曹 聰,劉軒東,?,吳撼宇,劉美琴
(1. 西安交通大學(xué) 電氣工程學(xué)院;2. 西安交通大學(xué) 電子與信息工程學(xué)院: 西安 710049;3. 強(qiáng)脈沖輻射環(huán)境模擬與效應(yīng)國家重點(diǎn)實(shí)驗(yàn)室;4. 西北核技術(shù)研究所: 西安 710024)
多路脈沖功率加速器在高能密度物理學(xué)[1]、等熵壓縮[2]、沖擊物理學(xué)[3]、慣性約束聚變[4]和輻射效應(yīng)模擬領(lǐng)域[5]均有重要應(yīng)用。目前,在脈沖功率系統(tǒng),如Hermes III,URSA Minor,“強(qiáng)光一號(hào)”和“聚龍一號(hào)”中,連接脈沖功率模塊與公共負(fù)載的常用方法是使用多級(jí)磁絕緣傳輸線(magnetically insulated transmission lines, MITLs)[6-9]。MITLs是功率密度達(dá)TW·cm-2量級(jí)的大型脈沖功率裝置中重要部件之一,用于確保高功率脈沖有效地從驅(qū)動(dòng)器傳輸?shù)截?fù)載[10-11]。一般來說,對(duì)于大型功率加速器,來自多路脈沖功率模塊的電流在真空絕緣子外部并聯(lián)饋入多級(jí)MITLs,通過磁絕緣傳輸線和連接陰極與陽極間的匯聚結(jié)構(gòu)傳輸?shù)截?fù)載上。
當(dāng)高功率脈沖沿MITLs傳播時(shí),如陰極表面的電場強(qiáng)度超過電子的爆炸發(fā)射閾值,電子和離子從電極表面逸出并向陽極運(yùn)動(dòng),空間電荷相互作用逐漸形成等離子體,會(huì)產(chǎn)生較大的電流損失[12-13]。電極表面的粒子形成鞘層,如同電極的“延伸”,嚴(yán)重時(shí)甚至?xí)?dǎo)致間隙閉合或阻抗崩潰,形成與負(fù)載并聯(lián)的放電通道[14-16]。電極表面電子和等離子體的運(yùn)動(dòng)特性,如空間電荷密度、粒子種類及相互作用和間隙電子漂移速度等,都會(huì)對(duì)MITLs的宏觀參數(shù),如電壓、電流及阻抗等起著決定性的作用。所以,對(duì)MITLs,特別是匯聚區(qū)域的粒子運(yùn)動(dòng)特性研究,有助于磁絕緣傳輸結(jié)構(gòu)的優(yōu)化和評(píng)估。
3維粒子(particle-in-cell,PIC)模擬仿真被廣泛地應(yīng)用于MITLs的粒子特性研究。目前,孔柱匯聚結(jié)構(gòu)(post-hole convolute, PHC)是發(fā)展最成熟的匯聚結(jié)構(gòu),但在某些情況下,減小匯流過渡損失仍十分困難[17-19]。如何減小過渡匯流損失對(duì)下一代脈沖功率加速器的發(fā)展至關(guān)重要。此外,關(guān)于MITLs及匯聚區(qū)域的粒子模擬,一般只針對(duì)某一特定結(jié)構(gòu)且并聯(lián)路數(shù)固定的多級(jí)傳輸結(jié)構(gòu)開展,未包括對(duì)脈沖并聯(lián)數(shù)目改變時(shí)MITLs的特性研究。然而在實(shí)際應(yīng)用中,隨著脈沖饋入路數(shù)改變,MITLs和匯聚區(qū)域的粒子運(yùn)動(dòng)特性和電流損失會(huì)有不同的表現(xiàn),傳輸效率也會(huì)受到影響。
針對(duì)以上問題,本文對(duì)多路并聯(lián)磁絕緣傳輸線的結(jié)構(gòu)開展了系統(tǒng)化設(shè)計(jì),構(gòu)建了一種新型豎直三板傳輸結(jié)構(gòu),該結(jié)構(gòu)在中心匯流區(qū)域通過多路豎直三板線并聯(lián)且過渡為單層圓錐型匯聚饋電結(jié)構(gòu),理論上可減少磁零點(diǎn)區(qū)域的出現(xiàn)。通過對(duì)不同并聯(lián)數(shù)目的傳輸線進(jìn)行PIC模擬,比較了陰極發(fā)射電子和中性氣體電離時(shí)的電流損失,同時(shí)開展中心匯聚區(qū)域的動(dòng)態(tài)電參數(shù)計(jì)算,比較了脈沖并聯(lián)數(shù)目對(duì)MITLs的傳輸特性的影響,為多級(jí)磁絕緣傳輸線的實(shí)際應(yīng)用提供參考和依據(jù)。
