黃 瑞,趙春蓮,明 鑫,朱 里
(天津津能易安泰科技有限公司,天津 300384)
隨著動(dòng)力電池生產(chǎn)制造水平的提高和需求量的急劇增長(zhǎng),電池管理系統(tǒng)的組織架構(gòu)也變得龐大復(fù)雜,尤其是電動(dòng)汽車的應(yīng)用升溫加速了電池管理系統(tǒng)的研發(fā)。但電池管理的整體研發(fā)目前仍處于不斷研發(fā)和探索的階段。保證電池組的質(zhì)量和安全性是電池管理的主要目的,因此對(duì)電池體系的安全性研究已成為當(dāng)前電池領(lǐng)域的研究熱點(diǎn)[1]。
電池組的質(zhì)量?jī)?yōu)劣不單單取決于每塊電芯的性能,更重要的在于電池管理系統(tǒng)的可靠與否。要提高電池組使用的安全性,除了進(jìn)行深入的機(jī)理研究、選擇合適的電極材料及優(yōu)化整體結(jié)構(gòu)、通過(guò)電池外圍的集成電路對(duì)電池進(jìn)行有效的管理之外,還需要有合適的測(cè)試平臺(tái)對(duì)電池管理系統(tǒng)進(jìn)行性能測(cè)試。通過(guò)測(cè)試平臺(tái)對(duì)電池管理系統(tǒng)的檢測(cè),可剔除功能不達(dá)標(biāo)、性能不可靠的產(chǎn)品,保證動(dòng)力電池組的整體質(zhì)量。
本文闡述的平臺(tái)基于PXI硬件架構(gòu)設(shè)計(jì),采用LabVIEW作為開發(fā)環(huán)境,適用于多種大功率電池管理系統(tǒng)的性能測(cè)試。系統(tǒng)應(yīng)用PXI技術(shù),不僅可以完成兼具高性能和低成本的測(cè)量與自動(dòng)化系統(tǒng)的開發(fā),還保證了未來(lái)對(duì)系統(tǒng)進(jìn)行升級(jí)和維護(hù)的便捷性。
測(cè)試平臺(tái)的總體架構(gòu)主要由硬件系統(tǒng)和軟件系統(tǒng)構(gòu)成,如圖1所示。硬件系統(tǒng)提供測(cè)試所需的所有硬件資源和接口,該平臺(tái)的硬件系統(tǒng)由控制機(jī)、測(cè)試機(jī)和接口電路組成。軟件系統(tǒng)由操作系統(tǒng)、數(shù)據(jù)交互和測(cè)試控制組成。數(shù)據(jù)交互和測(cè)試控制基于LabVIEW開發(fā)環(huán)境進(jìn)行設(shè)計(jì),主要實(shí)現(xiàn)平臺(tái)界面設(shè)計(jì)、測(cè)試流程的編輯與控制、測(cè)試結(jié)果的判斷、測(cè)試數(shù)據(jù)的顯示與分析、系統(tǒng)自檢、系統(tǒng)資源配置和控制等功能[2]。
該系統(tǒng)可配合生產(chǎn)管理的需求,接入生產(chǎn)管理局域網(wǎng)中,從而實(shí)現(xiàn)對(duì)測(cè)試設(shè)備進(jìn)行遠(yuǎn)程控制、數(shù)據(jù)傳輸和統(tǒng)一管理等高效的管理功能。
圖1 測(cè)試平臺(tái)架構(gòu)Fig.1 Structure of auto test platform
為了保證產(chǎn)品的安全性和可靠性,測(cè)試平臺(tái)需要對(duì)電池管理系統(tǒng)的全部功能進(jìn)行逐一檢測(cè)。針對(duì)電池管理系統(tǒng)的特點(diǎn),本系統(tǒng)具有的功能包括:
基本特性測(cè)試空載電壓測(cè)試、靜態(tài)自耗電流(工作和休眠狀態(tài))測(cè)試、導(dǎo)通電阻測(cè)試、ID電阻測(cè)試、熱敏電阻測(cè)試;
基本保護(hù)功能測(cè)試過(guò)壓保護(hù)(恢復(fù))功能(OV)、低壓保護(hù)(恢復(fù))功能(UV)、高溫保護(hù)(恢復(fù))功能(OT)、低溫保護(hù)(恢復(fù))功能(UT)、過(guò)流保護(hù)功能(OC)、短路保護(hù)(恢復(fù))功能(SC)、保護(hù)延時(shí)、電池?zé)峁芾恚?/p>
