不同垂直骨面型安氏II1類錯畸形牙弓寬度分析

劉 曄 沈 悅 張士瓏 喬 星 盧海燕

安氏Ⅱ1類錯是臨床常見的錯類型，在沒有后牙反和鎖情況下，診斷和治療通常更多關(guān)注其矢狀向差異，橫向差異可能被矢狀向差異和牙齒錯位的嚴(yán)重程度所掩蓋。牙弓寬度被認(rèn)為是上下頜保持功能和穩(wěn)定咬合最重要的特征之一，牙弓寬度的協(xié)調(diào)在維持長期穩(wěn)定的牙周狀況和功能咬合方面發(fā)揮著重要作用[1]。目前，多數(shù)學(xué)者對安氏Ⅱ1類錯牙弓寬度與安氏Ⅰ類錯相比是否存在差異及異常的部位觀點(diǎn)不一[2～5]。本研究擬參考不同垂直骨面型并結(jié)合上下頜骨矢狀向關(guān)系來分析安氏Ⅱ1類錯畸形牙弓寬度，以期為正畸診斷評估和矯治設(shè)計提供參考。

資料和方法

1.研究對象

選擇我院正畸門診病例：安氏Ⅰ類均角患者20例（對照組）安氏Ⅱ1類患者120 例（實驗組），恒牙，13～17 歲，男女各半。取研究模型，拍攝頭顱側(cè)位片。其中實驗組分為：上頜發(fā)育過度組（一組）60例：ANB＞5°，SNA＞85°；下頜發(fā)育不足組（二組）60 例：ANB＞5°，SNB＜78°。其中一組和二組又根據(jù)垂直骨面型分別分為：高角組：SN-MP＞39°；均角組：29°＜SN-MP＜39°；低角組：SN-MP＜29°。每組20 例。納入標(biāo)準(zhǔn)：①無正畸、外傷史；②牙列完整(第三磨牙除外）；③無牙面缺損；④無中重度擁擠；⑤無后牙反；⑥無全身系統(tǒng)性疾病。對照組還需滿足：1°＜ANB＜5°；29°＜SN-MP＜39°。

2.測量項目

（1）牙弓寬度：U/L3W：上/ 下頜左右尖牙牙尖間距離；U/L4W：上/下頜左右第一前磨牙中央窩間距離；U/L6W：上/下頜左右第一磨牙中央窩間距離。

（2）牙槽弓寬度：U/L3AW：上/下頜左右尖牙牙槽骨最突點(diǎn)間距離；U/L4AW：上/下頜左右第一前磨牙牙槽骨最突點(diǎn)間距離；U/L6AW：上/下頜左右第一磨牙牙槽骨最突點(diǎn)間距離。

（3）基骨弓寬度：U/L3BW：上/下頜左右尖牙頰側(cè)粘膜移行皺襞處牙槽骨最凹點(diǎn)間距離；U/L 4 BW：上/下頜左右第一前磨牙頰側(cè)粘膜移行皺襞處牙槽骨最凹點(diǎn)間距離；U/L6BW：上/下頜左右第一磨牙頰側(cè)粘膜移行皺襞處牙槽骨最凹點(diǎn)間距離。

3.統(tǒng)計學(xué)處理：應(yīng)用SPSS 19.0 軟件進(jìn)行數(shù)據(jù)處理，對以上方差齊及正態(tài)分布的數(shù)據(jù)進(jìn)行方差分析，方差不齊或非正態(tài)分布的數(shù)據(jù)進(jìn)行秩和檢驗，三組間有統(tǒng)計學(xué)差異者進(jìn)行兩兩比較；并對數(shù)據(jù)與下頜平面角進(jìn)行相關(guān)分析。

結(jié)果

1.均角一組、均角二組、對照組寬度測量比較：U6AW、U6BW 均角一組、均角二組小于對照組（P＝0.034，0.045），U6W 均角二組小于對照組（P＝0.012）。其他指標(biāo)在三組間無顯著性差異（P＞0.05）。

2.高角一組、高角二組、對照組寬度測量比較：U6W、U6AW、U6BW 高角一組、高角二組小于對照組（P＝0.007，0.026，0.002）。

3.低角一組、低角二組和對照組寬度測量比較：所有指標(biāo)在三組間均無顯著性差異（P＞0.05）。

4.上頜發(fā)育過度組：U6AW 高角組小于低角組（P＜0.05），U6W 高角組小于低角組和均角組（P＜0.05）（表1）。U6BW、U6W 與SN-MP 呈負(fù)相關(guān)，相關(guān)系數(shù)分別是：-0.390、-0.598。

5.下頜發(fā)育不足組：U6W 高角組小于低角組和均角組（P＜0.05），U6AW、U6BW 高角組小于低角組（P＜0.05）（表2）。U6AW、U6BW、U6W 與SN-MP 呈負(fù)相關(guān)，相關(guān)系數(shù)分別是：-0.416、-0.383、-0.476。

