空間輻照環(huán)境下的FPGA可靠性設(shè)計技術(shù)

李巍，劉棟斌

（中國科學院 長春光機所 空間一部，長春 130022）

李?。ㄖ硌芯繂T），主要從事空間光學CCD成像技術(shù)的研究。

引 言

FPGA以其集成度高、靈活性強、開發(fā)周期短的特點，在航天領(lǐng)域得到了越來越廣泛的應(yīng)用。然而，其工作的空間環(huán)境存在著大量γ光子、輻射帶電子、高能質(zhì)子等高能粒子。這些高能粒子轟擊到器件上，會產(chǎn)生總劑量效應(yīng)（Total Ionizing Dose，TID）、單粒子翻轉(zhuǎn)（Single Event Upset，SEU）、單粒子鎖定（Single Event Latchup，SEL）、單粒子燒毀（Single Event Bum－out，SEB）、單粒子柵擊穿（Single Event Gate Rupture，SEGR）、內(nèi)帶電效應(yīng)等空間輻射效應(yīng)［1］。這些效應(yīng)對基于SRAM的FPGA的影響尤為明顯。

現(xiàn)代FPGA工藝向著低電壓、高集成度方向發(fā)展，這使得發(fā)生空間輻射響應(yīng)的閾值越來越低，發(fā)生故障的概率越來越大?？臻g輻射效應(yīng)的發(fā)生，輕則會使設(shè)備工作異常，重則會導致設(shè)備燒毀、永久失效。因此，F(xiàn)PGA必須進行高可靠性設(shè)計，來最大限度地預(yù)防和解決空間輻射效應(yīng)的影響。

1 空間輻照效應(yīng)

據(jù)衛(wèi)星資料統(tǒng)計，其異常記錄中有70%是由空間輻射環(huán)境引起的［2］。主要空間輻射效應(yīng)與輻射源及作用對象之間關(guān)系如表1所列。

表1 主要輻射效應(yīng)、輻射源及對象

單粒子效應(yīng)（Single Event Effect，SEE）是單個高能質(zhì)子或重離子入射電子元器件上引發(fā)的輻射效應(yīng)。根據(jù)效應(yīng)的機理不同可分為單粒子翻轉(zhuǎn)、鎖定、燒毀、柵擊穿等。

當單個空間高能帶電粒子轟擊到大規(guī)模、超大規(guī)模的邏輯型微電子器件時，沿粒子入射軌跡，在芯片的PN結(jié)附近區(qū)產(chǎn)生電離效應(yīng)，生成一定數(shù)量的電子－空穴對（載流子）。如果芯片處于加電狀態(tài)，這些由于輻射產(chǎn)生的載流子將在芯片內(nèi)部電場作用下發(fā)生飄移和重新分布，從而改變了芯片內(nèi)部正常載流子的運動分布和運動狀態(tài)。當這種改變足夠大時，將引起器件電性能狀態(tài)的改變，造成邏輯器件或電路的邏輯錯誤，例如：存儲器中數(shù)據(jù)發(fā)生翻轉(zhuǎn)，使能信號被重新置位，從而引起邏輯功能混亂、計算機程序“跑飛”，甚至造成災(zāi)難性的后果。

目前，大多數(shù)FPGA基于SRAM結(jié)構(gòu)。基于SRAM的FPGA中的基本可編程通孔是一個1位的SRAM單元。這種SRAM通孔的編程和擦寫方式與其他SRAM存儲器一樣。雖然SRAM通孔比一般SRAM組建更可靠，但之后的狀態(tài)也很容易被空間輻射產(chǎn)生的電荷改寫［3］。

圖1為與FPGA相同的CMOS工藝單粒子翻轉(zhuǎn)示意圖和單粒子翻轉(zhuǎn)敏感區(qū)域［4］。

圖1 與FPGA相同的CMOS工藝單粒子翻轉(zhuǎn)示意圖

因此，對于FPGA軟件設(shè)計而言，單粒子翻轉(zhuǎn)對FPGA內(nèi)部邏輯、存儲器的影響尤為嚴重，需要進行安全可靠性設(shè)計。

2 防范措施

通?？梢圆捎萌缦碌姆椒?，最大限度地防止或避免空間輻照下的單粒子效應(yīng)對FPGA軟件的影響。

2.1 定期重新配置FPGA

對FPGA進行重新配置，可以清除積累的任何錯誤。設(shè)計者必須確定潛在錯誤的影響，以及這些錯誤蔓延所需的時間。在這個時間段之內(nèi)重新配置FPGA，或者設(shè)計檢測電路，當FPGA工作錯誤時，及時對FPGA進行重新配置。雖然錯誤仍然會蔓延，但潛在的損害被重新配置所限制。

