宋家雯,汪 濤,余祖元,李劍中,夏 恒
(1.大連理工大學(xué)機(jī)械工程學(xué)院,遼寧大連116024;2.東京農(nóng)工大學(xué)產(chǎn)業(yè)技術(shù)系,日本東京183-8538)
微細(xì)超聲波加工脆塑模式判別標(biāo)準(zhǔn)的討論
宋家雯1,汪 濤1,余祖元1,李劍中1,夏 恒2
(1.大連理工大學(xué)機(jī)械工程學(xué)院,遼寧大連116024;2.東京農(nóng)工大學(xué)產(chǎn)業(yè)技術(shù)系,日本東京183-8538)
已有文獻(xiàn)表明,通過(guò)適當(dāng)調(diào)整加工參數(shù),可對(duì)單晶硅<100>面進(jìn)行微細(xì)超聲波塑性加工,大大提高加工材料的表面質(zhì)量。但傳統(tǒng)判別脆塑性去除模式的方法主要是基于主觀觀測(cè),并沒(méi)有一個(gè)客觀評(píng)價(jià)標(biāo)準(zhǔn)。通過(guò)研究發(fā)現(xiàn),表面粗糙度Rpk可作為判別微細(xì)超聲波加工單晶硅<100>面材料去除模式的客觀評(píng)判標(biāo)準(zhǔn),并通過(guò)實(shí)驗(yàn)得到了驗(yàn)證。
微細(xì)超聲波加工;脆塑轉(zhuǎn)變;表面粗糙度
單晶硅、壓電石英和陶瓷等均屬于硬脆材料,由于其強(qiáng)度高、耐高溫、耐腐蝕等特點(diǎn),被廣泛應(yīng)用于航天、醫(yī)學(xué)、電力等領(lǐng)域[1]。但由于硬脆材料的物理、機(jī)械等特性,傳統(tǒng)加工方法的效果并不理想,甚至很難對(duì)其進(jìn)行加工。微細(xì)超聲波加工不受材料導(dǎo)電性和導(dǎo)熱性的限制,能加工出深徑比很大且形狀復(fù)雜的三維型腔,因此是一種適合于加工硬脆材料的方法[2]。作為微細(xì)加工方法之一,微細(xì)超聲波加工的表面質(zhì)量很大程度上取決于被加工材料的去除模式[3]。當(dāng)材料在塑性模式下去除時(shí),磨粒在材料表面加工出微切削和溝壑,即發(fā)生塑性變形和材料分離;當(dāng)材料在脆性模式下去除時(shí),材料亞表面的側(cè)向裂紋和中位/徑向裂紋延伸到材料表面而導(dǎo)致脆性斷裂,進(jìn)而達(dá)到材料去除的效果。需要特別指出的是,本文所提到的塑性加工是指在加工表面出現(xiàn)了明顯的塑性變形特征,但材料的去除模式仍屬于脆性去除,這相比于傳統(tǒng)的脆性去除會(huì)大大提高微細(xì)超聲波加工的表面質(zhì)量。因此,調(diào)整微細(xì)超聲波加工參數(shù),通過(guò)恰當(dāng)?shù)臏y(cè)量方法和數(shù)據(jù)判別塑性加工,能有效提高微細(xì)超聲波加工的表面質(zhì)量[4]。
目前,判別微細(xì)超聲波加工的去除模式主要是依賴觀察者對(duì)最終加工形貌的理解[5],人為主觀因素影響較大,因而,需找到一種客觀的標(biāo)準(zhǔn)。在衡量表面質(zhì)量的過(guò)程中,表面粗糙度是評(píng)價(jià)微細(xì)加工可行性的一個(gè)重要指標(biāo)。因此,通過(guò)實(shí)驗(yàn)尋求一種或幾種表面粗糙度標(biāo)準(zhǔn)來(lái)判別材料的去除模式,就具有非常重要的意義,也是本文的主要研究目的。
1.1 實(shí)驗(yàn)裝置
微細(xì)超聲波加工實(shí)驗(yàn)裝置主要由微細(xì)工具在線制備模塊、微細(xì)超聲波發(fā)生系統(tǒng)、主軸及伺服進(jìn)給系統(tǒng)、在線觀測(cè)顯微鏡、控制機(jī)和電子天平組成。伺服進(jìn)給系統(tǒng)由X、Y、Z三軸精密工作臺(tái)構(gòu)成,其重復(fù)定位精度為1 μm,最小分辨率為0.1 μm。超聲波振動(dòng)系統(tǒng)由超聲波發(fā)生器和超聲波換能器組成。靜壓力監(jiān)測(cè)元件采用精密電子天平,其顯示精度及重復(fù)精度均為0.001 g[1]。
