杜金峰
(中國工程物理研究院核物理與化學(xué)研究所 綿陽 621900)
樣品在中子場內(nèi)的輻照效應(yīng),除取決于樣品本身的材料特性及所受的中子注量(率)外,還與中子場能譜有關(guān),中子能量不同,對被輻照物的作用效果就大不相同。因此,中子能譜是研究反應(yīng)堆輻照效應(yīng)的基本參量。此外,中子能譜也是在反應(yīng)堆上研究堆物理、核物理及工程模擬的基礎(chǔ),并對檢驗和評價核參數(shù)有重要意義[1]。
CFBR-II堆是以濃縮鈾材料為主體的橢球形快中子脈沖堆,可低功率穩(wěn)態(tài)運行或高功率脈沖運行,其中子能譜近似裂變譜,是較好的實驗室模擬核爆核輻射環(huán)境的裝置[2]。CFBR-II堆的中子能譜測量,可用活化法和6Li夾心半導(dǎo)體中子譜儀法,但它們有諸多局限性:活化法精確度不高,且閾值在低能區(qū)的活化箔很少;6Li夾心半導(dǎo)體中子譜儀法的探測器抗輻照能力差、探測效率低,在高能區(qū)測量時存在Si的(n,p)反應(yīng)引起的本底問題等。模擬計算則能方便地得到各輻照位置的中子能譜及其平均能量,可供實驗設(shè)計與數(shù)據(jù)分析參考。
CFBR-II堆結(jié)構(gòu)過于復(fù)雜,用確定性程序計算難以實現(xiàn)細致的幾何描述,模型誤差較大,同時確定性計算程序?qū)δ苋禾幚碛邢蓿膊槐愫蛯嶒灉y量結(jié)果相比較。因此,我們用蒙特卡羅法計算堆體的中子能譜,該方法無需數(shù)值求解輸運方程,而是隨機模擬源中子在堆體內(nèi)發(fā)生的各種物理過程,記錄各典型位置的中子通量并按能群統(tǒng)計歸一,得到相應(yīng)位置的能譜分布,其中源中子的空間、能量、方向等參數(shù)由臨界計算形成的本征分布中子源抽樣。
用MCNP程序[3]建立CFBR-II堆的三維計算模型。用 F5類型點探測器計數(shù)卡計算各輻照位置的中子能譜,能群劃分由記數(shù)能量卡根據(jù)實際需要設(shè)定,在空間位置rv處的第g群中子通量為:
則歸一化后的能譜分布為:
而平均能量為:
式中,Emax與Emin分別為中子能量的上、下限。
由式(3),中子通量平均能量就是將該輻照位置各中子的能量以其對應(yīng)的通量為權(quán)重平均,分母由F5類型點探測器計數(shù)卡給出,分子通過*F5類型點探測器計數(shù)卡計算。
用MCNP程序計算CFBR-II堆各典型輻照位置的多群中子能譜。該堆典型輻照位置有去耦盒、輻照孔道及去耦罩外表面三處,其中去耦盒與輻照孔道位于中間鋼托盤內(nèi),較接近堆芯,去耦罩緊貼上半球反射層外部,見圖1。對去耦盒及輻照孔道,沿其軸線測量,而去耦罩位于堆體最外層,實驗測量不受限制,通常選外表面斜上方45°作代表點。
圖1 各典型輻照位置在堆體內(nèi)的相對關(guān)系示意圖 a) 中間鋼托盤俯視圖;b) 堆體正視圖Fig.1 Relative relation of each typical radiation location in CFBR-II Reactor.a) overhead view of middle steel salver; b) front view of reactor.
表1列出去耦罩外表面斜上方45°的中子泄漏能譜計算值與活化法實驗測量結(jié)果[4]和去耦盒及輻照孔道內(nèi)限位置的中心中子能譜計算結(jié)果,由表1,0.05–3 MeV能區(qū)范圍內(nèi),去耦罩外表面的計算值和實驗值符合較好;而低能區(qū)與高能區(qū),二者誤差較大,但占的總能譜份額較小(~10%),可忽略。去耦盒及輻照孔道中間僅隔5 mm厚不銹鋼,位置較接近,因此能譜分布也較一致。
為輻照實驗時合理選取樣品布放位置,進一步計算CFBR-II堆各典型輻照位置的平均中子能量隨空間位置的變化關(guān)系。去耦盒與輻照孔道軸線上由內(nèi)至外各點的平均中子能量計算結(jié)果見圖2。去耦罩上各點的平均中子能量沿經(jīng)線與緯線方向考察,其中經(jīng)線所在平面與脈沖棒垂直,以上半球球心出發(fā)指向脈沖棒方向為0°方向?qū)雮€圓周等分12份;緯線選取以極角 45°形成的緯線圈,以經(jīng)線平面內(nèi)45°方向為起點順時針將整個圓周等分12份,計算結(jié)果見圖3。
圖2 去耦盒內(nèi)和輻照孔道內(nèi)平均中子能量隨距離變化關(guān)系Fig.2 Average energy v.s. distance in off-coupling box and irradiation channel.
由圖2知,去耦盒與輻照孔道軸線上各點的平均中子能量隨距離大致呈S形變化,在距內(nèi)限約1 cm處平均中子能量達最大,隨后迅速下降,距末端約3 cm處降至最小值,降幅~14%,此后又略有回升;去耦盒內(nèi)平均中子能量整體比輻照孔道內(nèi)的略偏硬,這是因為去耦盒內(nèi)壁涂有10B材料,對低能中子有一定吸收作用。由圖3,去耦罩上的平均中子能量沿經(jīng)線大致呈饅頭形變化,越靠近去耦罩底部,平均能量越低,在45°–135°間,變化較穩(wěn)定;去耦罩上的平均中子能量沿緯線分布相對較平緩,波動幅度在3%以內(nèi)。綜合推斷,去耦罩45°緯線圈到頂部較大范圍內(nèi)平均中子能量波動較小,是較理想的輻照區(qū)域。
圖3 去耦罩上平均中子能量沿(a)經(jīng)線和(b)緯線變化關(guān)系Fig.3 Different average energy along with (a) longitude and (b) woof on off-coupling cover.
建立基于 MCNP程序的中子能譜及平均中子能量計算方法,模擬計算了CFBR-II堆典型輻照位置的中子能譜及平均中子能量隨空間位置的變化關(guān)系。結(jié)果表明,各典型輻照位置的中子能譜集中分布于0.05–3 MeV(約占90%);去耦盒與輻照孔道軸線上各點的平均中子能量隨距離大致呈S形變化趨勢,在這兩區(qū)域做輻照效應(yīng)研究時要考慮能譜分布的空間不均勻性影響;而去耦罩 45°緯線圈到頂部較大范圍內(nèi)平均中子能量波動較小,是較理想的輻照區(qū)域。
1 Griffin P J, Kelly J G, Luera T F. SNL RML Recommended Dosimetry Cross Section Compendium.USA: SAND92-0094·UC-713, 1993
2 楊成德, 龔書良, 鄧門才. 核物理動態(tài), 1995, 12(4):58–60 YANG Chengde, GONG Shuliang, DENG Mencai.Trends Nucl Phys, 1995, 12(4): 58–60
3 Judith F. MCNP-A General Monte Carlo N-particle Transport Code. USA: LANL LA-12625-M, 1997
4 鄭 春, 吳建華, 李建勝, 等. 核動力工程, 2004, 25(1):93–95 ZHENG Chun, WU Jianhua, LI Jiansheng,et al. Nucl Power Eng, 2004, 25(1): 93–95