張赤軍,趙學(xué)剛,劉洪頤
(長(zhǎng)春理工大學(xué),吉林 長(zhǎng)春130022)
目前電磁輻射源的數(shù)量成倍增加,使有限空間的電磁環(huán)境日益惡劣。因此,電子系統(tǒng)在高場(chǎng)強(qiáng)輻射場(chǎng)作用下的電磁易損性(EMV)越來(lái)越引起人們的重視。我國(guó)電磁環(huán)境效應(yīng)軍用標(biāo)準(zhǔn)GJB1389A—2005《系統(tǒng)電磁兼容性要求》詳細(xì)規(guī)定了各類武器系統(tǒng)的電磁環(huán)境兼容性指標(biāo),對(duì)關(guān)鍵系統(tǒng)而言,測(cè)試時(shí)所需的電磁環(huán)境場(chǎng)強(qiáng)常常高達(dá)數(shù)千伏每米,電磁兼容(EMC)安全裕度要求大于或等于20 dB.用傳統(tǒng)發(fā)射機(jī)和天線模式構(gòu)建電磁環(huán)境效應(yīng)試驗(yàn)所需的電磁環(huán)境,需要專門(mén)建立電磁環(huán)境試驗(yàn)開(kāi)闊試驗(yàn)場(chǎng),耗資巨大,而且在甚高頻以下的頻段,由于波長(zhǎng)較大,天線受尺寸限制,其增益很難達(dá)到10 dB.以GJB1389A—2005 所要求的10 035 V/m 場(chǎng)強(qiáng)為例,在距離增益為10 dB 的天線1 m 遠(yuǎn)處產(chǎn)生該場(chǎng)強(qiáng),發(fā)射機(jī)功率至少為375 kW,造價(jià)在幾百萬(wàn)元以上。
因此,必須尋求一種簡(jiǎn)單、經(jīng)濟(jì)、有效的方法,在甚高頻以下的頻段生成所需要的場(chǎng)強(qiáng),以滿足EMV測(cè)試需求。
本文根據(jù)電磁場(chǎng)理論中的等效原理,提出了應(yīng)用電流注入法測(cè)試制導(dǎo)武器(制導(dǎo)導(dǎo)彈、制導(dǎo)炸彈和火箭彈)電磁易損性(EMV)的試驗(yàn)方法。通過(guò)應(yīng)用同軸線復(fù)電位理論進(jìn)行了推導(dǎo),并應(yīng)用電磁場(chǎng)仿真軟件進(jìn)行了仿真驗(yàn)證,給出了適用頻率上限的計(jì)算方法。本文提出的這種測(cè)試方法具有試驗(yàn)設(shè)施造價(jià)低廉,試驗(yàn)方法簡(jiǎn)單的特點(diǎn),非常適合常規(guī)兵器的電磁境效應(yīng)測(cè)試。
制導(dǎo)武器的直徑一般在幾十厘米以內(nèi),其外殼為圓對(duì)稱的導(dǎo)體,將制導(dǎo)武器作為同軸線的內(nèi)導(dǎo)體,一端與射頻功率源相連,另一端與匹配負(fù)載相連,如圖1所示。為了便于試驗(yàn)中的操作,將外導(dǎo)體制作成正方形。根據(jù)傳輸線理論,在內(nèi)外導(dǎo)體之間會(huì)形成橫向電磁(TEM)波,在導(dǎo)彈表面會(huì)形成高頻電流,從而模擬被試品受到電磁波照射。
圖1 測(cè)試制導(dǎo)武器系統(tǒng)EMV 示意圖Fig.1 Sketch of EMV test
結(jié)合常規(guī)靶場(chǎng)試驗(yàn)實(shí)際,按照以下步驟測(cè)試制導(dǎo)武器的EMV:
1)運(yùn)用電磁場(chǎng)仿真專用軟件HFSS(High Frequency Simulation System)建立制導(dǎo)武器仿真模型,按GJB1389A—2005 設(shè)置仿真所需的平面波場(chǎng)強(qiáng),對(duì)制導(dǎo)武器模型沿軸線方向照射,仿真計(jì)算出300 MHz以下各頻點(diǎn)上制導(dǎo)武器表面的最大感應(yīng)電流;將制導(dǎo)武器裝入圖1所示的同軸線裝置,先不聯(lián)接信號(hào)源及功放,用矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀測(cè)出該同軸裝置在各個(gè)頻點(diǎn)上的阻抗。試驗(yàn)前應(yīng)摘除引信、取出裝藥;
