豐春錦,高翠琢,宋慶華
(中國電子科技集團(tuán)公司第13研究所,石家莊 050051)
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Ku波段介質(zhì)鎖相抗振頻率源研制
豐春錦,高翠琢,宋慶華
(中國電子科技集團(tuán)公司第13研究所,石家莊 050051)
提出了一種混頻介質(zhì)鎖相的方案,對Ku波段的發(fā)射信號進(jìn)行一次混頻鎖相得到Ku波段的本振信號,實(shí)現(xiàn)了本振信號與發(fā)射信號的相位同步。電路設(shè)計采用了低噪底鑒相芯片和自主設(shè)計的低相噪Ku波段介質(zhì)壓控振蕩器(DRVCO)。結(jié)構(gòu)設(shè)計中充分考慮抗振動性能,并用ANSYS軟件對結(jié)構(gòu)進(jìn)行力學(xué)仿真,達(dá)到很好的抗振動效果,組件外形尺寸為110 mm×65 mm×13 mm。測試結(jié)果表明,靜態(tài)下該Ku波段頻率源輸出功率12 dBm,雜波抑制比≥70 dBc,相位噪聲-91 dBc/Hz/@1 kHz,-105 dBc/Hz@10 kHz;振動條件下1 kHz、10 kHz處相位噪聲惡化不超過3 dB。
介質(zhì)壓控振蕩器;鎖相環(huán);抗振動;低相噪
頻率源是現(xiàn)代電子系統(tǒng)的重要組成部分,在通信、雷達(dá)和導(dǎo)航等設(shè)備中有著廣泛的應(yīng)用,很多現(xiàn)代電子設(shè)備和系統(tǒng)的功能實(shí)現(xiàn)依賴于所用頻率源的性能,所以高性能頻率源的設(shè)計是現(xiàn)代通信技術(shù)中一個很重要的研究方向。微波頻率源合成方式有多種,最基本的有3種:直接頻率合成、間接頻率合成以及直接數(shù)字頻率合成。在工程實(shí)踐中,為了滿足指標(biāo)的要求,一般頻率源的合成方式并不單一,為了滿足實(shí)際要求,需對各種頻率合成方式進(jìn)行優(yōu)勢互補(bǔ)。本文提出了一種應(yīng)用于多普勒雷達(dá)系統(tǒng)、實(shí)現(xiàn)與發(fā)射信號相位同步的Ku波段本振信號的設(shè)計。Ku波段發(fā)射信號頻率為fRF,相位噪聲為-93 dBc/Hz@1 kHz、-106 dBc/Hz@10 kHz。本振信號頻率為fLO,相位噪聲-91 dBc/Hz@1 kHz、-105 dBc/Hz@10 kHz,雜波抑制≥70 dBc。該組件具有低相位噪聲、高抗振、低雜散、高可靠性等優(yōu)點(diǎn)。
Ku波段本振信號首先要實(shí)現(xiàn)與發(fā)射信號相位同步,由于發(fā)射信號工作在Ku波段,無法實(shí)現(xiàn)由鎖相環(huán)對其直接鎖定,本文采用將發(fā)射信號下混頻至中頻然后進(jìn)行鎖定。為實(shí)現(xiàn)低相位噪聲的目的除了選擇低噪底的鑒相器,壓控振蕩器(VCO)必須采用低相噪技術(shù)。若采用低相噪的同軸介質(zhì)振蕩器(CRO),需要進(jìn)行分頻與倍頻濾波,一方面雜散很難控制,另一方面倍頻后壓控振蕩器輸出帶寬增加,環(huán)路會發(fā)生錯鎖。綜合上述考慮,本文采用介質(zhì)鎖相的方式實(shí)現(xiàn)。具體方案如圖1所示,介質(zhì)壓控振蕩器(DRVCO)的中心頻率為fLO,與發(fā)射信號fRF進(jìn)行混頻,混頻后的中頻信號fIF與晶振信號進(jìn)行鑒相,頻率關(guān)系為:
fLO=fRF-fIF
(1)
最終實(shí)現(xiàn)本振信號對發(fā)射信號的鎖定。
圖1 介質(zhì)鎖相源方案框圖
2.1 介質(zhì)壓控振蕩器的設(shè)計
微波振蕩器分析方法大致有3種,分別是正反饋理論、負(fù)阻理論以及S參數(shù)兩端口網(wǎng)絡(luò)分析法[1]。其中正反饋理論更為簡單易懂。正反饋振蕩器主要由三部分組成:放大器、選頻網(wǎng)絡(luò)和反饋網(wǎng)絡(luò)。振蕩器中的放大器,對噪聲與信號起到放大與限幅的作用。選頻網(wǎng)路選出設(shè)計需要的頻率信號,選頻特性與選頻網(wǎng)路的Q值有關(guān),Q越高,選頻特性越好[2]。選頻網(wǎng)路在正反饋模型中,也被用作反饋網(wǎng)絡(luò)。輸出信號通過反饋網(wǎng)絡(luò)反饋到輸入端。振蕩器的正反饋模型如圖2所示,起振條件為:
