張向波,金振宇
(中國(guó)科學(xué)院云南天文臺(tái),云南 昆明 650011)
對(duì)星體的高分辨率成像是天文觀測(cè)的重要目標(biāo)之一。高分辨統(tǒng)計(jì)重建技術(shù)是目前地面望遠(yuǎn)鏡實(shí)現(xiàn)高分辨率成像的主要方法之一,可分為頻域統(tǒng)計(jì)重建方法和空域統(tǒng)計(jì)重建方法兩類(lèi)。斑點(diǎn)干涉術(shù)[1]作為頻域統(tǒng)計(jì)重建方法的典型代表,主要是通過(guò)對(duì)目標(biāo)系列斑點(diǎn)圖的功率譜進(jìn)行統(tǒng)計(jì)從而實(shí)現(xiàn)目標(biāo)的?;蜃韵嚓P(guān)的高分辨重建。為方便描述斑點(diǎn)干涉術(shù)重建方法,進(jìn)行以下定義:目標(biāo)為O(x,y),大氣-望遠(yuǎn)鏡瞬時(shí)點(diǎn)擴(kuò)散函數(shù)為h(x,y),目標(biāo)斑點(diǎn)圖為i(x,y);其頻譜分別為O(u,v)、H(u,v)、I(u,v)。在滿足等暈性條件下
i(x,y)=O(x,y)?h(x,y)
(1)
I(u,v)=O(u,v)·H(u,v)
(2)
(1)式和(2)式中,x,y為空間坐標(biāo)變量;u,v為空間頻率坐標(biāo)變量;符號(hào)?代表卷積算符;符號(hào)·代表乘積算符。遍歷假設(shè)下,時(shí)間平均代替系綜平均,目標(biāo)斑點(diǎn)圖的功率譜統(tǒng)計(jì)結(jié)果為:
=O(u,v)O*(u,v)·
(3)
(4)
(3)式和(4)式中,<...>表示對(duì)其中的函數(shù)進(jìn)行時(shí)間平均;*號(hào)表示取相應(yīng)函數(shù)的復(fù)共軛;
高分辨統(tǒng)計(jì)重建技術(shù)的數(shù)據(jù)主要是凍結(jié)大氣湍流的目標(biāo)系列短曝光圖像,獲得信噪比高的目標(biāo)短曝光圖像是高分辨統(tǒng)計(jì)重建的首要工作。常規(guī)CCD中讀出噪聲小的其讀出速度慢,難以獲得短曝光圖像;讀出速度快的其讀出噪聲大,斑點(diǎn)圖信噪比不高。增強(qiáng)型CCD(ICCD)雖然有電子倍增效應(yīng),可對(duì)入射信號(hào)實(shí)現(xiàn)放大,但是其量子效率低。電子倍增CCD(EMCCD)[2]是在常規(guī)CCD結(jié)構(gòu)的基礎(chǔ)上,在讀出寄存器后又連續(xù)增加一串“增益寄存器”(全固態(tài)),實(shí)現(xiàn)信號(hào)放大。EMCCD采用超低溫深度制冷減小暗電流,利用高的倍增增益(EM Gain)抑制讀出噪聲,可獲得常規(guī)CCD無(wú)法比擬的信噪比。EMCCD又因其具有微光探測(cè)能力、高量子效率、高讀出速率、有利于獲得短曝光圖像等特點(diǎn),目前成功應(yīng)用于暗弱目標(biāo)的高分辨成像中[3-6]。EMCCD相對(duì)于常規(guī)CCD和ICCD雖然可獲得信噪比高的短曝光圖像,但是其附加噪聲不同于常規(guī)CCD和ICCD,其附加噪聲在天文目標(biāo)觀測(cè)中對(duì)斑點(diǎn)圖信噪比及高分辨成像結(jié)果產(chǎn)生那些影響,尤其是當(dāng)所觀測(cè)目標(biāo)非常暗弱時(shí)。本文在理論分析基礎(chǔ)上通過(guò)模擬詳細(xì)分析了EMCCD的附加噪聲對(duì)天文目標(biāo)高分辨統(tǒng)計(jì)重建技術(shù)——斑點(diǎn)干涉術(shù)傳遞函數(shù)信噪比的影響,并和實(shí)驗(yàn)進(jìn)行了對(duì)比,同時(shí)對(duì)EMCCD附加噪聲產(chǎn)生的偏差進(jìn)行了改正。