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      基于虛擬儀器的傳感器自動測試系統(tǒng)設計與實現(xiàn)

      2010-07-25 08:44:10李波何黎明王林
      微型電腦應用 2010年5期
      關鍵詞:試驗箱電阻值總線

      李波,何黎明,王林

      0 引言

      傳感器廣泛應用于工業(yè)領域中,需要適應各種工業(yè)環(huán)境,因此傳感器在環(huán)境的改變情況下性能的穩(wěn)定性就很重要,需要通過嚴格的測試才能投入使用。傳統(tǒng)測試系統(tǒng)中,把傳感器放置在溫度試驗箱中,由人工監(jiān)測整個測試過程,包括調整試驗箱溫度,設定溫度持續(xù)時間,定時記錄傳感器的性能參數(shù)等等,整個測試過程持續(xù)時間比較長。隨著被測試的產(chǎn)品增加,傳統(tǒng)的依靠人工系統(tǒng)已經(jīng)不能滿足生產(chǎn)的要求。本文設計了基于 PXI總線技術和虛擬儀器平臺的傳感器測試系統(tǒng),采用了 NI的 7位半高性能數(shù)據(jù)采集卡PXI-4071和矩陣開關PXI-2503,實現(xiàn)了多個傳感器溫度性能的自動測試,改善了傳統(tǒng)測試系統(tǒng)中配置時間長、效率低的問題。

      1 傳感器溫度的性能測試

      傳感器溫度性能的測試,需要采集傳感器內阻在不同溫度下的變化規(guī)律。為了方便測量,本文通過電橋電路把傳感器電阻的變化,轉換為電橋輸出電壓的變化。采集到電壓數(shù)據(jù)后,通過處理和計算得出溫度性能參數(shù)并給出測試結果。

      1.1 傳感器測試的電橋電路

      圖1 傳感器測試電橋電路圖

      其中,Rs1,Rs2,Rs3是3個標準電阻,R是傳感器的等效電阻,傳感器的電阻值隨著溫度變化電阻有波動。假設電源供電電壓為Vs,我們需要采集的信號為:

      從上面公式可以知道Vo的變化跟傳感器電阻值R的變化成正比的。

      1.2 傳感器隨溫度變化情況下的性能測試

      傳感器的工作環(huán)境是多變的,有時還需要在高溫下工作。因此需要傳感器長時間保持工作的良好狀態(tài)需要做必要的測試,比如在長時間溫度不變的工作環(huán)境下以及在溫度變化的情況中,同一溫度下性能的穩(wěn)定性等等。其中溫度滯后影響是最重要的評判要素之一。假設一個測試流程如下:

      溫度滯后計算方法如下:

      ?

      其中,Vi(i=1,2…9)為流程相應的溫度點采集到的電壓信號;VR為量程壓力的輸出信號,依量程可視為常量處理。一般取溫度滯后范圍為0.06%,如果溫度滯后值大于0.06%時,判斷傳感器不合格。

      2 系統(tǒng)硬件的設計

      系統(tǒng)構架如圖2所示。系統(tǒng)結構主要分為基于PXI總線的溫度與電壓數(shù)據(jù)采集部分和溫度環(huán)境模擬部分。

      圖2 測試系統(tǒng)結構框圖

      2.1 PXI總線以及相關硬件設備的選擇

      PXI(PCI eXtensions for Instruments)是 PCI總線在儀器領域的擴展。它是一種專門為數(shù)據(jù)采集以及自動化打造的模塊化儀器平臺,能滿足日益增加的對復雜儀器系統(tǒng)的需求的系統(tǒng)。PXI系統(tǒng)由3個基本部分組成:機箱,系統(tǒng)控制器和外設模塊。機箱背板包含有定時和觸發(fā)總線,用于精確定時的星型觸發(fā)總線,讓高精度同步操作得以實現(xiàn)。通過MXI-3接口工具,PXI系統(tǒng)可以直接被PC或其他PXI系統(tǒng)控制,這給虛擬儀器的開發(fā)帶來了極大的方便。根據(jù)尺寸不同,機箱有4-18插槽不等,可以根據(jù)需要方便地增加外設模塊,實現(xiàn)系統(tǒng)的擴展[1]。

      2.2 傳感器測試環(huán)境的模擬

      考慮到傳感器檢測所需要的溫度和氣壓環(huán)境,并且其狀態(tài)可以通過程序控制,因此采用espec快速溫度變化試驗箱和DHI PPC3大氣壓力控制器,模擬傳感器檢測所需要的溫度和壓力環(huán)境。Espec快速溫度變化試驗箱,是愛斯派克環(huán)境儀器公司的小型環(huán)境試驗箱,可以通過 RS485串口與工控機通訊,而且具有豐富的可編程指令系統(tǒng),可以通過程序控制試驗箱的溫度以及試驗箱溫度采集。類似地,DHI PPC3的指令對氣壓進行控制與氣壓狀態(tài)的采集。

