余廷義
摘 要:本文主要針對(duì)元件精度的問題,以及元器件老化問題,提出相關(guān)解決措施和方案。
關(guān)鍵詞:電子鎮(zhèn)流器、元件精度、三極管、多功能篩選儀
一、背景
電子鎮(zhèn)流器、節(jié)能燈生產(chǎn)廠家大多用圖示儀對(duì)晶體管進(jìn)行測試,但圖示儀讀數(shù)不直觀,沒有自動(dòng)報(bào)警功能,操作極其不便,不適合生產(chǎn)線大批量檢測使用。特別是漏電流及耐壓測試非常麻煩,多數(shù)企業(yè)只能抽檢,無法全檢。而且,圖示儀無法測試晶體管開關(guān)時(shí)間,用其控制質(zhì)量就顯得不夠全面。針對(duì)這種情況,結(jié)合電子鎮(zhèn)流器的特殊要求, UI9600A晶體管多功能篩選儀成為大家的首選。
然而,由于元件精度的問題,以及元器件老化問題,會(huì)出現(xiàn)各檔位電測試電流和測試電壓儀器之間有微小的差異,從而導(dǎo)致各臺(tái)UI9600A晶體管多功能篩選儀之間有一定差異,從而導(dǎo)致精確測量,或要求范圍較小時(shí)篩選的結(jié)果就不太令人滿意。其主要表現(xiàn)為,各臺(tái)儀器間有部分檔位測試有差異或每個(gè)檔位都有差異。
二、三極管開關(guān)時(shí)間理論
三極管工作在開關(guān)狀態(tài)時(shí),其內(nèi)部電荷的建立與消散都需要一定的時(shí)間。因此,如圖一(b部分)所示集電極電流 iC的變化總是滯后于輸入電壓ui的變化,這說明三極管由截止變?yōu)轱柡突蛴娠柡妥優(yōu)榻刂苟夹枰欢ǖ臅r(shí)間。
當(dāng)輸入ui由UR正跳到UF時(shí),發(fā)射區(qū)開始向基區(qū)擴(kuò)散電子,并形成基極電流iB。同時(shí)基區(qū)積累的電子流向集電區(qū)形成集電極電流iC。隨著基區(qū)積累電子的增多,iC不斷增大,直到最大值IC(sat),三極管進(jìn)入飽和狀態(tài)。這時(shí),如iB繼續(xù)增大時(shí),基區(qū)內(nèi)存儲(chǔ)電荷更多,三極管飽和加深。通常把從ui正跳變開始到iC上升到0.9IC(sat)所需的時(shí)間稱為開通時(shí)間,用ton表示。
當(dāng)輸入ui由UR正跳到UF時(shí),基區(qū)中存儲(chǔ)的大量電荷開始消散,在存儲(chǔ)電荷消散前,iC=IC(sat)不變。隨著存儲(chǔ)電荷的消散,三極管的飽和深度變淺。存儲(chǔ)電荷消失后,三極管進(jìn)入放大區(qū)并轉(zhuǎn)向截止。通常把從ui負(fù)跳變開始到iC下降到0.1IC(sat)所需的時(shí)間稱為關(guān)斷時(shí)間,用toff表示。
圖一 三極管開關(guān)理想特性與實(shí)際特性
晶體管的開關(guān)波形中,開啟過程又分為延遲和上升兩個(gè)過程,關(guān)斷過程又分為存儲(chǔ)和下降兩個(gè)過程,則晶體管總的開關(guān)時(shí)間共有4個(gè):延遲時(shí)間td,上升時(shí)間tr,存儲(chǔ)時(shí)間ts和下降時(shí)間tf;ton=td+tr,toff=ts+tf.存儲(chǔ)時(shí)間ts就是晶體管從過飽和狀態(tài)(集電結(jié)正偏的狀態(tài))退出到臨界飽和狀態(tài)(集電結(jié)0偏的狀態(tài))所需要的時(shí)間,也就是基區(qū)和集電區(qū)中的過量存儲(chǔ)電荷消失的時(shí)間;。