郭恒光 瞿 軍
1(海軍航空工程學(xué)院研究生管理大隊(duì) 山東 煙臺(tái) 264000)2(海軍航空工程學(xué)院飛行器工程系 山東 煙臺(tái) 264000)
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基于小波域雙譜分析的磨粒圖像多尺度形狀特征提取
郭恒光1瞿軍2
1(海軍航空工程學(xué)院研究生管理大隊(duì)山東 煙臺(tái) 264000)2(海軍航空工程學(xué)院飛行器工程系山東 煙臺(tái) 264000)
磨粒圖像的形狀特征是識(shí)別典型磨粒的主要參數(shù),而這些典型的磨粒反映機(jī)械設(shè)備零部件的運(yùn)行狀態(tài)。根據(jù)雙譜分析不能抑制非高斯噪聲干擾的缺點(diǎn),提出基于小波域雙譜分析的磨粒圖像多尺度形狀特征提取方法。首先對(duì)磨粒圖像進(jìn)行小波包多尺度分解,再對(duì)低頻部分進(jìn)行重構(gòu),達(dá)到去噪和磨粒圖像多尺度表征的目的。然后采用Radon變換將重構(gòu)后的圖像映射到一組一維投影,對(duì)一維信號(hào)進(jìn)行雙譜分析,得到雙譜不變量特征,作為磨粒圖像的多尺度形狀特征參數(shù)。實(shí)驗(yàn)結(jié)果表明,該方法能夠很好地結(jié)合小波包變換和雙譜分析的優(yōu)點(diǎn),獲得的多尺度形狀特征參數(shù)能夠有效地用于磨粒類型識(shí)別。
磨粒圖像多尺度形狀特征小波包變換雙譜分析
基于圖像處理的磨粒分析技術(shù)作為一種有效的機(jī)械設(shè)備狀態(tài)監(jiān)測方法,通過采集機(jī)械設(shè)備油液中的磨粒,用圖像處理的方法得到磨粒的形狀特征、紋理特征和顏色特征。根據(jù)這些特征確定磨粒的類型,判斷設(shè)備的主要摩擦方式,在機(jī)械設(shè)備的維護(hù)和保養(yǎng)中得到了一定程度的推廣。在磨粒形狀特征提取中,目前常用的特征主要是簡單的幾何數(shù)值參數(shù),例如面積、歐拉數(shù)、長軸、短軸、偏心率和方向角等[1,2]。這些形狀特征參數(shù)都不具備平移、尺度和旋轉(zhuǎn)不變性,因此基于這些形狀特征參數(shù)的磨粒分類不能得到理想的結(jié)果。
高階統(tǒng)計(jì)量是描述隨機(jī)過程高階統(tǒng)計(jì)特性的一種數(shù)學(xué)工具,包括高階矩、高階累計(jì)量以及它們的傅里葉變換——高階矩譜和高階累計(jì)量譜,高階累計(jì)譜簡稱高階譜。最常用的高階譜是三階譜和四階譜,通常稱為雙譜和三譜。Chandran等[3]在1993年根據(jù)高階譜定義了一系列具有平移和尺度不變性質(zhì)的特征參數(shù),用于一維信號(hào)模式識(shí)別。自1997年,Chandran等[4]首次將高階譜分析推廣到二維圖像和物體識(shí)別領(lǐng)域,近年來在這領(lǐng)域得到了成功應(yīng)用[5-7]。
在高階譜中,雙譜的階數(shù)最低,處理方法最簡單,同時(shí)它包含了高階譜的所有特性。雙譜能夠很好地抑制高斯噪聲,但是不能抑制非高斯噪聲的干擾,譜圖對(duì)非高斯噪聲干擾特別敏感。多尺度小波包分析能夠同時(shí)分解高頻分量和低頻分量,而一般信號(hào)分布在低頻域,高斯信號(hào)和非高斯信號(hào)主要分布在高頻域。本文的基于小波域的雙譜分析的磨粒圖像多尺度形狀特征提取正是基于以上特點(diǎn)展開的:首先對(duì)磨粒圖像進(jìn)行小波包多尺度分解,再對(duì)低頻域去噪圖像重構(gòu),然后采用Radon變換將重構(gòu)后的圖像映射到一組一維投影,對(duì)一維信號(hào)進(jìn)行雙譜分析,進(jìn)而得到雙譜不變量特征,作為磨粒圖像的多尺度形狀特征。
小波包變換[8]是在小波變換的基礎(chǔ)上發(fā)展起來的一種信號(hào)分析理論,它為圖像提供了一種更加精細(xì)的分析方法,除了對(duì)圖像低頻子帶分解外,還對(duì)高頻子帶進(jìn)行分解。目前,小波包變換已被廣泛應(yīng)用于邊緣檢測[9,10]、圖像去噪[11,12]、圖像融合[13]及數(shù)字水印[14]等領(lǐng)域。圖1給出了小波包3層分解的過程。
