寸鳳妹 李小莉
摘 要 采用粉末壓片,用Axios XRF光譜儀測定鈦白粉品中Sb、Nb、Zr、Fe、S、P、K、Si、Al和Te 10種微量元素。以標準樣品的配置和樣品的制備為重點,在鈦白粉樣品中加入一定量的甲基纖維素混勻、壓片,樣品表面光滑、平整。克服了用鈦白粉樣品直接壓片,由于樣品粘性較大不僅粘模具,而且樣片表面凹凸不平的缺點。用經(jīng)驗系數(shù)和RhKα線的康普頓散射線作內(nèi)標校正基體效應,方法簡便、快速、準確,分析結(jié)果準確度能滿足工廠質(zhì)量監(jiān)控要求。
關鍵詞 X射線熒光光譜法 鈦白粉樣品 微量元素
鈦白粉被廣泛應用于塑料、油漆及食品添加劑中,鈦白粉中雜質(zhì)元素的含量會嚴重影響產(chǎn)品質(zhì)量,如;鐵含量高會使其顏色發(fā)黃,磷含量高會影響產(chǎn)品性質(zhì),為保證鈦白粉的質(zhì)量,必須對其雜質(zhì)含量作嚴格控制。
在工廠鈦白粉中雜質(zhì)的測定通常采用化學法[1~4],僅能測定磷和鐵等少量元素, 且耗時長,遠遠不能滿足工業(yè)生產(chǎn)快速質(zhì)量監(jiān)控要求。XRF熒光光譜法具有簡單、快速、靈敏、準確,而且能進行多元素分析 [5~12],是分析領域中重要分析手段。但在鈦白粉樣品的分析中報道很少,僅為使用熔融片X射線熒光光譜法測定鈦白粉樣品中主次量元素[13,14]。為此,本文應用Axios XRF光譜儀對鈦白粉樣品中10種微量元素進行測定,分析結(jié)果的精密度和準確度均較好,可以滿足鈦白粉廠生產(chǎn)過程質(zhì)量監(jiān)控要求。
1 實驗
1.1 儀器與試劑
Axios X射線熒光光譜儀,帕納科公司(原飛利浦分析儀器公司),工作條件為:2.4kW高功率,最大激發(fā)電壓60kV,最大電流125mA,高透過率,SST超尖銳長壽命陶瓷端窗(75)銠靶X光管。Superq4.0D軟件,68位自動進樣器,HP6500彩色打印機。
本實驗所使用的化學試劑為甲基纖維素(分析純),鈦白粉樣品來自安徽銅陵鈦白粉廠。
1.2 元素測量條件
為準確測定鈦白粉樣品中多種微量元素,使用幾個標樣對元素的分析線和背景進行選擇,各元素的測量條件見表1。
1.3 樣品制備
鈦白粉樣品中雜質(zhì)元素的含量很低,為準確測量雜質(zhì)元素含量,采用粉末壓片法制樣。試樣制備的質(zhì)量是影響雜質(zhì)元素準確測定的關鍵步驟之一。由于鈦白粉樣品中粘性較大,直接壓片就會粘模具,使其測量面凹凸不平,不光滑。為此采用甲基纖維素(白色粉末)作粘結(jié)劑。
稱取在105℃烘2h鈦白粉樣品4.00g和1.00g甲基纖維素,在瑪瑙缽中研磨20min,以保證樣品與甲基纖維素充分混勻,在3.18Х107pa壓力下保壓30s制備試樣,試樣表面十分平整光滑。標準樣品也同樣制備。
1.4 標準樣品選擇
采用粉末壓片制樣,標準樣品應與待分析樣品在結(jié)構(gòu)、化學組成,礦物效應和顆粒度方面一致,否則由于存在顆粒度和礦物效應,未知樣品的結(jié)果會產(chǎn)生較大誤差。由于鈦白粉的標樣較少,選用安徽銅陵鈦白粉廠不同品位段的鈦白粉樣品,對選中的樣品研磨至粒度為0.037mm,然后經(jīng)過3個不同人員,用濕化學法測定TiO2[1],其它元素的測定主要用分光光度法、原子吸收光譜法、等離子體發(fā)射光譜法[2,3] 定值,取3次測定的平均值作為標準參考值,使其具有一定含量范圍又有適當含量梯度能覆蓋整個生產(chǎn)范圍的標準系列。標樣中各元素的含量范圍見表2。
1.5 基體效應及譜線重疊干擾校正
鈦白粉樣品很細,且標樣和分析樣品生產(chǎn)工藝流程完全相同,減少了顆粒度和礦物效應。由于采用粉末樣品壓片制樣,元素間的吸收增強效應仍然存在,故采用經(jīng)驗α系數(shù)法和康普頓散射線內(nèi)標校正基體效應。本法所用的帕納科公司SuperQ軟件的綜合數(shù)學校正公式為:
