黃麗莉,徐 輝,劉 穎,謝 楠,聞明忠,孟瑞艷
(1.江蘇地質(zhì)礦產(chǎn)設計研究院,江蘇徐州 221006;2.中國煤炭地質(zhì)總局煤系礦產(chǎn)資源重點實驗室,江蘇徐州 221006)
陜西鳳縣石墨礦位于商丹縫合帶附近石墨成礦富集帶之中,賦存于石炭系含煤盆地,系石炭系隱晶質(zhì)石墨礦床。隱晶質(zhì)石墨又稱土狀石墨,外觀呈黑土狀,質(zhì)軟,缺乏光澤,同具有金屬光澤的晶質(zhì)石墨形成鮮明的對比,潤滑性也差。晶體粒徑小于1 μm,呈微晶的集合體。通常品位較高,一般在60%~80%,少數(shù)可高達90%以上[1-2]。
由于隱晶質(zhì)石墨粒度細、晶片直徑小,因而與晶質(zhì)石墨相比,其礦漿黏度大,浮選泡沫不易破滅,易夾雜,可浮性差。另外,隱晶質(zhì)石墨礦中的主要脈石礦物除石英外,尚有黏土類礦物和云母等。石墨顆粒常常嵌布在黏土中,難于分離。因此在實際生產(chǎn)應用中,很少采用浮選法對隱晶質(zhì)石墨進行提純[3-6]。
本研究采用氟化銨-鹽酸法對隱晶質(zhì)石墨樣品進行了5次連續(xù)提純,并采用灰分測定、XRD、SEM對每次的提純產(chǎn)品進行表征,全面分析了隱晶質(zhì)石墨樣品在多次提純實驗過程中的固定碳含量、巖石礦物組成及微觀形貌的變化。
表1 石墨原礦的基本分析
本實驗所用隱晶質(zhì)石墨樣品來源于陜西鳳縣巖灣礦區(qū),原礦固定碳含量為83.06%,其雜質(zhì)成分含量見表2。
表2 石墨原礦的化學成分分析
由表2可知,提純實驗過程中需主要去除的成分為SiO2、Al2O3、Fe2O3、CaO、MgO、K2O等。
試劑:氟化銨(分析純)、鹽酸(質(zhì)量分數(shù)36%~38%,分析純)。
儀器設備:X射線衍射儀(X Pert3 Powder,荷蘭帕納科公司)、掃描電子顯微鏡(Σigma,德國卡爾·蔡司)、電子天平(BSA,Startorius)、電熱鼓風干燥箱(101-2EBS,北京市永光明醫(yī)療儀器有限公司)、馬弗爐(DTXL-2000,徐州德普機電科技有限公司)、電熱恒溫水浴鍋(DZKW,北京市永光明醫(yī)療儀器有限公司)、旋片式真空泵(XZ-1A,溫嶺市力拓機電有限公司)。
用電子天平(感量0.1mg)稱取一定量的石墨樣品(200目),放入聚乙烯燒杯中,加入一定量的分析純氟化銨和鹽酸,攪拌均勻。將聚乙烯燒杯放置在電熱恒溫水浴鍋中,保持特定溫度條件下反應一定時間。反應過程中,每隔15min用聚乙烯攪拌棒攪拌一次。反應結束后,趁熱抽濾,并用熱水反復洗滌濾餅,直至濾液呈中性。將濾餅取出,在105℃的電熱鼓風干燥箱中烘干,稱量并恒重,即得純化后的石墨產(chǎn)品。
本實驗通過純化前后的固定碳含量來衡量純化效率。固定碳的測定遵照JC/T1021.5-2007《非金屬礦物和巖石化學分析方法 第5部分 石墨礦化學分析方法》來執(zhí)行。固定碳的計算公式為:
ω(CGD)=100-ω(A)
其中,ω(A)為石墨原礦的灰分含量。
并采用荷蘭帕納科公司的X Pert3 Powder 型X射線衍射儀(XRD)對隱晶質(zhì)石墨的晶體結構及組成成分進行分析,并借助德國卡爾·蔡司Σigma型掃描電子顯微鏡(SEM)來研究隱晶質(zhì)石墨的微觀形貌。
采用L16(45)型正交實驗表,為氟化銨-鹽酸法設計并開展了四因素四水平正交實驗,正交實驗及極差分析見表3、表4。
表3 氟化銨-鹽酸法正交實驗結果表
表4 氟化銨-鹽酸法正交實驗極差分析表
各影響因素的極差分別為:RA=0.56,RB=1.61,RC=0.65,RD=0.63,即RB>RC>RD>RA。由此看來,4因素對實驗結果產(chǎn)生影響的主次順序為:反應時間、氟化銨濃度、液固比、反應溫度。說明制約提純效率的最主要因素是反應時間,其余因素次之。這是由于氟化銨-鹽酸體系與隱晶質(zhì)石墨中的雜質(zhì)反應需要足夠的時間,延長反應時間有利于酸與雜質(zhì)的充分反應,對固定碳含量的提高作用顯著。
按照1.3所述實驗步驟進行提純實驗,一次提純產(chǎn)品烘干后,重新加入氟化銨-鹽酸溶液進行再次提純。提純實驗次數(shù)依次為1次、2次、3次、4次、5次,所得提純產(chǎn)品分別記做X1—X5。
2.2.1 固定碳含量
表5 五組提純實驗產(chǎn)品的固定碳含量
從表5中可以看出,隨著提純次數(shù)的增加,石墨提純產(chǎn)品固定碳含量呈升高趨勢。提純次數(shù)從1次增加到2次時,固定碳含量升高顯著,從97.97%提高到99.12%。繼續(xù)增加提純次數(shù),固定碳含量不斷升高,但升高幅度逐漸減小。提純次數(shù)為5次時,石墨提純產(chǎn)品固定碳含量達到99.51%。
2.2.2 XRD結果分析
