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      Ti/Al/Ti干法刻蝕工藝中BCl3氣體作用研究

      2019-10-17 06:08:40李淳東李知勛吳國特苗占成
      液晶與顯示 2019年9期
      關鍵詞:保護膜襯底有機

      李淳東,李知勛,陳 兵,劉 杰,吳國特,苗占成

      (重慶京東方顯示技術有限公司,重慶 400714)

      1 引 言

      隨著顯示行業(yè)技術的高速發(fā)展,人們對顯示行業(yè)的要求也越來越高。低溫多晶硅LTPS作為顯示行業(yè)的新一代技術,從開發(fā)到至今已經有幾十年的歷史了,該技術的液晶面板具有更快的響應速度和更高的分辨率,其中源漏極材料普遍采用電阻率較低的Ti/Al/Ti三層金屬結構[1]。Ti/Al/Ti材料是近年來研究的重點,以其低電阻率、低成本、易刻蝕等優(yōu)勢,逐漸成為薄膜晶體管配線的主要材料。Ti/Al/Ti材料主要是利用干法刻蝕進行,LTPS工藝中Ti/Al/Ti材料常用的襯底為無機膜SiN或者SiO。隨著顯示技術的發(fā)展,有機發(fā)光顯示(OLED)技術開始異軍突起,該顯示技術具有自發(fā)光性、廣視角、高對比、低耗電、高反應速率等優(yōu)點,柔性OLED、全面屏、高PPI等新產品進入市場[2]。隨著技術的發(fā)展,源漏極Ti/Al/Ti材料下膜層襯底開始使用有機物(聚酰亞胺等), Ti/Al/Ti設計也將變得更厚,更窄,更復雜,如何確保Ti/Al/Ti坡度角及下膜層刻蝕量,這對Ti/Al/Ti干法刻蝕是一個全新的挑戰(zhàn),需要對Ti/Al/Ti常規(guī)刻蝕氣體Cl2和BCl3原理進行分析研究。本文將著重對BCl3氣體進行分析研究,優(yōu)化Ti/Al/Ti干法刻蝕工藝。

      2 Ti/Al/Ti干法刻蝕工藝原理

      對于膜層結構為Ti/Al/Ti的源漏極來講,刻蝕步驟主要利用Cl原子的強氧化性與金屬Ti、Al反應,生成揮發(fā)性物質,反應方程式[3]為:

      Ti,Al + Cl → TiCl4↑+ AlCl3↑.

      (1)

      但是,金屬Ti表面容易發(fā)生自然氧化,Ti的表面會形成一層Ti的氧化物。在ICP設備模式下,如果只用Cl2進行刻蝕,刻蝕速率會降低,影響刻蝕效果,所以必須添加BCl3氣體,通過BCl3的離子轟擊作用破壞鈦和氧之間的化學鍵,從而去除Ti表面自然生成的氧化物,使Cl2和Ti發(fā)生反應,如圖1所示。

      TiOx+ B→ BxOy/Ti + 4Cl → TiCl4↑.

      (2)

      圖1 BCl3的離子轟擊作用 Fig.1 Ion bombardment of BCl3

      另一方面,BCl3作為大分子氣體,在重力作用下,會沉積在Ti/Al/Ti側面,從而形成側面保護,防止側面刻蝕嚴重,因此使用Cl2和BCl3作為刻蝕步驟氣體,Cl2和BCl3的氣體流量配比必須嚴格控制。

      BCl3不僅會通過重力作用沉積在Ti/Al/Ti側面,也會沉積在光刻(PR)膠表面以及下膜層的表面。通過BCl3的流量調節(jié),可以調節(jié)沉積在PR表面和下膜層表面的BCl3的量。沉積在PR膠表面的BCl3,會阻擋Cl2對PR的刻蝕,減少Cl2對PR膠的刻蝕速率,PR膠的后退量和Ti/Al/Ti的坡度角密切相關[4]。沉積在下膜層表面的BCl3,會影響Cl2對下膜層的刻蝕速率。在Cl2流量一定的條件下,隨著BCl3流量的增加,BCl3沉積在PR膠以及下膜層的量隨之增加,這樣PR膠和下膜層的刻蝕速度都會相應減少下降,從而導致含C生成物和SiCl4生成量減少,含C化合物堆積在Ti/Al/Ti側面的保護膜厚度隨之減少,影響Ti/Al/Ti側面形態(tài)和下膜層刻蝕量,如圖2所示[5]。下文將通過實驗對提出的理論原理進行證明。

