ISED 認(rèn)證實(shí)驗(yàn)室申請(qǐng)流程及注意事項(xiàng)

呂友友，郭 雨

（國(guó)家無(wú)線電監(jiān)測(cè)中心檢測(cè)中心，北京 100041）

ISED（Innovation，Science and Economic Development Canada）全稱為加拿大創(chuàng)新科學(xué)與經(jīng)濟(jì)發(fā)展部，其前身為IC（Industry Canada）加拿大工業(yè)部，自2016年開(kāi)始正式改名，主要負(fù)責(zé)電子電器產(chǎn)品進(jìn)入加拿大市場(chǎng)的認(rèn)證事務(wù)。擁有ISED 認(rèn)可資質(zhì)是評(píng)價(jià)檢測(cè)實(shí)驗(yàn)室檢測(cè)能力的一種有效手段，同時(shí)也是檢測(cè)實(shí)驗(yàn)室進(jìn)入國(guó)際市場(chǎng)的一張準(zhǔn)入證。2018年3月15日，加拿大ISED 發(fā)布文件《關(guān)于無(wú)線設(shè)備測(cè)試實(shí)驗(yàn)室新要求的決定》，文中有以下幾個(gè)要點(diǎn)：一是提出了非MRA 國(guó)家認(rèn)證機(jī)構(gòu)認(rèn)可程序，并確定認(rèn)證機(jī)構(gòu)的認(rèn)證周期為4年；二是在發(fā)布本決議文件的同時(shí)，加拿大ISED 將同步修改更新“REC-LAB” （承認(rèn)國(guó)外檢測(cè)實(shí)驗(yàn)室）及“DES-LAB”（指定和認(rèn)可加拿大檢測(cè)實(shí)驗(yàn)室）的程序；三是ISED 認(rèn)可范圍在針對(duì)RSS-102和RSS-247的申請(qǐng)時(shí)，需對(duì)認(rèn)證范圍進(jìn)行分割，允許測(cè)試實(shí)驗(yàn)室根據(jù)自身情況申請(qǐng)部分認(rèn)可范圍的授權(quán)；四是提出本決定自公布起，ISED 將提供1年的過(guò)渡期（到2019年3月15日）以便測(cè)試實(shí)驗(yàn)室獲得相關(guān)認(rèn)可；五是加拿大ISED 將2年更新一次其所認(rèn)可的境內(nèi)（DES-LAB）和境外實(shí)驗(yàn)室（REC-LAB）名單。

1 ISED 認(rèn)證機(jī)構(gòu)注冊(cè)程序

ISED 認(rèn)證機(jī)構(gòu)的申請(qǐng)，在加拿大官網(wǎng)上有明確的申請(qǐng)程序。針對(duì)于加拿大本土以外的國(guó)家，參照官網(wǎng)上關(guān)于國(guó)外檢測(cè)實(shí)驗(yàn)室認(rèn)可程序《Procedure for the Recognition of Foreign Testing Laboratories》（http：//www.ic.gc.ca/eic/site/smt-gst.nsf/eng/sf05259.html）。提交申請(qǐng)的檢測(cè)實(shí)驗(yàn)室針對(duì)于MRA 國(guó)家和非MRA 國(guó)家有兩套不同的申請(qǐng)要求（MRA 全稱Mutual Recognition Agreement/Arrangement 相互承認(rèn)協(xié)議，指各國(guó)之間相互承認(rèn)對(duì)方的監(jiān)管測(cè)試和/或認(rèn)證的協(xié)議，包括任何其他同等協(xié)議，如自由貿(mào)易協(xié)定（FTAs）（不限于此協(xié)議）），本文根據(jù)國(guó)內(nèi)的檢測(cè)實(shí)驗(yàn)室的情況，按照非MRA 國(guó)家實(shí)驗(yàn)室進(jìn)行闡述。