1.2 理論模型
根據(jù)文獻(xiàn)[6]的分析,當(dāng)使用尖銳壓頭(如:維氏和努氏金剛石壓頭)在脆性材料上進(jìn)行硬度測(cè)試時(shí),會(huì)產(chǎn)生兩種基本的裂紋模式:徑向裂紋和中位側(cè)向裂紋。而當(dāng)加載力沒(méi)有達(dá)到脆塑轉(zhuǎn)變的臨界力時(shí),尖銳壓頭會(huì)引起非彈性且不可逆轉(zhuǎn)的變形,即塑性變形。
微細(xì)超聲波加工中,單個(gè)磨粒就相當(dāng)于尖銳壓頭,理論上,當(dāng)單個(gè)磨粒所受最大力小于脆塑轉(zhuǎn)變的臨界力時(shí),材料表面主要以塑性模式去除;反之,若單個(gè)磨粒所受最大力大于臨界力時(shí),材料表面主要以脆性模式去除。本文中的單個(gè)磨粒所受最大力的計(jì)算是根據(jù)文獻(xiàn)[2]中建立的公式得出的。
1.3 實(shí)驗(yàn)結(jié)果及討論
為了觀察微細(xì)超聲波加工表面的脆塑性和加工參數(shù)(磨粒直徑、振幅)對(duì)加工表面的影響,在單晶硅<100>面上進(jìn)行工具不旋轉(zhuǎn)的微細(xì)超聲波加工實(shí)驗(yàn),加工參數(shù)見(jiàn)表1。用微細(xì)超聲波在單晶硅< 100>面上施加不同的力,共加工146個(gè)深度為20 μm的孔,然后觀察加工孔底的表面形貌,并對(duì)加工模式進(jìn)行分析。
表1 實(shí)驗(yàn)加工參數(shù)
當(dāng)單個(gè)磨粒所受最大沖擊力小于0.065 g時(shí),加工表面有明顯的塑性加工特征。由圖1可看出,圖1a、圖1b和圖1f所示的加工表面光滑平整,有很明顯的塑性去除特征;圖1c、圖1d和圖1e所示表面雖然不如前三者平整,但出現(xiàn)的凹坑邊緣很光滑,在顯微鏡下能看出微微隆起的形貌,這也是塑性加工的特征;而圖1e所示凹坑的隆起雖不明顯,但在加工表面始終沒(méi)有看到裂紋,這其中兼具有塑性和脆性加工的特質(zhì),從凹坑的密度和表面微裂紋來(lái)看,仍判斷為明顯存在塑性去除的模式。
圖1 塑性加工表面
當(dāng)單個(gè)磨粒受力大于0.150 g時(shí),表面加工形貌呈現(xiàn)為脆性去除的模式(圖2)。
當(dāng)單個(gè)磨粒所受最大力在0.065~0.150 g之間時(shí),有些加工表面很難區(qū)分出到底是塑性去除為主,還是脆性去除為主,即加工表面兼具塑性加工和脆性加工的特征(圖3)。
圖2 脆性加工表面
圖3 無(wú)法區(qū)分去除模式的加工表面
根據(jù)以上得出的臨界力可劃分材料的塑性和脆性去除模式。通過(guò)測(cè)量各加工表面的粗糙度指標(biāo),并繪制對(duì)應(yīng)的表面粗糙度折線后發(fā)現(xiàn),一些常規(guī)的表面粗糙度指標(biāo)(如Ra、Rq、Rz、Rk等)無(wú)法明顯區(qū)分去除模式,但表面粗糙度Rpk無(wú)論是從理論定義、還是從測(cè)量結(jié)果上都能將脆性和塑性加工很
好地區(qū)分開(kāi)來(lái)。對(duì)實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)進(jìn)行統(tǒng)計(jì)的結(jié)果表明,當(dāng)加工表面的Rpk<450 nm時(shí),基本可判別為塑性去除模式;當(dāng)加工表面的Rpk>500 nm時(shí),基本可判別為脆性去除模式;而當(dāng)Rpk分布在450~500 nm之間時(shí),去除模式則難以區(qū)分。因此,Rpk可作為微細(xì)超聲波加工單晶硅<100>面時(shí)的材料去除模式的一個(gè)判定指標(biāo)。圖4所示的折線清楚地表明了根據(jù)臨界力劃分的材料去除模式與粗糙度Rpk的對(duì)應(yīng)關(guān)系。
圖4 表面粗糙度Rpk與去除模式的關(guān)系