對(duì)觀測(cè)數(shù)據(jù)利用斑點(diǎn)干涉術(shù)進(jìn)行重建時(shí),通過(guò)對(duì)噪聲偏差進(jìn)行改正,可以有效抑制噪聲偏差對(duì)目標(biāo)功率譜和自相關(guān)重建結(jié)果的影響,這樣可更準(zhǔn)確的測(cè)定雙星的相對(duì)強(qiáng)度比。
EMCCD的附加噪聲主要包括4方面:倍增噪聲(Multiplication Noise)、暗電流(Dark Current)、時(shí)鐘感生電荷(Clock Induced Charge, CIC)和讀出噪聲(Readout Noise)。
倍增噪聲是入射光在EMCCD中實(shí)現(xiàn)倍增過(guò)程中產(chǎn)生的,它使光子噪聲的方差增大為原來(lái)的兩倍,這種噪聲可用噪聲因子描述。文[7]作者給出了噪聲因子的表達(dá)式
(5)
EMCCD的暗電流和常規(guī)CCD一樣主要是在耗盡層內(nèi)通過(guò)復(fù)合產(chǎn)生的暗電流SB和通過(guò)表面態(tài)產(chǎn)生的暗電流SS,其模型[8]分別為SB=3.3×106T2e-9 080/T,SS=122T3e-6 400/T。影響暗電流的主要因素是溫度,通過(guò)深度制冷可以有效減小暗電流。
時(shí)鐘感生電荷又稱(chēng)為假電荷,是在電荷轉(zhuǎn)移過(guò)程中碰撞電離產(chǎn)生的,與積分時(shí)間無(wú)關(guān)。它可以在光電子由探測(cè)器的光照區(qū)向存儲(chǔ)區(qū)垂直轉(zhuǎn)移過(guò)程中產(chǎn)生(垂直時(shí)鐘感生電荷),也可以在增益寄存器中產(chǎn)生(水平時(shí)鐘感生電荷)。時(shí)鐘感生電荷在常規(guī)CCD和EMCCD都出現(xiàn),只是常規(guī)CCD中暗電流和讀出噪聲要比時(shí)鐘感生電荷大得多,而EMCCD在高分辨成像時(shí)工作于高倍增增益、短曝光狀態(tài),所以讀出噪聲和暗電流很小。同時(shí),對(duì)比圖1中EM Gain=300和1 000時(shí)時(shí)鐘感生電荷數(shù)據(jù)直方圖,可以看出時(shí)鐘感生電荷隨倍增增益增大而增大,所以時(shí)鐘感生電荷成為最主要的噪聲因素。影響時(shí)鐘感生電荷特性的因素很多,研究表明[9-11],時(shí)鐘感生電荷隨溫度降低而減小,隨幀頻增大而增大,隨EMCCD電荷轉(zhuǎn)移速度增大而增大,與垂直轉(zhuǎn)移頻率成反比,隨時(shí)鐘上升時(shí)間增加而減小,隨時(shí)鐘電壓增大而增大,并且時(shí)鐘感生電荷的方差和增益寄存器的個(gè)數(shù)成正比,大致服從泊松分布。
圖1 時(shí)鐘感生電荷隨倍增增益的變化
Fig.1 Distributions of CIC for different EM-Gain values
EMCCD的讀出噪聲是在讀出放大器中產(chǎn)生的,它本身和倍增過(guò)程無(wú)關(guān),隨讀出速度增大而增大,通過(guò)高的倍增增益可以有效抑制讀出噪聲的影響,所以引入等效讀出噪聲[12],如下式:
(6)
2.1 附加噪聲對(duì)斑點(diǎn)干涉術(shù)的影響
斑點(diǎn)干涉術(shù)傳遞函數(shù)是由點(diǎn)源單星瞬時(shí)點(diǎn)擴(kuò)散函數(shù)的平均功率譜獲得的。理想情況下,當(dāng)點(diǎn)源單星較暗且斑點(diǎn)圖中無(wú)附加噪聲而只考慮光子噪聲時(shí),用經(jīng)典的delta函數(shù)模型描述其強(qiáng)度為:
(7)
(8)
此時(shí)N幅斑點(diǎn)圖功率譜平均后[13]功率譜為:
(9)
但是實(shí)際上,點(diǎn)源單星斑點(diǎn)圖含有EMCCD的附加噪聲,且附加噪聲和信號(hào)是統(tǒng)計(jì)獨(dú)立的,這時(shí)斑點(diǎn)圖強(qiáng)度為:
(10)
其傅里葉頻譜為:
(11)
(12)
上式中*表示復(fù)共軛,最后兩項(xiàng)為噪聲和信號(hào)的相關(guān),用N表示。最后求得附加噪聲下斑點(diǎn)干涉術(shù)的傳遞函數(shù)的信噪比為:
(13)
(14)
則噪聲偏差改正后斑點(diǎn)干涉術(shù)的傳遞函數(shù)的信噪比為
(15)
(15)式中算符var{...}表示求方差。
2.2 數(shù)值模擬
為了驗(yàn)證以上附加噪聲偏差對(duì)斑點(diǎn)干涉術(shù)的影響和噪聲偏差改正模型的正確性,首先對(duì)云南天文臺(tái)EMCCD(DU897)的附加噪聲進(jìn)行了實(shí)測(cè),然后根據(jù)實(shí)測(cè)得出的量,模擬了附加噪聲下點(diǎn)源單星斑點(diǎn)圖,如圖2,其中點(diǎn)源單星光子數(shù)為1 000,大氣視寧度參數(shù)是10 cm,時(shí)鐘感生電荷為0.013e-/pix/frame,讀出噪聲為54e-(這里e-表示電子),EM Gain=300,斑點(diǎn)圖的CCD采樣區(qū)域是256 pixel×256 pixel。同時(shí),對(duì)模擬的斑點(diǎn)圖加上了實(shí)測(cè)的附加噪聲,最后分別求斑點(diǎn)干涉術(shù)的傳遞函數(shù),對(duì)比分析理想情況下,實(shí)際噪聲下的斑點(diǎn)干涉術(shù)的傳遞函數(shù)和模擬噪聲下的斑點(diǎn)干涉術(shù)的傳遞函數(shù),如圖3。
圖2 EMCCD附加噪聲、大氣-望遠(yuǎn)鏡瞬時(shí)點(diǎn)擴(kuò)散函數(shù)和附加噪聲下的點(diǎn)源單星斑點(diǎn)圖(a) EMCCD附加噪聲; (b) 大氣-望遠(yuǎn)鏡綜合系統(tǒng)瞬時(shí)點(diǎn)擴(kuò)散函數(shù); (c) 附加噪聲下的點(diǎn)源單星斑點(diǎn)圖
Fig.2 Images of additional noise of an Electron-Multiplying CCD, (a) image instantaneous synthetic PSF of atmosphere and telescope (b), and speckled star with EMCCD noise
首先,對(duì)比圖3中附加噪聲下的斑點(diǎn)干涉術(shù)的傳遞函數(shù)和理想情況下斑點(diǎn)干涉術(shù)的傳遞函數(shù)可發(fā)現(xiàn),一方面,附加噪聲產(chǎn)生的偏差使斑點(diǎn)干涉術(shù)的傳遞函數(shù)在中、高頻相對(duì)理想情況下斑點(diǎn)干涉術(shù)的傳遞函數(shù)出現(xiàn)了很大的起伏,斑點(diǎn)干涉術(shù)的傳遞函數(shù)的中、高頻方差變大,信噪比降低,最終導(dǎo)致難以重建接近望遠(yuǎn)鏡衍射極限的高頻信息。對(duì)暗弱目標(biāo)來(lái)說(shuō),倍增噪聲和時(shí)鐘感生電荷成了影響斑點(diǎn)干涉術(shù)的傳遞函數(shù)信噪比的主要因素。
