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      基于NTC電阻的SF6設(shè)備溫度保持裝置

      2014-03-05 08:00:42于春來(lái)朱學(xué)成陳海倫
      黑龍江電力 2014年4期
      關(guān)鍵詞:熱敏電阻電阻值熱阻

      于春來(lái),魯 鋼,劉 洋,朱學(xué)成,陳海倫

      (黑龍江省電力科學(xué)研究院,哈爾濱 150030)

      SF6設(shè)備處在低溫情況下,存在液化的風(fēng)險(xiǎn),發(fā)生液化后斷路器的滅弧能力降低,直接威脅電力系統(tǒng)的安全穩(wěn)定運(yùn)行[1-3]。目前,加熱保溫方法是避免SF6氣體液化的最經(jīng)濟(jì)和合理的解決方式。加熱系統(tǒng)通常包括溫控裝置、加熱裝置、遠(yuǎn)方控制、監(jiān)控回路等[2]。加熱保溫方式采用的元器件雖然能夠起到加熱升溫的作用,但是由于元件數(shù)量多、接線復(fù)雜,對(duì)設(shè)備的可靠性、氣密性等產(chǎn)生不利影響。而且,該方法不能在柱式斷路器上使用,大量的柱式斷路器仍然面臨液化的風(fēng)險(xiǎn)。為此,本文提出了一種采用負(fù)溫度系數(shù)材料作為加熱元件的SF6設(shè)備加熱技術(shù)。

      1 熱敏電阻類型

      熱敏電阻主要有三種類型[4]:正溫度系數(shù)熱敏電阻(Positive Temperature Coefficient,PTC)、負(fù)溫度系數(shù)熱敏電阻(Negative Temperature Coefficient,NTC)和臨界溫度熱敏電阻(Critical Temperature Resistor,CTR)。

      PTC具有正溫度特性,當(dāng)電流流過(guò)PTC電阻后,引起溫度上升;當(dāng)超過(guò)居里點(diǎn)溫度后,電阻也同時(shí)增加,電流下降;當(dāng)增加到某一值時(shí),電流產(chǎn)生的溫度與電阻值相互平衡。這樣既起到了溫度感應(yīng)的作用又起到了電流控制的作用。但是在電力設(shè)備中,電流和電壓的量值很高,在正常導(dǎo)通時(shí)電流基本不受設(shè)備的電阻值影響,可以看做是電流源。因此電力設(shè)備選擇加熱電阻時(shí),不能選擇PTC熱敏電阻,而應(yīng)選擇NTC熱敏電阻作為加熱材料。

      NTC指的是具有負(fù)溫度系數(shù)的熱敏電阻材料,即溫度上升電阻呈指數(shù)減小。這種材料通常是利用錳、銅、硅等兩種或兩種以上的氧化物進(jìn)行混合、成型、燒結(jié)而成的半導(dǎo)體。該類型熱敏電阻具有阻值任意選擇(0.1~100 kΩ)、容易加工成復(fù)雜形狀、穩(wěn)定性好、過(guò)載能力強(qiáng)的特點(diǎn)。在工作范圍內(nèi),NTC熱敏電阻的電阻-溫度特性可以用近似實(shí)驗(yàn)公式表示[5]:

      式中:T、T0為絕對(duì)溫度值;RT為溫度為T時(shí)的電阻值。RT0為溫度為T0時(shí)電阻值;Bp為該種材料的熱敏指數(shù)。

      2 NTC熱敏電阻加熱裝置

      2.1 基本結(jié)構(gòu)模型

      斷路器無(wú)論罐式還是柱式,其主要結(jié)構(gòu)均存在氣室內(nèi)導(dǎo)體的形式,因此構(gòu)建基本模型如圖1所示。其中,導(dǎo)體位于中心位置、導(dǎo)體與外殼之間充填SF6氣體,而導(dǎo)體中某段鑲嵌有一部分NTC電阻,其對(duì)稱剖面結(jié)構(gòu)如圖2所示。

      圖1 基本結(jié)構(gòu)模型Fig.1 Basic structure model

      圖2 基本結(jié)構(gòu)的對(duì)稱剖面圖Fig.2 Symmetric profile of basic structure

      2.2 電路分析

      由于結(jié)構(gòu)具有對(duì)稱性,僅對(duì)其對(duì)稱部分(如圖2所示)進(jìn)行分析,電路模型如圖3所示。

      圖3 電路模型Fig.3 Circuit model

      外電路等效為一個(gè)電流源I,電阻包括導(dǎo)體的電阻R1、R2、Rr和Rn。其中,R1和R2為鑲嵌 NTC電阻之外的部分導(dǎo)體電阻值,Rn為鑲嵌的NTC電阻的電阻值。