而這些過量少子存儲(chǔ)電荷的消失主要是依靠復(fù)合作用來完成,所以從器件設(shè)計(jì)來說,減短存儲(chǔ)時(shí)間的主要措施有如:在集電區(qū)摻Au等來減短集電區(qū)的少子壽命(以減少集電區(qū)的過量存儲(chǔ)電荷和加速過量存儲(chǔ)電荷的消失;但是基區(qū)少子壽命不能減得太短,否則會(huì)影響到電流放大系數(shù)),盡可能減小外延層厚度(以減少集電區(qū)的過量存儲(chǔ)電荷)。而從晶體管使用來說,減短存儲(chǔ)時(shí)間的主要措施有如:基極輸入電流脈沖的幅度不要過大(以避免晶體管飽和太深,使得過量存儲(chǔ)電荷減少),增大基極抽取電流(以加快過量存儲(chǔ)電荷的消失速度)。
三、I9600多功能篩選儀功能及原理說明
1. 測量參數(shù)有 放大倍數(shù)β
開關(guān)時(shí)間(上升時(shí)間、存儲(chǔ)時(shí)間、下降時(shí)間) 飽和壓降VCES及正向壓降VBE漏電流ICEO及耐壓BVCEO
2.對(duì)測試的開關(guān)時(shí)間、β進(jìn)行分檔,可顯示批號(hào);對(duì)V CES、V BE、I CEO、BV CEO進(jìn)行超限判斷,不合格的發(fā)出聲光報(bào)警,并用指示燈指明哪一項(xiàng)不合格。 3. 測試條件可按要求自由調(diào)節(jié)或設(shè)定。
② 測試Ib注入電流分三檔:0.1mA、1mA、10mA;
②開關(guān)時(shí)間測試Ic電流有四檔0.5A、0.25A、0.1A、0.05A;對(duì)應(yīng)Ib電流為0.1A、0.05A、0.02A、0.01A; ③VBE、VCES的測量條件同開關(guān)時(shí)間測試條件; ④漏電流ICEO測試電壓50~650V連續(xù)可調(diào);
β測試Ib注入電流分三檔:0.1mA、1mA、10mA;
TS測試的基本原理如圖二所示,當(dāng)輸入電壓vi由-V1 跳變到+V2時(shí),三極管從截止到開始導(dǎo)通所需要的時(shí)間稱為延遲時(shí)間td。 經(jīng)過延遲時(shí)間td后,iC不斷增大。iC上升到最大值的90%所需要的時(shí)間稱為上升時(shí)間tr 。當(dāng)輸入電壓vi由+V2跳變到-V1時(shí),集電極電流從ICS到下降至0.9ICS所需要的時(shí)間稱為存儲(chǔ)時(shí)間ts。集電極電流由0.9ICS降至0.1ICS所需的時(shí)間稱為下降時(shí)間tf。重點(diǎn)說一下ts的計(jì)算,由于測試ts時(shí),都是測試管飽和導(dǎo)通,所以當(dāng)集電極電流為ICS時(shí),VCE為0.3 左右;當(dāng)集電極電流為0.9ICS時(shí),VCE=VCC-0.9ICS *RC= VCC -0.9(VCC -VCE(sat))=0.1 VCC +0.9 VCE(sat)。
所以測試時(shí),在基極加一個(gè)足以使三極管飽和導(dǎo)通的方波,再監(jiān)測VC處電壓變化并記錄集電極電流為0.9 ICS及0.1ICS的時(shí)的時(shí)間。I9600A多功能篩選儀測量TS的部分電路圖三。電路中有四檔測試條件, J1、J2、J3、J4分別和J5、J6、J7、J8同步開關(guān),正常情況下四組開關(guān)中始終有一組處于閉合狀態(tài),相當(dāng)于有4組不同的Rb和RC值。圖中的三極管BJT即為待測三極管,R9連接待測三極管的基極,并通過電壓跟隨器U4監(jiān)控基極電壓。當(dāng)電壓小于低電壓時(shí),儀器就開始進(jìn)行測試程序,進(jìn)行測試相關(guān)參數(shù)。本文只介紹TS的測試,其它參數(shù)就不進(jìn)行說明。在進(jìn)行開關(guān)時(shí)間測試時(shí),是通過兩個(gè)電壓比較器U2和U3確定“ICS到下降至0.9ICS”和“ICS到下降至0.1ICS”這兩個(gè)時(shí)間點(diǎn)。
