星上電纜自動(dòng)導(dǎo)通絕緣測(cè)試儀的設(shè)計(jì)與開發(fā)

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(北京衛(wèi)星環(huán)境工程研究所，北京 100094)

星上電纜自動(dòng)導(dǎo)通絕緣測(cè)試儀的設(shè)計(jì)與開發(fā)

魏鵬，李志明，鄭麗得

(北京衛(wèi)星環(huán)境工程研究所，北京100094)

星上電纜在航天器系統(tǒng)工程中起到了傳遞能量和信息的關(guān)鍵作用，并且其上天后具有不可修復(fù)性，這就決定了它在電性能檢測(cè)方面必須做到高質(zhì)量與高可靠;針對(duì)傳統(tǒng)人工方式進(jìn)行導(dǎo)通絕緣測(cè)試時(shí)工作強(qiáng)度大、檢測(cè)效率低下和可信度低等缺點(diǎn)，設(shè)計(jì)并開發(fā)了一種星上電纜自動(dòng)導(dǎo)通絕緣測(cè)試儀;該儀器基于模塊化設(shè)計(jì)的思想采用中央控制器對(duì)各個(gè)模塊單元進(jìn)行控制來分別實(shí)現(xiàn)測(cè)試通道自動(dòng)切換、測(cè)試電壓的供給、星上電纜導(dǎo)通絕緣電阻的數(shù)據(jù)采集、通訊、存儲(chǔ)和顯示;實(shí)踐結(jié)果表明，星上電纜自動(dòng)導(dǎo)通絕緣測(cè)試儀一方面可以提高電纜導(dǎo)通絕緣測(cè)試的可靠性，增強(qiáng)質(zhì)量控制；另一方面，可以提高效率，節(jié)省生產(chǎn)周期，降低勞動(dòng)強(qiáng)度。

星上電纜; 導(dǎo)通測(cè)試; 絕緣測(cè)試; 自動(dòng)測(cè)試; 模塊化設(shè)計(jì)

0 引言

電纜常用于短距離內(nèi)電能的輸送和控制信號(hào)的傳遞，隨著自動(dòng)化水平的逐步提升，火箭、衛(wèi)星等航天設(shè)備中使用的電纜日漸增多。而統(tǒng)計(jì)研究表明，航天設(shè)備中有超過20%的系統(tǒng)故障是由于電纜失效引起的，電纜發(fā)生故障已經(jīng)成為影響系統(tǒng)整體可靠性的一個(gè)極為重要的因素。因此對(duì)航天設(shè)備的電纜進(jìn)行導(dǎo)通絕緣測(cè)試具有非常重要的意義[1-4]。

傳統(tǒng)的星上電纜導(dǎo)通絕緣測(cè)試主要是以人工逐點(diǎn)測(cè)試的方式進(jìn)行，不同的測(cè)試方式需要不同的接線方式，因此需要人工多次接線，這種測(cè)試方式占用大量的人力和時(shí)間，對(duì)少量的電纜測(cè)試還可以適用，但是對(duì)于大量的電纜測(cè)試來說，依靠傳統(tǒng)的人工測(cè)量方法，不僅效率私下，檢測(cè)可靠性也差，并且極大的可能存在測(cè)試覆蓋性不全的情況[5-6]。

針對(duì)上述問題和測(cè)試工作中的實(shí)際要求，本文設(shè)計(jì)開發(fā)了一套星上電纜自動(dòng)測(cè)試裝置。該裝置能夠自動(dòng)完成電纜中被測(cè)信號(hào)的測(cè)試通道切換并具備相關(guān)的數(shù)據(jù)采集、通訊、存儲(chǔ)和顯示功能，可以大幅度提高電纜測(cè)試的自動(dòng)化程度和工作效率。

1 星上電纜自動(dòng)導(dǎo)通絕緣測(cè)試儀測(cè)試原理

1)電纜的導(dǎo)通測(cè)試，即測(cè)試電纜內(nèi)部某兩接點(diǎn)構(gòu)成的閉合回路的導(dǎo)線阻值，原理如圖1所示。進(jìn)行導(dǎo)通測(cè)試時(shí)，將被測(cè)的兩個(gè)接點(diǎn)同時(shí)接入測(cè)試通道，形成一個(gè)閉合的回路，然后測(cè)量該回路電壓值。根據(jù)歐姆定律計(jì)算得到被測(cè)阻值，然后根據(jù)回路阻值判斷所測(cè)電纜是否導(dǎo)通，如式(1)所示。

