魏 新, 馬麗華, 李云霞, 徐志燕, 李大為
(空軍工程大學(xué)信息與導(dǎo)航學(xué)院,西安 710077)
目前,紅外檢測(cè)技術(shù)廣泛應(yīng)用于電氣設(shè)備和電路板卡的故障檢測(cè)。圖像配準(zhǔn)技術(shù)[1]是紅外圖像處理中最關(guān)鍵的技術(shù)之一,配準(zhǔn)的結(jié)果直接影響到故障的檢測(cè)與定位。圖像配準(zhǔn)可分為基于灰度的圖像配準(zhǔn)[2]和基于特征的圖像配準(zhǔn)[3]?;诨叶鹊膱D像配準(zhǔn)一般要求圖像的相關(guān)性強(qiáng),而且計(jì)算量大,很難達(dá)到實(shí)時(shí)性的需求;基于特征的圖像配準(zhǔn)計(jì)算量小、運(yùn)算速度快,且具有較強(qiáng)的魯棒性,成為圖像配準(zhǔn)研究的主要方向。
常用的特征提取算法有 Harris[4],SUSAN[5],SIFT[6](Scale Invariant Features Transform)和 SUFT[7](Speeded-Up Robust Features)等。SIFT算子最早由Lowe David G提出,是建立在DoG(Difference of Gaussian)尺度空間理論基礎(chǔ)上的一種算法。該算法采取鄰域方向性信息聯(lián)合的思想,從空間域和尺度域兩個(gè)方面對(duì)圖像進(jìn)行特征分析,對(duì)檢測(cè)到的關(guān)鍵點(diǎn)用128維的特征向量表征,具有尺度不變性和較強(qiáng)的魯棒性。由文獻(xiàn)[8]的對(duì)比分析知,SIFT算法性能優(yōu)于Harris、SUSAN等角點(diǎn)算法,但SIFT算子比較耗時(shí),不能滿足實(shí)時(shí)性的要求。因此,Bay等人提出了一種基于快速魯棒特征的SUFT算法,它在特征點(diǎn)檢測(cè)的準(zhǔn)確性、魯棒性以及實(shí)時(shí)性方面較其他算法[9-11]有很大優(yōu)勢(shì)。
本文利用SUFT算法進(jìn)行特征點(diǎn)檢測(cè),采取粗匹配與精匹配[12]結(jié)合的匹配策略選取特征點(diǎn)對(duì),設(shè)計(jì)了一種快速、有效、高精度的紅外圖像配準(zhǔn)算法。
SUFT特征點(diǎn)檢測(cè)是基于Hessian矩陣進(jìn)行的,給定圖像 I(x,y)中一點(diǎn) s=[x,y],則在尺度 σ 的Hessian矩陣為
式中,Lxx(x,σ)為圖像 I(x,y)和高斯函數(shù) G(x,y,σ)在x方向上的二階導(dǎo)數(shù)在x的卷積。即
Lxy(x,σ)、Lyy(x,σ)與之類似。
高斯函數(shù)對(duì)尺度空間分析是最優(yōu)的,盒濾波器可近似為高斯函數(shù)二階導(dǎo)數(shù),由式(2)易知SUFT算法可用盒濾波器近似Hessian矩陣。為了計(jì)算方便,采用盒濾波器與輸入圖像的卷積 Dxx、Dyy、Dxy代替 Lxx、Lyy、Lxy。把9×9的盒濾波器近似為σ=1.2的二階高斯導(dǎo)數(shù)Dxx、Dxy與 Lxx、Lxy之間關(guān)系為
使用了盒濾波器和積分圖像,不必迭代地應(yīng)用相同濾波器到前一個(gè)已濾層的輸出上,而是應(yīng)用不同大小的盒濾波器以相同的速度直接作用到原始圖像上,見(jiàn)圖1。
圖1 尺度空間的金字塔示意圖Fig.1 Pyramid sketch map of scale space
因此,對(duì)尺度空間的分析是通過(guò)增大濾波器的尺寸而不是迭代地降低圖像的尺寸,所需的計(jì)算時(shí)間是獨(dú)立于濾波器尺寸的,從而大大降低了運(yùn)算時(shí)間。
為保證特征點(diǎn)旋轉(zhuǎn)不變性,要確定特征點(diǎn)主方向并建立坐標(biāo)。以特征點(diǎn)為中心,計(jì)算半徑為6s(s為特征點(diǎn)所在尺度值)鄰域內(nèi)的點(diǎn)在x、y方向的哈爾小波響應(yīng),響應(yīng)可表示為水平響應(yīng)和垂直響應(yīng)矢量和。按距離賦予響應(yīng)值不同的高斯權(quán)重系數(shù),遠(yuǎn)離特征點(diǎn)的響應(yīng)貢獻(xiàn)小,靠近特征點(diǎn)的響應(yīng)貢獻(xiàn)大。通過(guò)計(jì)算π/3滑動(dòng)方向窗口內(nèi)所有響應(yīng)的和來(lái)估計(jì)主方向,窗口內(nèi)的水平響應(yīng)和垂直響應(yīng)分別被求和。兩個(gè)響應(yīng)的和產(chǎn)生一個(gè)局部方向向量,定義窗口中最長(zhǎng)的向量為特征點(diǎn)的主方向。