按照開關(guān)時(shí)間的定義,重點(diǎn)說一下ts的計(jì)算,由于測試ts時(shí),都是測試管飽和導(dǎo)通,所以當(dāng)集電極電流為ICS時(shí),VCE為0.3 左右;當(dāng)集電極電流為0.9ICS時(shí),VCE=VCC-0.9ICS *RC= VCC -0.9(VCC -VCE(sat))=0.1 VCC +0.9 VCE(sat)。在UI9600A多功能篩選儀中,測試電源電壓為5伏,所以集電極電流從ICS到下降至0.9ICS時(shí),VCE的電壓為0.5+0.28=0.78伏。在電路圖中,R14的分壓值就選取為0.78左右,也就是U2的比較器的負(fù)端比較值。同理R15就是集電極電流從ICS到下降至0.1ICS時(shí),VCE的值。
四、I9600多功能篩選儀優(yōu)化方案
首先從推導(dǎo)的公式看,TS涉及到VCC和VCE(sat)兩個(gè),所以TS測量準(zhǔn)確跟測試電壓的穩(wěn)定有關(guān)系,和三極管的飽和程度也有關(guān)系。具體到電路中,前者一定要保證測量電壓VCC準(zhǔn)確和穩(wěn)定,后者要保證基極和集電極電流穩(wěn)定,也就是要保證電路中的各檔位電阻值的穩(wěn)定,不要產(chǎn)生電感性、電容性阻抗,減少阻值溫度變化。其次從電路上看,U2和U3的精度以及其負(fù)端的比較電壓的穩(wěn)定都會(huì)影響開關(guān)時(shí)間的測量(對(duì)TS來說就是U2)。最后還有系統(tǒng)的晶振是否穩(wěn)定,因?yàn)橄到y(tǒng)測量三極管開關(guān)時(shí)間肯定用到了系統(tǒng)時(shí)鐘。
儀器使用久后會(huì)出現(xiàn)測試不穩(wěn)定,不準(zhǔn)確都可已從以上三個(gè)方面去查找問題。在產(chǎn)線上使用I9600A多功能篩選儀時(shí),希望多臺(tái)測試的結(jié)果盡量一致,我們也可以從上面的角度去思考。至少有兩種方式去解決這個(gè)問題,一是改變飽和度,即調(diào)整測試電壓與電流大?。欢歉淖儨y量電路中的比較電壓值。第一種方法只需要把Rb和RC變?yōu)榭烧{(diào)即可。我將介紹第二種方法。
由于儀器的每個(gè)元件的實(shí)際性能不完全一樣,也就造成每個(gè)儀器測試時(shí)會(huì)產(chǎn)生差異。儀器出廠時(shí)都會(huì)對(duì)儀器進(jìn)行測試,并把校對(duì)到一個(gè)可以接受的范圍,這就需要綜合考慮各個(gè)檔位的情況。而我們使用時(shí)是希望每個(gè)檔位各個(gè)儀器盡可能一樣。前面分析TS測量準(zhǔn)確的因素,所以按照?qǐng)D四所示,與J5、J6、J7、J8一樣,J9、J10、J11、J12分別和J1、J2、J3、J4是同步開關(guān),這樣就可以改變各個(gè)檔位的比較值,而不是所有檔位都使用一個(gè)電壓比較值。因此,各臺(tái)儀器間便可以各個(gè)檔位按樣管值進(jìn)校對(duì),以達(dá)到各個(gè)檔位測試值的統(tǒng)一(但由于測試電壓和電流的的差異,也不太可能每只樣管都能達(dá)到一樣的值,只能是盡可能多的一致)。但是,需要注意電位器的選擇,盡可能選取較大阻值,不可影響5V電壓的穩(wěn)定。
五、結(jié)束語
經(jīng)過改裝在線多臺(tái)測試儀,從測試效果來看,儀器間各檔差異顯著變小,調(diào)節(jié)后一段時(shí)間內(nèi)也能保持較為一致的測試結(jié)果。