蔡國(guó)梁,徐偉卿,趙 樹(shù)
(江蘇大學(xué) 理學(xué)院,江蘇 鎮(zhèn)江 212013)
隨著科技的發(fā)展,人們對(duì)產(chǎn)品的質(zhì)量要求不斷提高,產(chǎn)品的可靠性也越來(lái)越高。,在可靠性試驗(yàn)中,時(shí)常會(huì)遇到無(wú)失效數(shù)據(jù)(Zero-failure data,即在規(guī)定的截尾時(shí)間內(nèi)沒(méi)有產(chǎn)品失效)。 在高可靠性、小樣本問(wèn)題中,經(jīng)常會(huì)出現(xiàn)無(wú)失效數(shù)據(jù)。特別是對(duì)于長(zhǎng)壽命的試驗(yàn)樣品,由于實(shí)際試驗(yàn)條件的限制,更容易產(chǎn)生無(wú)失效數(shù)據(jù)。所以對(duì)無(wú)失效數(shù)據(jù)進(jìn)行可靠性研究,越來(lái)越具有理論和實(shí)際價(jià)值。
近年來(lái),應(yīng)用和改進(jìn)Bayes方法研究無(wú)失效數(shù)據(jù)的失效概率方面取得了一些進(jìn)展。 特別是自Lindley和Smith提出多層先驗(yàn)分布的想法和韓明給出先驗(yàn)分布的構(gòu)造方法以來(lái),多層Bayes方法在無(wú)失效數(shù)據(jù)可靠性參數(shù)估計(jì)上取得了一些進(jìn)展。文獻(xiàn)[1].[2]改進(jìn)了多層Bayese方法進(jìn)行了E-Bayes方法的研究。 文獻(xiàn)[3]在威布爾分布場(chǎng)合下提出了一種對(duì)累積失效概率的分級(jí)Bayese估計(jì)。
本文將分級(jí)Bayese估計(jì)方法應(yīng)用于指數(shù)分布下的無(wú)失效數(shù)據(jù)的研究。首先用分級(jí)Bayes方法對(duì)Pi估計(jì);然后引用文獻(xiàn)[4]的方法,對(duì)參數(shù)θ和λ進(jìn)行最小二乘法的估計(jì);最后得到可靠度的估計(jì)。
從以上的實(shí)驗(yàn)過(guò)程來(lái)看,作如下假定:
(1)t=0 時(shí),產(chǎn)品失效的概率為 0,即 F(0)=P(T≤0)=0。
(2)令 pi=P(T≤ti)=F(ti),因?yàn)?0<t1<t2<…<tm,所以 p1<p2<…<pm,且pi較小。下面討論,假定產(chǎn)品壽命T服從指數(shù)分布時(shí),如何利用先驗(yàn)信息,來(lái)估計(jì)未知參數(shù)θ及作可靠度估計(jì)。
其中θ是參數(shù),并且T是均值。
為評(píng)定產(chǎn)品的可靠性,隨機(jī)的選取n個(gè)樣品進(jìn)行壽命試驗(yàn),現(xiàn)將這些產(chǎn)品分成m組,各組樣品數(shù)分別為n1,n2,…,nm,
在(θ1,θ2)上的不完全 Beta 分布可表示為 Beta(θ1,θ2,a,b),其分布密度函數(shù)為
其中 θ1<θ2,a>0,b>0,Beta 函數(shù)
由于產(chǎn)品的失效概率pi∈(0,1),所以很多人在用Beta方法解決問(wèn)題時(shí),往往把pi的先驗(yàn)分布取為(0,1)上的均勻分布U(0,1)。但是在無(wú)失效情況下,失效概率大的可能性小,失效概率小的可能性大。因此,取均勻分布作為pi的先驗(yàn)分布不太恰當(dāng)。文獻(xiàn)[6]中采用一種新的構(gòu)造多層先驗(yàn)分布的方法——減函數(shù)法,即選取pi的減函數(shù)作為pi的先驗(yàn)分布的密度函數(shù)之核。它符合在無(wú)失效情況下,pi大的可能性小,而pi小的可能性大的要求。本文先估計(jì)出p1,然后在不完全 Beta(1,1,b)分布下對(duì) p2進(jìn)行修正得到,再在不完全Beta下對(duì) p3進(jìn)行修正得到,依次類(lèi)推得出 pi的分級(jí)Bayes估計(jì)