其他功能電池均衡管理(均衡開啟/停止電壓,均衡電流)、電池狀態(tài)指示及報(bào)警、通訊功能、電池荷電狀態(tài)、電池組/電芯健康狀態(tài)評(píng)價(jià)。
該平臺(tái)的硬件系統(tǒng)由控制機(jī)、測(cè)試機(jī)和接口電路組成,如圖2所示??刂茩C(jī)主要是上位工控機(jī),本平臺(tái)選用研華工控機(jī),擔(dān)任控制機(jī)并承載人機(jī)交互系統(tǒng),通過(guò)PXI和RS232實(shí)現(xiàn)與各測(cè)試機(jī)之間進(jìn)行指令傳輸以及接收數(shù)據(jù)反饋。測(cè)試機(jī)包含PXI機(jī)箱、PXI功能板卡、大功率電源、電子負(fù)載、內(nèi)阻儀和高精度數(shù)字萬(wàn)用表等精密儀器。測(cè)試機(jī)由串口和PCI Express接口與計(jì)算機(jī)相連,直接受計(jì)算機(jī)控制。系統(tǒng)中的內(nèi)阻儀、數(shù)字萬(wàn)用表(DMM)和PXI板卡作為測(cè)量單元;電子負(fù)載和電源為測(cè)試提供環(huán)境,模擬電池組的各種工作狀態(tài);PXI板卡同時(shí)作為控制單元,實(shí)現(xiàn)系統(tǒng)資源的切換調(diào)用,完成測(cè)試點(diǎn)與測(cè)試單元的連接,形成測(cè)試回路;再通過(guò)PCI和RS232協(xié)議將測(cè)試數(shù)據(jù)上傳到上位機(jī),由上位機(jī)完成數(shù)據(jù)的分析處理。由于控制機(jī)與電池管理系統(tǒng)之間需要進(jìn)行接口轉(zhuǎn)換(RS485轉(zhuǎn)RS232),并且測(cè)試機(jī)中的測(cè)試頭需要在不同測(cè)試點(diǎn)之間進(jìn)行切換,因此在系統(tǒng)中加入接口電路,實(shí)現(xiàn)自動(dòng)測(cè)試。接口電路受控制機(jī)和測(cè)試機(jī)共同控制,滿足測(cè)試需求。
圖2 測(cè)試平臺(tái)硬件架構(gòu)Fig.2 Structure of auto test platform hardware
為了保證系統(tǒng)測(cè)量精度,本系統(tǒng)中選用高精度高分辨率的儀器儀表,每一個(gè)儀器儀表都有良好的抗干擾能力,同時(shí)具有自檢功能。線性電源采用IT 6500 series可程控直流電源,具有大范圍的電壓80 V~150 V,電流 30 A~120 A的組合,一般采用串聯(lián)或并聯(lián)組合方式使用;電子負(fù)載采用IT 8500 series可編程直流電子負(fù)載,電流電壓范圍大,具有定電壓CV、定功率CW、定電流CC和定電阻CR模式,遠(yuǎn)端測(cè)量、短路測(cè)試、電池測(cè)試以及動(dòng)態(tài)測(cè)試多功能[3];萬(wàn)用表采用 NI產(chǎn)品 PXI-4071,可快速準(zhǔn)確地進(jìn)行±10 nV~1000 V范圍內(nèi)的電壓測(cè)量、±1 pA~3 A 范圍內(nèi)的電流測(cè)量、10 μΩ~5 GΩ 的電阻測(cè)量;選用NI公司的數(shù)據(jù)采集卡,進(jìn)行保護(hù)功能延時(shí)測(cè)試[4]。測(cè)試機(jī)與被測(cè)電源管理系統(tǒng)的接口電路結(jié)構(gòu)如圖3所示。
圖3 測(cè)試平臺(tái)接口電路結(jié)構(gòu)Fig.3 Structure of test platform interface circuit
