E.CAM型SPECT均勻性校正技術(shù)

吳立兵，李伏燕

湖北醫(yī)藥學(xué)院附屬太和醫(yī)院核醫(yī)學(xué)科，湖北 十堰 442000

E.CAM型SPECT均勻性校正技術(shù)

吳立兵，李伏燕

湖北醫(yī)藥學(xué)院附屬太和醫(yī)院核醫(yī)學(xué)科，湖北 十堰 442000

目的了解E.CAM型SPECT均勻性校正技術(shù)在設(shè)備常規(guī)質(zhì)控方面的應(yīng)用價(jià)值。方法通過(guò)對(duì)設(shè)備的固有均勻性進(jìn)行檢查、校正，分析校正前后均勻性相關(guān)指標(biāo)在統(tǒng)計(jì)學(xué)方面的意義。結(jié)果E.CAM型SPECT固有均勻性校正后的指標(biāo)明顯優(yōu)于校正前，相差指標(biāo)差異具有統(tǒng)計(jì)學(xué)意義（P＜0.05）。結(jié)論E.CAM型SPECT均勻性校正技術(shù)可優(yōu)化設(shè)備性能。

SPECT；準(zhǔn)直器；固有均勻性校正；放射源

SPECT 是核醫(yī)學(xué)診斷、檢測(cè)的主要設(shè)備。SPECT 質(zhì)控指標(biāo)多種多樣，固有均勻性檢查是日常質(zhì)控中做得最多的指標(biāo)之一。本研究通過(guò)對(duì)西門子 E.CAM 型 SPECT 進(jìn)行均勻性檢查，對(duì)系統(tǒng)的固有均勻性進(jìn)行評(píng)價(jià)，來(lái)評(píng)估設(shè)備的長(zhǎng)期工作性能。

1 均勻性檢查及校正方法

1.1 均勻性檢查

均勻性是指探頭采集面源或點(diǎn)源的放射性分布的均勻程度。SPECT 要求探頭的均勻性在 ±1% 之間。探頭的均勻性分固有均勻性和校正后的均勻性。校正后的均勻性又分為加準(zhǔn)直器的系統(tǒng)均勻性和不加準(zhǔn)直器的系統(tǒng)固有均勻性。均勻性校正是通過(guò)采集一個(gè)大計(jì)數(shù)量的靈敏度圖，計(jì)算視野內(nèi)平均計(jì)數(shù)（CM）除以各像素單元的計(jì)數(shù)（CI），得到校正因子（FI）。利用 FI校正每次數(shù)據(jù)采集結(jié)束后的圖像，從而提高圖像的均勻性。

應(yīng)用系統(tǒng)的均勻性檢查程序：卸下準(zhǔn)直器，使兩個(gè)探頭處于平行狀態(tài)，探頭“一”在上面，二者間距調(diào)到最大。從小床上把放置點(diǎn)源的托架拉出，使點(diǎn)源跟兩個(gè)探頭的距離相等 ；配 99mTc 點(diǎn)源，活度為 15～25 uCi，體積盡可能小，計(jì)數(shù)率不超過(guò) 75 kCPS ；設(shè)置兩個(gè)探頭計(jì)數(shù)為 10MCPM。采集完畢，可以通過(guò)目測(cè)大致判斷探頭的均勻性狀況。西門子公司提供相關(guān)參數(shù)的參考值，見(jiàn)表1。

表1 相關(guān)參數(shù)參考值表

均勻性檢查完畢，如果探頭1、2的上述參數(shù)均在正常范圍內(nèi)，程序會(huì)允許此次檢查完成，否則要對(duì)均勻性進(jìn)行校正。

1.2 均勻性校正

應(yīng)用系統(tǒng)的均勻性校正 Monthly Q.C 程序，條件同上。設(shè)置兩個(gè)探頭采集結(jié)束計(jì)數(shù)為 200MCPM。一般來(lái)說(shuō)，如果相關(guān)參數(shù)的偏差在 10% 以內(nèi)，可以接受校正結(jié)果。且系統(tǒng)會(huì)對(duì)固有均勻性相關(guān)數(shù)據(jù)進(jìn)行調(diào)整，達(dá)到校正均勻性的目的。

如果校正后，系統(tǒng)的固有均勻性還是不好，可以利用Tuning 對(duì)光電倍增管進(jìn)行微調(diào)，然后再做 Monthly Q.C 校正，一般可以達(dá)到校正目的。