由歐姆定律，滿足：

(1)

得到：

(2)

式中，U為測(cè)試加載電壓；Ux為Rx的端電壓；Rx為待測(cè)電纜的阻值；R1為已知的標(biāo)準(zhǔn)限流電阻，R2為已知的標(biāo)準(zhǔn)分壓電阻。

2)電纜的絕緣測(cè)試采用了漏電流法測(cè)試，就是將電連接器的接點(diǎn)接入不同的測(cè)試通道，在測(cè)試通道間施加直流電壓，如果被測(cè)接點(diǎn)與另一被測(cè)接點(diǎn)之間絕緣，就不會(huì)產(chǎn)生漏電流，反之就會(huì)測(cè)到漏電電壓，原理如圖2所示。

根據(jù)全電路歐姆定律可知:

(3)

得到：

(4)

式中，U為測(cè)試加載電壓；U2為R2的端電壓；Rx為待測(cè)絕緣電纜的阻值；R1為已知的標(biāo)準(zhǔn)限流電阻，R2為已知的標(biāo)準(zhǔn)分壓電阻。

在測(cè)量出分壓U2后，便可根據(jù)上式計(jì)算出絕緣電阻Rx，并將其與輸入文件進(jìn)行對(duì)比，進(jìn)而判斷線纜是否絕緣。

圖1 導(dǎo)通測(cè)試原理圖 圖2 絕緣測(cè)試原理圖

2 硬件設(shè)計(jì)

2.1 星上電纜自動(dòng)檢測(cè)系統(tǒng)硬件構(gòu)成

相對(duì)于體積較大的通用線纜測(cè)試儀，本檢測(cè)系統(tǒng)在硬件系統(tǒng)構(gòu)成上向小型化，集成化發(fā)展，使之成為能靈活適應(yīng)各種工況的電纜測(cè)試系統(tǒng)[7-10]。星上電纜自動(dòng)檢測(cè)系統(tǒng)主要由中央控制單元、信號(hào)引入連接單元、繼電器開關(guān)控制單元、測(cè)試電壓產(chǎn)生單元、測(cè)試電路單元、數(shù)據(jù)處理單元、數(shù)據(jù)存儲(chǔ)與顯示單元和串行數(shù)據(jù)通訊單元等部分組成，其硬件構(gòu)成如圖3所示。

圖3 星上電纜自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)組成框圖

1) 中央控制單元：中央控制單元采用了EMB3680嵌入式工控機(jī), EMB-3680是一款超低功耗3寸工業(yè)主板，采用AMD LX700 + CS5536芯片組，CPU頻率是600 MHz。配備了512 M的DDR333內(nèi)存，容量最大為1 GB。AMD LX700內(nèi)建圖形控制器，支持VGA/TFT/LVDS顯示輸出，支持4個(gè)USB2.0，4個(gè)COM口和2個(gè)10/100 Mbit/s自適應(yīng)以太網(wǎng)絡(luò)接口，提供1個(gè)PC104插槽。中央控制單元采用了串口方式來控制其他的執(zhí)行模塊.測(cè)試單元和輸出控制單元均采用C8051系列單片機(jī),通過接收中央控制單元的信號(hào)來實(shí)現(xiàn)對(duì)各個(gè)模塊的實(shí)時(shí)控制.在系統(tǒng)中，根據(jù)不同的測(cè)試要求，編寫相應(yīng)的控制指令，存儲(chǔ)在DSP程序存儲(chǔ)器中。測(cè)試啟動(dòng)后，控制器執(zhí)行相應(yīng)的指令代碼，實(shí)現(xiàn)對(duì)測(cè)試電壓產(chǎn)生單元、繼電器開關(guān)控制單元等其他單元的控制，并對(duì)采集的數(shù)據(jù)進(jìn)行計(jì)算處理。

2) 信號(hào)引入連接單元：該單元主要由即插件DB-128與接線電纜組成，即插件將被測(cè)電纜插頭各插針(如128針插頭電纜，1-128管腳)信號(hào)全部引入繼電器開關(guān)的輸入端，如圖4所示，其中每個(gè)管腳的信號(hào)分別與相應(yīng)的兩個(gè)繼電器開關(guān)在電氣上連接，如管腳1 與開關(guān)K1-1、K1-2電氣連接，管腳2 與開關(guān)K2-1、K2-2電氣連接，以這種方式將全部被測(cè)信號(hào)引入測(cè)試系統(tǒng)中；