圖1 小波包3層分解示意圖
由圖1中可以看出,分解級(jí)數(shù)越大,即選擇的小波包尺度越大,小波包對(duì)應(yīng)的空間分辨率就越低,因此可以在不同的空間分辨率上對(duì)圖像進(jìn)行分析。本文中對(duì)磨粒圖像的小波包變換,分解級(jí)數(shù)為3層,然后對(duì)分解出的低頻部分進(jìn)行重構(gòu),從而達(dá)到去噪的目的,同時(shí)用于得到磨粒圖像的多尺度形狀特征。
為了提取磨粒圖像的雙譜不變量特征作為其形狀特征,需要采用Radon變換的方法,將圖像映射到一組一維投影。然后對(duì)獲得的一維信號(hào)進(jìn)行雙譜分析,進(jìn)而得到雙譜不變量特征。
2.1磨粒圖像的Radon變換
一個(gè)二維函數(shù)f(x,y)的Radon變換是指該函數(shù)沿包含該函數(shù)的平面內(nèi)的一組直線的線性積分[15],其定義為:
(1)
其中ρ∈(-∞,+∞),θ∈[0,π),δ(·)為沖擊函數(shù)。
對(duì)于任意一幅二值形狀圖像fD(x,y),其定義為:
(2)
其中D為形狀輪廓及其所包含的區(qū)域。
圖2 Radon變換示意圖
圖像的Radon變換為圖像在不同方向上的一系列直線上投影的集合,圖像中的每個(gè)像素值非零的像素點(diǎn)均被投影到Radon矩陣中。對(duì)于二值形狀圖像fD(x,y),其Radon變換為fD(x,y)在直線ρ=xcosθ+ysinθ上的線積分,其示意如圖2所示。
2.2雙譜的定義
高于二階的矩或累積量,通常稱為高階統(tǒng)計(jì)量,它們的多維傅里葉變換稱為多譜。假設(shè)累積量ckx(τ1,τ2,…,τk-1)是絕對(duì)可求和的[16],即:
(3)
則k階譜定義為k階累積量的(k-1)維離散時(shí)間傅里葉變換,即:
(4)
式中:ω=[ω1,ω2,…,ωk-1]T,τ=[τ1,τ2,…,τk-1]T.
雙譜即三階譜,定義為:
(5)
對(duì)于一個(gè)離散時(shí)間能量有限的隨機(jī)信號(hào)x(t),將雙譜定義為:
Bx(ω1,ω2)=X(ω1)X(ω2)X*(ω1,ω2)
(6)
式中:X(ω)為信號(hào)x(t)的傅里葉變換。
本文對(duì)三種典型的磨粒:嚴(yán)重滑動(dòng)磨損磨粒、黏著磨損磨粒和疲勞磨損磨粒進(jìn)行了分析。圖3(a)、圖4(a)和圖5(a)所示分別為三種典型磨粒的二值圖像;圖3(b)、圖4(b)和圖5(b)分別為三種磨粒圖像雙譜的幅值圖;圖3(c)、圖4(c)和圖5(c)分別為三種磨粒圖像雙譜的對(duì)數(shù)幅值圖,對(duì)磨粒圖像進(jìn)行Radon變換時(shí),投影角度為30°。對(duì)比圖3(b)、圖4(b)和圖5(b)可以發(fā)現(xiàn),由于三種磨粒圖像的峰在雙譜空間中出現(xiàn)的位置大體相同,并且峰出現(xiàn)的區(qū)域,雙譜的幅值特別大,使得三種磨粒圖像雙譜幅值的其他區(qū)域相對(duì)沒有太大變化。而從圖3(c)、圖4(c)和圖5(c)中可以發(fā)現(xiàn),幅值的變換和輪廓都比較明顯,并且對(duì)比三幅對(duì)數(shù)幅值圖可以發(fā)現(xiàn),峰出現(xiàn)的數(shù)量和位置也是不同的,這也說明了根據(jù)磨粒圖像的雙譜,提取磨粒的形狀特征,對(duì)磨粒進(jìn)行識(shí)別是可行的。
圖3 嚴(yán)重滑動(dòng)磨損磨粒及其雙譜幅值圖和雙譜對(duì)數(shù)幅值圖
圖4 黏著磨損磨粒及其雙譜幅值圖和雙譜對(duì)數(shù)幅值圖
圖5 疲勞磨損磨粒及其雙譜幅值圖和雙譜對(duì)數(shù)幅值圖
2.3雙譜不變量
基于Radon變換和雙譜的性質(zhì),構(gòu)建二維圖像的雙譜不變量特征,作為圖像的形狀特征。對(duì)于二值圖像fD(x,y),根據(jù)式(1)對(duì)fD(x,y)進(jìn)行Radon變換得到投影序列g(shù)θ(t),其中t表示坐標(biāo)。對(duì)于每一個(gè)給定的角度θ處的投影gθ(t),其雙譜為Bθ(f1,f2),則有:
(7)
式中:Xθ(f)為投影序列g(shù)θ(t)的傅里葉變換。
令I(lǐng)(a)為雙譜空間中,沿斜率為a的直線的雙譜的積分,則:
(8)