2 校正前后均勻性結(jié)果比較

我 科 的 SPECT 裝 機(jī) 已 近 10 年， 達(dá) 到 使 用 極 限。 近幾年做均勻性檢測(cè)，時(shí)有數(shù)據(jù)超出參考值的情況。選取2010～2012 年 20 次均勻 性校正 前后數(shù)據(jù)，均采 用常用的SPSS14.0 數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)予以處理，當(dāng)P ＜ 0.05 時(shí)，可以認(rèn)為差異有統(tǒng)計(jì)學(xué)意義，見(jiàn)表2。

n=20（次） CentralFOVCentralFOVUseful FOVUseful FOV校正前 4．82±0．35 2．40±0．24 4．75±0．31 2．69±0．42校正后 2．55±0．58 2．04±0．33 3．22±0．39 2．05±0．37 P＜0．05 ＜0．05 ＜0．05 ＜0．05

表2 校正前后固有均勻性相關(guān)數(shù)據(jù)比較從 表 2 可 見(jiàn)， 西門 子 E.CAM 型 SPECT 在 校 正 后的均勻性指標(biāo)明顯優(yōu)于校正前，具有非常明顯的統(tǒng)計(jì)學(xué)差異（P ＜ 0.05）。工作人員對(duì)設(shè)備的檢查與校正，對(duì)于均勻性指標(biāo)的改善具有非常重要的意義。

3 討論

SPECT 均勻性質(zhì)量控制是核醫(yī)學(xué)質(zhì)量管理的重要內(nèi)容。均勻性降低會(huì)引起圖像失真，造成 SPECT 報(bào)告出現(xiàn)錯(cuò)誤的結(jié)論。根據(jù) SPECT 的設(shè)計(jì)，多個(gè)性能參數(shù)是相伴或相隨的，系統(tǒng)中電氣或機(jī)械的變化很可能導(dǎo)致多個(gè)測(cè)量參數(shù)的改變。如 PMT漂移會(huì)導(dǎo)致局部均勻性、線性的改變 ；電氣或電源不穩(wěn)引起的能峰漂移，會(huì)導(dǎo)致均勻性下降和整體靈敏度的下降。因此，可以通過(guò)調(diào)整能峰和調(diào)整光電倍增管來(lái)校正系統(tǒng)固有均勻性[1]。通過(guò)對(duì)校正前后固有均勻性相關(guān)數(shù)據(jù)比較可以發(fā)現(xiàn)，對(duì)均勻性進(jìn)行校正，可以大大優(yōu)化設(shè)備性能[2-3]。

掌握各種設(shè)備質(zhì)控檢測(cè)和校正技術(shù)是核醫(yī)學(xué)技師應(yīng)該具備的基本素質(zhì)之一。通過(guò)常規(guī)質(zhì)控檢查了解設(shè)備的運(yùn)行狀況[4-7]，減少因設(shè)備異常造成圖像的失真，為臨床提供正確的信息。核醫(yī)學(xué)設(shè)備的維修成本非常高，核醫(yī)學(xué)技師可以通過(guò)學(xué)習(xí)，充分掌握設(shè)備的性能，根據(jù)設(shè)備自身提供的方法對(duì)機(jī)器進(jìn)行校正和調(diào)試；可以和醫(yī)院設(shè)備科合作進(jìn)行一些有把握的維修，以減少維修費(fèi)用，降低科室的運(yùn)行成本。

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Uniformity Correction Technique of E.CAM SPECT

WU Li-bing，LI Fu-yan
Department of Nuclear Medicine, Taihe Hospital, Affiliated Hospital of Hubei University of Medicine, Shiyan Hubei 442000, China

ObjectiveTo explore the application value of uniformity correction technique of E.CAM SPECT on the regular quality control of medical equipment.MethodsAnalyzed the statistical significance between related indexes of uniformity before correction and related indexes of uniformity after correction by checking and correcting inherent uniformity of medical equipment.ResultsThere is statistical significance between inherent uniformity indexes of E.CAM SPECT after correction and the indexes before correction (P＜0.05), which indicates that the former is obviously better than the later.ConclusionThe performance of E.CAM SPECT can be improved with the application of uniformity correction technique.

SPECT; collimator; inherent uniformity correction; radioactive source

TH774

B

10.3969/j.issn.1674-1633.2013.11.021

1674-1633(2013)11-0061-02

2013-05-06

2013-08-28

本文作者：吳立兵，副主任技師。

作者郵箱：wuerfan@sina．com