圖4 被測(cè)信號(hào)引入與開關(guān)控制設(shè)計(jì)框圖

3) 繼電器開關(guān)控制單元：該單元主要由繼電器開關(guān)和相應(yīng)的驅(qū)動(dòng)控制電路組成。測(cè)量過程中，需要不斷的切換被測(cè)信號(hào)的測(cè)量通道，雖然電纜上的被測(cè)信號(hào)已被引入測(cè)試系統(tǒng)中，但是在電氣上是否被接入測(cè)量電路，由與之對(duì)應(yīng)的繼電器開關(guān)的通斷狀態(tài)決定，而繼電器開關(guān)控制單元就決定著開關(guān)的通斷狀態(tài)，是系統(tǒng)設(shè)計(jì)的關(guān)鍵部分。儀器的中央控制單元按照測(cè)量要求，發(fā)出相應(yīng)的控制指令，通過驅(qū)動(dòng)電路驅(qū)動(dòng)繼電器控制端信號(hào)，實(shí)現(xiàn)對(duì)繼電器開關(guān)的控制，完成開關(guān)通斷狀態(tài)的自動(dòng)切換；

4) 測(cè)試電壓產(chǎn)生單元和測(cè)試電路單元：測(cè)試直流高壓產(chǎn)生電路主要由變壓器升壓電路、倍壓整流電路、測(cè)量反饋電路等組成。工作原理是低壓直流電源經(jīng)過控制器產(chǎn)生可調(diào)脈寬和頻率的方波，經(jīng)過功率管斬波進(jìn)入高壓脈沖變壓器進(jìn)行升壓，然后再通過倍壓整流電路進(jìn)行再升壓和整流，在高壓輸出端通過分壓電路進(jìn)行反饋，使輸出電壓穩(wěn)定到要求的輸出電壓。通過控制器可以改變PWM的脈寬和頻率，從而實(shí)現(xiàn)電壓的可控輸出,輸出用于進(jìn)行導(dǎo)通和絕緣測(cè)試時(shí)需要的穩(wěn)定直流電壓，相應(yīng)可產(chǎn)生50 V/100 V/250 V/500 V幅值的直流電壓；

5) 數(shù)據(jù)處理單元：本單元由AD轉(zhuǎn)換器和相應(yīng)的信號(hào)處理電路組成，信號(hào)處理電路包括信號(hào)放大電路和信號(hào)分壓電路，如圖5所示。中央控制單元根據(jù)不同的測(cè)量功能和測(cè)量范圍，發(fā)出相應(yīng)的控制命令，驅(qū)動(dòng)信號(hào)處理電路對(duì)標(biāo)準(zhǔn)電阻兩端的信號(hào)進(jìn)行處理，然后由AD采集處理后的電壓信號(hào)，并將采集的數(shù)據(jù)傳送給中央控制單元。采樣電路通過分壓電阻網(wǎng)絡(luò)，進(jìn)入量程切換電路，控制器通過采樣輸入的電壓，根據(jù)采樣電壓的幅值，進(jìn)行量程切換，改變放大器的放大倍數(shù)，使進(jìn)入控制器的電壓信號(hào)始終在AD采樣電路的量程內(nèi)。

圖5 數(shù)據(jù)采集單元原理框圖

6) 數(shù)據(jù)存儲(chǔ)與顯示單元：該單元由EEPROM數(shù)據(jù)存儲(chǔ)器和LCD液晶顯示屏組成，其中，LCD采用7寸的真彩觸摸屏,顯示分辨率為600×800，并配有指示燈與蜂鳴器，顯示所有的測(cè)量信息，如測(cè)量通道、測(cè)量電壓、測(cè)量結(jié)果阻值等，可以很好地豐富人機(jī)交流界面，便于測(cè)試結(jié)果的獲??；同時(shí)，中央控制單元將處理后的測(cè)量數(shù)據(jù)通過數(shù)據(jù)線存儲(chǔ)到EEPROM中，使測(cè)試結(jié)果不丟失，便于測(cè)試結(jié)束后對(duì)測(cè)試數(shù)據(jù)進(jìn)行讀取等操作;

