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    淺析配屏之V—by—one信號時(shí)序測試

    2014-12-31 00:00:00石峰
    電子世界 2014年20期

    【摘要】本文主要闡述了筆者在實(shí)踐經(jīng)驗(yàn)基礎(chǔ)上總結(jié)和歸納出的關(guān)于UDTV屏參匹配性測試中V-by-one信號時(shí)序測試的方法以及注意事項(xiàng)。

    【關(guān)鍵詞】V-by-one信號;LOCKN,HTPDN;T-CON板;時(shí)序

    一、背景

    主要從以下兩個(gè)方面說明目前存在的現(xiàn)狀:

    1.目前我們配屏種類繁多,每種玻璃的時(shí)序要求不盡相同,每個(gè)工程師在配屏?xí)r大部分都按照各自的經(jīng)驗(yàn)去設(shè)置參數(shù),往往不能按照規(guī)格書全面測試參數(shù),因此實(shí)際生產(chǎn)中因配屏?xí)?dǎo)致很多問題,如不開機(jī)、花屏、黑屏、燒T-CON板等問題。

    2.UDTV是未來電視的發(fā)展趨勢,其主板和T-CON板之間的信號傳輸采用V-by-one信號傳輸標(biāo)準(zhǔn),而V-by-one技術(shù)是專門面向圖像傳輸開發(fā)出的數(shù)字接口標(biāo)準(zhǔn)。

    二、T-CON板時(shí)序測試

    關(guān)于T-CON板的時(shí)序,屏規(guī)格書都會有詳盡的圖解,例如群創(chuàng)的玻璃規(guī)格書對T-CON時(shí)序的要求如圖1所示:

    圖1

    圖2

    具體是當(dāng)主板工作后,由主板提供12V先給T-CON板供電,即VLCD,然后T-CON板產(chǎn)生兩個(gè)信號給主板,一個(gè)是高電平的HTPDN信號,一個(gè)是高電平的LOCKN信號,CDR電路工作正常后,HTPDN信號被拉低,主板檢測到HTPDN的低電平后發(fā)送時(shí)鐘信號,待T-CON板的CDR電路鎖定時(shí)鐘后即拉低LOCKN信號,主板檢測到LOCKN信號低電平后發(fā)送數(shù)據(jù)給T-CON板。

    待T-CON板工作穩(wěn)定后,背光開關(guān)為高電平,屏被點(diǎn)亮。待機(jī)則是背光開關(guān)先被拉低,然后主板停止發(fā)送數(shù)據(jù),最后停止給T-CON板供電。

    在圖1中,T1指的是開機(jī)時(shí)VLCD的上升時(shí)間(10%VLCD-90%VLCD);T2為開機(jī)時(shí)從VLCD穩(wěn)定到開始發(fā)送數(shù)據(jù)的時(shí)間;T3為關(guān)機(jī)時(shí)從停止信號輸入到VLCD開始掉電的時(shí)間;T4為VLCD從這次掉電到下次開始上電的時(shí)間;T5為開機(jī)時(shí)從開始輸入信號到背光燈點(diǎn)亮的時(shí)間;T6為關(guān)機(jī)時(shí)從背光燈熄滅到停止信號輸入的時(shí)間;圖2、圖3、圖4、圖5、圖6、圖7為各點(diǎn)的實(shí)測波形圖:

    圖3

    圖4

    圖5

    圖6

    圖7

    三、注意事項(xiàng)

    如果T1lt;0.5ms,可能會出現(xiàn)開機(jī)瞬間屏供電12V的沖擊電流過高而損壞保險(xiǎn),導(dǎo)致T-CON板無法工作;T2不滿足要求開機(jī)時(shí)可能會燒壞T-CON板或使發(fā)送數(shù)據(jù)延遲,從而使開機(jī)緩慢;T3不達(dá)標(biāo)關(guān)機(jī)時(shí)可能會引起T-CON芯片壽命下降,甚至燒板現(xiàn)象;T4不達(dá)標(biāo)可能會引起不開機(jī)的現(xiàn)象;T5不達(dá)標(biāo)可能會引起花瓶或開機(jī)緩慢的現(xiàn)象;T6不達(dá)標(biāo)可能會引起關(guān)機(jī)瞬間花屏。

    在測試T2和T5時(shí),必須以LOCKN信號的下降沿為基準(zhǔn),因?yàn)橹挥羞@時(shí)才是開始發(fā)送數(shù)據(jù)的時(shí)間;測試T3和T6時(shí)以LOCKN信號的上升沿為基準(zhǔn),只有這時(shí)才是停止發(fā)送數(shù)據(jù)的時(shí)間。

    關(guān)機(jī)時(shí),主板給T-CON板的12V供電吊電抖動不能太大,一般跌落到其85%以下不能超過10ms,否則T-CON板芯片會重新啟動,則這個(gè)時(shí)間會按T4衡量。

    四、小結(jié)

    總上所述,關(guān)于屏參測試中的V-by-one信號的時(shí)序測試是全面的,準(zhǔn)確的,并通過測試來判斷軟件設(shè)置是否正確進(jìn)而修正以達(dá)到屏的規(guī)格要求,同時(shí)還可以根據(jù)測試結(jié)果來總結(jié)經(jīng)驗(yàn)進(jìn)而知道軟件設(shè)計(jì),作者認(rèn)為,通過全面的測試,可以大大減小配屏的盲目性,提高配屏的質(zhì)量和效率,減少產(chǎn)生的問題和質(zhì)量隱患,節(jié)約試驗(yàn)時(shí)間和資源。

    參考文獻(xiàn)

    [1]V500DK2-KS1屏的規(guī)格書CHI MEI公司.

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