1.1 實(shí)驗(yàn)室認(rèn)證

首先，申請(qǐng)ISED 認(rèn)可的檢測(cè)實(shí)驗(yàn)室需要向ISED 授權(quán)的認(rèn)證機(jī)構(gòu)提出認(rèn)證申請(qǐng)，ISED 的授權(quán)的認(rèn)證機(jī)構(gòu)可以從ISED 官網(wǎng)處 查 詢（http：//www.ic.gc.ca/eic/site/mra-arm.nsf/eng/h_nj00091.html）。

其次，申請(qǐng)認(rèn)證的檢測(cè)實(shí)驗(yàn)室滿足ISO/IEC 17025：2017 或ISO/IEC 17025：2005 （有效期至2020年11月30日）：校準(zhǔn)和檢測(cè)實(shí)驗(yàn)室能力通用要求，且適用于ISED 認(rèn)證機(jī)構(gòu)的要求以及測(cè)試方法。

最后，完成認(rèn)證的檢測(cè)實(shí)驗(yàn)室還需要根據(jù)自身的資質(zhì)以及測(cè)試范圍簽署一份檢測(cè)實(shí)驗(yàn)室技術(shù)評(píng)估清單《Testing Laboratory Technical Assessment Checklist》，清單下載地址為：（http：//www.ic.gc.ca/eic/site/smt-gst.nsf/eng/sf11383.html）。

1.2 認(rèn)證機(jī)構(gòu)指定

一旦認(rèn)證程序完成，需要向ISED 提出認(rèn)可要求。一般由授權(quán)機(jī)構(gòu)（DA，Designating authority，有權(quán)指定、監(jiān)督、暫停指定或撤銷其管轄范圍內(nèi)合格評(píng)定機(jī)構(gòu)的機(jī)構(gòu)）提出認(rèn)可要求。授權(quán)機(jī)構(gòu)對(duì)申請(qǐng)認(rèn)證的檢測(cè)實(shí)驗(yàn)室的認(rèn)證信息進(jìn)行審查，并確定檢測(cè)實(shí)驗(yàn)室是否符合指定要求。在確定滿足要求后，授權(quán)機(jī)構(gòu)提供相應(yīng)的信息以及資料指定給ISED，供其審查和認(rèn)可。

1.3 ISED 認(rèn)可

ISED 將審查申請(qǐng)認(rèn)可的檢測(cè)實(shí)驗(yàn)室提交的信息，并決定是否指定該檢測(cè)實(shí)驗(yàn)室為認(rèn)可實(shí)驗(yàn)室。一旦指定為認(rèn)可實(shí)驗(yàn)室，ISED 會(huì)在官網(wǎng)上公開(kāi)認(rèn)可實(shí)驗(yàn)室和對(duì)應(yīng)評(píng)審該實(shí)驗(yàn)室的認(rèn)證機(jī)構(gòu)信息。

2 提交材料說(shuō)明

對(duì)于具體需要提交的材料根據(jù)國(guó)外檢測(cè)實(shí)驗(yàn)室認(rèn)可程序《Procedure for the Recognition of Foreign Testing Laboratories》填寫(xiě)。包含以下幾點(diǎn)信息：

（1）申請(qǐng)認(rèn)可的實(shí)驗(yàn)室名稱、地址、郵編以及聯(lián)系人。

（2）非MRA 國(guó)家標(biāo)識(shí)號(hào)。

（3）ISO/IEC 17025：2017或ISO/IEC 17025：2005（有效期至2020年11月30日）的認(rèn)證證書(shū)。

（4）認(rèn)證范圍。

（5）認(rèn)證有效期（ISED 要求認(rèn)證機(jī)構(gòu)對(duì)檢測(cè)實(shí)驗(yàn)室必須每?jī)赡曛辽僭u(píng)估一次）。

（6）一份完整的檢測(cè)實(shí)驗(yàn)室技術(shù)評(píng)估清單。

（7）檢測(cè)實(shí)驗(yàn)室符合 國(guó)外檢測(cè)實(shí)驗(yàn)室認(rèn)可程序（Procedure for the Recognition of Foreign Testing Laboratories）所有規(guī)定的聲明。

