余慶豐,賴宇昕
(中國(guó)人民解放軍總參謀部61764部隊(duì),海南 三亞 572000)
天線方向圖是天線的輻射方向圖的簡(jiǎn)稱,是天線的輻射功率通量密度、場(chǎng)強(qiáng)、相位和極化等輻射參量隨空間方向變化的圖形表示。根據(jù)天線方向圖的圖形可確定天線的波瓣寬度、波束寬度、副瓣電平和方向系數(shù)等參數(shù)。方向圖測(cè)試是衛(wèi)星地面接收測(cè)控系統(tǒng)天線測(cè)試的重要內(nèi)容之一。
方向圖測(cè)試一般都采用高架天線測(cè)試場(chǎng)。該方法能有效抑制來(lái)自地面、環(huán)境等反射波對(duì)測(cè)量的影響,要求將發(fā)射天線架設(shè)在較高的塔上,一般為衛(wèi)星地面站的標(biāo)校塔,被測(cè)天線在衛(wèi)星地面站塔基上。為取得良好的方向圖測(cè)試結(jié)果,需要對(duì)測(cè)試場(chǎng)的性能做出適當(dāng)?shù)脑u(píng)價(jià),以便發(fā)現(xiàn)測(cè)試場(chǎng)的不足和選擇合適的測(cè)試場(chǎng)。目前,測(cè)試場(chǎng)的評(píng)價(jià)手段比較欠缺,因而研究測(cè)試場(chǎng)性能綜合評(píng)價(jià)方法具有重要的現(xiàn)實(shí)意義。
天線測(cè)試場(chǎng)是測(cè)量或鑒定天線的場(chǎng)所,是天線方向圖測(cè)試不可或缺的組成部分[1]。測(cè)試場(chǎng)性能情況對(duì)天線方向圖測(cè)試產(chǎn)生重要影響,不符合條件的測(cè)試場(chǎng)可能導(dǎo)致天線方向圖測(cè)試不準(zhǔn)確,難以取得可靠的測(cè)試結(jié)論。
天線測(cè)試場(chǎng)主要?jiǎng)澐譃殡娍菇鼒?chǎng)區(qū)、輻射近場(chǎng)區(qū)和輻射遠(yuǎn)場(chǎng)區(qū),如圖1所示。在輻射近場(chǎng)區(qū),場(chǎng)的角分布與距離有關(guān),天線各單元對(duì)觀察點(diǎn)的貢獻(xiàn),其相對(duì)相位和相對(duì)幅度是離開(kāi)天線距離的函數(shù);在輻射遠(yuǎn)場(chǎng)區(qū),角分布與距離無(wú)關(guān)[2]。衛(wèi)星地面接收測(cè)控系統(tǒng)天線都工作于遠(yuǎn)場(chǎng)條件。因此,在遠(yuǎn)場(chǎng)條件下的天線方向圖測(cè)試才具有實(shí)際意義。
圖1 天線測(cè)試場(chǎng)的區(qū)域劃分
根據(jù)測(cè)試場(chǎng)在天線方向圖測(cè)試中主要影響因素的特點(diǎn),有以下假設(shè):
(1)天線接收面為平面,遮擋天線接收面任意部位的單位面積對(duì)天線方向圖測(cè)試的影響是一致的,忽略電磁波的衍射和天線在方向圖測(cè)試過(guò)程中的轉(zhuǎn)動(dòng)帶來(lái)的影響。
(2)測(cè)試路徑上的電磁環(huán)境是穩(wěn)定不變的。
(3)不考慮地球曲率的影響。
