磁敏感加權(quán)對彌漫性軸索損傷的診斷價(jià)值

於建軍 胡高軍 吳宇強(qiáng) 王寧蘭

腦彌漫性軸索損傷(DAI)是當(dāng)頭顱受斜或側(cè)向撞擊時(shí)，可突然發(fā)生軸向旋轉(zhuǎn)，其從外周到中心不同層次旋轉(zhuǎn)腦組織的角加速度各異，故位于不同層次的神經(jīng)纖維和小血管會發(fā)生斷裂和分離，此即DAI。DAI臨床表現(xiàn)缺乏特征性，影像學(xué)檢查是臨床診斷DAI的主要依據(jù)，MR不能直接顯示神經(jīng)軸索的損傷，但DAI引起的腦內(nèi)小出血灶、間質(zhì)水腫等，可以通過間接征象來診斷。本研究對CT、常規(guī)MR及SWI序列進(jìn)行

對照研究，探討SWI序列對DAI的診斷價(jià)值。

1 資料與方法

1.1 一般資料 收集筆者所在醫(yī)院2010年11月～2011年9月43例臨床可疑DAI患者，均為首次腦外傷，無腦梗死、腦腫瘤、炎癥等病史。男28例，女15例;年齡18～56歲，平均33歲;車禍傷26例，墜落傷12例，其他5例。臨床主要表現(xiàn)為原發(fā)性意識障礙，瞳孔改變，呼吸頻率和節(jié)律改變，肢體肌力下降或去大腦強(qiáng)直等。

1.2 檢查方法 采用Philips Achieva 1.5T超導(dǎo)型MR掃描儀，16通道NV線圈，常規(guī)行TSE序列T2WI(TR 3635 ms，TE 100 ms)，T1WI(TR 488 ms，TE 15 ms)，F(xiàn)LAIR 序列(TR 6000 ms，TE 89 ms，TI 2000 ms)，DWI(TR 2344 ms，TE 72 ms，b值為1000);SWI使用FFE序列，3D掃描，參數(shù)為:TR shortest，TE 15 ms，翻轉(zhuǎn)角15°，層厚1 mm，層距 0 mm，矩陣256×256，總掃描時(shí)間約5 min，采集所得圖像在工作站進(jìn)行最小密度投影(MinIP)，重建成層厚為10 mm，層距為－5 mm的SWI圖像。所有圖像均由筆者所在科有豐富經(jīng)驗(yàn)的兩位醫(yī)生進(jìn)行分析，將SWI序列與常規(guī)TSE、FLAIR、DWI序列所顯示的DAI病灶進(jìn)行比較。

2 結(jié)果

SWI顯示DAI病灶多見于雙側(cè)大腦半球皮髓質(zhì)交界處，以兩側(cè)額、頂、枕葉為多，其次位于胼胝體和基底節(jié)區(qū)，腦干及小腦少見，病灶表現(xiàn)為點(diǎn)狀、斑片狀、條狀、類圓形或團(tuán)塊狀低信號影，信號多均勻，邊界清晰，病灶直徑多小于10 mm，單個(gè)病例中腦內(nèi)病灶數(shù)最多為180個(gè)，最少為4個(gè)。SWI對DAI的檢出率達(dá)74%，SWI對DAI病例及病灶的檢出具有明顯的優(yōu)勢。常規(guī)TSE、FLAIR和DWI序列顯示病灶多位于胼胝體和基底節(jié)區(qū)，皮髓質(zhì)交界處少見，病灶表現(xiàn)為斑點(diǎn)狀，斑片狀或類圓形異常信號，T2WI上呈高信號，F(xiàn)LAIR和DWI呈更高信號，T1WI呈低信號或高信號，常規(guī)TSE、FLAIR、DWI序列顯示的出血灶較 SWI大(見圖 1、圖 2)。SWI、TSE、FLAIR、DWI檢出DAI患者的病灶數(shù)及病灶檢出率情況見表1、表 2。

表 1 SWI、TSEI、FLAIR、DWI、CT 檢出的病灶數(shù)

表 2 SWI、TSEI、FLAIR、DWI、CT 對 DAI患者檢出率

圖1 SWI掃描示胼胝體體部及膝部多發(fā)點(diǎn)狀低信號，邊緣清楚

3 討論

磁敏感加權(quán)成像(SWI)是近年來新開發(fā)的磁共振對比成像技術(shù)［1］，SWI根據(jù)不同組織的磁敏感差異提供圖像對比增強(qiáng)，通過一次薄層采集可以同時(shí)獲得原始相位圖和強(qiáng)度圖，原始相位圖經(jīng)過低通濾波后的圖像與其本身相減影就獲得了由磁敏感效應(yīng)而引起的相位改變，即相位圖，輔以最小信號強(qiáng)度投影進(jìn)行顯示［2］，形成最終的SWI圖像。SWI提供了有別于常規(guī)TSE、FLAIR及DWI的另一種對比度，這一特點(diǎn)使其能充分顯示組織內(nèi)在的磁敏感性的差異。