圖1為多級(jí)并聯(lián)豎直三板線MITLs的剖面結(jié)構(gòu)和轉(zhuǎn)接結(jié)構(gòu)示意圖。真空部分包括多路并聯(lián)的外MITLs傳輸電極板,A,B,C,D 4層絕緣堆隔絕內(nèi)部真空和外層水介質(zhì),每層絕緣堆包含6個(gè)絕緣子和5個(gè)均壓環(huán)。中心匯聚區(qū)域(central convolute region)包含陽極柱、陰極錐和傳輸段陽極板輸出端。傳輸段陽極板通過輸出端的圓錐形轉(zhuǎn)接結(jié)構(gòu)匯入中心陽極,傳輸段陰極板與中心陰極錐緊密契合。外界脈沖從絕緣堆外部的堆棧電極饋入MITLs,通過與其緊密連接的外MITLs傳輸段電極,匯聚至中心MITLs,將高功率脈沖傳輸給負(fù)載。
(a) Configuration of the vertical three-plate MITLs’ profile
(b) Transition of MITLs to vacuum insulator stack and central convolute region
該模型與美國Sandia國家實(shí)驗(yàn)室研究的垂直三板雙帶結(jié)構(gòu)和蛤殼式傳輸線結(jié)構(gòu)類似,所有并聯(lián)的脈沖輸出水線在外絕緣堆棧處水平匯聚,進(jìn)入真空區(qū)域通過垂直的多路外MITLs電極板傳輸,到中心匯流區(qū)又通過垂直-水平轉(zhuǎn)接過渡結(jié)構(gòu)匯入單層圓錐形匯聚結(jié)構(gòu)[20]。因此,功率的流向發(fā)生了2次變化,形成了2個(gè)轉(zhuǎn)接功率損失區(qū)域。其中,中心匯流區(qū)域的流向變化帶來的過渡電流損失更為顯著。
本文在以上2種結(jié)構(gòu)的基礎(chǔ)上作了改動(dòng),設(shè)計(jì)的MITLs主要特點(diǎn)有:(1)縮小了外MITLs與絕緣堆連接處的面積,增大了連接處的光滑度,使電流密度增大并均勻化;(2)中心匯流區(qū)域由并聯(lián)豎直三板線過渡為單層圓錐結(jié)構(gòu)。鑒于目前處于世界領(lǐng)先地位的PBFA Z裝置,MITLs部分采用了圓盤錐形傳輸結(jié)構(gòu),電流傳輸效率大于90%[21],本文設(shè)計(jì)的內(nèi)、外MITLs的過渡結(jié)構(gòu),能避免出現(xiàn)磁零點(diǎn)區(qū)域,有望減少該區(qū)域的電流損失。
本文的主要研究對(duì)象為中心匯流轉(zhuǎn)接區(qū)域的電流損失及脈沖并聯(lián)路數(shù)改變時(shí)MITLs的傳輸特性。實(shí)際結(jié)構(gòu)中,外MITLs傳輸段電極平板和匯流區(qū)的陽極板輸出端的數(shù)目會(huì)隨脈沖并聯(lián)路數(shù)而改變。與中心匯聚區(qū)域相比,堆棧極板和傳輸段電極之間距離較大,空間電磁場相對(duì)較弱,電流損失較小,因此,在本文的仿真計(jì)算中,主要關(guān)注中心匯聚區(qū)域的電流損失,而外MITLs過渡段的電流損失不是本文研究的重點(diǎn)。
在MITLs中,當(dāng)電壓升高時(shí),陰極表面的電場迅速增強(qiáng),當(dāng)電場強(qiáng)度大于電子的發(fā)射閾值時(shí),陰極表面將會(huì)產(chǎn)生爆炸電子發(fā)射,電子逸出并在空間電磁場的作用下沿電極間隙向陽極運(yùn)動(dòng),與中性氣體和陽極碰撞產(chǎn)生離子,形成大量的空間電荷和等離子體,引起傳輸線阻抗發(fā)生變化,同時(shí)引起巨大的電流損失,極大地影響脈沖功率的傳輸[22]。所以,在研究磁絕緣傳輸線時(shí),不能忽略空間電荷和等離子體的特性對(duì)電流損失的影響。