式中:Ci為校準樣品中分析元素i的含量(在未知樣品分析中為基體校正后分析元素i的含量);Di為分析元素i校準曲線的截距;Lim為干擾元素m對分析元素i譜線重疊干擾校正系數(shù);Zm為譜線重疊干擾元素;Ei為分析元素i校準曲線的斜率;Ri為分析元素i的計數(shù)率(或與內(nèi)標的強度比值);Zj、Zk為共存元素的含量或計數(shù)率;N為共存元素的數(shù)目;α、β、γ、δ為校正基體效應的因子;i為分析元素;m為干擾元素;j和k為共存元素。
2 結(jié)果和討論
2.1 檢出限
檢出限的計算公式:
2.2 制樣再現(xiàn)性
采用樣品,重復制備5個樣片,按表1測量條件進行測量,并將測定結(jié)果進行統(tǒng)計,其統(tǒng)計結(jié)果見表4。由表4中的數(shù)據(jù)可知本法制樣重現(xiàn)性良好。
2.3 分析結(jié)果對照
用2個有化學值的樣品(AA1和AA2)作為未知樣品,使用表1的測量條件進行測量,其分析結(jié)果對照見下表5。
3 小結(jié)
在鈦白粉樣品中加入甲基纖維素,混勻,壓片,采用鈦白粉樣品經(jīng)化學定值后作為標準,用經(jīng)驗系數(shù)法和散射線作內(nèi)標,校正基體效應,方法簡便、快速、準確,提高分析結(jié)果的精密度和準確度。
參考文獻
[1] 巖石礦物分析編寫小組.巖石礦物分析(第一版),北京:地質(zhì)出版社,1974:303-330.
[2] Bernhard B,Klaus B H.Determination of heavy metals in TiO2 with isotope dilution mass spectrometry[J]. Analytical and Bioanalytical Chemistry ,1994,350(4-5):284-286.
[3] 黃肇敏.鈦白粉中雜質(zhì)元素的原子發(fā)射光譜分析[J].金屬材料與冶金工程,2007,35(5):38-41.
[4] 李化權(quán).鈦白粉中痕量雜質(zhì)鐵鈷鎳銅錳的光譜法測定[J].化工生產(chǎn)與技術,2007,14(5):52-55.
[5] 李國會.X射線熒光光譜法測定橄欖巖主次痕量元素光譜實驗室[J].1997,14(6):32-34.
[6] 歐陽倫熬.X射線熒光光譜法測定多種鐵礦和硅酸鹽中主次量組分[J].巖礦測試,2005,24(4):303-306.
[7] 李國會.X射線熒光光譜法測定鉻鐵礦中主次量組分[J].巖礦測試,1999,18(2):131-134.
[8] 詹秀春,羅立強. 偏振激發(fā)—能量色散X—射線熒光光譜法快速分析地質(zhì)樣品中34種元素[J].光譜學與光譜分析.2003,34(4):804-806.
[9] 李國會,卜維, 樊守忠.X射線熒光光譜法測定硅酸鹽中硫等20個主次痕量元素[J].光譜學與光譜分析.1994,14(1): 105-107.
[10] 李國會, 樊守忠 ,曹群仙,等.X射線熒光光譜法直接測定碳酸鹽巖石中主次痕量元素[J].巖礦測試,1997,16(1):45-48.
[11] 梁述廷,劉玉春,胡誥.X射線熒光光譜法測定土壤樣品中碳氮等多種元素[J]. 巖礦測試,2004,23(2):102-105.
[12] Kikkert Spectrochimica Acta.1983,33B(56):502-504.
[13] 張建波,朱麗輝,林力.X射線熒光光譜法測定鈦白粉中磷鐵鋯鈮[J]. 冶金分析,2009,29(1):40-43.
[14] 劉勝,王樂,陶林,等.X射線熒光光譜法測定鈦白粉中的主次元素含量[J].分析測試學報,2012,31(增刊):212-214.