光學(xué)透鏡領(lǐng)域的檢索策略研究

文/劉洋成 涂燕君，國家知識產(chǎn)權(quán)局專利審查協(xié)作湖北中心

光學(xué)透鏡領(lǐng)域主要涉及對單個透鏡或多個透鏡組合的材料、結(jié)構(gòu)、性能參數(shù)、多個透鏡組合方式、透鏡組的移動方式的改進(jìn)，而光學(xué)透鏡的性能參數(shù)主要是指焦距、曲率半徑、厚度、折射率、色散率、相對孔徑、視場角等等，因此，透鏡領(lǐng)域的專利申請?jiān)谧珜懮洗嬖趨^(qū)別于其他領(lǐng)域的特點(diǎn)：申請文件的技術(shù)方案基本上均為系統(tǒng)設(shè)計(jì)的產(chǎn)品，通常以多個透鏡組合的透鏡組的方式表示，再依據(jù)透鏡組的焦距是否可變將其分為定焦透鏡組和變焦透鏡組。發(fā)明點(diǎn)往往在于通過透鏡組使用的光學(xué)元件之間的組合、或用種類繁多的光學(xué)參數(shù)、數(shù)值范圍等對已知排列方式的透鏡組以及其中的透鏡單元進(jìn)行限定，權(quán)利要求撰寫抽象，表述單一，難以用關(guān)鍵詞和分類號準(zhǔn)確表述，因此，在檢索方面具有一定的難度。

1 光學(xué)透鏡領(lǐng)域分類體系分析

光學(xué)透鏡領(lǐng)域的常用專利分類體系有IPC、CPC、FT以及UC。I PC分類體系作為目前國際通用專利文獻(xiàn)分類體系，其優(yōu)勢在于大部分專利文獻(xiàn)均有IPC分類號，但是具體到透鏡領(lǐng)域，IPC分類號由于其細(xì)分不夠，不能進(jìn)行實(shí)時動態(tài)更新而具有一定的局限性。實(shí)際上，IPC分類每年也在更新，但對于透鏡領(lǐng)域所涉及的分類號近十年來幾乎沒有更新過，因此對于透鏡領(lǐng)域技術(shù)發(fā)展的新變化，IPC并未跟上步伐，目前的分類存在分類不詳細(xì)、不全面的問題。

CPC分類體系以EC分類體系作為整個分類體系的基礎(chǔ)，同時結(jié)合美國專利分類實(shí)踐經(jīng)驗(yàn)構(gòu)建而成；其采用了EC的層級結(jié)構(gòu)，同時使用了IPC類型的數(shù)字編碼，其分級和命名規(guī)則與現(xiàn)有的IPC分類體系相同，具有部、類、小類、組和小組，并在IPC分類體系的基礎(chǔ)上進(jìn)一步細(xì)分。

FT是日本專利局無紙化辦公系統(tǒng)的核心之一，專門用于計(jì)算機(jī)檢索。該體系采用分面分類法，從技術(shù)主題的多個角度考慮分類類目，如從用途、結(jié)構(gòu)、材料、方法等考慮分類類目。FT分類體系對于同一內(nèi)容從多個不同角度給出分類號，便于從多個角度定位該文獻(xiàn)，從而可更全面地檢索。另外，該體系從權(quán)利要求的具體技術(shù)特征中提煉分類號，可以獲得更詳細(xì)、更多的分類號。準(zhǔn)確地講，F(xiàn) T是用分類號的形式實(shí)現(xiàn)了關(guān)鍵詞的表達(dá)，但又比關(guān)鍵詞的表達(dá)更為準(zhǔn)確，解決了關(guān)鍵詞不能窮盡、言不盡意的問題，在透鏡領(lǐng)域中有著舉足輕重的地位。

UC 僅存在于美國專利文獻(xiàn)中。美國專利分類UC 所遵循的分類原則有：產(chǎn)業(yè)或應(yīng)用、最接近功能、效果或產(chǎn)品、結(jié)構(gòu)。概括而言，主要適用于功能分類、用途分類、效果分類和結(jié)構(gòu)分類，其中以功能分類為主。

【案例一】

申請?zhí)枺?01380073578.3

申請人：富士膠片株式會社

【權(quán)利要求】

一種攝像透鏡，其特征在于，所述攝像透鏡從物側(cè)起依次由具有負(fù)的光焦度的第一透鏡、具有正的光焦度的第二透鏡、具有負(fù)的光焦度的第三透鏡、具有正的光焦度的第四透鏡以及具有正的光焦度的第五透鏡構(gòu)成，所述攝像透鏡滿足下述條件式：

Nd3＜1.75...(1) ；vd3＜27...(2)；1.0≤(R1+R2)/(R1-R2)...(3)；

其中，Nd3：所述第三透鏡的材質(zhì)的相對于d線的折射率；vd3：所述第三透鏡的材質(zhì)的相對于d線的阿貝數(shù)；R1：所述第一透鏡的物側(cè)的面的曲率半徑；R2：所述第一透鏡的像側(cè)的面的曲率半徑。

2 檢索策略

下面采用上述各分類體系在VEN數(shù)據(jù)庫中對該案例進(jìn)行檢索，如下：

IPC:

1 VEN 5256 /IC G02B13/04

2 VEN 2748 /IC G02B9/60

3 VEN 933 ((first or 1st) 10w negative) AND ((second or 2nd) 10w positive) AND ((fiFTh or 5th) 10w negative)

4 VEN 133 1 AND 3(未能找到合適的對比文件)

5 VEN 141 2 AND 3(獲得對比文件US2013107375 A1)

CPC:

6 VEN 1571 /cpc G02B9/60

7 VEN 2461 /cpc G02B13/04

8 VEN 947 /cpc G02B13/0015

對檢索式3，6，7，8分別進(jìn)行組合，均未找到合適的對比文獻(xiàn)。

FT：

/FT AND 2H087/PB05,2H087/QA17,2H087/QA21,2H087/QA26,2H087/QA32,2H087/QA41（命中150篇文獻(xiàn)獲得對比文件US2013107 375 A1）

UC:

/uc 359/770 （命中195篇文獻(xiàn)獲得對比文件US2013107375 A1）

由此可見，從以上檢索過程來看，由于FT/UC對于光學(xué)透鏡的結(jié)構(gòu)表達(dá)更為準(zhǔn)確，在其命中的文獻(xiàn)相關(guān)度較高且噪聲較小，而IP C/CPC由于其對于光學(xué)透鏡的表達(dá)較為寬泛，如引入關(guān)鍵詞作進(jìn)一步限定，噪聲較大，篩選對比文件的效率較低。因此，在對光學(xué)透鏡領(lǐng)域的案例進(jìn)行檢索時應(yīng)當(dāng)優(yōu)先采用FT/UC進(jìn)行檢索，其次為IP C/CPC。

3 結(jié)語

本文基于光學(xué)透鏡領(lǐng)域的檢索難點(diǎn)，在充分了解各分類體系的前提下，充分利用FT/UC分類體系在光學(xué)透鏡領(lǐng)域的優(yōu)點(diǎn)，為光學(xué)透鏡領(lǐng)域的檢索提供了新的思路。希望可以拋磚引玉，提高審查工作效率。