考慮到Beta密度函數(shù)在b越大的情況下,其右側(cè)尾部越細(xì),而從Bayes估計(jì)的穩(wěn)健性角度看,尾部越細(xì)的先驗(yàn)分布常使Bayes估計(jì)的穩(wěn)健性差。因此,b應(yīng)有上界c,其中c為常數(shù)。 取 a與 b 的超先驗(yàn)分布為 π(a)=1,π(b)=U(1,c) 時(shí),Beta分布的密度函數(shù)是單調(diào)減函數(shù)pm,符合各失效概率pi較小的可能性大,而較大的可能性小的先驗(yàn)信息。
p1的多層Bayes估計(jì)為:
以 pi的一級(jí)先驗(yàn)分布為,1)上的不完全b)分布作為先驗(yàn)分布,則 pi的先驗(yàn)分布為:πi(pi)=f(pi/c,)則pi的分級(jí)Bayes的估計(jì)為:
當(dāng)產(chǎn)品的壽命T服從指數(shù)分布exp(θ)時(shí),產(chǎn)品到時(shí)間ti失效的失效概率為:
Pi=P(T≤ti)=1-exp(-λti)(λ=1/θ)(i=1,2,…,m)
又可以表示為:
-ln(1-pi)=λti(i=1,2,…,m)
用p^i代替 pi產(chǎn)生的誤差 εi,上式改寫(xiě)為 -ln(1-pi)=ti/θ+εi,i=1,2,…,m。 設(shè)-ln(1-pi)=yi,1/θ=λ。 則上式可變形為如下的線性方程 yi=λti+εi。 再設(shè) Y=(y1,y2, …ym);T=(t1,t2, …,tm);ε=(ε1,ε2,…,εm),則 Y=λT+ε。
利用最小二乘法可得參數(shù)的λ的估計(jì)為:
參數(shù)θ的估計(jì)為
進(jìn)而可得任意時(shí)刻t的可靠度估計(jì)為
以文獻(xiàn)[7]試驗(yàn)數(shù)據(jù)為例,求出可靠性估計(jì)。某產(chǎn)品的可靠性試驗(yàn)中,隨機(jī)抽取51個(gè)樣本進(jìn)行定時(shí)截尾試驗(yàn),整個(gè)過(guò)程無(wú)一樣本失效,全部試驗(yàn)數(shù)據(jù)如下表1所示。其中i是組號(hào),ti是該組的運(yùn)行時(shí)間,si是樣品個(gè)數(shù)。表2給出了可靠度的估計(jì),其中ti是該組的運(yùn)行時(shí)間的整數(shù)修正。
通過(guò)數(shù)據(jù)可以看出,隨著時(shí)間的增加,失效率逐漸降低。從而驗(yàn)證了試驗(yàn)的無(wú)失效情況下,失效概率大的可能性小,失效概率小的可能性大的特性。說(shuō)明本文用分級(jí)Bayes方法對(duì)指數(shù)分布場(chǎng)合下可靠度估計(jì)的可行性。
表1 試驗(yàn)數(shù)據(jù)
利用分級(jí)Bayes方法,分析了無(wú)失效數(shù)據(jù)在指數(shù)分布場(chǎng)合下的失效概率pi,給出了pi的分級(jí)Bayes估計(jì)。通過(guò)修正后的pi,利用最小二乘法估計(jì)出可靠度R,通過(guò)實(shí)例數(shù)據(jù),證明了方法在指數(shù)分布場(chǎng)合下對(duì)失效概率估計(jì)的可行性。
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