選定特征點(diǎn)主方向后,以特征點(diǎn)為中心,將坐標(biāo)軸旋轉(zhuǎn)到主方向上。選取周圍邊長(zhǎng)為20s×20s的正方形區(qū)域,并將該區(qū)域劃分為4×4共16個(gè)子區(qū)域。在子區(qū)域內(nèi)計(jì)算每個(gè)像素點(diǎn)x方向和y方向的哈爾小波響應(yīng),記為dx、dy,為了增強(qiáng)特征點(diǎn)描述子對(duì)幾何變換及局部誤差的魯棒性,可對(duì)dx、dy進(jìn)行高斯權(quán)重系數(shù)賦值。然后對(duì)每個(gè)子區(qū)域的dx、dy響應(yīng)以及響應(yīng)的絕對(duì)值進(jìn)行求和計(jì)算,分別記為:這樣在每個(gè)子區(qū)域形成四維分量而對(duì)每個(gè)特征點(diǎn)就形成了4×4×4的64維描述子向量,進(jìn)行歸一化后形成特征點(diǎn)的描述子。
利用SUFT算法提取紅外圖像中的特征點(diǎn)并生成特征點(diǎn)描述子,采取歐氏距離最近鄰粗匹配和相似四邊形精匹配的方式提高配準(zhǔn)精度,然后使用8參數(shù)的平面透視變換模型描述匹配圖像序列間的相對(duì)變換關(guān)系,依據(jù)精匹配得到的匹配點(diǎn)對(duì)求解模型變換參數(shù),從而實(shí)現(xiàn)紅外圖像的配準(zhǔn)。算法流程如圖2所示。
圖2 本文算法流程圖Fig.2 Flow chart of the algorithm proposed in the paper
算法具體實(shí)現(xiàn)過(guò)程如下。
1)利用SUFT算法分別檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)圖像F與待配準(zhǔn)圖像F'的特征點(diǎn),形成64維的特征點(diǎn)描述子。
2)最近鄰匹配。以歐氏距離作為兩個(gè)特征點(diǎn)描述子的相似性度量進(jìn)行粗匹配,算式為
式中:Xik表示圖像F中第i個(gè)特征點(diǎn)對(duì)應(yīng)特征向量的第k個(gè)元素;Xjk表示圖像F'中第j個(gè)特征點(diǎn)對(duì)應(yīng)特征向量的第k個(gè)元素;n為特征向量的維數(shù)。計(jì)算每個(gè)特征點(diǎn)對(duì)應(yīng)特征向量的歐氏距離,按照從小到大的順序排列形成距離集合。設(shè)定閾值T1,當(dāng)特征點(diǎn)最小歐氏距離與次小歐氏距離的比值小于T1時(shí),認(rèn)為這兩個(gè)特征點(diǎn)匹配。T1越小,匹配點(diǎn)對(duì)數(shù)目越少,但更加穩(wěn)定。
3)特征點(diǎn)精匹配。利用景物幾何結(jié)構(gòu)間的相似性,在粗匹配點(diǎn)對(duì)中尋找相似四邊形進(jìn)行精匹配,從而減少誤匹配的概率。選取粗匹配點(diǎn)對(duì)中的一對(duì)匹配點(diǎn)作為四邊形的一個(gè)固定頂點(diǎn),在粗匹配點(diǎn)對(duì)中隨機(jī)選取三對(duì)匹配點(diǎn)組成兩對(duì)四邊形。由相似四邊形性質(zhì)可知,若兩四邊形相似,則對(duì)應(yīng)四條邊和兩條對(duì)角線互成比例,即滿足
依據(jù)四邊形相似的性質(zhì)構(gòu)造歸一化的均方誤差表達(dá)式e,設(shè)定閾值 T2,當(dāng) e小于T2時(shí)認(rèn)為兩四邊形相似。T2越小,匹配精度越高,由于SUFT提取特征點(diǎn)時(shí)存在誤差,故閾值不能設(shè)定太小,通常設(shè)定比計(jì)算精度高出2~3個(gè)數(shù)量級(jí),本文T2設(shè)為0.05,
由圖像F和F'中固定頂點(diǎn)組成相似四邊形的數(shù)量判斷是否為匹配點(diǎn)對(duì),剔除粗匹配點(diǎn)對(duì)中不能組成相似形的點(diǎn)對(duì),從而實(shí)現(xiàn)精匹配。
4)求解變換模型參數(shù)。由于紅外熱像儀拍攝位置的不固定性,采用更加符合實(shí)際情況的8參數(shù)平面透視變換模型,則圖像F和F'對(duì)應(yīng)像素點(diǎn)的關(guān)系為:X'=HX,表示為
式中:X'=[xi',yi',1]T,X=[xi,yi,1]T,i=1,2,…,n,n為精匹配后點(diǎn)對(duì)個(gè)數(shù),矩陣H為圖像間透視變換的齊次矩陣。根據(jù)n的取值分為以下3種情況:
①當(dāng)n<4時(shí),適度增大閾值T1、T2,重復(fù)步驟2)、3)以獲得更多的精匹配點(diǎn)對(duì);
② 當(dāng)n=4時(shí),依據(jù)式(9)求解矩陣H;