      當(dāng)外電路的電流為I時(shí),Rr和Rn分別流經(jīng)電流為Ir和In。

      鑲嵌部分的電加熱功率為

      總功率為

      設(shè)Rr/Rn=k,由式(2)、式(3)可知,鑲嵌部分的導(dǎo)體和NTC電阻的功率之比為

      固定Rr阻值而不同Rn阻值對(duì)應(yīng)的功率關(guān)系如圖4所示。

      圖4 電功率Fig.4 Power

      圖4中,以k=1,即Rr等于Rn時(shí)的功率為基準(zhǔn)值。在某一k值下,阻值的相對(duì)關(guān)系決定了功率的分配。選擇較大阻值的NTC電阻值,總的熱功率增加,導(dǎo)體的功率增加,但NTC的發(fā)熱量比重較小。

      當(dāng)考慮到溫度變化因素時(shí),SF6設(shè)備溫度較高時(shí),導(dǎo)體與NTC電阻共同分擔(dān)電流。當(dāng)溫度降低后k增加,而功率變化卻呈現(xiàn)相反的趨勢(shì)。導(dǎo)體的發(fā)熱功率和總功率值增加,而NTC電阻的功率降低。

      2.3 熱阻分析

      熱阻模型如圖5所示。

      Ts1,Ts2—鑲嵌部分導(dǎo)體和NTC電阻的溫度;Tg,Tc—?dú)怏w導(dǎo)體側(cè)溫度和外殼測(cè)溫度;θrr—鑲嵌部分導(dǎo)體對(duì)鑲嵌部分延伸區(qū)域的熱阻;θrg—鑲嵌部分導(dǎo)體對(duì)氣體的熱阻;θm—鑲嵌部分導(dǎo)體對(duì)NTC電阻的熱阻;θn—NTC電阻對(duì)氣體的熱阻;θg—?dú)怏w的熱阻;θc—外殼的熱阻。

      由于NTC電阻與鑲嵌部分導(dǎo)體距離較近,設(shè)θrn=0,并合并導(dǎo)體和NTC電阻,得到的氣體熱阻為

      該模型精簡(jiǎn)化后如圖6所示。

      圖6 熱阻簡(jiǎn)化模型Fig.6 Thermal resistance model

      根據(jù)上述模型分析得到

      2.4 電熱分析

      根據(jù)式(2)—式(5)有

      3 參數(shù)設(shè)計(jì)

      3.1 溫度約束

      最低環(huán)境溫度TaL時(shí):

      此時(shí)NTC電阻的溫度為

      最高環(huán)境溫度TaH時(shí):

      式中:TcL為SF6氣體外側(cè)溫度的最低值,即為SF6氣體的液化溫度;TgH為 SF6氣體允許溫度的最高值。

      3.2 NTC電阻參數(shù)的確定

      由溫度約束,NTC電阻值應(yīng)滿足

      根據(jù)式(1),Bp可由下式確定:

      4 仿真試驗(yàn)

      設(shè)定I=10 A,環(huán)境溫度分別為+40℃(313 K)和-50℃(223 K),進(jìn)行Simulink仿真試驗(yàn)。

      4.1 采用NTC電阻材料后的熱分布

      未采用和采用NTC電阻材料的熱分布如圖7和圖8所示。

      圖7 未采用NTC電阻材料的熱分布Fig.7 Thermal distribution without using NTC resistance materials

      圖8 采用NTC電阻材料的熱分布Fig.8 Thermal distribution using NTC resistance materials

      從圖7和圖8可以看出,未采用NTC電阻加熱時(shí),裝置的內(nèi)部溫度基本與環(huán)境溫度一致。當(dāng)環(huán)境溫度達(dá)到-50℃時(shí),采用NTC電阻加熱后,SF6氣體的最低溫度提升了10℃(達(dá)到233 K),而最高溫度僅增加2℃(達(dá)到315 K)??梢奛TC電阻的負(fù)向電阻增加特性和非線性特性改善了低溫下的熱分布,提升了氣體溫度。

      4.2 B 參數(shù)影響

      熱敏指數(shù)對(duì)溫度分布的影響如圖9所示。

      圖9 熱敏指數(shù)對(duì)溫度分布的影響Fig.9 Effect of heat sensitive index on temperature distribution