本文中,MITLs中心匯流區(qū)形成了較為復(fù)雜的放電通道,結(jié)構(gòu)與圓錐形傳輸線類似,因此,在理論研究時(shí),將研究的過渡區(qū)域簡化為圓錐形傳輸線,中心匯流區(qū)域的轉(zhuǎn)接結(jié)構(gòu)和等效電流損失模型如圖2所示,陰極和陽極的最小距離為10 mm。
(a) Transition structure of central MITLs
(b) Equivalent central MITLs model with current loss
Ie=Ia-Ic
(1)
(2)
其中:γm為電子層存在時(shí)的相對(duì)論因子;Vm為電子層的邊界電勢(shì)(以陰極為零電位參考);m0為電子質(zhì)量,9.109×10-31kg;c為真空光速,3×108m·s-1;e為單位電荷,1.6×10-19C。
放電通道為真空,沒有粒子發(fā)射時(shí),根據(jù)共頂點(diǎn)同軸圓錐阻抗經(jīng)驗(yàn)公式可計(jì)算得到該區(qū)域的電感L、電容C及特性阻抗Z[24-25],表示為
(3)
其中:ε0為真空介電常數(shù),8.85×10-12F·m-1;μ0為真空磁導(dǎo)率,4π×10-7N·A-2。根據(jù)結(jié)構(gòu)參數(shù)計(jì)算得到θ1=arctan(0.03/0.03)=45°,θ2=arctan(0.04/0.03)=53.130 1°,l1=0.03/cos(53.130 1°),l2=0.07/cos(53.130 1°)(對(duì)應(yīng)陰極半徑R=7 cm的銜接處)。代入式(3),近似計(jì)算得到陰極不發(fā)射電子時(shí)放電通道的特性參數(shù)L≈2.51 nH,C≈0.02 nF,Z0≈11.28 Ω,作為后續(xù)參考值。
在實(shí)際應(yīng)用中,放電通道中的空間電荷分布規(guī)律及相互影響對(duì)宏觀電壓電流的作用往往不能忽略。在電壓的作用下,放電通道中存有電荷,相當(dāng)于電路中并聯(lián)了一個(gè)等效分布電容。在陰極電流Ic和空間電子流Ie共同作用下,電極間產(chǎn)生磁通,相當(dāng)于在電流作用下,電路串聯(lián)了一個(gè)等效分布電感。因此,依據(jù)層流理論,在推導(dǎo)的圓柱結(jié)構(gòu)公式[26]的基礎(chǔ)上,可給出圓錐形傳輸結(jié)構(gòu)阻抗區(qū)域的電容電感計(jì)算公式。
假設(shè),匯流區(qū)域中的電子在E×B方向上正則動(dòng)量守恒,并沿該方向的等勢(shì)軌跡運(yùn)動(dòng),則有
(4)
(5)
(6)
其中:Va為電極間隙電壓;C2為幾何因子。針對(duì)式(6),對(duì)于同軸圓錐形結(jié)構(gòu),有
(7)
考慮空間電荷分布時(shí),傳輸線特性阻抗Zcal可表示為
(8)
根據(jù)式(4)、式(5)和式(8),通過仿真實(shí)測的放電通道的電壓、陰極電流和陽極電流,可算出存在空間電荷時(shí)中心區(qū)域的理論電感、電容和阻抗。將理論值和實(shí)際值進(jìn)行對(duì)比,可把中心匯流過渡區(qū)域放電通道的空間電荷效應(yīng)與宏觀的電流損失聯(lián)系起來。針對(duì)豎直三板線并聯(lián)路數(shù)的變化,本文對(duì)比了過渡區(qū)域放電間隙的電參數(shù),研究了磁絕緣傳輸設(shè)計(jì)結(jié)構(gòu)的電流損失機(jī)制。
仿真計(jì)算時(shí)采用的脈沖輸入信號(hào)是一個(gè)上升沿和下降沿均為50 ns,脈寬為50 ns的梯形脈沖,如圖3所示。在高頻信號(hào)下忽略外MITLs和堆棧部分電極的損耗,視為理想導(dǎo)電體(perfect electrical conductor, PEC)。此外,均壓環(huán)也會(huì)發(fā)射電子[27],但不在本文的研究范圍內(nèi),不予設(shè)置。
