宮月紅,卞良浩,張少君,王明雨
(山東交通學(xué)院船舶與輪機(jī)工程學(xué)院,威海264209)
在現(xiàn)代通信系統(tǒng)中,模數(shù)轉(zhuǎn)換器(ADC)做為數(shù)字部分與模擬部分的接口,占有舉足輕重的地位。隨著數(shù)字信號處理技術(shù)的發(fā)展,對模數(shù)轉(zhuǎn)換器速度和分辨率的要求越來越高。在幾種常用結(jié)構(gòu)的模數(shù)轉(zhuǎn)換器中,流水線型ADC 以其中高速度與中高分辨率而得到廣大用戶的青睞。隨著性能的提高,流水線型ADC 面臨的主要問題是越來越高的功耗[1-2]。為了降低流水線型ADC 的功耗,提高線性度,研究者們提出了一系列的設(shè)計方法。在文獻(xiàn)[3]中,采用開環(huán)放大器作為第一級級間余量放大器,而對于開環(huán)放大器引入的非線性誤差,采用基于統(tǒng)計規(guī)律的數(shù)字校正技術(shù)來校正?;诮y(tǒng)計的數(shù)字校正技術(shù)存在的問題是算法收斂過程依賴統(tǒng)計規(guī)律,收斂時間過長。與基于統(tǒng)計規(guī)律的數(shù)字校正技術(shù)對應(yīng)的是確定性的校正技術(shù),這類校正技術(shù)算法收斂不依賴統(tǒng)計規(guī)律,收斂速度快。在文獻(xiàn)[4-5]中,設(shè)計了專門的參考ADC 法來加速收斂,但是參考ADC 需要增加額外的模擬電路硬件開銷,這在數(shù)字電路比例日益增大的細(xì)線工藝下是不經(jīng)濟(jì)的。在文獻(xiàn)[6-7]中,采用加入測試信號的方法加速收斂,但是選擇的傳輸函數(shù)與實際放大器傳輸函數(shù)相差較多,校正精度有待提高。
基于上述背景,在此設(shè)計一款12 位、40MHz 的流水線型ADC。為了降低系統(tǒng)功耗,采用開環(huán)放大器作為第一級級間余量放大器。為了校正級間余量放大器引入的非線性誤差,提出一種確定性的數(shù)字校正方法。在這種校正方法中,通過加入測試信號的方式建立后級ADC 傳輸函數(shù)模型,通過傳輸函數(shù)模型來估計理想的輸入碼值,對非線性誤差進(jìn)行校正。選用更接近于實際情況的三次多項式模型做為級間放大器傳輸函數(shù)模型,從而提高校正精度。系統(tǒng)工作流程分為測試模式和正常轉(zhuǎn)換模式。系統(tǒng)在測試模式下輸入測試信號,建立傳輸函數(shù)模型;在正常轉(zhuǎn)換模式下,采用建立的傳輸函數(shù)模型來估計理想輸入信號碼值,實現(xiàn)校正。通過測試信號的加入,可以使系統(tǒng)快速收斂。
傳統(tǒng)的流水線型ADC 由采樣保持電路、子ADC、MDAC、時鐘對齊電路等組成。圖1 以單端工作模式為例給出了其中1.5 位MDAC 的示意圖。
圖1 MDAC 工作原理示意圖
圖1(a)中的級間余量放大器采用開環(huán)放大器;圖1(b)采用電荷轉(zhuǎn)移式的閉環(huán)放大器結(jié)構(gòu);圖1(c)采用電容翻轉(zhuǎn)式的閉環(huán)放大器結(jié)構(gòu)。圖中,Φ1 和Φ2 為一對兩相不交疊時鐘,用以控制開關(guān)1 和開關(guān)2;Vin為輸入信號,VDASC為本級子ADC 輸出碼值對應(yīng)的輸入電壓值;Cin、Cf和Cp分別為采樣電容、保持電容、寄生電容。