圖4中也有個(gè)別點(diǎn)較例外,如難以劃分去除模式的所在折線上的11#和20#樣品。究其原因可能是微細(xì)超聲波加工存在極大的不穩(wěn)定性,尤其在加工即將結(jié)束階段,由于加工力的變化幅值大,導(dǎo)致去除模式的改變。
為了驗(yàn)證表面粗糙度Rpk作為單晶硅<100>面材料去除模式判別標(biāo)準(zhǔn)的可行性,將表1所示的磨料濃度由3%更改為1%,保持其他實(shí)驗(yàn)參數(shù)不變,控制單個(gè)磨粒的受力,在不同模式下分別對(duì)8個(gè)樣品進(jìn)行加工。然后,仍采用上述方法繪制出Rpk折線(圖5),結(jié)果發(fā)現(xiàn)表面粗糙度Rpk能將材料去除模式很好地區(qū)分開(kāi)來(lái)。
(1)通過(guò)觀察微細(xì)超聲波加工單晶硅<100>晶面的加工表面SEM圖片發(fā)現(xiàn),當(dāng)單個(gè)磨粒所受最大力小于0.065 g時(shí),加工表面主要呈塑性去除狀態(tài);當(dāng)單個(gè)磨粒所受最大力大于0.150 g時(shí),加工表面主要呈脆性去除狀態(tài);當(dāng)單個(gè)磨粒所受最大力介于0.065~0.150 g之間時(shí),去除模式難以準(zhǔn)確區(qū)分。
圖5 3種加工模式的Rpk
(2)通過(guò)對(duì)加工表面進(jìn)行表面粗糙度測(cè)量和分析發(fā)現(xiàn),Rpk可作為微細(xì)超聲波加工單晶硅<100>晶面時(shí)材料去除模式的判別標(biāo)準(zhǔn)。若加工表面的Rpk< 450 nm,基本可判定去除模式為塑性去除模式;若加工表面的Rpk>500 nm,基本可判定去除模式為脆性去除;而Rpk在450~500 nm之間時(shí),加工介于塑性和脆性的混合去除模式。
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Discussion on Criterion for Brittle-plastic Mode in Micro USM
Song Jiawen1,Wang Tao1,Yu Zuyuan1,Li Jianzhong1,Xia Heng2
(1.Dalian University of Technology,Dalian 116024,China;2.Tokyo University of Agriculture and Technology,Tokyo 183-8538,Japan)
It is possible to obtain ductile machined surface by adjusting properly machining parameters of micro USM in machining single crystal silicon<100>,and the quality of surface is improved significantly.However,traditional methods to identify the brittle or ductile removal modes are based on individual observation and there is not a objective principle of judgement.The surface roughness,Rpkis proposed to be used as the criterion to identify the material removal mode of micro USM in machining single crystal silicon<100>.This criterion is verified by experiments.
micro USM;brittle-plastic transition;surface roughness
TG663
A
1009-279X(2014)02-0051-04
2013-10-30
國(guó)家自然科學(xué)基金資助項(xiàng)目(51075053)第一作者簡(jiǎn)介:宋家雯,女,1989年生,碩士研究生。