7) 串行數(shù)據(jù)通訊單元：該單元主要由USB-UART橋接電路構(gòu)成，其核心為CP2102高度集成元件和串口收發(fā)器MAX223芯片?？刂葡到y(tǒng)通過該單元把測(cè)試儀器中的串行數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換成USB數(shù)據(jù)格式，上傳至PC機(jī)，實(shí)現(xiàn)測(cè)量數(shù)據(jù)的存檔、備份、打印等功能，操作簡(jiǎn)單靈活。系統(tǒng)以這種方式進(jìn)行數(shù)據(jù)傳輸，實(shí)現(xiàn)了基于USB的數(shù)據(jù)通訊，能充分利用USB技術(shù)的優(yōu)點(diǎn)，也是目前技術(shù)發(fā)展的趨勢(shì)。

2.2 主要技術(shù)指標(biāo)

1)10 Ω量程電阻分辨率0.1 Ω，電阻測(cè)量波動(dòng)小于±0.1 Ω；

2)100 kΩ量程電阻分辨率0.1 kΩ，電阻測(cè)量值波動(dòng)小于±0.1 kΩ；

3)200 MΩ量程電阻分辨率0.2 MΩ，電阻測(cè)量值波動(dòng)小于±0.2 MΩ；

4)測(cè)試精度優(yōu)于5%；

5)導(dǎo)通測(cè)試開路電壓4～6 V，最大短路電流小于100 mA；

6)絕緣測(cè)試電壓范圍0～500 V，步進(jìn)50 V，絕緣電阻測(cè)量10～200 MΩ，精確度：±(10%+5 d)；

7)超過設(shè)定電壓115%時(shí)自動(dòng)切斷，反應(yīng)時(shí)間小于0.5 ms；

8)測(cè)試點(diǎn)數(shù)128點(diǎn)，具備可擴(kuò)展性；

9)顯示屏采用7寸的真彩觸摸屏,顯示分辨率為600×800；

10)單臺(tái)儀器重量不超過5 kg(測(cè)試引入插頭計(jì)算在內(nèi))；

11)使用充電電池持續(xù)工作時(shí)間6小時(shí)以上；

12)工作環(huán)境溫度0～40 ℃，相對(duì)濕度不大于75%；

13) 主控板采用低功耗嵌入式工控板,CPU為600 MHz,內(nèi)存512 M,存儲(chǔ)空間為4 G；

14) 繼電器開關(guān)觸點(diǎn)壽命優(yōu)于10萬次;

15) 整機(jī)平均無故障時(shí)間(MTBF)大于2萬小時(shí)。

3 軟件設(shè)計(jì)

3.1 軟件系統(tǒng)構(gòu)成

測(cè)試軟件選用C語言進(jìn)行開發(fā)，開發(fā)環(huán)境為Windows XP系統(tǒng)。軟件設(shè)計(jì)主要包括人機(jī)接口、處理程序、數(shù)據(jù)采集接口、數(shù)據(jù)庫四大部分。其中處理程序部分可將測(cè)試軟件按功能劃分為5個(gè)主要模塊，分別為：信息采集模塊、自檢程序、數(shù)據(jù)采集及控制模塊、數(shù)據(jù)處理模塊和結(jié)論模塊。軟件系統(tǒng)構(gòu)成見圖6。

圖6 軟件系統(tǒng)構(gòu)成圖

3.2 接點(diǎn)表導(dǎo)入轉(zhuǎn)換程序

電纜接點(diǎn)表作為原始設(shè)計(jì)文件，是依據(jù)信號(hào)傳遞功能設(shè)計(jì)的，在測(cè)試時(shí)需依照電纜測(cè)試流程進(jìn)行適應(yīng)性轉(zhuǎn)換，其原始形態(tài)如表1所示。

針對(duì)電纜測(cè)試，需對(duì)電纜編號(hào)確認(rèn)，并依照對(duì)應(yīng)關(guān)系提取相應(yīng)信息轉(zhuǎn)換成標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試接點(diǎn)表，詳細(xì)流程如下：

表1 電纜接點(diǎn)表樣例

1)判別電纜、電連接器的具體參數(shù)，依據(jù)電纜代號(hào)、分支編號(hào)以及始端和終端的電連接器代號(hào)及型號(hào)定義到電纜網(wǎng)中唯一的電連接器；