筆者所設(shè)計的系統(tǒng)為CCD相機成像系統(tǒng)，由任務(wù)需求及功能估算，每次開機上電時間約為120s。開機即加載FPGA邏輯，攝像任務(wù)完成后，隨即下電，準備下一次攝像任務(wù)。因此，可以極大地避免空間輻照效應(yīng)對設(shè)備的影響。

2.2 三模冗余（TMR）

對關(guān)鍵信號，數(shù)據(jù)進行冗余設(shè)計，是防止SEU發(fā)生的比較行之有效的方法。冗余設(shè)計是用多個相同單元構(gòu)成并聯(lián)形式，最后通過表決單元輸出最終的數(shù)據(jù)或信號，三模冗余是常用的冗余設(shè)計方法。理論上，在FPGA中某一單元發(fā)生SEU的概率是存在的。但連續(xù)兩個相同單元同時發(fā)生SEU事件，在有限的工作時間內(nèi)，幾乎是不可能的。雖然一個單元發(fā)生SEU導致錯誤，但其他單元不會同時發(fā)生錯誤，通過表決，保證了數(shù)據(jù)或信號的安全可靠。圖2為Xilinx公司推薦的三模冗余結(jié)構(gòu)。雖然TMR帶來了可靠性的提高［5］，但是隨之帶來了系統(tǒng)最高運行速度的降低和資源的浪費，而且表決器本身也可能出錯，并不具備抗空間輻照的能力。如果系統(tǒng)長時間加電工作于空間輻射環(huán)境中，由于SEU的累積效應(yīng)，兩個或多個表決單元都發(fā)生SEU的可能還是存在的，這就需要采取相應(yīng)的設(shè)計方法，檢測發(fā)生SEU的邏輯單元，將其重新置位，“拉”回正常工作狀態(tài)，從而保證系統(tǒng)的安全可靠。

圖2 Xilinx公司推薦的三模冗余邏輯

目前，Xilinx公司等FPGA制造商能夠提供相應(yīng)的TMR模塊IP核，但目前還無法獲得。可以根據(jù)實際情況，對系統(tǒng)關(guān)鍵的部位，進行三模冗余設(shè)計。

筆者在所設(shè)計的系統(tǒng)中，同時設(shè)計了3個“關(guān)鍵數(shù)據(jù)解析”單元，將解析到的關(guān)鍵數(shù)據(jù)同時存儲在相鄰的3個塊RAM中，最后通過“關(guān)鍵數(shù)據(jù)表決單元”，輸出可靠的關(guān)鍵數(shù)據(jù)。

2.3 周期擦除技術(shù)

周期擦除技術(shù)是指，在固定時間周期內(nèi)，對系統(tǒng)內(nèi)部各關(guān)鍵單元進行周期擦除復位，這樣可以很大程度地避免單粒子翻轉(zhuǎn)對系統(tǒng)產(chǎn)生的影響。

當系統(tǒng)中發(fā)生單粒子翻轉(zhuǎn)事件時，可能會導致關(guān)鍵寄存器、計數(shù)器或關(guān)鍵使能信號等發(fā)生意外翻轉(zhuǎn)，引起外圍控制器件異常工作。若這種異常的工作狀態(tài)持續(xù)時間較長，會導致設(shè)備無法正常工作甚至永久損壞。若系統(tǒng)采用周期擦除技術(shù)，一旦發(fā)生SEU，周期復位信號可以在很短的時間內(nèi)，將錯誤的計數(shù)器、存儲器復位到正確狀態(tài)，保證系統(tǒng)的安全穩(wěn)定。

筆者所設(shè)計的CCD成像系統(tǒng)，CCD探測器的各時序控制信號為關(guān)鍵信號。若不幸發(fā)生SEU，可能導致CCD時序驅(qū)動信號頻率大幅升高，過高的頻率會導致外圍驅(qū)動器失效甚至燒毀。

