高熱驚厥患兒的危險因素與其腦電圖檢查結(jié)果的關(guān)聯(lián)性分析

李玉貞 黃小敏 徐雨菲 高 梅

廣東省中山市中醫(yī)院，廣東中山 528400

高熱驚厥在小兒中較為常見，在低于5 歲小兒中，小兒高熱驚厥的發(fā)病率達到了2.3%～4.5%，普遍集中在6 個月～5 歲，在受到比較微弱的刺激時可因發(fā)生大腦運動神經(jīng)元功能異常而發(fā)生驚厥，但是其中病因并不包括外中樞神經(jīng)系統(tǒng)感染，在病情觀察和判斷預(yù)后時較普遍采用腦電圖檢查[1-2]。然而，臨床上出現(xiàn)高熱的患兒不一定都出現(xiàn)高熱驚厥，因此對高熱驚厥的影響因素有哪些、如何能有效發(fā)現(xiàn)異?；純?，基于此回顧性分析2014 年1月～2018 年1 月我院收治549 例小兒高熱驚厥的數(shù)據(jù)資料，對其資料進行詳細的分析，以判斷高熱驚厥患兒的危險因素與其腦電圖檢查結(jié)果的關(guān)聯(lián)性，現(xiàn)報道如下。

1 資料與方法

1.1 一般資料

回顧性分析2014 年1 月～2018 年1 月我院收治549 例小兒高熱驚厥的數(shù)據(jù)資料，男216 例，女333 例，全部病例的發(fā)熱病因為消化道及呼吸道感染性疾病，檢查后將顱內(nèi)感染及代謝性或器質(zhì)性疾病病因排除，除此以外均符合診斷標(biāo)準(zhǔn)。

1.2 方法

腦電圖檢查于高熱驚厥發(fā)作后當(dāng)時或發(fā)熱后3～5d 進行。使用維迪siriusBB 型腦電圖儀，按照國際10/20 系統(tǒng)放置16 導(dǎo)的頭皮記錄電極，常規(guī)作單極導(dǎo)聯(lián)描述。電極采用鍍銀盤狀電極，涂以導(dǎo)電膏，外用彈力帽進行進一步的固定。機器設(shè)置方面：靈敏度30μV/mm，采用頻率10Hz、速率30mm/s 單極導(dǎo)聯(lián)，作常規(guī)10～15min 的描記。檢查過程中進行睜閉眼反應(yīng)，同時還需要展開過度換氣試驗，若患兒年齡低于5 歲，亦或是有反抗行為，此時需采用10%水合氯醛展開誘導(dǎo)睡眠。檢查前要著重并詳細了解首發(fā)年齡、發(fā)作的頻次、發(fā)作后單次持續(xù)多長的時間、發(fā)作過程中患兒有哪些表現(xiàn)、發(fā)作階段實際的體溫、存在家族驚厥史等病史與否及以往是否進行過腦電圖檢查及其他影像學(xué)檢查。行腦電圖檢查后進行評閱腦電圖報告，過程中參考劉曉燕《臨床腦電圖學(xué)》及《小兒腦電圖圖譜》標(biāo)準(zhǔn)進行。對首次腦電圖異常（多表現(xiàn)為棘波，尖波，棘慢綜合波）患兒進行進一步的腦電圖分析歸類。并要求患兒于1 周或3 個月后重復(fù)腦電圖檢查，觀察患兒腦電圖是否還存在異常波形，如存在則這部分患兒有可能是高熱驚厥后因為腦損傷引起的繼發(fā)性癲癇，但也不能排除其本身是熱源性驚厥的可能，但無論其為哪種均為復(fù)雜性癇性驚厥。因此同時要求患兒配合進行CT 或MRI 檢查，觀察CT 或MRI 結(jié)果是否符合有癲癇及是否能定位，特別需留意顳葉海馬區(qū)的位置，因為該位置對熱刺激和缺血缺氧的改變十分敏感，很容易受到高熱的傷害，這種傷害就是癲癇形成的基礎(chǔ)。其實熱性驚厥和癲癇可能存在有共同的遺傳基礎(chǔ)，熱性驚厥初發(fā)腦電圖有棘波或者棘慢綜合波與以后發(fā)展為癲癇有密切的關(guān)系，而腦電圖的異常提示腦部受累，有必要考慮受累演變的可能性，因此反復(fù)多次的腦電圖監(jiān)測很有意義。

2 結(jié)果

2.1 549例高熱驚厥患兒檢查結(jié)果

本次549 例高熱驚厥患者分析，有家族史，發(fā)作時體溫≥40℃，發(fā)作次數(shù)≥2 次，腦電圖顯示均為輕度或中度異常，腦電圖陽性檢出率為16.21%。在做腦電圖前詢問患兒家屬患兒的家族史，發(fā)作時的體溫，發(fā)作持續(xù)時間以及一共發(fā)作的次數(shù)，對提高患兒陽性檢測率有一定的幫助。影像學(xué)檢查結(jié)果異常大多提示患兒有癇性高熱驚厥或者是可疑癲癇病灶可能性大。見表1。

2.2 腦電圖檢查結(jié)果

某患兒，男性，年齡為3 歲5 個月，因高熱驚厥時就診，入院后24h 內(nèi)行腦電圖檢查，清醒期與淺睡期腦電圖可見各導(dǎo)成簇爆發(fā)高波幅慢波動5 次，持續(xù)的時間約1～2s。見圖1。