在圖1(a)中,當(dāng)開關(guān)1 關(guān)閉時,Cin被充電。當(dāng)開關(guān)2 閉合時,Cin上的電荷發(fā)生移動,放大器輸入端的電壓得到確定,由開環(huán)放大器放大,增益由開環(huán)增益決定。在圖1(b)中,當(dāng)開關(guān)1 關(guān)閉時,Cin被充電。當(dāng)開關(guān)2 閉合時,一部分Cin上的電荷轉(zhuǎn)移到Cf上,確定放大器輸入端的電壓并放大,增益由Cin與Cf的比值決定。在圖1(c)中,當(dāng)開關(guān)1 關(guān)閉時,Cin和Cf同時充電。當(dāng)開關(guān)2 閉合時,一部分Cin上的電荷轉(zhuǎn)移到Cf上,實現(xiàn)放大,增益由Cin與Cf的比值決定。
由上述分析可見,采用開環(huán)放大器作為級間余量放大器,級間增益取決于開環(huán)放大器增益,所以,放大器的傳輸函數(shù)即為開環(huán)放大器的傳輸函數(shù)。開環(huán)放大器的傳輸函數(shù)可以表示為如下多項式形式:
由參考文獻(xiàn)[8]可知,通過電路設(shè)計技巧,可以控制式(1)中三階以上的誤差小于某個數(shù)量級,相對于ADC 的精度可以忽略的程度。而式(1)中的偶次項可以通過差分結(jié)構(gòu)消除,所以式(1)可以簡化為如下形式:
在流水線型ADC 中,子級誤差對系統(tǒng)的影響從第一級到最后一級逐級減小,所以第一級誤差對整體的影響是最大的。在此,為了驗證算法,簡化電路,僅對第一級級間余量放大器誤差進(jìn)行校正。圖2 給出了校正系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)框圖。
圖2 校正系統(tǒng)結(jié)構(gòu)框圖
該系統(tǒng)由第一級3.5 位子ADC 和后臺ADC 兩部分構(gòu)成,第一級級間余量放大器采用開環(huán)結(jié)構(gòu)。對于開環(huán)放大器引入的非線性誤差,采用后臺校正方式校正。校正過程中,將除第一級以外的其他子級看為一個整體,對應(yīng)的輸出碼值稱為后臺碼值。
為了對第一級級間余量放大器誤差進(jìn)行校正,需要建立放大器傳輸函數(shù)模型,并應(yīng)用該模型校正放大器的非線性誤差。系統(tǒng)工作分為測試模式和正常轉(zhuǎn)換模式兩個階段,分別由兩組時鐘控制。在測試模式下,系統(tǒng)輸入測試信號,用于建立放大器傳輸函數(shù)模型;在正常轉(zhuǎn)換模式下,通過建立的傳輸函數(shù)模型來估計理想的輸入碼值,最后的輸出通過將估計所得的理想碼值與第一級輸出碼值拼接得到。
可將開環(huán)放大器傳輸函數(shù)模型構(gòu)建為三次多項式的形式,如下式:
此處,有一點不同的是,式(1)中放大器的輸出y為輸入x 的函數(shù)。在此,因為需要通過輸出碼值估計輸入值,為了簡化運(yùn)算,將輸入x 表示為輸出y 的函數(shù)。
系統(tǒng)工作分為測試模式和正常轉(zhuǎn)換模式兩個階段,傳輸函數(shù)模型建立過程在測試模式下完成。為了求解式(3)中三次多項式中的參數(shù)c1和c3,需要由測試信號提供三組已知點信息。當(dāng)測試信號進(jìn)入系統(tǒng)后,系統(tǒng)校正機(jī)制開始工作。多項式中參數(shù)通過矩陣運(yùn)算求得。假設(shè)測試信號提供的三組已知點信息分別為(x0,y0)、(x1,y1)、(x2,y2),將這三組數(shù)據(jù)分別代入式(3),可得到如下方程組:
式(4)也可以表示為如下矩陣形式:
為了求得c1和c3的數(shù)值,需要通過矩陣運(yùn)算對方程組進(jìn)行求解,矩陣運(yùn)算過程如下式:
通過式(6)中的矩陣運(yùn)算,可以求得傳輸函數(shù)中一階和三階參數(shù)值,從而建立傳輸函數(shù)方程。在正常轉(zhuǎn)換模式下,應(yīng)用建立的傳輸函數(shù)方程,就可以通過多項式插值,由后臺碼值估計理想的輸入碼值,實現(xiàn)校正。
以上提出的校正方法屬于確定性的校正算法,傳輸函數(shù)建立是在測試信號的輔助之下完成的,所以該算法收斂不依賴統(tǒng)計規(guī)律,收斂速度快。在測試模式下,系統(tǒng)輸入測試信號,建立傳輸函數(shù)模型;在正常轉(zhuǎn)換模式下,應(yīng)用傳輸函數(shù)模型進(jìn)行多項式插值來估計理想輸入碼值實現(xiàn)校正。其中傳輸函數(shù)模型建立、多項式插值等大部分流程都通過數(shù)字電路完成,而數(shù)字電路的速度遠(yuǎn)遠(yuǎn)高于模擬部分電路,所以校正過程能夠在一個時鐘周期之內(nèi)完成。
校正過程中的硬件開銷集中發(fā)生在建立傳輸函數(shù)模型時的矩陣運(yùn)算以及估計理想輸入碼值時的多項式插值等步驟中。
為了對數(shù)字校正方法進(jìn)行校正,設(shè)計一款12位、40MHz 的流水線型ADC。在Cadence 仿真環(huán)境下, 采用Spectra 數(shù)?;旌戏抡婀ぞ邔πU到y(tǒng)進(jìn)行仿真。采用0.18μm CMOS 工藝,電源電壓為3.3V。圖3 給出了系統(tǒng)動態(tài)仿真結(jié)果。選取輸入信號的頻率在奈奎斯特頻率附近,信號頻率為19MHz。由圖可見,校正前系統(tǒng)SFDR 為60.4dB,計算得出對應(yīng)的SNDR 為49.8dB;校正后SFDR 為86.7dB,計算得出對應(yīng)的SNDR 為72.8dB??梢姡?jīng)過校正,系統(tǒng)的線性度得到明顯提高。
圖3 校正前后動態(tài)特性仿真結(jié)果
仿真的數(shù)字校正部分通過Verilog 語言描述,在Cadence 仿真環(huán)境下進(jìn)行邏輯綜合、估計功耗,得到系統(tǒng)校正過程中數(shù)字部分的硬件開銷、功耗及收斂時間信息,詳細(xì)結(jié)果如下:
硬件開銷:約為8400 個邏輯門;
功耗:約為22mW;
收斂時間:約為4096 次采樣時間。
細(xì)線工藝下,晶體管本證增益與電源電壓的降低,使得高性能放大器的設(shè)計越來越困難,采用數(shù)字提高技術(shù)來增強(qiáng)數(shù)?;旌想娐废到y(tǒng)的性能已成為一種流行的設(shè)計趨勢。為了降低流水線型ADC 系統(tǒng)功耗,采用開環(huán)放大器作為流水線型ADC 級間余量放大器,為了校正開環(huán)放大器引入的非線性誤差,采用一種確定性的數(shù)字校正技術(shù)進(jìn)行校正。為了建立傳輸函數(shù)模型,在測試周期,在輸入端輸入測試信號,通過矩陣運(yùn)算計算傳輸函數(shù)參數(shù),從而對非線性誤差進(jìn)行校正。仿真結(jié)果表明,該校正算法能有效地提高系統(tǒng)的線性度。測試信號的使用有效縮短了算法收斂時間,提高了校正精度。