      2.3 多傳感器測試數(shù)據(jù)的采集

      為了提高檢測效率,測試采用多個傳感器同時進行測試??紤]到有靜電和電磁干擾,我們把24個傳感器作為一組,放置在一個圓柱型金屬容器中,并給傳感器統(tǒng)一供電;考慮到容器里面和外面溫度變化速度的變化,因此有必要再在每個金屬容器中放置一個PT100,使得更準確的獲取傳感器環(huán)境的溫度值。為了自動采集多路傳感器的電壓信號,我們基于NI公司的18路插槽的PXI系統(tǒng)平臺,采用PXI-2503矩陣開關以及PXI-4071數(shù)字萬用表,PXI系統(tǒng)控制器控制PXI-2503與PXI-4071,共同協(xié)作完成自動采集。原理圖如。其中 PXI-2503是低壓多路復用器/矩陣繼電器開關,最大工作頻率高達30KHz,一共有48個接線端,并且可以根據(jù)需要選擇不同的繼電器切換模式,如24路兩線制,12路四線制等[2]。PXI-4071是高精度數(shù)字萬用表,測量范圍廣,最高精度為7位半,電壓測量范圍±10nV到 1000V,電阻測量范圍 10μΩ.到 5GΩ[3]。

      圖3 PXI-2503和PXI-4071配合工作原理示意圖

      2.4 環(huán)境溫度的采集

      環(huán)境溫度就是工裝內部的溫度。工裝是指存放傳感器的容器,為了方便傳感器測試,傳感器是放置在工裝中的,工裝是一個閉合的金屬容器,可以防止靜電干擾,通過導線把測量信號引出至電壓測量設備。每個工裝中放置一個pt100,通過測量pt100的值來獲取工裝中的溫度值。溫度采用4線制測量方法。用 4線制法通過導線把電阻接到PXI-2503,再通過PXI-4071測量,選擇4線制電阻測量方法獲得pt100的電阻值,再轉換為相應的溫度值。原理分別如圖4和圖5所示。

      圖5 兩線法電阻測量電路

      圖中為電流源供電,RLead為導線電阻,Rpt為待測pt100電阻,V是電壓表,內阻為Rv。電流源電流大小為I,電壓表讀數(shù)為U,由電路分析知識可知:

      所以

      兩線制法測量得電阻值為

      從上面的比較可以知道四線制法測量電阻更精確,實際中兩線法測量常溫下pt100溫度值為118Ω,對應溫度值為46.3℃,而四線法測量得電阻值為 110Ω,對應的溫度為25℃,顯然對PT100電阻值采用四線制法測量是有必要的。

      3 軟件結構

      3.1 軟件整體結構

      系統(tǒng)軟件結構如圖6示。整個軟件結構主要分為兩個主要部分,系統(tǒng)參數(shù)配置部分和測試流程實現(xiàn)部分。系統(tǒng)參數(shù)配置部分的功能是設置系統(tǒng)運行的各種參數(shù),包括串口設置,測試流程設置等等。測試流程實現(xiàn)部分功能是完成測試流程,包括測試流程選擇,實時數(shù)據(jù)顯示,工藝進度監(jiān)控以及顯示測試結果;利用LabVIEW的多線程技術,在測試流程運行的同時可以方便的完成數(shù)據(jù)分析以及處理的工作,并將測試數(shù)據(jù)以及分析結果保存為Excel文件中。

      圖6 系統(tǒng)軟件結構圖

      3.2 程序流程圖

      整個測試系統(tǒng)軟件部分用 LabVIEW 進行開發(fā)。LabVIEW 本身是一個功能完整的軟件開發(fā)環(huán)境,同時也是一種功能強大的編程語言。一方面,由于LabVIEW采用基于流程圖的圖形化編程方式,因此也被稱為 G語言(graphical language)。因此LabVIEW的界面設計變得非常簡單,可以直接調用已有的功能圖標。另一方面,LabVIEW采用自動的多線程技術,不需要用戶去了解線程的分配等工作,只需要在程序上把數(shù)據(jù)流設計成并行的就可以達到多線程的目的[4]。這使得多線程技術的應用在LabVIEW變得非常簡單,在數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)中使用更加方便和便捷。系統(tǒng)的軟件流程如圖7示。

      圖7 測試系統(tǒng)軟件流程圖

      4 結論

      本文實現(xiàn)的多路傳感器溫度性能自動測試系統(tǒng),以 NI公司的PXI-2503矩陣開關和PXI-4071高精度數(shù)字萬用表以及espec溫箱為硬件平臺,基于LabVIEW的軟件開發(fā)平臺,進行系統(tǒng)控制和數(shù)據(jù)采集,極大地改善了傳感器測試的效率。采用新型的自動測試系統(tǒng)后,整個測試過程不需要人工的參與,節(jié)約了人力資源。

      [1] 伏金春,李志武.基于PXI總線技術的數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)設計與實現(xiàn).儀器儀表用戶,2006(2):31.

      [2] National Instrument,NI PXI-2503userguaid,2006.

      [3] National Instrument,NI PXI-4071_Specifications,2006.

      [4] 楊樂平,李海濤,趙勇.LabVIEW高級程序設計.清華大學出版社.

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