圖3 仿真輸入的脈沖信號(hào)Fig.3 The input forward impulse signal
為較理想地引入輸入信號(hào),在圓柱形堆棧電極外側(cè)間分別引入4個(gè)理想離散電壓端口A′,B′,C′,D′,每對(duì)堆棧電極間施加初始幅值為1 MV的脈沖電壓,以模擬實(shí)際的脈沖饋入情況。負(fù)載設(shè)置為真空二極管,兩端分別連接中心陽極柱底面和陰極錐的上表面,如圖2所示。堆棧處邊界設(shè)為開放邊界,發(fā)射的粒子可橫向運(yùn)動(dòng)到中心匯流區(qū)以外區(qū)域,但為避免出現(xiàn)粒子向空間四處發(fā)散的極端情況,在模型上下邊界施加切向電場E的一階矢量吸收邊界Silver-Muller條件[28],表示為
(9)
為關(guān)注中心匯聚處的電流損失,仿真時(shí)主要將:(1)中心陰極錐表面設(shè)為電子發(fā)射面,發(fā)射閾值設(shè)為150 kV·cm-1,遵循爆炸電子發(fā)射模型;(2)中心陽極柱下表面和傳輸段陽極輸出端設(shè)置電子碰撞后的二次電子和離子發(fā)射;(3)考慮中性氣體的碰撞電離(H),背景氣體在13.33 Pa,290 K溫度下,H原子的原子數(shù)密度為3.33×1021m-3,采用蒙特卡羅碰撞模型??臻g中的離子應(yīng)涵括電子和二次電子(e)和離子(H+),并在一定的空間電磁場作用下形成等離子體[28-30]。各組件的主要設(shè)置及材料特性如表1所列。
表1 各組件的有關(guān)結(jié)構(gòu)及參數(shù)Tab.1 Structure and parameters of the components
為研究并聯(lián)數(shù)目對(duì)中心MITLs的電磁場和傳輸阻抗的影響,分別針對(duì)路數(shù)N為12,14,16,18,20時(shí)的空間電磁場特征和傳輸特性開展對(duì)比討論。仿真時(shí),忽略電子的動(dòng)態(tài)碰撞過程和粒子間的復(fù)雜作用,重點(diǎn)關(guān)注空間中含有電子、二次電子和離子的等離子體對(duì)中心MITLs的宏觀作用,即電容、電感和阻抗等參數(shù)的動(dòng)態(tài)變化。陰極半徑R=7 cm和R=14.5 cm處均為外MITLs過渡為圓錐傳輸結(jié)構(gòu)的銜接處,為MITLs陰極板與內(nèi)MITLs陰極錐的銜接位置,脈沖電流在此匯聚流出,空間電磁場比其他位置強(qiáng),推測該區(qū)域放電更容易發(fā)生,且更容易發(fā)生電磁場畸變。但由于R=7 cm處與陽極形成了放電通道,而R=14.5 cm處與陽極距離較大,所以選擇圖2中陰極半徑R=7 cm處的放電間隙進(jìn)行研究。由于各組件的電氣長度較小,特別是關(guān)注的中心匯流區(qū)域,電氣長度遠(yuǎn)小于施加信號(hào)的脈寬,可當(dāng)成集中參數(shù)。
2.2.1 中心匯流區(qū)的電流損失和電磁場特征
為得到粒子發(fā)射情況和空間電磁場的典型特征,給出了三板傳輸線并聯(lián)路數(shù)為20時(shí)的傳輸特征。首先,監(jiān)測了傳輸電流和電流損失,并觀察了粒子分布,以觀察和衡量電流損失。
圖4為t=100 ns時(shí),中心陰陽極的表面切向電流密度分布。由圖4可見,施加的脈沖信號(hào)較均勻地流經(jīng)各個(gè)極板,而中心區(qū)域由于電流匯聚,表面電流最高,電流密度基本為107A·m-1量級(jí)。
圖4 t=100 ns時(shí),中心陰陽極的表面切向電流密度分布Fig.4 Distribution of surface tangential current density at central anode and cathode when t=100 ns