一般鋰動(dòng)力電池管理系統(tǒng)有 P+、P-、B+、B-、ID、TH、電池串等測(cè)試點(diǎn),有的會(huì)有通訊接口;進(jìn)行電性能檢測(cè)時(shí)需進(jìn)行過(guò)壓保護(hù)(恢復(fù))、低壓保護(hù)(恢復(fù))、過(guò)流保護(hù)(恢復(fù))、短路保護(hù)(恢復(fù))、均衡功能(均衡開啟/停止電壓,均衡電流)、自耗電流、內(nèi)阻、保護(hù)(恢復(fù))延時(shí)等十幾項(xiàng)測(cè)試,甚至通訊功能的測(cè)試,各項(xiàng)測(cè)試所需儀器板卡(電源、電子負(fù)載、萬(wàn)用表等)各不相同。接口電路功能為接收I/O板卡指令,將被測(cè)物的測(cè)試點(diǎn)與測(cè)試機(jī)的連線進(jìn)行切換,形成測(cè)試回路,以達(dá)到測(cè)試目的。同時(shí),由于I/O板卡輸出功率較低,不足以驅(qū)動(dòng)繼電器正常工作,因此在接口電路中需要用到繼電器驅(qū)動(dòng)電路。
測(cè)試平臺(tái)在待機(jī)狀態(tài)時(shí),各測(cè)試儀器板卡(電源、電子負(fù)載、萬(wàn)用表等)的接線端需置空置以防止設(shè)備損壞。該接口電路可通過(guò)上位機(jī)的控制實(shí)現(xiàn)儀器板卡接線端的通斷。
系統(tǒng)硬件平臺(tái)主要基于PXI架構(gòu)設(shè)計(jì),PXI是一種堅(jiān)固的基于PC的測(cè)量和自動(dòng)化平臺(tái),PXI結(jié)合了PCI的電氣總線特性與Compact PCI的堅(jiān)固性、模塊化及Eurocard機(jī)械封裝的特性,并擁有針對(duì)高性能測(cè)試應(yīng)用的成熟的定時(shí)和觸發(fā)功能。利用PXI技術(shù)建立的ATE系統(tǒng)性能遠(yuǎn)超于只采用VXI和GPIB接口的ATE系統(tǒng),且尺寸更加精簡(jiǎn),占有成本優(yōu)勢(shì)[4]。
本測(cè)試平臺(tái)將替代從前基于非標(biāo)準(zhǔn)的、專用硬件和軟件的單用途測(cè)試系統(tǒng),采用模塊化的功能板卡做為系統(tǒng)硬件架構(gòu)的基礎(chǔ),使產(chǎn)品的價(jià)位降低和性能提高,用戶可為滿足當(dāng)前的測(cè)試要求選擇相應(yīng)的模塊,亦可著眼于將來(lái)測(cè)試升級(jí)的需要,更換若干模塊而不是更換整個(gè)測(cè)試系統(tǒng)。而且更加有利于用戶的定制化設(shè)計(jì),用戶可以按自身需要選擇相應(yīng)的功能模塊來(lái)搭建測(cè)試平臺(tái);當(dāng)測(cè)試平臺(tái)需要升級(jí)或增減任何功能時(shí),只需更換其中的模塊化板卡即可實(shí)現(xiàn);而且客戶在測(cè)試機(jī)的空余插槽可任意添加標(biāo)準(zhǔn)化的PXI板卡,實(shí)現(xiàn)成本的最優(yōu)控制。
測(cè)試平臺(tái)除了必要的硬件基礎(chǔ)外,控制機(jī)中的數(shù)據(jù)管理軟件、系統(tǒng)維護(hù)軟件和權(quán)限管理軟件也必不可少。所有儀器獲取的測(cè)量數(shù)據(jù)將通過(guò)分析軟件進(jìn)行智能計(jì)算,通過(guò)友好的操作界面迅速直觀地顯示出結(jié)果報(bào)告,節(jié)省生產(chǎn)環(huán)節(jié)耗時(shí),縮減產(chǎn)品成本,提高經(jīng)濟(jì)效益。同時(shí)測(cè)試平臺(tái)通過(guò)維護(hù)軟件實(shí)現(xiàn)系統(tǒng)自檢和矯正,及時(shí)排除系統(tǒng)故障,保證穩(wěn)定生產(chǎn)。
LabVIEW是一種程序開發(fā)環(huán)境,由美國(guó)國(guó)家儀器NI公司研制開發(fā),類似于C和BASIC開發(fā)環(huán)境,但與其他計(jì)算機(jī)語(yǔ)言的顯著區(qū)別是LabVIEW使用的是圖形化編輯語(yǔ)言G編寫程序,產(chǎn)生的程序是框圖的形式。該開發(fā)環(huán)境集成了工程師和科學(xué)家快速構(gòu)建各種應(yīng)用所需的所有工具,旨在幫助工程師和科學(xué)家解決問(wèn)題、提高生產(chǎn)力和不斷創(chuàng)新。因此本平臺(tái)基于LabVIEW 2013進(jìn)行開發(fā)設(shè)計(jì)[5]。
