淺談如何準(zhǔn)確站位本領(lǐng)域技術(shù)人員進行發(fā)明專利創(chuàng)造性的判斷

摘 要 在發(fā)明專利的實質(zhì)審查過程中，專利局是對基于發(fā)明專利的“三性”的全面審查，“三性”為：實用性、新穎性和創(chuàng)造性，而在對發(fā)明專利的“第一次審查意見通知書”中涉及創(chuàng)造性條款的比例超過一半，所以，對于一份發(fā)明專利是否具有創(chuàng)造性很大程度影響了該發(fā)明專利是否可以獲得授權(quán)，因此，提高審查員對于本領(lǐng)域技術(shù)人員的準(zhǔn)確理解可以提高整體專利的審查質(zhì)量，本文主要針對在創(chuàng)造性審查過程中如何準(zhǔn)確站位本領(lǐng)域技術(shù)人員進行淺要分析。

關(guān)鍵詞 本領(lǐng)域技術(shù)人員 創(chuàng)造性 判斷

作者簡介：路曉明，國家知識產(chǎn)權(quán)局專利局專利審查寫作中心天津中心審查員。

中圖分類號：D923.4 文獻標(biāo)識碼：A DOI：10.19387/j.cnki.1009-0592.2018.06.211

一、什么是本領(lǐng)域技術(shù)人員

在《專利審查指南》中對專利審查的實質(zhì)要件，包括新穎性、創(chuàng)造性、實用性、公開充分性和權(quán)利要求是否得到說明書的支持均可使用本領(lǐng)域技術(shù)人員 。本領(lǐng)域的技術(shù)人員是指一種假設(shè)的“人”，假定他知曉申請日或者優(yōu)先權(quán)日之前發(fā)明所屬技術(shù)領(lǐng)域的所有的普通技術(shù)知識，能夠獲知該領(lǐng)域中所有的現(xiàn)有技術(shù)，并且具有應(yīng)用該日期之前常規(guī)實驗手段的能力，但他不具有創(chuàng)造能力 ，可見，本領(lǐng)域技術(shù)人員是判斷的創(chuàng)造性主體和基石 ，在創(chuàng)造性判斷過程中要求審查員向本領(lǐng)域技術(shù)人員靠近，所以對審查員的知識水平要求比較高。準(zhǔn)確站位本領(lǐng)域技術(shù)人員需要審查員在審查過程不斷學(xué)習(xí)發(fā)明具體所屬技術(shù)領(lǐng)域的普通技術(shù)知識，所以準(zhǔn)確站位本領(lǐng)域技術(shù)人員需要審查員提高學(xué)習(xí)效率，平時多加注重專業(yè)知識積累。充分了解現(xiàn)有技術(shù)，通過學(xué)習(xí)申請日之前的工具書、教科書、相關(guān)論文和專利文獻等，掌握現(xiàn)有技術(shù)的整體情況，使審查員能夠具有本領(lǐng)域技術(shù)人員的知識能力和水平，可以避免因?qū)ΜF(xiàn)有技術(shù)的認(rèn)知不足和偏差造成對發(fā)明的誤判。

二、案例分析

（一）案例分析1

申請?zhí)枮?01410483545.2，發(fā)明名稱為一種二維柵格板的柵格點系統(tǒng)誤差自校準(zhǔn)方法的發(fā)明專利申請，涉及一種二維柵格板的柵格點系統(tǒng)誤差自校準(zhǔn)方法，屬于精密加工及測量領(lǐng)域，二維柵格板是一種能對檢測儀器的平面內(nèi)定為誤差進行校準(zhǔn)的標(biāo)準(zhǔn)器件，而由于制造工藝等原因，二維柵格板本身存在著柵格點系統(tǒng)誤差，使用前需要對它的進度進行標(biāo)定，該方法用于對二維柵格板自身系統(tǒng)誤差的校準(zhǔn)，因校準(zhǔn)誤差低于測量噪聲，即測量噪聲對最終結(jié)果造成的影響不會被放大。權(quán)利要求1 如下： 一種二維柵格板的柵格點系統(tǒng)誤差自校準(zhǔn)方法，其特征在于該方法按如下步驟進行：