2)根據(jù)測(cè)得的阻抗值和仿真計(jì)算得到的最大電流值,確定終端匹配電阻值,確定信號(hào)源及功放在各頻點(diǎn)上的輸入電流強(qiáng)度;
3)對(duì)圖1中的試驗(yàn)裝置進(jìn)行各頻率電流注入,觀察制導(dǎo)武器電子系統(tǒng)的敏感情況。
采取用電磁場(chǎng)仿真軟件仿真計(jì)算的辦法來(lái)確定注入電流,在保證精度的情況下,極大地簡(jiǎn)化了試驗(yàn)步驟。
同軸線內(nèi)外導(dǎo)體尺寸不同,在注入相同電流后內(nèi)導(dǎo)體表面的場(chǎng)強(qiáng)也會(huì)有所不同。由于制導(dǎo)武器型號(hào)種類較多,因此圖1所示的試驗(yàn)裝置外導(dǎo)體的尺寸也應(yīng)有所不同,那么就需知道同軸線的結(jié)構(gòu)與被試品表面場(chǎng)強(qiáng)的關(guān)系,以便能夠在測(cè)試時(shí)確定各種試驗(yàn)參數(shù)。
如圖2所示,制導(dǎo)武器的直徑為2a,外導(dǎo)體橫截面為邊長(zhǎng)2b 的正方形。
圖2 武器系統(tǒng)試驗(yàn)配置的橫截面示意圖Fig.2 Cross-section of test layout
外方內(nèi)圓同軸線的復(fù)電位方程[3]為
式中:
其中:(ρ,φ)表示極坐標(biāo);A、R、C 為由內(nèi)外導(dǎo)體的邊界條件決定的常數(shù)。
由(2)式可得零電位方程為
令(5)式的左邊為f(ρ),因此(4)式可寫(xiě)成
對(duì)(6)式兩邊求導(dǎo),并令導(dǎo)數(shù)為0,可得
把(7)式代入(6)式,可得
根據(jù)(5)式和(9)式,零電位線方程可寫(xiě)成
當(dāng)k=1 時(shí),零電位線和外導(dǎo)體重合最好,此時(shí)
已知當(dāng)φ=0 時(shí),
且ρmin也滿足(10)式,即
解方程(12)~(13),得
設(shè)內(nèi)導(dǎo)體電位為(-U1),內(nèi)導(dǎo)體電位為0,則由(2)式和(11)式可得
在內(nèi)導(dǎo)體邊界上處處ρ = a,而且各處電位相等,因此
根據(jù)(1)式可得到內(nèi)外導(dǎo)體間的場(chǎng)強(qiáng)幅值
在極坐標(biāo)中,z=ρejφ,則(18)式可寫(xiě)成
式中,A、R、C 分別由(17)式、(14)式和(11)式確定。
由于空氣的擊穿電壓Ed=3 ×106V/m,為防止內(nèi)外導(dǎo)體間發(fā)生高壓擊穿,如圖1所示試驗(yàn)配置的最大功率容量
再將Ed=3 ×106V/m 代入(19)式,就可確定外導(dǎo)體邊長(zhǎng)2b 的最小值。由于表2中規(guī)定的場(chǎng)強(qiáng)小于Ed=3 ×106V/m,因此還可以進(jìn)一步縮小外導(dǎo)體的尺寸。
我們要采用外方內(nèi)圓同軸線結(jié)構(gòu)測(cè)試制導(dǎo)武器,還應(yīng)搞清楚被試品表面電流分布是否與輻射場(chǎng)產(chǎn)生的感應(yīng)電流分布相似。本文運(yùn)用HFSS 進(jìn)行了仿真計(jì)算。
首先在HFSS 中建立被試品模型,模型的直徑200 mm,長(zhǎng)2 270 mm,平面波沿x 軸正向入射,為z軸方向線極化波,場(chǎng)強(qiáng)668 V/m,頻率100 MHz,模型材料設(shè)為銅。
如圖3所示為仿真計(jì)算得導(dǎo)體表面的某一瞬時(shí)的感應(yīng)電流分布。分布電流密度最大值為0.546 4 A/m,最小值為2.101 5 ×10-3A/m.
圖3 平面波在制導(dǎo)武器系統(tǒng)的表面感應(yīng)電流分布Fig.3 Induced current distribution on weapon surface for plane wave
如圖4所示為仿真計(jì)算得到的某一瞬時(shí)導(dǎo)體表面的場(chǎng)強(qiáng)分布。場(chǎng)強(qiáng)的最大值為833.75 V/m,最小值為4.173 7 V/m.
