

本次工作共部署兩條AMT測線和一條實驗剖面（測線位置見圖2），其中鉆孔實驗剖面400m，完成測點21個；

1號AMT測線長1000m，完成測點47個；2號AMT測線長500m，完成測點26個。

根據(jù)物探解釋由已知到未知的原則，對鄰區(qū)已完成鉆孔開展實驗剖面，與巖芯物性對比，了解工作區(qū)周邊深部巖層與物性組合特征，以此推測解釋設(shè)計AMT剖面成果?，F(xiàn)對各測線視電阻率斷面圖解釋分述如下：

鉆孔實驗剖面：剖面呈北西-南東向布設(shè)，測線方向為146°。220號點為鉆孔施工位置，鉆孔為斜孔，傾斜角5°，終孔深度為430m。表層0m～50m分布風(fēng)化破碎層，視電阻率分布于700Ω.m～2500Ω.m之間，呈相對高阻特征，出露巖芯完整性較差，巖石內(nèi)部分布星點狀黃鐵礦、黃鐵礦。第二層，根據(jù)巖芯特征綜合推斷為一套似斑狀蝕變二長花崗巖，視電阻率變化范圍較大，從100Ω.m～1000Ω.m，厚度與剖面距離呈正相關(guān)，出露巖芯完整度較好，局部穿插輝綠巖脈，巖石內(nèi)部黃鐵礦化、黃鐵礦化均勻分布。

圖3 實驗剖面視電阻率斷面圖

本次開展實驗剖面，對鄰區(qū)鉆孔巖芯進行初步編錄統(tǒng)計，從412m至鉆孔底部，巖性結(jié)構(gòu)與上部蝕變二長花崗巖有明顯差別，內(nèi)部暗色礦物增多，侵染狀礦化蝕變增強，物性數(shù)據(jù)顯示該段巖芯電阻率明顯低于上部蝕變二長花崗巖，與圍巖電阻率差異明顯，推測為礦化蝕變斑巖。綜上，結(jié)合視電阻率斷面圖和巖性物性資料圈定礦化蝕變斑巖，其中心埋深約450m，視電阻率小于100Ω.m，受剖面長度影響，異常未圈閉。

AMT-L1測線：該測線為方向為129°，與2號線垂直，在240號點位置附近相交。斷面圖縱向主要分為兩個電阻層，20m～860m，第一層在視電阻率上呈中-高阻，縱向視電阻率與深度呈負相關(guān)。地表出露基巖為中粗粒斑狀蝕變黑云母二長花崗巖，表面可見不同程度蝕變現(xiàn)象，視電阻率分布于600Ω.m～1000Ω.m內(nèi)。其中220m～340m呈現(xiàn)出高阻下延趨勢，推測為受橫向擠壓應(yīng)力作用形成；360m～860m，地表可見多條輝綠巖脈侵出，花崗巖表明呈磚紅色、黃褐色，呈不均勻蝕變特征，視電阻率表現(xiàn)為不連續(xù)相對中-高阻特征，這種特征亦反映在花崗巖磁性差異上，巖石磁化率范圍在20（×10-5SI）～3900（×10-5SI）。860m～1000m，視電阻率顯示為高阻，地表出露巖性為角閃石巖，根據(jù)物性結(jié)果，推斷該層高阻體為角閃石巖，向南東方向厚度逐漸增大，其下部根據(jù)視電阻率值推測為一套蝕變二長花崗巖。斷面圖縱向第二層為一套低阻層，沿測線分布，寬度100m～300m，埋深450m～700m之間，反映出低阻體空間延展性較強，厚度變化較大。根據(jù)實驗剖面解釋推斷結(jié)果，深部低阻層空間層位基本一致，表現(xiàn)出的低阻異常值相近，推測該條低阻體為礦化蝕變斑巖[4]。

另外，860m處推測為斷層通過處，地表上，860m北西側(cè)為灰白色二長花崗巖，南東為黑灰色角閃石巖。斷面圖上，視電阻率呈現(xiàn)不連續(xù)特征，斷層延伸方向兩側(cè)具有上下錯斷的痕跡，呈低阻特征。根據(jù)視電阻率剖面圖表現(xiàn)出的電阻特征，推測該斷層為逆斷層。

圖4 AMT-L1視電阻率斷面圖

AMT-L2測線：該剖面由南西向北東布設(shè)，測線方向39°。視電阻率斷面圖縱向呈現(xiàn)3個電阻層。0號點至460號點上地表的視電阻率呈相對中-高阻特征，視電阻率600Ω.m～1000Ω.m，高阻層厚度與距離呈負相關(guān)，視電阻率與深度呈負相關(guān)，地表出露巖性為中粗粒斑狀黑云母二長花崗巖，內(nèi)部硫化物發(fā)育，結(jié)合物性參數(shù)推測該層為中粗粒斑狀黑云母二長花崗巖根據(jù)地質(zhì)資料反映，480m至剖面終點為構(gòu)造破碎帶，視電阻率斷面圖顯示該斷裂傾向南西,向下延伸將低阻體一分為二。斷面圖縱向第二層為低阻體，由西向東埋深逐漸減小，300m～500m，視電阻率小于100Ω.m。L2與L1相交于260號點，對比兩條測線視電阻率斷面圖，深部低阻體埋深相近，視電阻率值相似，推測為同一套礦化蝕變斑巖。

圖5 AMT-L2視電阻率斷面圖

5 結(jié)語

（1）在鉆孔勘探線剖面位置完成一條AMT剖面，結(jié)合鉆孔巖心的巖性結(jié)構(gòu)和電性特征對該區(qū)域深部巖層電阻率情況進行驗證對比，驗證AMT工作對酸性巖體中蝕變礦化體劃分的可行性。

（2）對工作區(qū)內(nèi)出露地層進行系統(tǒng)性樣品采集工作，統(tǒng)計電性和磁性特征，了解C4異常有關(guān)的巖性，由淺入深完成對斷面圖低阻體的解釋工作，圈定礦化體埋深、掌握空間展布形態(tài)。

（3）根據(jù)物探分析解釋結(jié)果，結(jié)合本區(qū)地質(zhì)、鉆孔、地球物理及成礦條件推斷，本區(qū)C4異常體與AMT異常吻合對應(yīng)較好。同時AMT方法對于該區(qū)內(nèi)酸性巖體中存在的斷層有較好分辨效果，在本次勘探過程中發(fā)揮較好的作用。