1.將待校準(zhǔn)的二維柵格板（1）通過承載夾具放置在影像測量儀的工作臺（2）上，二維柵格板上的各個柵格點的系統(tǒng)誤差記為Sn，而每個柵格點所對應(yīng)的影像測量儀工作臺的系統(tǒng)誤差記為An，其中n=[1，N]，N為柵格點的個數(shù)。

2.在初始位置0上，利用影像測量儀依次讀取每個柵格點的中心坐標(biāo)，記讀數(shù)為M0，n，這個測量值由柵格系統(tǒng)誤差Sn，工作臺系統(tǒng)誤差A(yù)n，初始位置0的坐標(biāo)原點與虛擬坐標(biāo)原點的偏差O0以及測量噪聲E0，n所決定。

3.將二維柵格板相對于工作臺旋轉(zhuǎn)90度，使之固定于位置1上，同樣利用影像測量儀依次讀取每個柵格點的中心坐標(biāo)，記讀數(shù)為M1，n，這個測量值由柵格系統(tǒng)誤差Sn，工作臺系統(tǒng)誤差A(yù)n，位置1的坐標(biāo)原點與虛擬坐標(biāo)原點的偏差O1以及測量噪聲E1，n所決定。

4.將二維柵格板以初始位置0為基準(zhǔn)向左平移一個柵格間距，使之固定于位置2上，同樣利用影像測量儀依次讀取每個柵格點的中心坐標(biāo)，記讀數(shù)為M2，n，這個測量值由柵格系統(tǒng)誤差Sn，工作臺系統(tǒng)誤差A(yù)n，位置2的坐標(biāo)原點與虛擬坐標(biāo)原點的偏差O2以及測量噪聲E2，n所決定。

5.將二維柵格板以初始位置0為基準(zhǔn)向右平移一個柵格間距，使之固定于位置3上，同樣利用影像測量儀依次讀取每個柵格點的中心坐標(biāo)，記讀數(shù)為M3，n，這個測量值由柵格系統(tǒng)誤差Sn，工作臺系統(tǒng)誤差A(yù)n，位置3的坐標(biāo)原點與虛擬坐標(biāo)原點的偏差O3以及測量噪聲E3，n所決定。

6.將步驟2～5的4個位置得到的所有測量值以及各個未知參數(shù)建立矩陣方程：；其中Tn為使旋轉(zhuǎn)或平移后的柵格系統(tǒng)誤差與工作臺系統(tǒng)誤差一一對應(yīng)起來的轉(zhuǎn)換矩陣，由此求解出柵格系統(tǒng)誤差Sn，從而實現(xiàn)二維柵格板的柵格點系統(tǒng)誤差的自校準(zhǔn)。