其次,對(duì)比實(shí)測(cè)噪聲下的斑點(diǎn)干涉術(shù)的傳遞函數(shù)和模擬噪聲下的斑點(diǎn)干涉術(shù)的傳遞函數(shù),可以看出實(shí)測(cè)的EMCCD附加噪聲是和實(shí)際情況吻合的,同時(shí)也驗(yàn)證了EMCCD附加噪聲對(duì)斑點(diǎn)干涉術(shù)影響的正確性。
為了消除附加噪聲偏差對(duì)斑點(diǎn)干涉術(shù)傳遞函數(shù)信噪比的影響,用(13)式對(duì)噪聲偏差進(jìn)行了改正,同時(shí)和常規(guī)CCD獲得的斑點(diǎn)干涉術(shù)進(jìn)行了對(duì)比。倍增噪聲實(shí)質(zhì)是光子噪聲,因?yàn)樗侨肷涔庾拥碾S機(jī)漲落,因此對(duì)光子噪聲偏差的改正就是對(duì)附加噪聲偏差進(jìn)行改正。從圖4可看出, EMCCD能對(duì)暗弱目標(biāo)入射光子進(jìn)行放大,可獲得常規(guī)CCD無(wú)法比擬的信噪比。對(duì)比圖3和圖4可看出,在目標(biāo)非常暗弱時(shí)用以上模型進(jìn)行噪聲偏差改正后,有效抑制了EMCCD附加噪聲偏差對(duì)斑點(diǎn)干涉術(shù)的傳遞函數(shù)各頻率信噪比的影響,基本解決了EMCCD附加噪聲對(duì)斑點(diǎn)干涉術(shù)在重建目標(biāo)自相關(guān)或模時(shí)的影響。
圖3 斑點(diǎn)干涉術(shù)的傳遞函數(shù)隨附加噪聲的變化
Fig.3 SITF values at different levels of additional noise
圖4 附加噪聲偏差改正后的斑點(diǎn)干涉術(shù)的傳遞函數(shù)
Fig.4 SITF values at different levels of additional noise after the bias correction
2.3 實(shí)測(cè)數(shù)據(jù)處理結(jié)果
2009年2月9日利用麗江2.4 m望遠(yuǎn)鏡獲得了大量的實(shí)測(cè)數(shù)據(jù),其中雙星HDS1574的主星可見(jiàn)星等為7.56 mag,伴星可見(jiàn)星等10.99 mag,星等差3.43 mag,最后觀測(cè)時(shí)間為1991年。觀測(cè)中采用了標(biāo)準(zhǔn)濾光片,每波段采集目標(biāo)數(shù)據(jù)10 000幅,參考星數(shù)據(jù)5 000幅,圖像大小256×256,采用4倍放大鏡,EMCCD像元尺寸為16 μm×16 μm,每像素為0.043″。
對(duì)于一般暗弱目標(biāo),倍增噪聲和時(shí)鐘感生電荷成為影響高分辨成像的主要噪聲,但是此時(shí)對(duì)于雙星HDS1574,由于目標(biāo)較亮,入射光子流量較大,倍增噪聲相對(duì)于時(shí)鐘感生電荷對(duì)重建產(chǎn)生的影響更大,所以此時(shí)倍增噪聲成為影響EMCCD高分辨成像信噪比的主要因素。如果沒(méi)有噪聲偏差影響時(shí),設(shè)雙星強(qiáng)度為:
(16)
式中,d1和d2分別為主星和伴星的強(qiáng)度;x1和x2分別為主星和伴星位置;Δx=x1-x2為雙星角間距。經(jīng)過(guò)斑點(diǎn)干涉術(shù)重建得到目標(biāo)的功率譜和自相關(guān)后,雙星的相對(duì)亮度比d1∶d2可由下式得到:
(17)