      圖2 Ti/Al/Ti刻蝕BCl3的作用Fig.2 Role of BCl3 in Ti/Al/Ti etching

      3 BCl3氣體對PR膠刻蝕速率及Ti/Al/Ti側面形態(tài)的影響

      3.1 實驗樣品制備

      實驗采用京東方鄂爾多斯市源盛光電有限責任公司的5.5代線制備LTPS陣列樣品,其中Ti/Al/Ti干法刻蝕工藝采用ICP(Inductively Coupled Plasma)干法刻蝕機進行制備,玻璃基板采用的是1 300 mm×1 500 mm,樣品1#、2#、3#、4#的Ti/Al/Ti下膜層襯底為無機膜。進行Ti/Al/Ti 干法刻蝕工藝,保持源功率、偏壓功率、壓力、溫度、時間、Cl2流量一樣的前提下,通過改變BCl3氣體的流量,確認對PR膠的刻蝕速率以及Ti/Al/Ti 側面形態(tài)的影響,具體工藝條件見表1。

      3.2 實驗結果與分析

      3.2.1 BCl3氣體對Ti/Al/Ti側面形態(tài)的影響

      為了能夠直觀地觀察在經過Ti/Al/Ti干法刻蝕工藝后Ti/Al/Ti側面的情況,在Ti/Al/Ti干法刻蝕工藝后,將樣品1#、2#、3#、4#進行掃描電鏡 (Scanning Electron Microscope,SEM)分析,如圖3所示,目的是通過改變BCl3氣體的流量,研究BCl3氣體對Ti/Al/Ti側面形態(tài)的影響,并探討B(tài)Cl3氣體在Ti/Al/Ti干法刻蝕中的作用,圖3為樣品1#、2#、3#、4#的SEM圖。

      由圖3的橫截面圖可以看出:不同的BCl3氣體流量,形成的Ti/Al/Ti側面保護膜厚度不一樣:樣品1#,BCl3流量0,PR膠表面無BCl3覆蓋,PR膠直接在等離子體作用下,生成大量的含C化合物堆積在Ti/Al/Ti側壁,從而形成一層較厚的側壁保護膜,降低了Cl2和Al的刻蝕率[6]。目前干刻最新刻蝕模式PICP(Planar Inductively Coupled Plasma)對Ti/Al/Ti干法刻蝕只使用Cl2,主要是通過對PR膠的刻蝕,產生含C化合物堆積在側面進行保護,形成側壁保護膜。樣品4#,BCl3流量為800 mL·min-1,PR膠表面被大量BCl3覆蓋,阻隔Cl2對PR進行刻蝕,含C化合物生成量最少,僅靠BCl3氣體和少量含C化合物在Ti/Al/Ti側面進行側面保護,側面保護膜最薄,甚至在刻蝕后出現(xiàn)輕微的側面刻蝕。樣品1#、2#、3#、4#的BCl3流量分別為0,200,400,800 mL/min,通過對樣品SEM圖片觀察,可以發(fā)現(xiàn)Ti/Al/Ti側面的保護膜厚度從厚逐漸變薄,樣品4#甚至出現(xiàn)輕微的側面刻蝕,所以在ICP 設備中,使用BCl3進行側壁保護,Cl2和BCl3的氣體流量配比必須嚴格控制,過多地使用BCl3氣體進行側壁保護,可能會導致Ti/Al/Ti側面出現(xiàn)側面刻蝕。

      圖3 干法刻蝕后的樣品SEM截面圖Fig.3 SEM cross section of the samples after dry etching

      3.2.2 BCl3氣體對PR膠刻蝕速率的影響

      為了能夠直觀地觀察在經過Ti/Al/Ti干法刻蝕工藝后PR膠的變化,在Ti/Al/Ti干法刻蝕工藝后,將樣品1#、2#、3#、4#進行SEM截面圖和平面圖分析。分別量取平面圖PR膠寬度和截面圖PR膠厚度,通過計算側面PR膠寬度變化和上部PR膠厚度變化計算出PR膠的刻蝕速率,驗證在Ti/Al/Ti干法刻蝕工藝中,BCl3氣體流量和PR膠刻蝕速率的關系。