本軟件架構(gòu)如圖4所示。根據(jù)用戶權(quán)限登錄,進(jìn)入系統(tǒng)主界面,在測(cè)試管理界面,可以自行根據(jù)待測(cè)系統(tǒng)的電氣特性和電氣參數(shù)等工藝要求,進(jìn)行測(cè)試流程以及測(cè)試參數(shù)的編輯與設(shè)置,并保存在系統(tǒng)中;待被測(cè)對(duì)象接入電路,加載測(cè)試流程,開始測(cè)試,根據(jù)測(cè)試流程控制測(cè)試順序和測(cè)試回路的切換,測(cè)試數(shù)據(jù)上傳到上位機(jī),動(dòng)態(tài)實(shí)時(shí)顯示,同時(shí)測(cè)試數(shù)據(jù)會(huì)自動(dòng)根據(jù)日期以TXT、Excel等文件的形式進(jìn)行保存,便于后期質(zhì)量分析和產(chǎn)品追溯;在數(shù)據(jù)管理界面,可加載測(cè)試結(jié)果文件及相應(yīng)的流程文件,由上位機(jī)完成數(shù)據(jù)的分析處理,分析結(jié)果數(shù)據(jù),生成報(bào)表,進(jìn)行數(shù)據(jù)查詢等;在系統(tǒng)維護(hù)界面,可進(jìn)行系統(tǒng)資源的配置,定期對(duì)系統(tǒng)進(jìn)行自檢,以及用戶管理等。
圖4 軟件系統(tǒng)結(jié)構(gòu)Fig.4 Software system architecture diagram
選擇菜單欄中的編輯菜單下的 “編輯測(cè)試流程”選項(xiàng),彈出流程編輯界面,輸入測(cè)試模式、電池管理系統(tǒng)類型、串?dāng)?shù)及型號(hào),在測(cè)試項(xiàng)目欄中點(diǎn)擊選擇測(cè)試項(xiàng)后,設(shè)置參數(shù)并保存,系統(tǒng)以測(cè)試模式和電池管理系統(tǒng)型號(hào)的組合命名形式保存測(cè)試流程,便于管理和調(diào)用。界面如圖5所示。
圖5 編輯測(cè)試流程Fig.5 Edit test procedure
在進(jìn)行系統(tǒng)測(cè)試前,需根據(jù)被測(cè)物的類型,編輯或加載測(cè)試程序。若系統(tǒng)中沒(méi)有預(yù)存該類型被測(cè)物測(cè)試程序,需按照測(cè)試流程編輯進(jìn)行操作;若系統(tǒng)已有該類型的測(cè)試程序,則按照下列步驟進(jìn)行操作:
加載流程點(diǎn)擊操作面板中的 “打開測(cè)試項(xiàng)”按鈕,彈出流程文件加載選擇窗口,選擇需要測(cè)試的電池管理系統(tǒng)所對(duì)應(yīng)的流程文件。加載完成后流程文件的信息會(huì)在信息欄中的 “電池管理系統(tǒng)型號(hào)”中顯示,測(cè)試項(xiàng)目的相關(guān)信息也會(huì)在測(cè)試結(jié)果窗口表格中顯示。
設(shè)置生產(chǎn)編號(hào)點(diǎn)擊設(shè)置生產(chǎn)批號(hào)按鈕或者菜單欄中相應(yīng)菜單,打開設(shè)置生產(chǎn)批號(hào)對(duì)話框。選擇編號(hào)形式(自動(dòng)編號(hào)、手動(dòng)編號(hào)、掃碼),進(jìn)行相應(yīng)的設(shè)置后,則生產(chǎn)批號(hào)信息會(huì)在信息欄中的生產(chǎn)批號(hào)中顯示,如圖6所示。
圖6 設(shè)置生產(chǎn)編號(hào)Fig.6 Set production number