圖1 腦電圖異常表現(xiàn)

3 討論

高熱驚厥患兒的臨床表現(xiàn)主要是高熱、雙眼翻白、四肢抽搐、失去知覺等。一般是由于發(fā)生腦功能紊亂，在驚厥反復(fù)發(fā)作時患兒的腦組織可因為受到缺氧性損害，從而影響到中樞神經(jīng)系統(tǒng)的功能。有學(xué)者指出[3-5]在對熱性驚厥患兒的腦電圖分析后指出，患兒的腦電圖之所以會發(fā)生異常應(yīng)該與發(fā)作次數(shù)、年齡以及發(fā)生熱性驚厥的持續(xù)時間密切相關(guān)，患兒熱性驚厥發(fā)作的次數(shù)越多，每次持續(xù)時間越長就越容易出現(xiàn)腦電圖異常[6-7]。這一說法與本研究結(jié)果相一致。

本研究共549 例高熱驚厥患兒，行腦電圖檢查，其中有癲癇家族史，發(fā)作時體溫＞40℃，發(fā)作次數(shù)＞2次，每次發(fā)作持續(xù)時間＞5 分鐘的89 例患兒，其腦電圖異常表現(xiàn)為尖波、棘慢復(fù)合波等異常陣發(fā)性放電。

影響腦電圖的因素,首先體現(xiàn)在患兒發(fā)生高熱驚厥時的體溫，此次患兒體溫多數(shù)高于39℃，臨床中，若體溫超過38.5℃，同時溫升很快，在一定程度上會影響到高熱驚厥。體溫驟升導(dǎo)致的驚厥相對而言有著更多的發(fā)作次數(shù)[5]。其次是發(fā)作次數(shù)，出現(xiàn)超過兩次的高熱驚厥，將會有更高的危險性，極大的影響到腦電圖。反復(fù)的熱性驚厥使患兒腦部器質(zhì)性損傷變得更常見，導(dǎo)致癲癇的可能性更大。再者，高熱驚厥的持續(xù)時間，若持續(xù)時間過長，在一定程度上也會影響到腦電圖。發(fā)作次數(shù)越多、驚厥時間越長所產(chǎn)生的腦損害就越嚴(yán)重，有研究指出，經(jīng)過測定血清S-100 蛋白特異性可知，若患者出現(xiàn)熱性驚厥和腦的器質(zhì)性損傷，此時患者的S-100 蛋白含量相對更高[8-10]，意味著腦受熱性驚厥的影響會出現(xiàn)器質(zhì)性破壞。熱性驚厥異常腦電圖中異常波形如尖慢、棘慢綜合波或者是一場慢波節(jié)律大多出現(xiàn)在顳區(qū)和枕顳區(qū)，可見這些區(qū)域與高熱驚厥后癲癇發(fā)作有密切關(guān)系[11-12]。造成這些異常是驚厥發(fā)作時大腦會出現(xiàn)短時間的缺血和缺氧，發(fā)作時間長就會損傷神經(jīng)細胞，并且改變其結(jié)構(gòu)，嚴(yán)重會導(dǎo)致癲癇[13]。若高熱驚厥發(fā)作次數(shù)偏多，大概率腦電圖會有異常，嚴(yán)重情況下極有可能會發(fā)展成為癲癇，患兒也會有更糟糕的愈后。最后，癲癇家族史在很大程度上也會影響到腦電圖。有研究人員曾展開過相關(guān)的家族分析，結(jié)果表明高熱驚厥的遺傳模式非常的復(fù)雜，遺傳傾向非常明顯，一級親屬有著更大的概率會出現(xiàn)高熱驚厥[14]。小兒高熱驚厥發(fā)作的年齡也經(jīng)常會出現(xiàn)感染性疾病，特別是急性呼吸道感染，由于小兒腦還處于發(fā)育的階段，神經(jīng)細胞并沒有形成復(fù)雜的結(jié)構(gòu)，皮層還未完全分化，缺乏完善的神經(jīng)元功能，樹、軸突依然處于發(fā)育的階段，髓鞘只實現(xiàn)了部分生成，興奮性神經(jīng)介質(zhì)相對于抑制性神經(jīng)遞質(zhì)處于一種失衡的狀態(tài)，綜合上述因素，患兒極有可能會出現(xiàn)驚厥。有研究人員提出：高熱驚厥發(fā)作在4 歲前的患兒占比大約是50%[15-16]。若患兒熱驚首次發(fā)作越早，年齡越小，那么會有更大的概率會再發(fā)作，若高熱驚厥頻繁的反復(fù)，將極有可能會損害到幼兒腦部，輔助檢查手段是腦電圖。

腦電圖檢測可識別異常腦電活動，尤其是癲癇活動。患兒大部分的預(yù)后都較好，但發(fā)展到后期這些曾有過高熱驚厥發(fā)作的患兒比一般的小兒發(fā)生率大。因此高熱驚厥會損傷患兒的腦部。本研究希望能提高對有意義的癇性活動的檢出率。所以對高熱驚厥來做腦電圖患兒的家長需做好溝通，掌握一些必要的信息，如發(fā)作頻次，持續(xù)時間等。采用腦電圖追蹤檢查，可更容易判斷出有癲癇腦電活動患兒，讓患兒盡可能早的接受腦電圖檢測，做好預(yù)后評估，及時采取治療干預(yù)措施。