為了驗(yàn)證能否用同軸電流注入法來(lái)代替平面波照射,建立了仿真模型。模型內(nèi)導(dǎo)體直徑200 mm,長(zhǎng)2 270 mm.模型外導(dǎo)體為400 mm ×400 mm ×2 270 mm的長(zhǎng)方體,長(zhǎng)方體兩端開(kāi)口。在一端的內(nèi)外導(dǎo)體間加載頻率100 MHz、電壓41.7 V、內(nèi)阻50贅的電壓源,另一端的內(nèi)外導(dǎo)體間加載50 贅電阻。
如圖5~6 所示為進(jìn)行仿真得到的內(nèi)導(dǎo)體表面電流密度和場(chǎng)強(qiáng)分布。從圖5可看出,表面電流密度的最大值為0.548 51 A/m,最小值為1.872 8 ×10-4A/m,這個(gè)電流密度值與圖3中平面波輻射產(chǎn)生的電流分布值非常接近。圖6是此時(shí)表面場(chǎng)強(qiáng)的分布情況,從圖中可看出,此時(shí)內(nèi)導(dǎo)體表面的瞬時(shí)場(chǎng)強(qiáng)最大值為834.18 V/m,與平面波入射時(shí)表面場(chǎng)強(qiáng)相差只有0.43 V/m,完全達(dá)到了平面波入射所產(chǎn)生的效果。
圖4 平面波入射后在制導(dǎo)武器系統(tǒng)的表面場(chǎng)強(qiáng)分布Fig.4 Field distribution for plane wave in cident
圖5 電流注入時(shí)內(nèi)導(dǎo)體表面的面電流Fig.5 Surface current of inner conductor for current injection
根據(jù)上述計(jì)算結(jié)果,采用同軸電流注入法,在被試品表面產(chǎn)生軍標(biāo)要求的668 V/m 的場(chǎng)強(qiáng)時(shí),注入的功率只需14 W.假設(shè)天線增益為10 dB,遠(yuǎn)場(chǎng)距離3 m,采用發(fā)射機(jī)+天線的辦法產(chǎn)生668 V/m 場(chǎng)強(qiáng),那么發(fā)射機(jī)的功率至少應(yīng)達(dá)到15 kW,這樣的大功率發(fā)射機(jī),造價(jià)是非常高的。
圖6 電流注入時(shí)內(nèi)導(dǎo)體表面的場(chǎng)強(qiáng)Fig.6 Surface field of inner conductor in current injection
同軸線屬雙導(dǎo)體導(dǎo)波系統(tǒng),既可傳播TEM 波,也可在一定條件下傳播TE 波和TM 波[4]。當(dāng)高于一定頻率時(shí),同軸線內(nèi)外導(dǎo)體間將出現(xiàn)高次模。高次模一方面導(dǎo)致駐波比變大,影響注入功率的利用率,不能有效地建立起高場(chǎng)強(qiáng);另一方面會(huì)使內(nèi)導(dǎo)體表面場(chǎng)強(qiáng)的均勻性變差,從而不能準(zhǔn)確地模擬平面波照射。因此,在應(yīng)用同軸電流注入法時(shí),存在著一個(gè)由內(nèi)外導(dǎo)體尺寸決定的頻率上限,低于這個(gè)上限,同軸線內(nèi)傳輸?shù)氖荰EM 波,可以很好地模擬平面波照射。下面對(duì)圖3中所示電流注入裝置的注入電流頻率上限進(jìn)行計(jì)算。
對(duì)于TE 模,Ez=0,而Hz是以下波方程的解:
設(shè)Hz(ρ,φ,z)=hz(ρ,φ)e-jβz,則(21)式可用柱坐標(biāo)表示為
用分離變量法解(22)式可得
(23)式是關(guān)于kc的特征方程,這是一個(gè)超越方程,精確解只能用數(shù)值計(jì)算方法得出。本文給出一個(gè)誤差為1%的TE11模截止波數(shù)的近似結(jié)果[5]:
從而得到
如果在靶場(chǎng)試驗(yàn)時(shí)給出5%的安全裕量,那么最高的測(cè)試頻率可達(dá)到237 MHz.由(24)可知,減小b 的值,使內(nèi)外導(dǎo)體的間距變小,可進(jìn)一步提高頻率上限。但當(dāng)間距變小時(shí),會(huì)使內(nèi)外導(dǎo)體間的場(chǎng)強(qiáng)迅速變大,當(dāng)達(dá)到Ed=3 ×106V/m 時(shí),將發(fā)生擊穿。因此,對(duì)于一定的注入電壓V0,外導(dǎo)體的尺寸應(yīng)滿足
本文提出了同軸電流注入法,用于測(cè)試制導(dǎo)武器,并從理論推導(dǎo)、建模仿真2 種角度進(jìn)行了驗(yàn)證,還給出了確定注入電流頻率上限的方法。通過(guò)分析表明,在300 MHz 以下,可用同軸電流注入法對(duì)武器系統(tǒng)進(jìn)行EMV 試驗(yàn)。采用電流注入法,在甚高頻以下可以避免開(kāi)發(fā)大功率發(fā)射機(jī),僅需投入幾十萬(wàn)元就可以開(kāi)展武器系統(tǒng)的EMV 測(cè)試工作。特別是對(duì)于雷電效應(yīng)、強(qiáng)電磁脈沖效應(yīng)強(qiáng)干擾源,電流注入法是一種非常廉價(jià)和有效的測(cè)試方法。
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