為觀察電子碰撞中性氣體發(fā)生電離時(shí)的電流損失,給出了設(shè)置中性氣體電離和僅電子發(fā)射情形下20路結(jié)構(gòu)的下游陽極電流(R=7 cm處)、上游陽極電流和損失電流,如圖5和圖6所示。上下游電流監(jiān)測點(diǎn)如圖2(a)所示,上游監(jiān)測點(diǎn)為20路傳輸段陽極板的輸出端,所得值為20路極板電流的總和。由圖5和圖6可見,與僅發(fā)射電子時(shí)相比,發(fā)生中性氣體電離后,空間中存在碰撞電離產(chǎn)生的二次電子,因而電流損失會(huì)增大。分析中性氣體電離時(shí)的電流損失,由圖5可見,脈沖在10 ns左右到達(dá)負(fù)載處,在40~50 ns左右,輸入脈沖信號(hào)到達(dá)峰值,此時(shí)中心匯流區(qū)域陰極表面的電場超過發(fā)射閾值,開始產(chǎn)生電子發(fā)射,由于尚未形成磁絕緣,多數(shù)電子直接到達(dá)陽極,電子電流顯著增大,產(chǎn)生了前沿?fù)p失電流,此時(shí)電流損失占比最大,占陽極電流的1%~2%。
圖5 存在中性氣體電離時(shí),銜接處的陽極電流和損失電流Fig.5 Anode current and loss current of the transition with neutral gas ionization
圖6 僅發(fā)射電子時(shí),銜接處的陽極電流和損失電流Fig.6 Anode current and loss current with electron emission
并聯(lián)數(shù)目為20路的傳輸結(jié)構(gòu)電流損失情況表明,考慮陰極電子發(fā)射和中性氣體電離的情況時(shí),本文設(shè)計(jì)的多路磁絕緣傳輸結(jié)構(gòu)在負(fù)載電流為兆安量級(jí)時(shí)均導(dǎo)致了明顯的電流損失。與發(fā)射電子相比,考慮中性氣體電離時(shí)的電流損失更為顯著。為研究中性氣體電離時(shí)產(chǎn)生的傳輸效果,將針對(duì)中性氣體電離的情況開展研究。
為驗(yàn)證粒子的發(fā)射情況,給出了空間等離子體的3維分布,如圖7所示。由圖7可見:t=50 ns時(shí),陰極表面初步開始發(fā)射電子,此時(shí)還沒有形成磁絕緣,電子在空間電場的作用下逐漸向陽極運(yùn)動(dòng),不少電子直接達(dá)到陽極,與陽極發(fā)生碰撞;t=100 ns時(shí),陽極附近幾乎不存在粒子,等離子體附著在中心陰極和傳輸段表面,形成等離子體鞘層,相當(dāng)于陰極的延伸,粒子的存在明顯加速了間隙的閉合。由于所設(shè)置粒子發(fā)射模型的限制,整個(gè)時(shí)段內(nèi)等離子體數(shù)密度最大為1013cm-3,遠(yuǎn)低于常用的值[13-15]。
(a) t=50 ns front view
(b) t=100 ns front view
(c) t=50 ns bottom view
(d) t=100 ns bottom view
過渡區(qū)域的電磁場直接決定了設(shè)計(jì)的饋電結(jié)構(gòu)能否形成良好的磁絕緣。圖8和圖9分別為水平-垂直轉(zhuǎn)接區(qū)域和中心過渡區(qū)域陰陽極表面的電磁場3維分布。由圖8可見,在水平-垂直轉(zhuǎn)接區(qū)域,由于連接處電流最大,堆棧陰極與傳輸段陰極處的電磁場相對(duì)較高,低磁場區(qū)基本位于大曲率半徑處,如磁場等高線分布所示。由圖9可見,低磁場區(qū)基本位于過渡區(qū)域的上游及傳輸段陽極的輸出端,且從磁場強(qiáng)度分布可見,在下游匯流區(qū)域,隨電流密度的增加,磁場增強(qiáng),即使匯流之后電流激增,但空間電磁場的作用也能促使磁絕緣的形成。
(a) E
(b) H
(a) E
(b) H