      由圖9可知,熱敏指數(shù)越高,NTC材料的溫度變化率越大。當(dāng)采用高熱敏指數(shù)的NTC電阻時(shí),相同條件下總體溫度降低。但低溫的氣體溫度降低程度小于加熱電阻的溫度降低程度。這是由于B參數(shù)增加,導(dǎo)致在高溫時(shí)材料電阻的電阻值更小,在一定電流下產(chǎn)生的熱量不足以維持熱平衡,因此其溫度平衡點(diǎn)較低B值時(shí)高。

      4.3 R25影響

      在選擇熱敏電阻時(shí),通常以25℃時(shí)的電阻值作為基準(zhǔn)值,在不同基準(zhǔn)電阻值下,溫度分布如圖10所示。

      圖10 R25電阻值對(duì)溫度分布的影響Fig.10 Effect of R25resistance value on temperature distribution

      仿真結(jié)果顯示:當(dāng)R25增加時(shí),各部分的溫度差趨大,而且總體溫度上升;當(dāng)R25較小時(shí),R25對(duì)溫度的影響較顯著,因此在選擇參數(shù)時(shí)應(yīng)盡量選擇在這個(gè)范圍內(nèi)。

      4.4 熱阻的影響

      熱阻對(duì)溫度分布的影響如圖11所示。

      由于內(nèi)部氣體與外部環(huán)境之間的熱阻對(duì)氣體溫度的影響最直接,所以通過(guò)仿真曲線圖11可以看到,當(dāng)提高此部分的熱阻后,氣體溫度上升較內(nèi)部NTC電阻上升幅度大。因此在采用NTC電阻進(jìn)行內(nèi)部加熱的同時(shí),加強(qiáng)外部的隔熱對(duì)提高SF6氣體的溫度具有較好的效果。

      圖11 熱阻對(duì)溫度分布的影響Fig.11 Effect of thermal resistance on temperature distribution

      4.5 冷斷路器合閘

      斷路器分閘后,由于沒有負(fù)載電流,該裝置不能工作,此時(shí)斷路器無(wú)需切斷電流,因此分閘后不會(huì)對(duì)系統(tǒng)的工作產(chǎn)生影響。但當(dāng)長(zhǎng)時(shí)間分閘后重新合閘,此時(shí)溫度仍然很低,需要一段時(shí)間才能夠重新升高溫度,如圖12所示。氣體熱阻和熱容量減少50%時(shí)合閘后溫度變化如圖13、圖14所示。

      圖12 合閘后溫度變化Fig.12 Temperature changes after closing

      圖13 與氣體熱阻減少50%后合閘后溫度變化Fig.13 Temperature changes then gas thermal resistance decrease 50%after closing

      由圖13、圖14可知,減少熱阻和熱容量有利于斷路器溫度的快速提高。因此在合理布局電場(chǎng)分布的條件下,增加傳熱面積和減少導(dǎo)熱部分的體積,可以減少合閘后斷路器在低溫范圍內(nèi)的時(shí)間。

      5 結(jié)語(yǔ)

      NTC電阻對(duì)SF6設(shè)備進(jìn)行加熱時(shí),應(yīng)合理選擇熱敏電阻的參數(shù);在平衡氣體溫度加熱效果時(shí),應(yīng)避免內(nèi)部溫度過(guò)高。在合理加熱的同時(shí),增加保溫裝置也有利于設(shè)備的保溫和可靠運(yùn)行。

      [1]何勇,張渺.SF6斷路器低溫運(yùn)行氣體壓力報(bào)警及閉鎖頻繁動(dòng)作原因分析及解決方案[J].內(nèi)蒙古電力技術(shù),2008,26(4):87-88.HE Yong,ZHANG Miao.Cause analysis and its solution to SF6breaker low temperature gas pressure alarm and frequent actuation[J].Inner Mongolia Electric Power,2008,26(4):87-88.

      [2]王永光.SF6斷路器運(yùn)行中氣體低溫液化解決方案[J].內(nèi)蒙古電力科技,2009,27(4):35-37.WANG Yongguang.Solution to gas low-temperature liquefaction in operation of SF6circuit breakers[J].Inner Mongolia Electric Power,2009,27(4):35-37.

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      [4]蘇樹兵,宋世庚,鄭應(yīng)智,等.CoMnCuO系NTC熱敏電阻的復(fù)阻抗分析[J].材料科學(xué)與工程,2002,20(3):386-389.SU Shubing,SONG Shigeng,ZHENG Yingzhi,et al.Analysis of complex impedance of NTC thermistor of CoMnCuO series[J].Material Science and Engineering,2002,20(3):386-389.

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