保存數(shù)據(jù)、測(cè)試方式和測(cè)試/調(diào)試設(shè)置在工具選板中設(shè)置是否保存測(cè)試結(jié)果數(shù)據(jù)。測(cè)試方式選框中可以選擇“精確”或“快速”2種模式。在精確測(cè)試模式下,“過(guò)充保護(hù)”、“過(guò)充恢復(fù)”、“過(guò)放保護(hù)”、“過(guò)放恢復(fù)”、“過(guò)流保護(hù)”和“過(guò)流恢復(fù)”等項(xiàng)目將測(cè)量出精確數(shù)值,但耗時(shí)較長(zhǎng)。在快速測(cè)試模式下,以上6項(xiàng)將只判定在給定“設(shè)定值”的條件下電池管理系統(tǒng)是否能夠通過(guò)測(cè)試。此項(xiàng)默認(rèn)為精確模式。設(shè)置測(cè)試/調(diào)試模式:若設(shè)置為測(cè)試模式,在測(cè)試過(guò)程中如有測(cè)試項(xiàng)目結(jié)果為“fail”,則停止后面測(cè)試項(xiàng)目的測(cè)試;如果設(shè)置為調(diào)試模式,則在測(cè)試過(guò)程所有測(cè)試項(xiàng)目都會(huì)測(cè)試。調(diào)試模式適合工程師觀察所有測(cè)試項(xiàng)目的測(cè)試值,便于編輯省時(shí)高效的測(cè)試流程。此項(xiàng)默認(rèn)為測(cè)試模式。
測(cè)試點(diǎn)擊操作面板的運(yùn)行按鈕或者菜單欄中的運(yùn)行選項(xiàng),操作人員將被測(cè)電池管理系統(tǒng)放入測(cè)試夾具,觸動(dòng)微動(dòng)開關(guān),按照測(cè)試流程,控制硬件系統(tǒng)進(jìn)行自動(dòng)測(cè)試。若測(cè)試結(jié)果為“pass”,則測(cè)試界面背景色為綠色,設(shè)備前面板對(duì)應(yīng)指示燈為綠色;反之,則背景色、指示燈都為紅色;當(dāng)測(cè)試正在進(jìn)行中時(shí),前面板指示燈為黃色,背景色顯示為上次測(cè)量結(jié)果所對(duì)應(yīng)顏色。
停止測(cè)試在測(cè)試過(guò)程中如欲進(jìn)行其他操作,首先點(diǎn)擊停止按鈕,此時(shí)可以進(jìn)行重新加載流程,對(duì)統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)清零等操作。
清零點(diǎn)擊停止按鈕后,按下清零按鈕,測(cè)試信息被清零,當(dāng)再次點(diǎn)擊執(zhí)行測(cè)試按鈕時(shí),重新統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)。
在測(cè)試過(guò)程中,動(dòng)態(tài)顯示測(cè)試數(shù)據(jù)和判斷結(jié)果,自動(dòng)統(tǒng)計(jì)測(cè)試時(shí)間、測(cè)試數(shù)量以及合格率,并實(shí)時(shí)顯示在信息統(tǒng)計(jì)表中。同時(shí)所有測(cè)試數(shù)據(jù)保存在數(shù)據(jù)庫(kù)中,便于查詢和追溯。
利用系統(tǒng)資源配置功能進(jìn)行平臺(tái)的硬件資源配置,生成配置文件,在系統(tǒng)更新時(shí)只需導(dǎo)入配置文件,即可快速完成系統(tǒng)資源配置。界面如圖7所示。
圖7 系統(tǒng)資源配置Fig.7 System resource allocation
系統(tǒng)具有自檢功能,主要用于系統(tǒng)的日常維護(hù),并生成自檢報(bào)告。在自檢前,需保證測(cè)試端為空載狀態(tài)。界面如圖8所示。
圖8 系統(tǒng)自檢Fig.8 System self-test
利用用戶管理功能進(jìn)行用戶帳號(hào)和密碼的管理和存儲(chǔ),系統(tǒng)管理員可進(jìn)行帳號(hào)的申請(qǐng)和刪除,密碼和權(quán)限的更改。
在該窗口中可以加載測(cè)試結(jié)果數(shù)據(jù),進(jìn)行數(shù)據(jù)分析;可以保存分析圖表到用戶指定路徑。