其中，（2）、（6）需要特別關(guān)注。

3 現(xiàn)場(chǎng)評(píng)審容易忽略的問(wèn)題

授權(quán)認(rèn)證機(jī)構(gòu)是申請(qǐng)ISED 認(rèn)可的重中之重，而現(xiàn)場(chǎng)評(píng)審又是認(rèn)證的關(guān)鍵環(huán)節(jié)。認(rèn)證專家會(huì)根據(jù)檢測(cè)實(shí)驗(yàn)室提出的申請(qǐng)范圍依據(jù)校準(zhǔn)和檢測(cè)實(shí)驗(yàn)室能力通用要求及ISED 認(rèn)證機(jī)構(gòu)的要求進(jìn)行評(píng)審。以下對(duì)現(xiàn)場(chǎng)評(píng)審中易忽略的一些問(wèn)題進(jìn)行說(shuō)明。

3.1 校準(zhǔn)證書(shū)隱藏的問(wèn)題

設(shè)備校準(zhǔn)是設(shè)備溯源的一種方式，通常通過(guò)具有計(jì)量資質(zhì)的機(jī)構(gòu)檢測(cè)并出具相應(yīng)的計(jì)量報(bào)告來(lái)判定儀表是否符合規(guī)范，其校準(zhǔn)周期根據(jù)儀表特性、類別、使用頻次不同而長(zhǎng)短不一。根據(jù)以往現(xiàn)場(chǎng)評(píng)審經(jīng)驗(yàn)，評(píng)審專家在設(shè)備校準(zhǔn)方面會(huì)重點(diǎn)關(guān)注測(cè)量接收機(jī)、線性阻抗穩(wěn)定網(wǎng)絡(luò)等設(shè)備的校準(zhǔn)報(bào)告，尤其針對(duì)報(bào)告中的校準(zhǔn)依據(jù)、校準(zhǔn)參數(shù)。國(guó)內(nèi)校準(zhǔn)機(jī)構(gòu)出具的校準(zhǔn)報(bào)告中，其檢測(cè)依據(jù)更多的是機(jī)構(gòu)本身的作業(yè)指導(dǎo)書(shū)，或GB/CISPR/EN 標(biāo)準(zhǔn)系列，因?yàn)镮SED 采用的標(biāo)準(zhǔn)以RSS 或ANS 標(biāo)準(zhǔn)為基礎(chǔ)，如果不清楚標(biāo)準(zhǔn)的細(xì)節(jié)差異會(huì)在專家審核校準(zhǔn)證書(shū)中埋下隱患。

（1）測(cè)量接收機(jī)的校準(zhǔn)要求。美國(guó)FCC 和加拿大ISED 在測(cè)量產(chǎn)品的蓄意發(fā)射時(shí)，最高頻率需要測(cè)到產(chǎn)品的10 次諧波或40GHz，取其較小值。以5GWIFI，UNII 產(chǎn)品為例，最高測(cè)量頻率需要測(cè)到40GHz，因此需要接收機(jī)的頻率范圍能夠覆蓋至40GHz。通常情況下，我們?cè)谔峤邮諜C(jī)的校準(zhǔn)需求時(shí)，會(huì)把CISPR 16-1-1：2010 作為校準(zhǔn)依據(jù)，以上標(biāo)準(zhǔn)對(duì)測(cè)量接收機(jī)9kHz-18GHz 的頻率范圍校給出了校準(zhǔn)說(shuō)明，然而在18GHz 頻率以上并沒(méi)有做出規(guī)定。我們?cè)趯?shí)際的校準(zhǔn)中，盡管校準(zhǔn)范圍校到40GHz，但是在參考標(biāo)準(zhǔn)中卻容易遺漏18GHz 以上的校準(zhǔn)依據(jù)。在ISED 和FCC 通用的標(biāo)準(zhǔn)ANSI C63.4-2014中指出：除另有規(guī)定，對(duì)18GHz 以下的頻率范圍，EMI 接收機(jī)或頻譜分析儀應(yīng)遵照ANSI C63.2或CISPR 16-1-1：2010-11中規(guī)定的檢波功能和帶寬；對(duì)于18GHz 以上的頻率范圍，EMI 接收機(jī)或頻譜分析儀應(yīng)具有ANSI C63.2中規(guī)定的檢波功能和帶寬。在標(biāo)準(zhǔn)條款4.2.4中，原文如下：“Unless otherwise specified，EMI receivers or spectrum analyzers shall have the detector functions and bandwidths specified in either ANSI C63.2 or CISPR 16-1-1：2010-11 for frequencies up to and including 18 GHz； above 18 GHz，the detector functions and bandwidths specified in ANSI C63.2 shall be used”。具體要求以及說(shuō)明本文不贅述，請(qǐng)參考標(biāo)準(zhǔn)。