(2)
(3)
圖2 振蕩器正反饋模型
常用的并聯(lián)反饋形式介質(zhì)振蕩器(DRO)的電路拓?fù)浣Y(jié)構(gòu)如圖3所示。運(yùn)用正反饋理論分析電路可分為放大電路及反饋網(wǎng)絡(luò)兩部分,其中介質(zhì)諧振器(DR)與帶線的耦合起到選頻反饋網(wǎng)絡(luò)作用,場效應(yīng)管起到放大的作用。經(jīng)過理論分析并聯(lián)反饋型DRO的輸出頻率可表示為[3]:
(4)
式中:ωr為DR的諧振頻率;Q0為DR的無載Q值;β為介質(zhì)與微帶線的耦合因子。
一般情況下介質(zhì)的無載Q值很大,并聯(lián)反饋型DRO的輸出頻率主要由DR的諧振頻率決定。
圖3 并聯(lián)反饋DRO拓?fù)浣Y(jié)構(gòu)
電調(diào)介質(zhì)振蕩器也可稱作為介質(zhì)壓控振蕩器(DRVCO),其振蕩頻率可通過改變調(diào)諧電壓來改變。電調(diào)諧介質(zhì)振蕩器在微帶線一端連接變?nèi)荻O管,微帶線再與介質(zhì)振蕩器耦合來實(shí)現(xiàn)電調(diào)功能。耦合方式如圖4所示。
圖4 壓控介質(zhì)振蕩器耦合
設(shè)計中,需要選擇噪聲性能較好的有源器件來實(shí)現(xiàn)低相噪介質(zhì)振蕩器。本設(shè)計中選用的晶體管的截止頻率需是工作頻率的2倍以上[4],這里選用了MWT公司的中功率場效應(yīng)管,它是一種砷化鎵場效應(yīng)管,工作頻段是500 MHz~26 GHz,增益典型值為8 dB,噪聲系數(shù)為2.0。介質(zhì)基板的相對介電常數(shù)會影響能量,過大的話會使能量不能集中在介質(zhì)塊中,有可能會導(dǎo)致振蕩器無法起振。根據(jù)以上分析,選擇的板材為Al2O3陶瓷,陶瓷基片(表面鍍金)的介電常數(shù)為10,而所用微波介質(zhì)的介電常數(shù)為5 000~10 000,所以在微波介質(zhì)和陶瓷基片的交界面會發(fā)生全反射,形成非常理想的諧振腔[5]。
DRVCO的頻率溫度穩(wěn)定度為一項重要指標(biāo),影響其高低溫下的工作帶寬。經(jīng)分析,當(dāng)振蕩器工作頻率與DR的諧振頻率f0之差非常小時(即f=f0),且滿足振蕩的相位和振幅平衡條件,工作頻率隨溫度漂移Δf/fΔT同DR的溫度系數(shù)ζ、DR與微帶的耦合因子β、DR有載值QL以及有源電路相位漂移ΔΦ/ΔT有關(guān),即:
(5)
式中:關(guān)鍵因素為DR的溫度系數(shù)ζ,需要在調(diào)試過程中選擇合適的介質(zhì)。
最終設(shè)計的DRVCO中心頻率為fLO,在1~11 V的調(diào)諧范圍內(nèi)達(dá)到±15 MHz的調(diào)諧帶寬,同時相位噪聲達(dá)到-110 dBc/Hz@100 kHz,通過調(diào)整介質(zhì)的溫度系數(shù),DRVCO在-55℃~+85℃的溫度范圍內(nèi)頻率溫度穩(wěn)定度為2 ppm/℃,滿足鎖相環(huán)電路的使用。
2.2 鎖相環(huán)路設(shè)計
如圖1所示,本設(shè)計采用下混鎖相的方式實(shí)現(xiàn)與發(fā)射信號的相干,發(fā)射信號經(jīng)過與DRVCO信號下混到中頻信號,此信號提供給鑒相器,與輸入?yún)⒖歼M(jìn)行相位比較,鑒相芯片產(chǎn)生的誤差電壓經(jīng)過環(huán)路濾波器以后提供給DRVCO的電壓控制端,調(diào)節(jié)DRVCO輸出頻率,最終鎖定到設(shè)計所需的頻率。