t=40 ns時(shí),中心匯流區(qū)域陽極和陰極表面的磁感應(yīng)強(qiáng)度隨半徑的變化關(guān)系如圖10所示。由前文可知,t=40 ns時(shí),陰極表面電場超過了發(fā)射閾值150 kV·cm-1,電子發(fā)射開始激增,電極表面磁感應(yīng)強(qiáng)度隨半徑的增加而整體呈下降趨勢(shì),在傳輸段陰極末端與中心陰極轉(zhuǎn)接處有突變的跡象,這是由于中心電極的特殊結(jié)構(gòu)所致。R=7 cm和R=14.5 cm處為傳輸段極板與內(nèi)陰極的初始銜接位置,脈沖信號(hào)從該處流出,電流強(qiáng)度比其他位置大,因此,磁感應(yīng)強(qiáng)度在此處有少許的突變。此外,在過了轉(zhuǎn)接位置以后,電流密度減小,磁感應(yīng)強(qiáng)度趨于平緩,且接近于0,說明MITLs結(jié)構(gòu)在大半徑處的磁場強(qiáng)度低于發(fā)射閾值的區(qū)域,磁場強(qiáng)度很低,更易形成磁絕緣。
圖10 t=40 ns時(shí),陰陽極表面的磁感應(yīng)強(qiáng)度隨半徑的變化關(guān)系Fig.10 Magnetic induction strength on edge surface of cathode and anode vs. radio when t=40 ns
中性氣體碰撞電離時(shí),12,14,16,18,20路結(jié)構(gòu)中心匯流區(qū)域的過渡電流損失特性和電磁場特征參數(shù)如表2所列。
表2 中心匯流區(qū)域的過渡電流損失特性和電磁場特征參數(shù)Tab.2 Characteristics of transient current loss and parameters of electromagnetic field in central region
前沿?fù)p失電流是指在形成磁絕緣之前損失的電流,本文計(jì)算的是t=40~60 ns時(shí),多種匯聚方式在電子初步發(fā)射時(shí)中心匯流過渡區(qū)域的最大前沿?fù)p失電流Ilossfront占該處陽極電流Ia的百分比。此外,通過計(jì)算負(fù)載電流,獲得了電流傳輸效率。由表2可知,隨著脈沖饋入路數(shù)的增加,傳輸電極板的數(shù)目也隨之增加,放電區(qū)域的面積對(duì)應(yīng)增大;由于脈沖饋入路數(shù)的增加,而總輸入脈沖保持不變,中心匯流區(qū)域的陰極銜接位置處(即R=7 cm)的電流成比例地減小,而產(chǎn)生的磁感應(yīng)強(qiáng)度也隨之下降,因此形成磁絕緣的難度增大,導(dǎo)致電流損失的占比有明顯的上升趨勢(shì)。放電時(shí),由于空間電荷的作用,間隙電壓發(fā)生畸變而不具有規(guī)律性,產(chǎn)生了較大范圍的波動(dòng)。通過計(jì)算4層堆棧輸入脈沖電流和負(fù)載二極管電流,進(jìn)而求得忽略外MITLs電流損失時(shí)的電流傳輸效率都大于95%,體現(xiàn)了較好的脈沖電流傳輸效果。
2.2.2 放電間隙的動(dòng)態(tài)電參數(shù)
當(dāng)陰極發(fā)射電子,且與陽極及中性氣體H碰撞產(chǎn)生二次電子,空間中存在等離子體時(shí),MITLs的傳輸特性會(huì)產(chǎn)生顯著的改變,空間粒子的微觀特性與相互作用將宏觀地表現(xiàn)為傳輸線電參數(shù)的動(dòng)態(tài)變化,包括電感、電容和傳輸阻抗。為衡量傳輸線特性的變化,同時(shí)對(duì)比空間電荷和等離子體存在時(shí)不同路結(jié)構(gòu)MITLs的性能,本文根據(jù)仿真得到的匯流區(qū)各參數(shù),利用式(4)、式(5)和式(8)計(jì)算得到了電壓持續(xù)作用時(shí)間為40~150 ns時(shí),R=7 cm處放電間隙的電參數(shù),并與不存在等離子體時(shí)的情況進(jìn)行了對(duì)比。電壓持續(xù)作用時(shí)間內(nèi)各路過渡區(qū)域銜接處的等效電感和等效電容隨時(shí)間的變化關(guān)系如圖11所示。
(a) Equivalent inductance
(b) Equivalent capacitance