本發(fā)明針對現(xiàn)有技術(shù)中使用更高精度的測量工具來標(biāo)定相對低精度的二維柵格板，而二維柵格板的系統(tǒng)誤差要求為亞微米或者納米級別，這就造成了無法輕易得到更高精度的測量工具進行標(biāo)定工作，因此，采用產(chǎn)生了一種稱為自校準(zhǔn)（self-calibration）的方法來解決此類標(biāo)定問題，采用重復(fù)測量精度與校準(zhǔn)精度匹配的測量裝置，通過對二維柵格板的不同位置下的測量數(shù)據(jù)進行計算，消除測量裝自身的系統(tǒng)誤差，得到二維柵格板的柵格點系統(tǒng)誤差，消除了現(xiàn)有技術(shù)中采用更高精度測量儀器的難點，通過該自校準(zhǔn)方法可以簡化流程，對高精度儀器也適用。CN1667359A、CN102519994A 和US5798947等多篇專利申請已公開了基于精密儀器的自動標(biāo)定方法，其中，CN1667359A公開了一種基于三個基本位置的重復(fù)測量方法，并提出了一種新的非線性優(yōu)化方法對二維工作臺實施自校準(zhǔn)，但該方法沒有考慮三個基本位置之間轉(zhuǎn)換時產(chǎn)生的坐標(biāo)原點偏差，導(dǎo)致最優(yōu)化結(jié)果存在問題，US5798947中的自校準(zhǔn)方法需要二維柵格板處在三個基本位置：初始位置、90度轉(zhuǎn)轉(zhuǎn)位置和平移一個柵格間距位置的重復(fù)測量，同時基于傅里葉變換對上述位置進行自校準(zhǔn)，在不計測量噪聲的情況下實現(xiàn)了沒有重構(gòu)誤差的自校準(zhǔn)，但是基于傅里葉變換原理的方法在測量噪聲上處理不足，會放大測量噪聲的影響。博士論文《基于誤差分離技術(shù)的超精密測量及校正方法研究》（以下稱對比文件1）公開了一種用于工作臺二維定位誤差的自校準(zhǔn)方法，并對工作臺定位誤差自校正的發(fā)展進行了梳理，包括二維定位誤差自校正的提出與發(fā)展，引用了數(shù)篇關(guān)于該方法的學(xué)術(shù)論文，并詳細(xì)敘述了其有缺點，而對比文件1 在上述學(xué)術(shù)論文的基礎(chǔ)上，也提出了一種用于工作臺二維定位誤差的自校準(zhǔn)方法，提出了基于線性方程組的二維定位誤差自校正方法，通過求解矩陣的最小二乘解可重構(gòu)出定位誤差，利用矩陣?yán)碚撝械恼`差傳遞函數(shù)理論，定量地給出了測量噪聲的誤差傳播率，在測量工程中二維工作臺處在三個基本位置：初始位置、90度轉(zhuǎn)轉(zhuǎn)位置和平移一個柵格間距位置的重復(fù)測量，通過矩陣變換求取變換前后最小二乘解，得到了工作臺定位誤差和柵格板柵格誤差的最優(yōu)估計值。因此，將該博士論文作為與本發(fā)明最接近的現(xiàn)有技術(shù)。而權(quán)利要求1 所要求保護的技術(shù)方案與對比文件1 的區(qū)別技術(shù)特征在于： 二維柵格板通過承載夾具放置在影像儀的工作臺上。而通過承載夾固定柵格板屬于本領(lǐng)域公知常識。因此權(quán)利要求1 相對于對比文件1 不具備創(chuàng)造性。申請人在收到第一次審查意見通知書后視撤。

由該案例可以看出，通過對技術(shù)發(fā)展進行摸索，可以總結(jié)出申請文件所屬技術(shù)領(lǐng)域的發(fā)展脈絡(luò)，得到技術(shù)領(lǐng)域中存在的關(guān)鍵性學(xué)術(shù)論文，結(jié)點性成果，而博士論文一般均會對所屬技術(shù)領(lǐng)域有一個可參考性比較強的技術(shù)綜述，因此，對比較前沿的技術(shù)領(lǐng)域，可以通過檢索相關(guān)的博碩士論文，摸清楚技術(shù)發(fā)展的脈絡(luò)，幫助審查員快速、高效的接近本領(lǐng)域技術(shù)人員，對發(fā)明的創(chuàng)造性有一個比較準(zhǔn)確、客觀的判斷。