根據(jù)鎖相環(huán)噪聲理論,鎖相環(huán)的帶內(nèi)噪聲主要由晶體振蕩器、鑒相器、N分頻器和R分頻器相位噪聲差的那一環(huán)決定,而其帶外噪聲則主要取決于DRVCO的噪聲指標(biāo)[6]。即PLL對參考晶振、鑒相器等帶內(nèi)噪聲源呈現(xiàn)低通特性,而對DRVCO噪聲呈現(xiàn)高通特性。鑒相器對相位噪聲的貢獻(xiàn)可表示為:
(6)
式中:NP為相位噪聲;NTOT為鑒相器歸一化噪底;N為倍頻數(shù);Fcomp為鑒相頻率。
在實(shí)際應(yīng)用中,DRVCO的噪聲指標(biāo)會影響鎖相環(huán)的帶內(nèi)噪聲,特別在DRVCO的噪聲指標(biāo)較差或在窄帶環(huán)(環(huán)路帶寬小于理論上理想的環(huán)路帶寬)應(yīng)用中影響會更大。
在設(shè)計中由于晶振和中頻信號的頻率較低,因此鑒相器選用AD公司的鑒相芯片ADF4002,該鑒相芯片具有低噪底、低功耗等優(yōu)點(diǎn)。為實(shí)現(xiàn)低相噪鑒相頻率采用最大值fIF,經(jīng)過公式(6)計算在該鑒相頻率下ADF4002鑒相器的噪底為:
參考晶振選用小型化溫補(bǔ)晶振,相位噪聲為-130dBc/Hz@1kHz、-135dBc/Hz@10kHz,選擇環(huán)路帶寬為500kHz,鎖相環(huán)路在1kHz、10kHz的相位噪聲主要由晶振決定。由于鎖相環(huán)路在1kHz、10kHz的相位噪聲遠(yuǎn)低于發(fā)射信號的相位噪聲,因此本振信號的相位噪聲由發(fā)射信號決定,考慮到混頻器對噪聲的惡化,因此本振信號在1kHz、10kHz的實(shí)際相位噪聲要在發(fā)射信號的基礎(chǔ)上惡化2~3dB。
本方案中發(fā)射信號與本振信號的頻率較近,用濾波器將發(fā)射信號濾掉不現(xiàn)實(shí),本設(shè)計利用隔離器和放大的反向隔離對發(fā)射信號進(jìn)行抑制,在DRVCO功分后加隔離器與放大器,另外選用本振與射頻隔離較大的混頻器。實(shí)際情況中微波信號的空間電磁輻射也是微波泄漏的一個重要因素,因此在結(jié)構(gòu)設(shè)計時要考慮各頻段之間的隔墻處理,防止空間泄漏。
電子設(shè)備在使用過程中不可避免地受到振動和沖擊,在這種惡劣的環(huán)境下,電子設(shè)備將受到很大影響,據(jù)統(tǒng)計在引起電子設(shè)備失效的環(huán)境因素中,振動因素約占27%[7]。
為達(dá)到良好的抗振動效果,本設(shè)計中的電路板均燒結(jié)在盒體上,元器件均采用表面貼器件。振動敏感的部位要保持一定的厚度[8],最終設(shè)計頻率源組件的體積為110mm×65mm×13mm。用ANSYS有限元分析軟件調(diào)用INVENTOR制圖軟件的三維結(jié)構(gòu),建立有限元模型,在安裝孔施加約束。通過模態(tài)分析可知,第1階固有頻率為3 015Hz,固有頻率較高,結(jié)構(gòu)的剛度大。前8階固有頻率數(shù)據(jù)如表1所示,振型如圖5所示。
表1 模態(tài)分析固有頻率
圖5 4階模態(tài)分析振型位移
在20~80Hz,3dB/oct;80~350Hz,0.04g2/Hz;350~2 000Hz,-3dB/oct振動條件下,3σ等效應(yīng)力最大值為2.34MPa。根據(jù)模塊在隨機(jī)振動過程中的最大應(yīng)力來計算結(jié)構(gòu)的安全裕度為:
滿足結(jié)構(gòu)設(shè)計要求。
2個敏感部件(晶振和DRVCO)都裝配在應(yīng)力很小的部位,圖6為振動時盒體內(nèi)部等效應(yīng)力分布。
圖6 振動等效應(yīng)力分布
對環(huán)路濾波電路進(jìn)行優(yōu)化后,外加相位噪聲為-93dBc/Hz@1kHz、-106dBc/Hz@10kHz的發(fā)射信號后,用E4440測試本振信號的靜態(tài)相位噪聲為-91dBc/Hz@1kHz、-105dBc/Hz@10kHz,雜散為-76dBc,測試結(jié)果如圖7(a)所示。振動敏感方向在20~80Hz,3dB/oct;80~350Hz,0.04g2/Hz;350~2 000Hz,-3dB/oct振動條件下,輸出信號相位噪聲為-89dBc/Hz@1kHz、-102dBc/Hz@10kHz,測試結(jié)果如圖7(b)所示。