2)接點(diǎn)表需提取并轉(zhuǎn)換的數(shù)據(jù)信息依據(jù)以下規(guī)則：

通過接點(diǎn)信息識(shí)別與轉(zhuǎn)換之后的測(cè)試接點(diǎn)表見表2所示。

表2 測(cè)試接點(diǎn)表樣例

3.3 自檢程序

在開機(jī)后，不插入任何電連接器的情況下，通過點(diǎn)擊自檢按鈕，對(duì)線路轉(zhuǎn)換系統(tǒng)中的所有接點(diǎn)進(jìn)行導(dǎo)通絕緣檢查，自檢工作流程圖如圖7示。

圖7 自檢工作流程

1) 導(dǎo)通檢查方法為控制線路切換系統(tǒng)將測(cè)試點(diǎn)N依次同時(shí)接入、分別接入同一測(cè)試通道，測(cè)試其是否形成閉合通路，通路阻值是否符合導(dǎo)通判定，檢查的失效模式為線路轉(zhuǎn)換系統(tǒng)失效、斷路、接觸不良、短路等；

2) 在導(dǎo)通檢查完成后，檢查方法為控制線路切換系統(tǒng)將測(cè)試點(diǎn)N連入測(cè)試通道A，其余所有未測(cè)試點(diǎn)連入測(cè)試通道B，將500 V電壓接入測(cè)試通道A與測(cè)試通道B，檢查通道間漏電流，判斷各點(diǎn)間的絕緣關(guān)系，檢查的失效模式為短路、多余物搭接等。

3) 重復(fù)導(dǎo)通絕緣過程，直到所有點(diǎn)全部進(jìn)行測(cè)試。

3.4 測(cè)試主體程序

插入測(cè)試電纜后，通過運(yùn)行處理程序中的數(shù)據(jù)采集及控制程序控制線路中繼電器的切換進(jìn)入相應(yīng)測(cè)試通道，使檢測(cè)系統(tǒng)與被測(cè)電纜形成一個(gè)閉合回路，線路轉(zhuǎn)換控制，完成任意接點(diǎn)間通路、斷路切換測(cè)量，并通過控制數(shù)據(jù)采集卡進(jìn)行數(shù)據(jù)的采集；

運(yùn)行數(shù)據(jù)處理程序判定數(shù)據(jù)采集卡測(cè)得的數(shù)據(jù)是否符合測(cè)試要求，導(dǎo)通測(cè)試時(shí)，會(huì)對(duì)同一測(cè)點(diǎn)在0.2 s內(nèi)進(jìn)行3次測(cè)量，顯示均值。當(dāng)讀取的數(shù)據(jù)的輸入值過小或過大時(shí)，數(shù)據(jù)處理程序產(chǎn)生對(duì)應(yīng)的處理信號(hào)，并通過軟件界面反饋給操作者。

測(cè)試過程中，人機(jī)交互模式為人工選取接點(diǎn)表，人工發(fā)出指令，機(jī)器自動(dòng)測(cè)試。測(cè)試指令分為，導(dǎo)通測(cè)試，絕緣測(cè)試，完全測(cè)試3種，通過人機(jī)界面選取。圖8為本檢測(cè)系統(tǒng)的完整運(yùn)行流程，系統(tǒng)可以依照對(duì)應(yīng)測(cè)試接點(diǎn)表進(jìn)行點(diǎn)對(duì)點(diǎn)的導(dǎo)通絕緣測(cè)試，此外，系統(tǒng)還具備在出現(xiàn)問題時(shí)自動(dòng)記錄并報(bào)警的功能[11-12]。

圖8 測(cè)試程序流程圖

3.5 絕緣測(cè)試程序

絕緣測(cè)試流程是測(cè)試主體流程的重要部分，本系統(tǒng)通過4個(gè)測(cè)試階段完成一個(gè)完整測(cè)試循環(huán)，確保數(shù)值讀取準(zhǔn)確，產(chǎn)品安全可靠，如圖9所示。

1) 階段中，程序先進(jìn)行一個(gè)低電壓(不大于12 V)，低電流(不大于0.001 A)的短接檢查，當(dāng)確認(rèn)施加電壓點(diǎn)未連通時(shí)方進(jìn)行下面階段，保證安全性；