（二）案例分析2

申請?zhí)枮?01210553195.3，發(fā)明名稱為孔深測量裝置的發(fā)明專利申請為一個巴黎公約申請，涉及一種手持式測量裝置，用于測量飛機元件上的孔的深度以及用于測量插入這種孔中的固定件的長度，簡言之是一種多功能測量工具，現(xiàn)有技術(shù)中，對于孔、套筒和螺栓等長度的測量一般為多個測量工具，該申請通過組合的方式將多個工具進行了組合，可以同時對多個元件的尺寸進行測量。權(quán)利要求1 如下：一種手持式測量裝置，所述測量裝置用于測量孔深和測量用于該孔的固定件的長度這兩者，其中，該測量裝置包括：細(xì)長部分，所述細(xì)長部分的末端具有鉤狀物，該鉤狀物被設(shè)置為用于在細(xì)長部分位于所述孔內(nèi)時使所述鉤狀物與孔的遠端接合；第一測量標(biāo)尺，當(dāng)鉤狀物與孔的遠端接合時，所述孔深能通過第一測量標(biāo)尺而被測定；第一結(jié)構(gòu)，所述第一結(jié)構(gòu)被設(shè)置為與用于該孔的固定件上的相應(yīng) 結(jié)構(gòu)相接合；以及第二測量標(biāo)尺，當(dāng)?shù)谝唤Y(jié)構(gòu)與固定件接合時，固定件的長度能通 過第二測量標(biāo)尺而被測定；其中，該測量裝置由塑料材料制成。本發(fā)明通過在細(xì)長部分的一端設(shè)置鉤狀物可以和孔的遠端結(jié)合也可以和固定件的遠端結(jié)合，通過第一測量標(biāo)尺和第二測量標(biāo)尺實現(xiàn)對孔深和固定件長度的測量，實現(xiàn)了多對元件的多功能測量，減小了工作的測量元件的使用。歐洲專利局和美國專利局采用CN101 67784的同族作為最接近的現(xiàn)有技術(shù)，對該申請的全部權(quán)利要求進行了評述，并最終作出了授權(quán)的決定。CN10167784公開了一種數(shù)字深度計，主要包括以下特征：細(xì)長部分、細(xì)長部分一端具有鉤狀物，鉤狀物用于與孔遠端結(jié)合、傳感器，傳感器用于測量與鉤狀物的距離。從該對比文件公開的技術(shù)特征可以看出，只是公開了該申請的一個發(fā)明點，即通過鉤狀物與孔結(jié)合測量孔的深度，而對于本領(lǐng)域技術(shù)人員來說，多功能尺或者同時可以進行多種測量的尺是一種比較常見設(shè)置，因此，這里給出了第二篇對比文件CN201633389U，該對比文件公開了一種多功能直尺，具有多個測量標(biāo)尺，并且由塑料制成，可以實現(xiàn)對多種不同構(gòu)件的測量，增加應(yīng)用場景。綜上，將歐洲專利局和美國專利局采用的對比文件作為最接近的現(xiàn)有技術(shù)，另一篇作為第二篇對比文件，對本申請的權(quán)利要求進行了評述。申請人在收到第一次審查意見通知書后視撤。

由該案例可以看出，提高審查員的知識水平可以加快對申請文件的理解，有利于審查員準(zhǔn)確站位本領(lǐng)域技術(shù)人員，審查員在審查過程中應(yīng)當(dāng)注意知識的學(xué)習(xí)和積累，靠近本領(lǐng)域技術(shù)人員可以有效提升審查質(zhì)量。

三、結(jié)語

創(chuàng)造性的判斷者更接近或者無限接近“本領(lǐng)域技術(shù)人員”可以接近對申請文件的客觀判斷 ，發(fā)明專利審查員準(zhǔn)確站位本領(lǐng)域技術(shù)人員可以有效提高審查質(zhì)量，通過對申請文件的閱讀和理解，對申請文件進行適當(dāng)?shù)亩ㄎ?，可以加快審查員對申請文件所述技術(shù)領(lǐng)域的知識的學(xué)習(xí)，快速、高效的完成審查工作。

注釋：

張小林.論專利法中的本領(lǐng)域普通技術(shù)人員.科技與法律.2001（6）.

中華人民共和國國家知識產(chǎn)權(quán)局.專利審查指.北京：知識產(chǎn)權(quán)出版社.2010.

A cornerstone in the determination of inventive step/non-obviousness is the fictitious “person skilled in the art”，See AIPPI，Resolution-Question Q217：The patentability criteria of inventive step/non-obviousness（Oct.18，2011）.

劉東華.本領(lǐng)域技術(shù)人員在專利創(chuàng)造性判斷中的作用反思.情報雜志.2016（11）.