圖7 相噪測試結(jié)果
從測試結(jié)果來看,Ku波段頻率的相位噪聲相比發(fā)射的相位噪聲惡化2~3dB,與理論分析結(jié)果基本一致,雜散抑制達(dá)到75dBc以上。在振動條件下1kHz處的外相位噪聲惡化不超過3dB。
本文介紹了一種基于混頻介質(zhì)鎖相技術(shù)的Ku波段頻率源,實(shí)現(xiàn)了本振信號與發(fā)射信號的相位同步,具有相噪低、抗振動、體積小等優(yōu)點(diǎn)。通過調(diào)整DRVCO的輸出頻率以及編程控制ADF4002的分頻比,實(shí)現(xiàn)Ku波段頻率源輸出頻率的改變。該類型頻率源已應(yīng)用于多個多普勒雷達(dá)系統(tǒng)中。
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Development of Ku-band Phase-locked Dielectric Resonator Frequency Source with Anti-vibration Performance
FENG Chun-jin,GAO Cui-zhuo,SONG Qing-hua
(The 13th Research Institute,CETC,Shijiazhuang 050051,China)
This paper presents a method of mixing dielectric resonator phase-locked loop,performs a mixing phase lock to obtain the local oscillation (LC) signal of Ku-band,realizes the phase synchronization between the LC signal and transmitting signal.The circuit design adopts a low noise floor phase discrimination chip and independent designed low phase noise Ku-band dielectric resonator voltage-control oscillator.Anti-vibration performance is fully considered in the structure design and structural mechanics simulation is performed by using ANSYS software,which brings well anti-vibration performance.The outline dimension is 110 mm × 65 mm × 13 mm.To the Ku-band frequency source,the test results show that the output power is 12 dBm,the clutter rejection ratio is more than 70 dBc,the phase noises are - 91 dBc /Hz@ 1 kHz,- 105 dBc /Hz@ 10 kHz in static state;the phase noises worsen no more than 3 dB at 1 kHz and 10 kHz in vibrant state.
dielectric resonator voltage control oscillator;phase-locked loop;anti-vibration;low phase noise
2014-12-22
TN94
A
CN32-1413(2015)02-0097-04
10.16426/j.cnki.jcdzdk.2015.02.025