天線方向圖測(cè)試中測(cè)試場(chǎng)性能的影響因素較多,僅用單項(xiàng)指標(biāo)難以客觀地反映測(cè)試場(chǎng)性能情況,可將層次分析法運(yùn)用于測(cè)試場(chǎng)性能綜合評(píng)價(jià)中。以測(cè)試場(chǎng)性能綜合評(píng)價(jià)指數(shù)Q作為總指標(biāo),以遠(yuǎn)場(chǎng)條件A1、系統(tǒng)內(nèi)干擾A2及系統(tǒng)外干擾A3作為一級(jí)指標(biāo),以測(cè)試距離B1、發(fā)射天線架設(shè)高度B2、測(cè)試場(chǎng)遮擋B3及發(fā)射場(chǎng)電磁環(huán)境B4作為二級(jí)指標(biāo),以各個(gè)標(biāo)校塔作為方案層,建立層次結(jié)構(gòu)分析模型,如圖2所示。
2.3.1 遠(yuǎn)場(chǎng)條件評(píng)價(jià)參數(shù)。如果測(cè)試距離達(dá)不到遠(yuǎn)場(chǎng)條件而處于近場(chǎng)環(huán)境中,直接測(cè)得的結(jié)果肯定會(huì)有不小的誤差,因?yàn)樵诮鼒?chǎng)區(qū)域,天線方向圖不但與角度有關(guān),還與距離有關(guān),不同的距離,其天線方向圖不同。為得到較為理想的待測(cè)天線遠(yuǎn)場(chǎng)方向圖參數(shù),發(fā)射天線與被測(cè)天線之間的距離應(yīng)滿足[3]:
圖2 天線測(cè)試場(chǎng)性能綜合評(píng)價(jià)體系
其中,R為收、發(fā)天線之間的距離,D為待測(cè)天線的直徑,d為發(fā)射天線直徑,λ為工作波長(zhǎng)。
由于衛(wèi)星地面站天線測(cè)試中所用發(fā)射天線均為小口徑喇叭天線,因而d可忽略, (1)式可簡(jiǎn)化為:
由(2)式可知,隨著工作頻率的增長(zhǎng),測(cè)試中所需的收、發(fā)天線之間的最小距離也在增大。同時(shí),在指定測(cè)試頻率下,遠(yuǎn)場(chǎng)條件滿足一定距離即可,因而評(píng)價(jià)參數(shù)存在最大值為1,即:
其中,IA1為遠(yuǎn)場(chǎng)條件評(píng)價(jià)參數(shù),IB1為測(cè)試距離評(píng)價(jià)參數(shù),Ri為測(cè)試距離,Rmin為理論上應(yīng)滿足的最小測(cè)試距離。
2.3.2 系統(tǒng)內(nèi)干擾評(píng)價(jià)參數(shù)。
(1)發(fā)射天線架設(shè)高度評(píng)價(jià)參數(shù)。遠(yuǎn)場(chǎng)條件下,為減少地面反射引起的干擾,發(fā)射天線口面中心距離地面的高度h應(yīng)滿足[4]:
其中θ0.5為被測(cè)天線主波束半功率點(diǎn)寬度,θ0.5=
由(4)式可看出,隨著頻率的增高,測(cè)試距離隨之增大,但發(fā)射天線架設(shè)高度并不呈現(xiàn)線性增長(zhǎng)的關(guān)系,這是由于被測(cè)天線的半功率波束寬度θ0.5隨著頻率的增高而變窄。同時(shí),在指定測(cè)試頻率下,發(fā)射天線架設(shè)高度滿足一定高度即可,因而評(píng)價(jià)參數(shù)存在最大值為1,即:
其中,IB2為發(fā)射天線架設(shè)高度評(píng)價(jià)參數(shù),hi為測(cè)試距離,hmin為理論上應(yīng)滿足的最小發(fā)射天線架設(shè)高度。
(2)測(cè)試場(chǎng)遮擋評(píng)價(jià)參數(shù)。天線方向圖測(cè)試要求盡量在一個(gè)自由空間測(cè)試場(chǎng),收、發(fā)天線之間存在一條無(wú)遮擋或低遮擋的測(cè)試路徑。這就要求測(cè)試場(chǎng)應(yīng)為開(kāi)闊的場(chǎng)地,避免出現(xiàn)大的障礙物遮擋。為定量分析測(cè)試場(chǎng)的遮擋情況,使接收天線對(duì)準(zhǔn)發(fā)射天線,在發(fā)射天線處設(shè)置望遠(yuǎn)鏡,觀察接收天線的遮擋情況,并拍下照片,進(jìn)行遮擋情況分析。接收天線的接收面被遮擋的面積越大,測(cè)試場(chǎng)的遮擋情況越差。當(dāng)遮擋的面積達(dá)到一定的比例時(shí),測(cè)試得到的天線方向圖難以成形。因此,可定義測(cè)試場(chǎng)遮擋評(píng)價(jià)參數(shù)為:
其中,IB3為測(cè)試場(chǎng)遮擋評(píng)價(jià)參數(shù),S遮為測(cè)試場(chǎng)遮擋面積,S收為接收天線接收面的面積。
(3)系統(tǒng)內(nèi)干擾評(píng)價(jià)參數(shù)。建立兩兩比較矩陣,結(jié)果見(jiàn)表1。
表1 兩兩比較矩陣A2-B
由表1可確定權(quán)重向量為(0.25 0.75)T,即:
結(jié)合(5)、 (6)式可得:
2.3.3 系統(tǒng)外干擾評(píng)價(jià)參數(shù)。為盡可能降低對(duì)測(cè)試的影響,提高測(cè)試精度,要求測(cè)試場(chǎng)不能有影響測(cè)試的電磁信號(hào)的干擾。電磁環(huán)境較為復(fù)雜,對(duì)天線方向圖測(cè)試產(chǎn)生影響的只是電磁環(huán)境中的特定頻率,對(duì)測(cè)試沒(méi)有影響的頻率無(wú)需考慮。
發(fā)射天線未發(fā)信號(hào)時(shí),接收下變頻器輸出信號(hào)的底噪主要由信道噪聲和環(huán)境噪聲構(gòu)成。信道噪聲與信道設(shè)備有關(guān),一般變化不大,因而接收下變頻器輸出信號(hào)的底噪間接反映了環(huán)境噪聲對(duì)測(cè)試的不利影響。同時(shí),為取得歸一化結(jié)果,定義系統(tǒng)外干擾評(píng)價(jià)參數(shù)為:頻器底噪,包括信道噪聲和環(huán)境噪聲。環(huán)境噪聲影響越小,則IA3越趨向于1,反之則趨向于0。
在綜合多種評(píng)價(jià)指標(biāo)時(shí),以權(quán)值反映不同評(píng)價(jià)因子對(duì)評(píng)價(jià)對(duì)象的重要程度[5-6]??紤]到系統(tǒng)外干擾僅對(duì)特定頻率的測(cè)試有一定影響,而且通過(guò)提高發(fā)射功率,增加接收天線的衰減值,可達(dá)到抑制干擾的目的,因而將系統(tǒng)外干擾的權(quán)重定為最低;即使不滿足遠(yuǎn)場(chǎng)條件,也可通過(guò)一定的變化、運(yùn)算及修正,由近場(chǎng)測(cè)試、緊縮場(chǎng)測(cè)試等得到等效遠(yuǎn)場(chǎng)測(cè)試方向圖,因而將遠(yuǎn)場(chǎng)條件的權(quán)重定為中等;系統(tǒng)內(nèi)干擾主要由測(cè)試場(chǎng)設(shè)計(jì)條件決定,對(duì)各個(gè)測(cè)試頻率都有不同程度的影響,因而將系統(tǒng)內(nèi)干擾的權(quán)重定為最大。
建立兩兩比較矩陣,結(jié)果見(jiàn)表2。
表2 兩兩比較矩陣Q-A
其中,IA3為系統(tǒng)外干擾評(píng)價(jià)參數(shù);IB4為電磁環(huán)境評(píng)價(jià)參數(shù);δ天為天線對(duì)天時(shí)下變頻器底噪,主要由信道噪聲引起;δ測(cè)為天線方向圖測(cè)試條件下下變