表1 安氏Ⅱ1 類上頜發(fā)育過度組寬度測量比較（mm）

表2 安氏Ⅱ1 類下頜發(fā)育不足組寬度測量比較（mm）

討論

上、下頜骨的三維生長是按一定順序完成的，其中寬度的生長最先完成。林珠[6]等認(rèn)為左右尖牙區(qū)上頜骨寬度到12 歲時基本完成，左右磨牙區(qū)上頜骨寬度約在10～12 歲時完成。所以在對牙弓寬度進(jìn)行研究時選取的研究對象一般大于13 周歲，此時牙弓寬度較為穩(wěn)定[7]，本實驗選取了13～17 歲安氏Ⅱ1類和I 類患者作為研究對象，基本排除了生長發(fā)育對寬度的影響。實驗組和對照組均男女對半，以排除性別差異[8]，臨床上對于安氏Ⅱ1類錯的研究，石膏模型測量是常用的測量手段[9]，與數(shù)字、影印模型相比在牙齒大小、牙弓長度、寬度測量上的準(zhǔn)確性相似，都可以作為常規(guī)的模型測量方法[10]?？紤]到II類錯牙弓的橫向差異可能是對頜骨前后位移的補(bǔ)償[2]，所以本研究選擇樣本時在矢狀向同時考慮了牙齒關(guān)系和上下頜骨關(guān)系，樣本在滿足安氏Ⅱ1類和骨性Ⅱ類的同時又根據(jù)上下頜骨矢狀向位置關(guān)系分為上頜發(fā)育過度組和下頜發(fā)育不足組。

關(guān)于安氏Ⅱ1類錯牙弓寬是否存在異常以及異常的部位，觀點(diǎn)不一：Shu 等[2]認(rèn)為安氏Ⅱ1類錯的后牙弓寬度與I 類錯之間沒有差異，橫向差異是由牙齒的舌側(cè)傾斜導(dǎo)致的。Sayin 等[3]發(fā)現(xiàn)安氏Ⅱ1類錯的上頜磨牙間寬度和前磨牙間寬度均較窄，這種橫向差異源于上頜后牙列，而非上頜牙槽基骨。Uysal[4]則認(rèn)為安氏Ⅱ1類錯中前磨牙間寬度較窄，但上頜磨牙間寬度較寬。Patel[5]又認(rèn)為安氏Ⅱ1類錯上頜磨牙間牙弓寬度和牙槽骨寬度均小于安氏Ⅰ類錯。本研究發(fā)現(xiàn)安氏Ⅱ1類均角和高角錯與安氏Ⅰ類相比，上頜發(fā)育過度組與下頜發(fā)育不足組都表現(xiàn)出上牙弓后段的寬度不足，下牙弓寬度無差異，與曹正飛等[11]Meta 分析的結(jié)論一致。分析與其他學(xué)者研究結(jié)果不同的原因可能是受到樣本量大小和樣本選擇的影響。本研究同時也發(fā)現(xiàn)在安氏Ⅱ1類錯中，上頜發(fā)育過度組與下頜發(fā)育不足組在上下頜牙弓寬度上的異常都集中在上牙弓后段，兩組之間的差異不大，所以在臨床上對安氏Ⅱ1類患者進(jìn)行牙弓寬度分析時可以不必區(qū)分是上頜發(fā)育過度還是下頜發(fā)育不足。

牙弓形態(tài)受遺傳因素、垂直生長型、功能、肌肉等多種因素影響。Hwang 等[12]認(rèn)為不同垂直骨面型的I 類錯中磨牙間寬度并沒有顯著性差異。Wagner 等[13]則認(rèn)為I 類錯中頜骨的寬度與垂直骨面型有關(guān)，高角組的上下頜基骨寬度小于低角組。本研究與后者的觀點(diǎn)相似，認(rèn)為安氏Ⅱ1類錯，高角組上頜后段牙弓和牙槽骨寬度小于低角組，其他部位差異不明顯。有研究表明咀嚼肌與顱面生長型有關(guān)，低角患者咀嚼肌功能亢進(jìn)[14]，頜骨受到的機(jī)械負(fù)荷增加，骨縫生長和骨沉積活躍，從而導(dǎo)致牙槽弓和基骨弓的橫向生長增加[15]。相反高角患者常表現(xiàn)出更窄的牙弓、更高的腭弓和更小的咬合力[16]。

對于垂直骨面型與牙弓寬度的相關(guān)性研究，Grippaudo 等[17]認(rèn)為骨性Ⅱ類錯中垂直生長型與上牙弓的寬度沒有很強(qiáng)的相關(guān)性。國內(nèi)吳佩蓉等[18]則認(rèn)為：安氏Ⅱ1類錯上牙弓前中段寬度隨著下頜平面角的增大而減小，存在相關(guān)性。本研究發(fā)現(xiàn)在安氏Ⅱ1類錯中上牙弓后段寬度與垂直骨面型相關(guān)，而不是前中段，隨著下頜平面角由小到大，上牙弓后段寬度逐漸減小。這提示我們，在臨床上對安氏Ⅱ1類錯進(jìn)行診斷分析和設(shè)計矯治方案時不能忽略垂直向因素的影響。