（2）線性阻抗穩(wěn)定網(wǎng)絡(luò)校準(zhǔn)要求。LISN 的校準(zhǔn)依據(jù)標(biāo)準(zhǔn)為CISPR 16-1-2：2017，校準(zhǔn)的參數(shù)有三項(xiàng)：插入損耗、阻抗（阻值和相角）及隔離度。EMC 測(cè)試工程師在做電源端口的傳導(dǎo)連續(xù)騷擾時(shí)會(huì)遇到這樣的問(wèn)題。供應(yīng)商提供的電源線無(wú)法滿足EUT 邊緣距離LISN 邊緣最近距離為80cm 的配置需求。為滿足標(biāo)準(zhǔn)要求的配置，這時(shí)我們會(huì)引入有插座的延長(zhǎng)線，EUT 供電端直接連接插座進(jìn)行測(cè)試。那么針對(duì)于此種情況，校準(zhǔn)該如何進(jìn)行呢？依據(jù)標(biāo)準(zhǔn)ANSI C63.4-2014附錄B 要求LISN 的阻抗與插入損耗需要按照以下程序或同等程序每年至少校準(zhǔn)一次，應(yīng)該在足夠多的頻率下測(cè)試以獲得阻抗和插入損耗隨頻率變化的平滑曲線。應(yīng)在插入EUT 電源線的插座處進(jìn)行測(cè)量。其原文如下：“The impedance and insertion loss of each LISN section shall be measured at least once a year using the following，or an equivalent，procedure. The measurements shall be made at a sufficient number of frequencies to obtain a smooth curve of impedance or insertion loss with frequency. Measurements shall be made at the receptacle into which the EUT power cord is inserted（Annex B，B.1 General）”。這是我們?cè)谔嵝?zhǔn)需求和進(jìn)行校準(zhǔn)活動(dòng)時(shí)容易忽略和考慮的事情。

在日常的檢測(cè)過(guò)程中，為了把控質(zhì)量，儀表除了固定周期的校準(zhǔn)活動(dòng)外，實(shí)驗(yàn)室內(nèi)部還會(huì)每天進(jìn)行日常驗(yàn)證以確保系統(tǒng)處于正常狀態(tài)。以EMC 實(shí)驗(yàn)室為例，日常確認(rèn)是EMC 實(shí)驗(yàn)室確認(rèn)平臺(tái)性能能否滿足測(cè)試要求的一個(gè)基本措施，通常情況下在每次測(cè)試前都需要檢驗(yàn)?，F(xiàn)階段眾多EMC 實(shí)驗(yàn)室以某種穩(wěn)定的標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)，例如梳狀信號(hào)發(fā)生器作為被測(cè)設(shè)備，測(cè)試數(shù)據(jù)與梳狀信號(hào)發(fā)生器的真值比較，以確保測(cè)試平臺(tái)是否滿足測(cè)試要求。

3.2 場(chǎng)地布置需要關(guān)注的細(xì)節(jié)

不同測(cè)試參數(shù)對(duì)于場(chǎng)地布置、環(huán)境要求和測(cè)量設(shè)備的要求是不一致的。輻射騷擾測(cè)試一般在暗室中進(jìn)行，會(huì)用到測(cè)量接收機(jī)、天線等測(cè)試設(shè)備；傳導(dǎo)連續(xù)騷擾一般在屏蔽室內(nèi)測(cè)試，使用測(cè)量接收機(jī)、LISN 等測(cè)試設(shè)備。

