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      基于單片機(jī)控制的光強(qiáng)測試器的設(shè)計(jì)

      2017-10-30 16:28:48劉會巧
      關(guān)鍵詞:等級光照強(qiáng)度光敏電阻

      劉會巧

      摘要:本文以ATmega8單片機(jī)作為控制中心,通過使用光敏電阻對光的靈敏度設(shè)計(jì)光強(qiáng)測試器。該儀器可以實(shí)現(xiàn)測試不同等級的光照強(qiáng)度,并能夠顯示光照等級,并對無光狀態(tài)進(jìn)行報(bào)警的功能。

      關(guān)鍵詞:單片機(jī);光敏電阻;光照強(qiáng)度;等級

      中圖分類號:TP316.2 文獻(xiàn)標(biāo)識碼:A 文章編號:1007-9416(2017)08-0003-02

      光強(qiáng)測量器與人們的生活密切相關(guān),不同的場所對于照度的要求不同,如果沒有合理控制好照度,會直接影響生產(chǎn)和生活,甚至影響到健康和安全,所以有必要對不同的場所利用光強(qiáng)測試器進(jìn)行光強(qiáng)測量控制。因此本文通過用單片機(jī)設(shè)計(jì)結(jié)合光敏電阻進(jìn)行對光強(qiáng)測試器的設(shè)計(jì)。

      1 系統(tǒng)設(shè)計(jì)方案

      1.1 設(shè)計(jì)目的

      本文的設(shè)計(jì)目的是光強(qiáng)測試器能夠測試不同的光照強(qiáng)度等級,并顯示出光強(qiáng)等級,對無光狀態(tài)進(jìn)行報(bào)警。

      為了實(shí)現(xiàn)此功能,我們需要AVR單片機(jī),需要光敏電阻實(shí)現(xiàn)測試光照強(qiáng)度,光敏電阻根據(jù)外界光線的強(qiáng)弱改變它的阻值;用阻容電路根據(jù)光敏電阻阻值變化導(dǎo)致電容充放電時(shí)間不同來判定光強(qiáng);需要蜂鳴器,當(dāng)沒有光線的時(shí)候進(jìn)行報(bào)警。

      1.2 軟件設(shè)計(jì)

      根據(jù)光照強(qiáng)度器的設(shè)計(jì)目的,我們需要對AVR單片機(jī)進(jìn)行編程以便實(shí)現(xiàn)顯示光強(qiáng)等級等功能。

      其中實(shí)現(xiàn)輸出光強(qiáng)等級的程序:

      TCNT0=0; TCNT1=0; //定時(shí)器清零

      DDRC&=~_BV(PC0);DDRC&=~_BV(PC1);

      while((PINC&0x01)!=0&&(PINC&0x02)!=0);

      count=(TCNT1+TCNT0)/2;

      if(time>0&&time<=count/3) //光敏電阻阻值小

      printf(“The rank of intensity is 1\n”); //輸出光強(qiáng)級別為1

      else if(time>count/3&&count<=2count/3)

      printf(“The rank of intensity is 2\n”); //輸出光強(qiáng)級別為2

      else(time>2count/3&&time

      1.3 硬件設(shè)計(jì)

      本文用AVR單片機(jī)控制光強(qiáng)測試器。其中單片機(jī)上的PB6、PB7端口引出時(shí)鐘電路,PC6端口引出復(fù)位電路,時(shí)鐘電路及復(fù)位電路以及單片機(jī)的供電和接地電路構(gòu)成了單片機(jī)工作的最小系統(tǒng),PC0、PC1端口引出對應(yīng)阻容電路,PD7端口引出蜂鳴器電路。以上電路構(gòu)成了光強(qiáng)測試器的硬件電路,其中光強(qiáng)測試器硬件電路的原理圖如圖1所示,硬件電路的實(shí)物圖如圖2所示。

      單片機(jī)用來決定光強(qiáng)度的電路叫做阻容電路。如圖1中PC0、PC1引出的電路。當(dāng)PC0發(fā)送一個(gè)高電平時(shí),實(shí)質(zhì)上是用5V加在電容上給它充電。幾毫秒后,電容的電壓幾乎達(dá)到5V。如果程序改變I/O端口使端口僅僅監(jiān)測電壓,電容就通過光敏電阻放電。由于電容通過光敏電阻放電,電壓衰減,隨著電荷流失,電壓越來越低。PC0感測到電壓降到1.4 V所用的時(shí)間取決于光敏電阻阻止電容提供的電流流動能力大小。如果由于外界光線比較弱,光敏電阻的阻抗值大,電容就需要更長的時(shí)間放電,反之電容就會很快失去電荷。測量到的衰減時(shí)間可以用來表征光敏電阻的阻值。阻值反過來又表示光敏電阻探測到的光的強(qiáng)弱。

      2 結(jié)語

      本文結(jié)合ATmega系列單片機(jī)原理等相關(guān)的知識,利用光敏電阻對光強(qiáng)測試器進(jìn)行了設(shè)計(jì)。光敏電阻接收外界光線,不同的光照強(qiáng)度使光敏電阻變成不同阻值的電阻,結(jié)合單片機(jī)從而測試出不同的光照強(qiáng)度,并能顯示出光照等級,以便人們能夠更好的控制不同場合的光照強(qiáng)度。

      參考文獻(xiàn)

      [1]吳智量.基于單片機(jī)控制的智能室內(nèi)光強(qiáng)控制系統(tǒng)[J].航空計(jì)算技術(shù),2004,34(2)105-108.

      [2]海濤.ATmega系列單片機(jī)原理及應(yīng)用教科書[M].北京:機(jī)械工業(yè)出版社,2008.1.

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