2) 階段為逐漸加壓過程，在0.5 s的升壓過程中如發(fā)生擊穿等現(xiàn)象，可以立刻切斷程序并記錄擊穿電壓及持續(xù)時(shí)間；

3) 階段為測(cè)量階段，達(dá)到所需電壓后，程序?qū)⒈３蛛妷涸诖怂揭欢螘r(shí)間后(1.5 s)進(jìn)行測(cè)量，以確保測(cè)量數(shù)據(jù)可靠；

4) 階段為降壓階段，程序控制電壓迅速下降，并且斷開被測(cè)點(diǎn)。

圖9 絕緣測(cè)試流程圖

4 實(shí)物與應(yīng)用分析

星上電纜導(dǎo)通絕緣自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)目前已應(yīng)用于遙感平臺(tái)衛(wèi)星低頻電纜導(dǎo)通絕緣測(cè)試，并在測(cè)試過程中自主研發(fā)了單根電纜手動(dòng)測(cè)試箱。應(yīng)用此設(shè)備對(duì)某遙感平臺(tái)衛(wèi)星低頻電纜進(jìn)行導(dǎo)通絕緣測(cè)試，經(jīng)過導(dǎo)通絕緣測(cè)試之后，測(cè)試系統(tǒng)將實(shí)測(cè)數(shù)據(jù)填入對(duì)應(yīng)測(cè)試結(jié)果矩陣表格相應(yīng)位置，并通過理論關(guān)系進(jìn)行判斷。判斷標(biāo)準(zhǔn)為導(dǎo)通阻值小于10 Ω，絕緣阻值大于500 MΩ，對(duì)不符合要求的數(shù)值進(jìn)行標(biāo)紅報(bào)警處理，測(cè)試數(shù)據(jù)及測(cè)試結(jié)果見圖10。利用該設(shè)備完成整套電纜測(cè)試只需要2.5個(gè)小時(shí)，而之前人工測(cè)試往往需要2周以上的時(shí)間。測(cè)試結(jié)果表明，該系統(tǒng)夠自動(dòng)完成電纜中被測(cè)信號(hào)的測(cè)試通道切換，可大幅度降低工作強(qiáng)度，提高工作效率。

圖10 部分測(cè)試數(shù)據(jù)及結(jié)果

5 結(jié)論

本檢測(cè)系統(tǒng)通過模塊化設(shè)計(jì)進(jìn)行系統(tǒng)搭建，具備集成度高，響應(yīng)速度快，精度高，安全可靠的優(yōu)點(diǎn)。通過在衛(wèi)星總裝測(cè)試過程中試用證明，該測(cè)試儀能夠滿足星上電纜的導(dǎo)通絕緣測(cè)試需求，能夠?qū)Ω鞣N型號(hào)低頻電纜的導(dǎo)通性、絕緣電阻等電氣性能參數(shù)進(jìn)行自動(dòng)測(cè)量，并能全面快速地檢測(cè)電纜中可能存在的隱患，提高測(cè)試速度，縮短導(dǎo)通絕緣測(cè)試時(shí)間，提高衛(wèi)星總裝生產(chǎn)效率。

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DesignandDevelopmentofAutomaticCableBorneInsulationTestInstrumentforSatellite

Wei Peng, Li Zhiming, Zheng Lide

(Beijing Institute of Spacecraft Environment Engineering, Beijing 100094 China )

Satellite Cable plays a key role in the transfer of energy and information in spacecraft system engineering, and it is not repairable after liftoff, which determines that it must be of high quality and high reliability in electric performance. In view of the disadvantages of the traditional manual mode of conduction test and insulation test, such as high work intensity, low detection efficiency and low reliability, this paper designs and develops an automatic detection instrument. The instrument is based on the idea of modular design with the central controller for each module control unit to respectively realize test channel automatic switching, the test voltage supply, the star cable conduction insulation resistance data acquisition, communication, storage and display. The practice has shown that the cable automatic insulation test instrument can not only improve the reliability of the conduction and insulation test, but also enhance the quality control. On the other hand, it can improve the efficiency, save the production cycle, and reduce the labor intensity.

Satellite Cable; Conduction Test; Insulation Test; Automatic Testing; Modular Design

2017-06-09；

2017-07-09。

魏 鵬(1984-)，男，碩士研究生，工程師，主要從事數(shù)字化研制、信息化管理系統(tǒng)等方向的研究。

1671-4598(2017)10-0305-05

10.16526/j.cnki.11-4762/tp.2017.10.078

TP216

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