③當(dāng)n>4時(shí),屬于過(guò)約束的情況,利用最小二乘法求解H,尋找一個(gè)最佳解使得每對(duì)匹配點(diǎn)的平面透視模型均方誤差最小,達(dá)到多個(gè)配準(zhǔn)點(diǎn)擬合最優(yōu)參數(shù)解的目的。
5)利用矩陣H對(duì)紅外圖像進(jìn)行模型變換,并通過(guò)線性插值得到變換后的圖像,從而實(shí)現(xiàn)圖像配準(zhǔn)。
利用本文提出的SUFT改進(jìn)算法對(duì)電路板卡的紅外圖像進(jìn)行配準(zhǔn)實(shí)驗(yàn)。實(shí)驗(yàn)環(huán)境參數(shù):CPU為Intel Core i3,3.30 GHz,內(nèi)存大小為 2 GB,操作系統(tǒng)為Windows XP,仿真實(shí)驗(yàn)平臺(tái)為 Matlab7.10。
實(shí)驗(yàn)選取兩幅在相同環(huán)境下拍攝的電路板卡紅外圖像進(jìn)行驗(yàn)證,如圖3a、圖3b所示,兩幅紅外圖像大小均為240×320,室內(nèi)無(wú)風(fēng)條件下拍攝,距離0.2 m,環(huán)境溫度33.2℃。
圖3 電路板卡紅外圖像Fig.3 The infrared images of a circuit board
對(duì)圖像進(jìn)行灰度變換后,經(jīng)過(guò)SUFT算法檢測(cè)到特征點(diǎn)生成的描述子如圖4所示,圖5為粗匹配后的特征點(diǎn)對(duì)連線示意圖。
圖4 SUFT特征點(diǎn)描述子Fig.4 The SUFT feature point descriptor
圖5 粗匹配特征點(diǎn)對(duì)連線圖Fig.5 Link images of coarse matching feature points
從圖5中可以看出共40對(duì)粗匹配特征點(diǎn)對(duì),5對(duì)誤配特征點(diǎn)對(duì),可見(jiàn)誤配準(zhǔn)率較高。如果直接用粗匹配點(diǎn)對(duì)求平面透視變換模型參數(shù),配準(zhǔn)結(jié)果如圖6所示,配準(zhǔn)效果不理想。
圖6 基于粗匹配點(diǎn)對(duì)的配準(zhǔn)圖像Fig.6 The registration image based on coarse matches
利用相似四邊形區(qū)域精匹配策略去除誤配點(diǎn)對(duì)后,結(jié)果如圖7、圖8所示,共13對(duì)匹配特征點(diǎn)對(duì),全部配準(zhǔn)且誤配率為0,誤匹配的特征點(diǎn)對(duì)已經(jīng)成功去除。依據(jù)精匹配后的特征點(diǎn)對(duì),利用最小二乘法由式(9)可求得平面透視變換模型的齊次矩陣H,對(duì)圖像進(jìn)行變換后的配準(zhǔn)結(jié)果如圖9所示,配準(zhǔn)效果較為理想。
圖7 SUFT特征點(diǎn)描述子Fig.7 The SUFT feature point descriptor
圖8 精匹配特征點(diǎn)對(duì)連線圖Fig.8 Link images of accurate matching feature points
圖9 基于精匹配點(diǎn)對(duì)的配準(zhǔn)圖像Fig.9 The registration image based on accurate matches
為了進(jìn)一步說(shuō)明本文算法的優(yōu)勢(shì),現(xiàn)將基于SIFT算法,SUFT算法和本文算法的實(shí)驗(yàn)結(jié)果進(jìn)行對(duì)比,結(jié)果如表1所示。
表1 實(shí)驗(yàn)結(jié)果比較Table 1 Comparison of experimental results
從表1可以看出,本文算法在配準(zhǔn)精度和耗時(shí)方面均優(yōu)于SIFT和SUFT算法,達(dá)到了快速、高效的配準(zhǔn)目的。
本文提出的算法充分利用SUFT算法的快速性以及相似四邊形精匹配的穩(wěn)定性,彌補(bǔ)了SIFT算法耗時(shí)且誤配率較高的不足。通過(guò)實(shí)驗(yàn)證明,該算法經(jīng)過(guò)精匹配后具備高效、穩(wěn)定的特點(diǎn),能夠有效地提取特征點(diǎn)對(duì)進(jìn)行匹配,配準(zhǔn)正確率高,針對(duì)電路板卡上的芯片配準(zhǔn)精度高,配準(zhǔn)結(jié)果較理想。如何利用配準(zhǔn)后的紅外圖像進(jìn)行電路板卡的故障分析與診斷是下一步研究的方向。
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