腦外傷時(shí)，當(dāng)頭顱受斜或側(cè)向撞擊時(shí)，可突然發(fā)生軸向旋轉(zhuǎn)，其從外周到中心不同層次旋轉(zhuǎn)腦組織的角加速度各異，故位于不同層次的神經(jīng)纖維和小血管會發(fā)生斷裂和分離，白質(zhì)聯(lián)合纖維發(fā)生應(yīng)力性損傷，組織學(xué)檢查示軸索呈彌漫性撕裂，軸漿外溢，在損傷后12 h至數(shù)天出現(xiàn)軸索回縮球［3］，軸索斷裂處小血管發(fā)生斷裂，造成小出血灶。

在腦外傷死亡的病例中，DAI占29% ～43%，入院明確診斷為DAI的病例中，死亡率為50%［4］。DAI臨床表現(xiàn)缺乏特征性，影像學(xué)檢查是臨床診斷DAI的主要依據(jù)，MR不能直接顯示神經(jīng)軸索的損傷，但DAI引起的腦內(nèi)小出血灶、間質(zhì)水腫等，可以通過間接征象來診斷。

出血后，大量順磁性血紅蛋白代謝產(chǎn)物沉積，引起局部磁場不均勻，這些物質(zhì)因快速自旋失相位而導(dǎo)致局部信號丟失。SWI作為一種可以反應(yīng)組織磁化屬性的新的對比增強(qiáng)技術(shù)，利用組織磁化屬性與臨近的背景組織明顯不同，再加上SWI具有高空間分辨率的特點(diǎn)，因此即使微量的出血灶也能被SWI序列敏感地檢測到。

本組43例臨床可疑DAI病例，SWI在檢出病灶的數(shù)目、陽性病例及檢出率方面遠(yuǎn)遠(yuǎn)高于其他序列及CT，部分病灶僅在SWI顯示。Tong等［5］的研究發(fā)現(xiàn)，SWI診斷出血灶的數(shù)量接近T2WI的6倍，診斷出血灶的體積幾乎是T2WI的2倍。張琳等［6］也發(fā)現(xiàn)SWI序列對于腦微出血灶的檢出率明顯高于常規(guī)序列。SWI不僅能清楚的顯示出血部位、出血灶的數(shù)目及大小，同時(shí)還能顯示深部腦血管結(jié)構(gòu)，直接顯示腦損傷部位。Ashwl等［7］報(bào)道病灶的數(shù)目和受累的部位與患者的預(yù)后密切相關(guān)。由于SWI對出血性DAI病灶非常敏感，因此可以更客觀、更準(zhǔn)確的評價(jià)急性腦外傷的嚴(yán)重程度，其顯示的出血范圍也可對預(yù)后的預(yù)測提供更多信息。另外，SWI對于局部磁場不均勻性特別敏感，因此在某些磁化率差異特別大的區(qū)域，其成像受到一定的限制，如顱底的含氣鼻竇，由于存在氣－組織平面，兩者的磁化率差異極大，因此造成局部特別強(qiáng)的偽影，這時(shí)候就需要結(jié)合其他方法來判斷。盡管CT檢測病灶的能力遠(yuǎn)遠(yuǎn)小于磁共振，但可以簡單快速地判斷大的血腫、硬膜外及硬膜下血腫、中線結(jié)構(gòu)是否移位，所以CT檢查仍是腦外傷的首選檢查。

綜上所述，SWI明顯較其他方法可顯示更多的出血灶，從而提高DAI的檢出率，當(dāng)臨床懷疑有DAI時(shí)，SWI應(yīng)作為常規(guī)和首選序列，影像學(xué)角度證實(shí)DAI存在，為DAI的早期臨床診斷、治療及預(yù)后評估提高可靠的影像學(xué)依據(jù)。

［1］楊正漢，馮蓬，王霄英，等．磁敏感加權(quán)成像技術(shù)及其臨床應(yīng)用，磁敏感成像技術(shù)指南［M］．北京:人民軍醫(yī)出版社，2007:327－332．

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［3］Hermier M，Nighoghossian N．Contribution of susceptibility weighted imaging to acute stroke，assessment［J］．Stroke，2004，35(38):1989－1994．

［4］劉亞歐，李坤成，楊延輝，等．磁敏感加權(quán)成像在顱內(nèi)腫瘤成像的初步應(yīng)用［J］．醫(yī)學(xué)影像學(xué)雜志，2008(1):372－377．

［5］Tong KA，Ashwal S，Holshouer B，et al．Hemorrhagic shearing lesions in children and adolescents with posttraumatic diffuse axonal injury:improved detection and initial results［J］．Radiology，2003，227:332－339．

［6］張琳，漆劍頻，朱文珍，等．磁敏感成像在腦微出血診斷中的應(yīng)用價(jià)值［J］．放射學(xué)實(shí)踐，2009，24(1):19 －22．

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