從圖1中可以看出,該隱晶質(zhì)石墨礦中除了石墨的特征衍射峰之外,還有石英、云母、沸石、高嶺土、硬石膏等雜質(zhì)的衍射峰。其中,石英特征峰明顯,強度較強且峰型尖銳。石墨特征峰與石英特征峰存在一定程度的重合,矮而寬,強度較弱,說明石墨含量大而結晶程度不高。這與隱晶質(zhì)石墨礦石品位較高而變質(zhì)程度相對較低的特征相符。
而從石墨產(chǎn)品X1的XRD圖譜中可以看出,原礦中特征明顯的石英、云母、高嶺土等衍射峰均消失,說明這部分雜質(zhì)經(jīng)氟化銨-鹽酸體系提純后已經(jīng)基本被脫除。這是因為氟化銨-鹽酸體系中的H+、F-對脫除礦石中硅酸鹽有非常好的效果。提純試驗中,石墨原礦中的石英、云母、高嶺土等硅酸鹽礦物雜質(zhì)與H+、F-反應生成SiF4等溶于水的化合物,經(jīng)過濾洗滌后除去。
除此之外,石墨產(chǎn)品X1的XRD圖譜中出現(xiàn)了方沸石、方解石、透輝石、鐵白云石等礦物雜質(zhì)的特征衍射峰,這在石墨原礦的XRD圖譜中并未出現(xiàn)。通過分析得知,出現(xiàn)這個現(xiàn)象的原因是,雜質(zhì)中含量較高的硅酸鹽礦物被脫除之后,原來被石英、云母等包裹或與其共生的其他雜質(zhì)才得以裸露在外,被檢測出來。并且,方解石、透輝石、鐵白云石等因含有Ca、Mg、Fe等金屬元素,易于F-反應生成金屬氟化物沉淀,較難脫除。
石墨產(chǎn)品X2、X3的XRD圖譜中,這些礦物雜質(zhì)的特征衍射峰依然存在,但峰高逐漸降低,及至X4的XRD圖譜中則完全消失。說明方沸石、方解石、透輝石、鐵白云石等礦物雜質(zhì)在多次提純后逐漸被脫除。
石墨產(chǎn)品X5的XRD圖譜中,僅剩石墨的特征衍射峰。與原礦的XRD圖譜對比可知,提純后石墨特征峰的位置并未發(fā)生改變。這說明,采用氟化銨-鹽酸法提純隱晶質(zhì)石墨不會改變其晶體結構。
2.2.3 SEM結果分析
采用掃描電鏡(SEM)對隱晶質(zhì)石墨原礦進行了分析,其表面形貌照片如圖3所示。從圖3(a)中可以看出,隱晶質(zhì)石墨呈土狀,顆粒形狀不規(guī)則且顆粒間粒徑差別較大厚薄不勻,屬隱晶質(zhì)石墨礦的典型特征。從進一步放大的圖3(b)中可以看出,隱晶質(zhì)石墨顆粒表面光滑、徑厚比大,初見片層狀特征。雜質(zhì)礦物呈現(xiàn)細小亮色碎屑狀,散布在石墨顆粒間或附著于顆粒表面。
(注:G—石墨;Z—沸石;M—云母;K—高嶺石;Q—石英;A—硬石膏。)圖1 隱晶質(zhì)石墨原礦的XRD圖譜Figure 1 XRD illustrative plates of aphanitic graphite raw ore
(注:G—石墨;Ana—方沸石;D—透輝石;C—方解石;Ank—鐵白云石。)圖2 石墨提純產(chǎn)品X1—X5的XRD圖譜Figure 2 XRD illustrative plates of graphite purified products X1—X5
采用掃描電鏡(SEM)對隱晶質(zhì)石墨提純產(chǎn)品X1—X5進行了分析,其表面形貌照片如圖4所示。
從圖中可以看出,石墨提純產(chǎn)品X1—X5的表面形貌特征大致相近,均呈土狀,顆粒形狀不規(guī)則,大小不均勻,厚薄有差異,與石墨原礦(圖3b)的基本特征一致。這說明用氟化銨-鹽酸法處理隱晶質(zhì)石墨,不會對石墨顆粒的表面形貌產(chǎn)生明顯影響。圖4的最后一張照片為石墨樣品X5的進一步放大照片,從中可以看出,隱晶質(zhì)石墨顆粒表面光滑,初見片層狀特征,部分鱗片邊緣棱角圓滑,徑厚比較大,但鱗片尺寸均較小,這也與隱晶質(zhì)石墨變質(zhì)程度較低、晶片直徑小的特征相符。
圖3 隱晶質(zhì)石墨原礦的SEM照片F(xiàn)igure 3 SEM plates of aphanitic graphite raw ores
圖4 石墨產(chǎn)品X1—X5的SEM圖Figure 4 SEM illustrative plates of graphite purified products X1—X5
本研究采用氟化銨-鹽酸法對陜西省鳳縣巖灣礦區(qū)隱晶質(zhì)石墨樣品進行了提純實驗研究。提純后固定碳測定結果顯示,隱晶質(zhì)石墨的提純效果在反應時間3h、氟化銨濃度40%、液固比4、反應溫度50℃時達到最大值,且4個影響因素的主次順序為:反應時間、氟化銨濃度、液固比、反應溫度。說明制約提純效率的最主要因素是反應時間,其余因素次之。從石墨產(chǎn)品的XRD和SEM表征得出結論,采用氟化銨-鹽酸法提純隱晶質(zhì)石墨,經(jīng)多次提純后,大部分雜質(zhì)礦物均可被脫除,提純效果顯著,且不會改變礦物的表面形貌和晶體結構。