（1）傳導(dǎo)連續(xù)騷擾場(chǎng)地布置。傳導(dǎo)的場(chǎng)地要求是核查的重點(diǎn)。在國(guó)標(biāo)GB/T 9254-2008，9.4章節(jié)對(duì)場(chǎng)地布置提出了要求：垂直或水平放置的參考接地平板應(yīng)至少超出測(cè)試布置投影距離0.5m 遠(yuǎn)，接地平板的最小尺寸是2m×2m。應(yīng)使用盡可能短的導(dǎo)體將AMN 和ISN 的參考接地點(diǎn)連接到參考接地平板上。這段描述對(duì)于導(dǎo)體的具體指標(biāo)并未作出詳細(xì)說(shuō)明，只是說(shuō)明要盡可能短。而在ANSI C63.4-2014 5.2章節(jié)中對(duì)水平、垂直參考接地平板、LISN 的安裝都有詳細(xì)的要求說(shuō)明。尤其是AMN 與參考接地的連接阻抗在標(biāo)準(zhǔn)中有明確規(guī)定要小于等于2.5mΩ。在標(biāo)準(zhǔn)中描述為：“Where use of a LISN is required （see Clause 7），it shall be placed on and electrically bonded to the top surface of，or immediately beneath，the reference ground plane and shall be bonded to the ground plane. The site reference ground plane is the ground reference for the LISN. The bond used shall have a dc resistance of less than or equal to 2.5 mΩ”。此阻值的測(cè)量需要定期測(cè)量并記錄保留。

（2）輻射騷擾場(chǎng)地布置。輻射騷擾一般在電波暗室內(nèi)進(jìn)行，暗室要滿足相應(yīng)的歸一化場(chǎng)地衰減（NSA）和場(chǎng)地電壓駐波比（VSWR）。在場(chǎng)地布置時(shí)，天線的位置以及天線類型的選擇也是關(guān)注的一部分。實(shí)驗(yàn)室在測(cè)量30MHz-1000MHz 頻率時(shí)，為節(jié)省測(cè)試時(shí)間，多數(shù)情況會(huì)采用復(fù)合天線。很多人會(huì)覺(jué)得在校準(zhǔn)有效期內(nèi)滿足頻率要求的天線就可以使用。然而依據(jù)標(biāo)準(zhǔn)ANSI C63.4-2014附錄N（N.2）：測(cè)量天線除了滿足測(cè)試頻率的要求以外，天線規(guī)格也要滿足要求。如果在標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)場(chǎng)地使用混合天線，混合天線的尺寸必須足夠小，無(wú)論極化如何，當(dāng)混合天線放置在1m 高度時(shí)，天線元件的任何部分與接地平面的距離不得小于25 cm。其原文內(nèi)容如下：“If a hybrid antenna is used at a standard test site （i.e.，at a non-weather-protected OATS），the size of the hybrid antenna must be small enough that，regardless of polarization，no portion of the antenna elements are closer than 25 cm to the ground plane，when the hybrid antenna is placed at a 1 m height”。這是個(gè)容易被忽略的細(xì)節(jié)。

4 結(jié)束語(yǔ)

本文主要對(duì)ISED 認(rèn)證的申請(qǐng)流程、遞交材料、機(jī)構(gòu)選擇等流程作出說(shuō)明，并根據(jù)自身經(jīng)歷對(duì)評(píng)審過(guò)程中可能忽略的一些細(xì)節(jié)問(wèn)題作出闡述，同時(shí)提供了問(wèn)題存在的具體依據(jù)以及整改的方向，希望對(duì)各個(gè)實(shí)驗(yàn)室申請(qǐng)ISED 認(rèn)證機(jī)構(gòu)以及現(xiàn)場(chǎng)評(píng)審時(shí)有所幫助。