選擇所要分析的數(shù)據(jù)文件和相應(yīng)流程文件。文件中的數(shù)據(jù)會(huì)以各種圖表的形式顯示,“測(cè)試次數(shù)-測(cè)試值曲線”為單個(gè)測(cè)試項(xiàng)的數(shù)據(jù)曲線,“不良品分析柱狀圖”顯示所有不良品中不良測(cè)試項(xiàng)的分布規(guī)律,“三維餅圖”指示出所有不良品中不良項(xiàng)占據(jù)的比例關(guān)系。
在“測(cè)試項(xiàng)選擇”下拉列表中選擇需要進(jìn)行分析的測(cè)試項(xiàng),在“數(shù)據(jù)顯示選擇”下拉列表中選擇顯示類型(全部顯示、良品顯示、不良品顯示)。例如在“測(cè)試項(xiàng)選擇”列表中選定“自耗電流”項(xiàng)并在“數(shù)據(jù)顯示選擇”列表中選定“良品顯示”,則程序會(huì)在“測(cè)試次數(shù)-測(cè)試值曲線”中顯示出通過(guò)“自耗電流”檢測(cè)為良品的所有測(cè)試結(jié)果。若在“顯示模式選擇”中選擇 “數(shù)據(jù)顯示”,則會(huì)將該文件中的數(shù)據(jù)加載到“測(cè)試數(shù)據(jù)”表中。數(shù)據(jù)分析界面如圖9所示。
圖9 數(shù)據(jù)分析Fig.9 Data analysis
在觀察分析的過(guò)程中,用戶可以點(diǎn)擊“導(dǎo)出圖像”按鈕,彈出導(dǎo)出圖像至文件對(duì)話框,選擇圖像類型及圖像存放路徑,確定并導(dǎo)出圖像。
在菜單欄中選擇數(shù)據(jù)查詢,選擇查詢條件,可選擇按照產(chǎn)品編號(hào)和測(cè)試日期2種方式進(jìn)行查詢,根據(jù)實(shí)際情況輸入產(chǎn)品編號(hào)或者選擇測(cè)試日期后,點(diǎn)擊查詢按鈕,在下面列表中即可顯示查詢數(shù)據(jù),可按下導(dǎo)出按鈕,導(dǎo)出查詢數(shù)據(jù),如圖10所示。
在菜單欄中選擇生成報(bào)表,在窗口中選擇報(bào)表格式,填入測(cè)試員和被測(cè)物型號(hào)信息,確定后即可生成報(bào)表,如圖11所示。
圖10 數(shù)據(jù)查詢Fig.10 Data query
圖11 數(shù)據(jù)報(bào)表Fig.11 Data report
該平臺(tái)調(diào)試完成后,對(duì)大量不同類型不同串?dāng)?shù)的電池管理系統(tǒng)進(jìn)行了測(cè)試實(shí)驗(yàn),實(shí)驗(yàn)證明,該平臺(tái)能滿足現(xiàn)有的不同電池管理系統(tǒng)的性能測(cè)試,能夠保證電池管理系統(tǒng)性能的穩(wěn)定性,確保電池組能夠安全工作,降低了電池管理系統(tǒng)的測(cè)試成本,提高了測(cè)試效率。同時(shí)平臺(tái)主要應(yīng)用PXI技術(shù),不僅可以完成兼具高性能和低成本的測(cè)量與自動(dòng)化系統(tǒng)的開發(fā),還保證了未來(lái)對(duì)系統(tǒng)進(jìn)行升級(jí)和維護(hù)的便捷性。實(shí)踐證明,通過(guò)Window XP操作環(huán)境加上擴(kuò)展的PXI總線機(jī)箱、PXI儀器和通道模塊,構(gòu)成的新一代測(cè)試技術(shù)和測(cè)試策略,在統(tǒng)一測(cè)試環(huán)境下,對(duì)測(cè)試資源可更有效地使用,更快地進(jìn)行測(cè)試設(shè)計(jì)和運(yùn)行、更具編程的靈活性??蓪?duì)生產(chǎn)、產(chǎn)量、質(zhì)量和生產(chǎn)線的變化作出快速反應(yīng)。
綜上所述,通過(guò)該測(cè)試平臺(tái)對(duì)電池管理系統(tǒng)的檢測(cè),可剔除功能不達(dá)標(biāo)、性能不可靠的產(chǎn)品,以保證動(dòng)力電池組的整體質(zhì)量。平臺(tái)具有自動(dòng)化測(cè)試程度高、運(yùn)行穩(wěn)定、測(cè)試準(zhǔn)確率高、可擴(kuò)展能力強(qiáng)等特點(diǎn)。
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