式中,(d1+d2)2表示雙星相關(guān)峰主峰強(qiáng)度,旁瓣峰值強(qiáng)度為d1d2。但是有噪聲偏差影響時(shí),雙星相對(duì)亮度比將難以準(zhǔn)確測(cè)定。對(duì)噪聲偏差進(jìn)行改正后,利用斑點(diǎn)干涉術(shù)進(jìn)行目標(biāo)自相關(guān)重建,然后用理想望遠(yuǎn)鏡光學(xué)傳遞函數(shù)(OTF)濾波后結(jié)果如圖5,其中圖5(a)為進(jìn)行噪聲偏差改正前后所獲取的目標(biāo)功率譜重建結(jié)果,圖5(b)為對(duì)噪聲偏差改正前后所獲取的目標(biāo)自相關(guān)重建結(jié)果。對(duì)比圖5(a)中的噪聲偏差改正前后目標(biāo)功率譜重建結(jié)果可以很明顯看出,未進(jìn)行噪聲偏差改正時(shí),由于EMCCD倍增噪聲引起的噪聲偏差,目標(biāo)功率譜高頻出現(xiàn)了起伏,經(jīng)過(guò)噪聲偏差改正后,目標(biāo)功率譜條紋的對(duì)比度提高,原本高頻微弱的信息也得以體現(xiàn)。由功率譜條紋間距可以更準(zhǔn)確測(cè)定主伴星間距。同時(shí),對(duì)比圖5(b)中的噪聲偏差改正前后目標(biāo)自相關(guān)重建結(jié)果,噪聲偏差改正前主伴星相對(duì)亮度比為43.68∶1,噪聲偏差改正后主伴星相對(duì)亮度比為31.89∶1,而雙星真實(shí)強(qiáng)度比為31∶1,從而可以很明顯看出,噪聲偏差改正后主伴星相對(duì)亮度的測(cè)定可以更準(zhǔn)確。
由此利用提出的噪聲偏差改正模型對(duì)重建目標(biāo)自相關(guān)或模時(shí)噪聲偏差的影響進(jìn)行了改正,基本解決了EMCCD附加噪聲對(duì)斑點(diǎn)干涉術(shù)在重建目標(biāo)自相關(guān)或模時(shí)的影響,可以更準(zhǔn)確測(cè)定雙星主伴星的相對(duì)亮度比和角間距。
圖5 附加噪聲偏差改正前后斑點(diǎn)干涉術(shù)重建結(jié)果比較
(a) 附加噪聲偏差改正前后目標(biāo)功率譜重建結(jié)果比較;(b) 附加噪聲偏差改正前后目標(biāo)自相關(guān)重建結(jié)果
Fig.5 Comparison of Speckle-Interferometry results before and after the noise-bias correction
(a) Comparison of the power spectra of the object before and after the noise-bias correction; (b) Comparison of the autocorrelations of the object before and after the noise-bias correction
從EMCCD附加噪聲特性的分析可以看出,當(dāng)目標(biāo)非常暗弱,在高倍增增益、高幀頻、短曝光時(shí),影響EMCCD高分辨成像信噪比的主要噪聲就是倍增噪聲和時(shí)鐘感生電荷。模擬分析EMCCD附加噪聲對(duì)斑點(diǎn)干涉術(shù)影響的結(jié)果表明,因附加噪聲引入的噪聲偏差,斑點(diǎn)干涉術(shù)傳遞函數(shù)中、高頻信噪比嚴(yán)重下降。從噪聲偏差改正的結(jié)果來(lái)看,所提出的噪聲偏差改正模型基本解決了EMCCD附加噪聲對(duì)斑點(diǎn)干涉術(shù)在重建目標(biāo)自相關(guān)或模時(shí)的影響。
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