由圖11可見,脈沖饋入路數(shù)的改變使放電通道的電感和電容效應(yīng)呈現(xiàn)了一定程度的差異。這是因?yàn)?,并?lián)路數(shù)越多,傳輸段陽極板輸出端與陰極形成的放電通道數(shù)量越多,每條MITL的傳輸電流變小了,并聯(lián)得到的總電感越低,宏觀體現(xiàn)為等效電感隨路數(shù)的增加而降低。由圖11還可見,并聯(lián)路數(shù)的增加增強(qiáng)了空間電荷效應(yīng),且由于低電感對(duì)每一路電壓的影響,最終體現(xiàn)為等效電容值增大。與式(3)計(jì)算所得到的無空間電荷存在時(shí)的電容和電感理論值相比,等離子體的存在極大地增強(qiáng)了放電間隙的電容電感效應(yīng)。
根據(jù)實(shí)測電壓電流計(jì)算所得的在電壓信號(hào)的峰值時(shí)間內(nèi)不同路間隙阻抗隨時(shí)間的變化關(guān)系如圖12所示。由圖12可見,與不存在空間電荷時(shí)的傳輸阻抗值Z0=11.28 Ω相比,空間粒子的存在使放電間隙的阻抗顯著下降。受空間電荷的作用,電磁場畸變,因而仿真得到的數(shù)據(jù)不是一條平滑的曲線,而是在一定范圍內(nèi)浮動(dòng),在電流損失前沿時(shí)急劇崩潰,形成磁絕緣之后趨于平緩,但下降趨勢(shì)依舊明顯,且閉合速度隨并聯(lián)數(shù)目和放電通道面積的增加而上升。
圖12 不同路間隙阻抗隨時(shí)間的變化關(guān)系Fig.12 Impedance vs. time of different number of channels
本文設(shè)計(jì)了一種新型豎直三板磁絕緣傳輸結(jié)構(gòu),并利用PIC模擬進(jìn)行了粒子發(fā)射模擬和數(shù)值計(jì)算,針對(duì)性地比較了脈沖并聯(lián)路數(shù)改變時(shí)的匯流區(qū)域的電磁場特征及過渡電流損失特性。仿真得到的電磁場表明,該結(jié)構(gòu)的低磁場區(qū)位于大半徑處電場低于發(fā)射閾值的區(qū)域,高場強(qiáng)區(qū)域易于形成磁絕緣??臻g粒子發(fā)射情況表明,陰極表面的電子發(fā)射、中性氣體的碰撞電離均是MITLs電流損失的重要來源。通過比較不同并聯(lián)三板傳輸線數(shù)目的MITLs在中心匯聚區(qū)域的電流損失,發(fā)現(xiàn)該結(jié)構(gòu)的前沿電流損失仍保持在較低的量級(jí),傳輸效率較理想。對(duì)比計(jì)算得到的放電通道動(dòng)態(tài)電容、電感及實(shí)測的通道阻抗,發(fā)現(xiàn)等離子體的存在極大地增強(qiáng)了空間的電感和電容效應(yīng)。隨著并聯(lián)路數(shù)的增加,并聯(lián)電感降低,電容升高,每一路的都能很好地滿足磁絕緣。同時(shí),由于結(jié)構(gòu)特性,并聯(lián)數(shù)目越多,放電通道阻抗的失配速度也相對(duì)加劇。
仿真的結(jié)果表明,優(yōu)化的幾何結(jié)構(gòu)可避免傳統(tǒng)四級(jí)MITLs和匯流區(qū)域所觀察到的大幅電流損失,但是否真正具有這一特性只能通過一系列實(shí)驗(yàn)來進(jìn)行測試。此外,由于仿真粒子發(fā)射模型的限制,沒有考慮陰極負(fù)離子發(fā)射和陽極電子的熱發(fā)射,且只檢驗(yàn)了沒有間隙閉合的電子和離子發(fā)射,本文中電子和等離子體的數(shù)密度最大只有1013cm-3,遠(yuǎn)小于典型值[13-15],雖仍能觀察到較明顯的電流損失和阻抗失配,但存在一定的偏差。仿真計(jì)算采用的真空二極管負(fù)載及所使用的饋入脈沖信號(hào),并非實(shí)際的實(shí)驗(yàn)條件,也會(huì)導(dǎo)致結(jié)果產(chǎn)生偏差。因此,未來將合理修改仿真設(shè)置和粒子發(fā)射模型,調(diào)整饋入電壓信號(hào),模擬高阻抗負(fù)載時(shí)的電流損失,并計(jì)算間隙閉合速度,以模擬真實(shí)的磁絕緣傳輸情況,進(jìn)一步比較饋入路數(shù)對(duì)傳輸性能的影響。