由Matlab軟件可求得比較矩陣最大特征值λmax=3.0037,對(duì)應(yīng)的特征向量ω=(0.3288 0.9281 0.1747)T。將該特征向量歸一化,得到權(quán)重向量ω0=(0.2297 0.6483 0.1220)T。
為驗(yàn)證比較矩陣的可信度,進(jìn)行一致性檢驗(yàn)[5]:
計(jì)算一致性指標(biāo)為:
查找相應(yīng)的平均隨機(jī)一致性指標(biāo)R.I.,得到三階R.I.=0.52,計(jì)算一致性比率為:
由C.R.的值說(shuō)明比較矩陣的不一致程度是可接受的。因此,可確定歸一化權(quán)重向量ω0可用(見(jiàn)表3)。
表3 評(píng)價(jià)指標(biāo)Q權(quán)重
評(píng)價(jià)指數(shù)Q的計(jì)算公式為:
其中,IA1, IA2, IA3分別為遠(yuǎn)場(chǎng)條件、系統(tǒng)內(nèi)干擾和系統(tǒng)外干擾等一級(jí)指標(biāo)的單項(xiàng)評(píng)價(jià)參數(shù)。
綜合(3)、 (8)、 (9)、 (12)式可得:
某衛(wèi)星地面測(cè)控站需要進(jìn)行天線方向圖測(cè)試,現(xiàn)有測(cè)試場(chǎng)1和測(cè)試場(chǎng)2。為在測(cè)試中取得良好的天線方向圖,需要選擇一個(gè)適當(dāng)?shù)臏y(cè)試場(chǎng)進(jìn)行天線方向圖測(cè)試。測(cè)試場(chǎng)的參數(shù)見(jiàn)表4。
表4 測(cè)試場(chǎng)的參數(shù)
測(cè)試場(chǎng)在不同頻率下的評(píng)價(jià)情況有所不同。在某個(gè)頻點(diǎn)下,測(cè)試場(chǎng)1的綜合性能可能比測(cè)試場(chǎng)2優(yōu);而在另一個(gè)頻點(diǎn)下,測(cè)試場(chǎng)1的綜合性能可能比測(cè)試場(chǎng)2劣。這主要是由于不同頻率的測(cè)試要求不同造成的。為體現(xiàn)這種差異,選取S波段、C波段及X波段中的三個(gè)頻點(diǎn)作為評(píng)價(jià)目標(biāo)進(jìn)行評(píng)價(jià)。不同頻率和不同測(cè)試場(chǎng)下底噪測(cè)試結(jié)果見(jiàn)表5。
表5 不同頻率和不同測(cè)試場(chǎng)下底噪測(cè)試結(jié)果 dBm
由(2)、 (4)式可求得理論最小測(cè)試距離和理論發(fā)射天線最小架設(shè)高度(見(jiàn)表6)。
將表4~表6的數(shù)據(jù)代入(13)式中,可求得天線方向圖測(cè)試中測(cè)試場(chǎng)性能綜合評(píng)價(jià)指數(shù)Q(見(jiàn)表7)。
表6 理論最小測(cè)試距離和理論發(fā)射天線最小架設(shè)高度
表7 天線方向圖測(cè)試中測(cè)試場(chǎng)性能綜合評(píng)價(jià)指數(shù)Q
由表7可知,測(cè)試場(chǎng)2在S波段、C波段及X波段中的綜合評(píng)價(jià)指數(shù)均比測(cè)試場(chǎng)1的綜合評(píng)價(jià)指數(shù)高。為更直觀地體現(xiàn)評(píng)價(jià)的可信度,分別在測(cè)試場(chǎng)1和測(cè)試場(chǎng)2中對(duì)測(cè)試頻點(diǎn)3GHz、10GHz進(jìn)行天線方向圖測(cè)試,結(jié)果如圖3~圖4所示。