由于CCD時序控制信號為周期信號，故在時序設(shè)計中，系統(tǒng)內(nèi)部自行產(chǎn)生周期擦除信號。此信號同時產(chǎn)生3個，進行三模冗余備份，并經(jīng)過FPGA時鐘樹網(wǎng)絡(luò)，保證此周期復位信號安全可靠。此信號采用同步復位，用軟件仿真SEU故障，時序仿真圖如圖3所示。

圖3 周期擦除時序仿真圖

信號cnt＿fre經(jīng)過周期擦除處理，而cnt＿fre＿r未經(jīng)過相應(yīng)處理?？梢钥吹剑谀硶r刻，兩個計數(shù)器均發(fā)生了SEU，計數(shù)值跳轉(zhuǎn)到異常值76且保持。由于采用周期擦除技術(shù)，cnt＿fre在周期擦除信號有效期間，復位至初始狀態(tài)，繼續(xù)正常工作。而未經(jīng)周期擦除處理的cnt＿fre＿r則始終處于異常狀態(tài)，導致系統(tǒng)故障。

2.4 糾錯電路EDAC

FPGA系統(tǒng)發(fā)生SEU后，會使關(guān)鍵寄存器、信號等處于錯誤狀態(tài)。盡管可以通過三模冗余技術(shù)，將這種錯誤狀態(tài)暫時隔置，但是在長期加電工作要求的條件下，冗余單元可能繼續(xù)發(fā)生錯誤而導致單元失效。

對各模塊關(guān)鍵信號實時監(jiān)測，并將檢測到的錯誤信號及時糾正，防止了空間輻照對系統(tǒng)的影響。糾錯電路的設(shè)計需要根據(jù)系統(tǒng)的特點，進行相應(yīng)的設(shè)計。系統(tǒng)EDAC（Error Detected And Corrected）設(shè)計的功能仿真圖如圖4所示。

圖4 EDAC功能仿真圖

系統(tǒng)對關(guān)鍵寄存器Sta＿Line（起始行寄存器）進行三模冗余，當糾錯使信號EDAC＿n有效時，進行3個冗余單元的三選二表決，并將表決結(jié)果暫存在表決結(jié)果寄存器reg內(nèi)，更新至各冗余單元寄存器中。由圖4可知，寄存器sta＿line3在某時刻發(fā)生了SEU，sta＿line3寄存器故障。在edac＿n有效時，將此關(guān)鍵信號糾錯，置回正確狀態(tài)，而關(guān)鍵信號sta＿line將始終保持正確值，保證了系統(tǒng)的安全可靠。

結(jié) 語

可編程邏輯器件FPGA必將在航天領(lǐng)域得到更廣泛的應(yīng)用。針對空間輻照效應(yīng)影響的高可靠性設(shè)計，將越來越成為FPGA軟硬件設(shè)計的難點和重點。根據(jù)飛行器空間軌道的不同、輻射總劑量的差異，從硬件上，可以通過加厚屏蔽層、元器件加固等方式，盡可能地降低SEU發(fā)生的概率；從軟件上，通過定期重配置、周期擦除、三模冗余、EDAC等手段，最大程度降低或消除SEU對系統(tǒng)的影響。本文提出的基于軟件的空間輻照下FPGA可靠性設(shè)計方法，可以為空間航天FPGA嵌入式系統(tǒng)設(shè)計提供一定的參考。

［1］邢克飛，楊俊 ，王躍科，等.Xilinx SRAM型FPGA抗輻射設(shè)計技術(shù)研究［J］.宇航學報，2007，28（1）.

［2］李冬梅，王志華，高文煥，等.FPGA中的空間輻射效應(yīng)及加固技術(shù)［J］.電子技術(shù)應(yīng)用，2000（10）.

［3］Xilinx.Radiation Effect ＆ Mitigation Overview，2010.

［4］Candice Yui，Gary Swift，Carl Carmichael.Single Event Upset Susceptibility Testing of the Xilinx Virtex II FPGA［C］／／Military and Aerospace Applications of Programmable Devices and Technologies Conference（MAPLD），Washington DC，2002.

［5］Microsemi Company.Single－Event Upset（SEU）and Medical Device［J］.Global Electronics China，2011（2）.

［6］Fuller E，Caffrey M，Salazar A，et al.Radiation testing update，SEU mitigation，and availability analysis of the Virtex FPGA for space reconfigurable computing［C］／／4th Annual Conference on Military and Aerospace Programmable Logic Devices，Washington DC，2000.