      在樣品1#、2#、3#、4#上分別均勻地取13個樣品進行截面圖和平面圖測試。在截面圖上量取PR膠剩余厚度,由于樣品是同批次進行的掩膜板工藝,可以近似認為Ti/Al/Ti干法刻蝕前PR 厚度無差異,刻蝕前的PR膠厚度減去剩余的PR膠厚度,除以刻蝕時間,計算出上部PR膠刻蝕速率,如圖3所示。從圖中可以看出,在Ti/Al/Ti干法刻蝕工藝中,在Cl2流量一定的條件下,隨著BCl3氣體流量從0增加到200 mL·min-1,上部PR膠刻蝕速度降低明顯。BCl3氣體流量增加到400,800 mL·min-1時,從數(shù)據(jù)上看,上部PR膠刻蝕速率相對BCl3氣體流量為200 mL·min-1時無明顯降低。

      在樣品1#、2#、3#、4#的平面圖上量取PR膠的寬度。由于樣品是同批次進行的掩膜板工藝,可以近似認為Ti/Al/Ti干法刻蝕工藝前PR膠寬度無差異??涛g前PR膠寬度減去刻蝕后的PR膠寬度,除以刻蝕時間,計算出側面PR膠刻蝕速率,如圖3所示。從圖中可以看出,在Ti/Al/Ti干法刻蝕工藝中,在Cl2流量一定的條件下,隨著BCl3氣體流量的增加,側面PR膠的刻蝕速率逐漸降低,且變化趨勢有明顯規(guī)律。

      綜上所述,在Ti/Al/Ti干法刻蝕工藝中,在Cl2流量一定的條件下,隨著BCl3氣體流量的逐漸增加,Side PR膠刻蝕速率和Top PR膠刻蝕速率趨勢都是逐漸降低??梢缘贸鼋Y論:在Cl2流量一定的條件下,隨著BCl3氣體流量的逐漸增加,PR膠的刻蝕速率逐漸降低[7]。

      圖4 樣品的PR膠刻蝕速率(SEM確認的數(shù)據(jù))Fig.4 PR adhesives etching rate of the samples (data confirmed by SEM)

      4 BCl3對Ti/Al/Ti襯底為有機膜的干法刻蝕的影響

      在常規(guī)Ti/Al/Ti干法刻蝕工藝中,通過對BCl3氣體流量進行調節(jié),可以確保Ti/Al/Ti側面形貌無側面刻蝕、好的坡度角以及低的無機膜刻蝕量。在后續(xù)顯示技術中,Ti/Al/Ti材料襯底開始使用有機膜。在Ti/Al/Ti干法刻蝕中,同一條件下,對Ti/Al/Ti的刻蝕率和有機膜的選擇比太小,會導致有機膜的刻蝕量偏大。在后續(xù)新技術的開發(fā)中,可以通過增加BCl3的流量,增大在有機膜表面的堆積量,降低對有機膜的刻蝕率,從而減少有機膜的刻蝕量,減少廢氣量,改善工藝腔體環(huán)境,提高產品質量。在襯底為有機膜條件下,雖然增加BCl3的用量會降低Cl2和PR的刻蝕反應,導致Ti/Al/Ti側面的保護膜變薄,但是由于襯底為有機膜,Cl2和有機膜進行反應,生成物也會堆積在Ti/Al/Ti側面,所以Ti/Al/Ti的側面形態(tài)和有機膜的刻蝕量相互制約,Cl2和BCl3用量必須嚴格控制,確保好的坡度角和低的有機膜刻蝕量。BCl3在有機膜襯底刻蝕中的作用如圖5所示。

      圖5 BCl3在有機膜刻蝕中的作用Fig.5 Role of BCl3 in organic film etching

      5 結 論

      通過對Ti/Al/Ti干法刻蝕工藝的原理分析與討論,得出理論依據(jù),通過實驗驗證了BCl3氣體在Ti/Al/Ti干法刻蝕工藝中的作用:隨著BCl3氣體流量的增加,Ti/Al/Ti側面的保護膜厚度從厚逐漸變薄,對PR膠的刻蝕率逐漸降低?;谠摻Y論,當Ti/Al/Ti襯底為有機膜時,增加BCl3氣體的用量,增加在有機膜上的BCl3氣體的覆蓋量,可以改善下層有機膜的刻蝕量,減少廢氣量,改善Ti/Al/Ti坡度角,改善工藝腔體環(huán)境,提高產品質量。

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