由圖3可知,測(cè)試場(chǎng)1的3GHz天線方向圖測(cè)試結(jié)果明顯不如測(cè)試場(chǎng)2的測(cè)試結(jié)果;由圖4可知,測(cè)試場(chǎng)1的10GHz天線方向圖測(cè)試結(jié)果不成形,與測(cè)試場(chǎng)2的測(cè)試結(jié)果差距較為明顯。這表明評(píng)價(jià)指數(shù)與天線方向圖的效果一致性較好。參照實(shí)測(cè)天線方向圖結(jié)果,結(jié)合表7的評(píng)分情況,為綜合評(píng)價(jià)指數(shù)Q設(shè)計(jì)四級(jí)標(biāo)準(zhǔn)(見(jiàn)表8)。通過(guò)對(duì)綜合評(píng)價(jià)指數(shù)的進(jìn)一步分級(jí),從整體上更為全面地了解和把握測(cè)試場(chǎng)性能情況。
圖3 在測(cè)試場(chǎng)1和測(cè)試場(chǎng)2中對(duì)3GHz進(jìn)行天線方向圖測(cè)試
圖4 在測(cè)試場(chǎng)1和測(cè)試場(chǎng)2中對(duì)10GHz進(jìn)行天線方向圖測(cè)試
表8 測(cè)試場(chǎng)性能綜合評(píng)價(jià)指數(shù)Q分類
根據(jù)表8的分類等級(jí)劃分,測(cè)試場(chǎng)1屬于C, D級(jí),測(cè)試場(chǎng)2屬于A, B級(jí),測(cè)試場(chǎng)2比測(cè)試場(chǎng)1的測(cè)試場(chǎng)性能更優(yōu)。
天線方向圖測(cè)試是衛(wèi)星地面接收測(cè)控系統(tǒng)天線測(cè)試的一項(xiàng)重要內(nèi)容。在進(jìn)行天線方向圖測(cè)試時(shí),應(yīng)滿足一定的測(cè)試場(chǎng)條件。測(cè)試場(chǎng)性能決定天線方向圖測(cè)試效果的優(yōu)劣。為取得良好的天線方向圖測(cè)試結(jié)果,需要對(duì)測(cè)試場(chǎng)性能做出適當(dāng)?shù)脑u(píng)價(jià),以便發(fā)現(xiàn)測(cè)試場(chǎng)的不足和選擇合適的測(cè)試場(chǎng),但目前缺乏針對(duì)測(cè)試場(chǎng)的評(píng)價(jià)機(jī)制。針對(duì)測(cè)試場(chǎng)性能評(píng)價(jià)的需求,本文提出基于層次分析法的測(cè)試場(chǎng)性能綜合評(píng)價(jià)方法。通過(guò)對(duì)天線方向圖測(cè)試中測(cè)試場(chǎng)性能主要影響因素進(jìn)行分析,確定測(cè)試距離、發(fā)射天線架設(shè)高度、測(cè)試場(chǎng)遮擋面積及發(fā)射場(chǎng)電磁環(huán)境等關(guān)鍵指標(biāo),建立層次結(jié)構(gòu)分析模型。根據(jù)各指標(biāo)參數(shù)的特點(diǎn),研究各單項(xiàng)評(píng)價(jià)參數(shù),結(jié)合歸一化權(quán)重值,生成測(cè)試場(chǎng)性能綜合評(píng)價(jià)指數(shù),為天線方向圖測(cè)試中測(cè)試場(chǎng)性能做出綜合評(píng)價(jià)。根據(jù)綜合評(píng)價(jià)模型,分析測(cè)試場(chǎng)1和測(cè)試場(chǎng)2在天線方向圖測(cè)試中的性能表現(xiàn)。測(cè)試結(jié)果表明,評(píng)價(jià)指數(shù)與天線方向圖測(cè)試結(jié)果一致性較好,從而驗(yàn)證了評(píng)價(jià)方法的有效性。