宋慧娟
摘 要:針對電裝行業(yè)有關(guān)工藝規(guī)范要求,為避免發(fā)生“金脆”現(xiàn)象,需提前在焊接前去除元器件引線鍍金層。本文針對電子產(chǎn)品元器件去金時,需要注意的問題及針對性的實用去金工藝對策展開分析。
關(guān)鍵詞:電子產(chǎn)品;元器件;去金
由于金的性能具備較強穩(wěn)定性,且不易產(chǎn)生氧化反應(yīng),該優(yōu)勢被廣泛運用于不同領(lǐng)域。同時金還具備極強導(dǎo)電性及耐磨性,接觸電阻較小多種優(yōu)點。根據(jù)運用領(lǐng)域的不同對鍍金工藝劃分,包括化學(xué)鎳金和鍍金兩種不同的工藝?;瘜W(xué)鎳金工藝主要是為了保護(hù)鎳層表面,預(yù)防產(chǎn)生氧化反應(yīng)進(jìn)而提高可焊性。鍍金這一工藝處理方式則可以較好的解決氧化問題,但是在焊接時易發(fā)生金脆,可靠性降低。本次研究對于去除電子產(chǎn)品元器件管腳鍍金層提出解決方法。
1 “金脆”機理簡述
軟纖焊的工藝原理,是金屬焊料一旦受熱熔化后,便在金屬器件表面焊接所致浸流、浸潤及擴散,再加上逐漸擴散的金屬原子,導(dǎo)致晶格點陣內(nèi)部產(chǎn)生熱振動化學(xué)反應(yīng)金屬列原子,進(jìn)而由晶格點陣有效轉(zhuǎn)移至其他晶格,產(chǎn)生了金屬化合物IMC進(jìn)而牢固結(jié)合了焊料及焊件。在焊接過程中會對焊料的金最先溶解,[2]從擴散動力學(xué)角度分析其主要原因,主要由于Au-Sn化合物,經(jīng)過間隙擴散機制形成了快速擴散,而AuSn4及Sn的晶體結(jié)構(gòu)相似度較高,僅僅在Au間隙部位存在較大缺陷,因此所致Au-Sn4相形核快速且容易產(chǎn)生。在對工藝項目管理過程中,經(jīng)常會遇及“金脆”焊點開裂情況。[3]經(jīng)多項研究認(rèn)為,金脆情況出現(xiàn)于存在加速度振動這一基礎(chǔ)條件上,所致金脆焊點失效,同時還存在較大的冷熱環(huán)境溫差,也會對導(dǎo)致金脆焊點失效。
2 工藝標(biāo)準(zhǔn)需求
“金脆”情況的危害目前已經(jīng)形成統(tǒng)一認(rèn)識。通過整理行業(yè)內(nèi)的去金工藝要求,通常認(rèn)為在達(dá)到1.27μm情況下的鍍金層厚度,[4]可以在2s時間內(nèi)溶于低熔點錫鉛焊料內(nèi)。而一旦超出1.27μm情況下的鍍金層厚度,則會所致擴散金元素后導(dǎo)致焊點出現(xiàn)脆性。因此工藝去金標(biāo)準(zhǔn)要求針對超出1.27μm情況下的鍍金層厚度,需要至少一次性去除搪錫,針對超出25μm情況下的鍍金層厚度,需要完成重復(fù)2次的去除搪錫。隨著目前電子產(chǎn)品元器件對“金脆”所致危害情況的重視度逐步增加,提高了處理鍍金層的“去金”嚴(yán)格化工藝標(biāo)準(zhǔn)需求。
3 “去金”方法
3.1 有引線表面貼裝器件去金工藝要求
有引線表面貼裝元器件的去金方法,主要包括運用烙鐵手工搪錫去金法,確保搪錫的溫度需要相較普通的鍍鉛錫元器件搪錫溫度超出,控制2~3s的260℃~280℃,之后運用吸錫繩完成對表面搪錫吸除之后,假若表面的鍍金層厚度超出25μm,那么需要再次完成搪錫處理。也可運用浸錫法去金,此種方法針對分立的插裝元器件比較適用,其中涵蓋了多引腳IC。在具體操作過程中,可用紗布保護(hù)元器件的引線根部,進(jìn)而有效預(yù)防焊料及受熱逐步沿線爬升。
3.2 無引線表面貼裝器件去金工藝要求
無引線表面貼裝元器件的去金工藝通常采用回流搪錫法,該種工藝方法運用需要加設(shè)返修站點和控溫加熱板,也就是說需要在完全開放的工作站點環(huán)境中,模擬回流焊的曲線設(shè)備及去金工藝。但是考慮到目前愈來愈復(fù)雜且可靠的元器件,普遍運用陶瓷封裝工藝,因此對此類元器件的搪錫焊接均以受熱沿線爬升為主。在具體操作過程中,通過針對該工藝要求設(shè)置專用的印刷工裝,借助印刷焊膏及回流焊接的工藝流程,對錫膏融合之后可以將元器件快速取出后達(dá)到高溫度條件下,通過運用吸錫繩將焊料吸除之后即實現(xiàn)了去金。
3.3 射頻電連接器焊杯去金工藝要求
射頻電連接器焊杯的去金,去金工藝要求較特殊,通常鍍金層厚度2μm,此種情況下元器件的化學(xué)鍍金工藝等同所致產(chǎn)生諸多比較嚴(yán)重的焊接后果。運用雙錫鍋完成浸錫之后,將已經(jīng)覆蓋焊劑的鍍金吟弦,能夠浸于專用的去金工藝錫鍋之內(nèi),控制2~3s的時間,確保溫度可以控制在手工搪錫的溫度標(biāo)準(zhǔn)以下,并且要求金錫鍋內(nèi)部控制1%以內(nèi)的焊料金屬雜質(zhì)。之后通過在普通的錫鍋內(nèi),將焊杯再次浸入完成二次搪錫,控制重復(fù)二次搪錫的時間、溫度,均等同專用的金錫鍋。但是需要嚴(yán)格控制在0.3%以內(nèi)的焊料金屬雜質(zhì)。為了預(yù)防出現(xiàn)焊料沿著引線爬升情況對元器件本身造成損害,需要在操作過程中通過運用紗布保護(hù)根部引線。除此之外還需要借助玻封二極管的諸多熱敏類元器件,完成散熱處理。
4 結(jié)語
總之,電子產(chǎn)品元器件的“去金”尤為關(guān)鍵,尤其針對運用可靠性需求較高的環(huán)境中,目前廣泛運用鍍金類引線元器件。需要重視易熔的錫鉛焊料,形成Au-Sn合金所致“金脆”情況發(fā)生,提高焊接可靠性。因此對電子產(chǎn)品元器件的去金處理,經(jīng)過本次研究筆者還認(rèn)為需要仔細(xì)識別元器件的類型,進(jìn)針對性進(jìn)行去金工藝方法,確?!叭ソ稹毙Ч瑫r也不會損壞元器件。
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