國際微電子計(jì)量與測(cè)試技術(shù)研討會(huì)(CMMT 2010中國武漢)征文通知(http://www.cmmt.org/cmmt2010)

一、會(huì)議主題

微電子技術(shù)是當(dāng)代技術(shù)革命的先導(dǎo)與核心。微電子技術(shù)的發(fā)展,離不開微電子計(jì)量與測(cè)試技術(shù)的保障。當(dāng)前,微電子器件的發(fā)展呈現(xiàn)規(guī)模愈來愈大、集成度愈來愈高、速度愈來愈快、結(jié)構(gòu)愈來愈復(fù)雜、功能愈來愈強(qiáng)大的特點(diǎn),同時(shí)更高精度、更強(qiáng)功能、更復(fù)雜結(jié)構(gòu)的集成電路測(cè)試系統(tǒng)得到廣泛的推廣與應(yīng)用,給微電子器件參數(shù)的計(jì)量與測(cè)試帶來了極大的挑戰(zhàn)。在科技創(chuàng)新的形勢(shì)下,迫切需要加強(qiáng)國際、國內(nèi)學(xué)術(shù)界與工業(yè)界的交流與溝通,深入解析微電子計(jì)量與測(cè)試的國際化發(fā)展趨勢(shì),積極開展多種形式的國際交流、合作與協(xié)作,共同探討并充分利用核心微電子技術(shù)給人類帶來的巨大影響力與創(chuàng)造力。

在2008年10月第一屆中國微電子計(jì)量與測(cè)試技術(shù)研討會(huì)(CMMT 2008)召開的基礎(chǔ)上,計(jì)劃于2010年9月15-17日在中國武漢召開國際微電子計(jì)量與測(cè)試技術(shù)研討會(huì)(International Conference on Microelectronic Measurement and Test,簡(jiǎn)稱CMMT 2010)。歡迎國際與國內(nèi)從事微電子計(jì)量與測(cè)試?yán)碚撗芯?、工程?yīng)用研究以及計(jì)量測(cè)試領(lǐng)域相關(guān)工作的專家、學(xué)者以及研究工作者踴躍投稿并積極參會(huì)。

二、征文范圍(包括但不限于以下內(nèi)容)

微電子計(jì)量專題 微電子測(cè)試專題◆先進(jìn)計(jì)量技術(shù)◆量值溯源與量值傳遞體系◆測(cè)量不確定度評(píng)定方法研究◆標(biāo)準(zhǔn)樣片制備與應(yīng)用技術(shù)◆測(cè)試設(shè)備校準(zhǔn)技術(shù)◆高速接口板設(shè)計(jì)與校準(zhǔn)技術(shù)◆校準(zhǔn)軟件設(shè)計(jì)與開發(fā)技術(shù)◆虛擬儀器構(gòu)建技術(shù)◆校準(zhǔn)裝置研制技術(shù)◆計(jì)量保障技術(shù)◆測(cè)試設(shè)備計(jì)量標(biāo)準(zhǔn)◆SOC、SIP測(cè)試◆DSP、FPGA 測(cè)試◆納米、生物、光電芯片測(cè)試◆內(nèi)建自測(cè)試(BIST)技術(shù)◆可測(cè)試性設(shè)計(jì)(DFT)技術(shù)◆測(cè)試生成技術(shù)與方法◆測(cè)試適配器設(shè)計(jì)◆測(cè)試設(shè)備體系結(jié)構(gòu)◆測(cè)試設(shè)備故障診斷與維護(hù)◆測(cè)試組件分析◆測(cè)試軟件測(cè)評(píng)

三、重要日期

征文時(shí)間:2010年4月20日～2010年6月20日;

錄用通知:2010年7月1日。

四、投稿與出版

所有投稿的論文須使用word電子版本(論文排版格式模版請(qǐng)?jiān)诖髸?huì)主頁下載),大會(huì)論文的投稿須通過電子郵箱投稿(投稿郵箱:cmmt2008@gmail.com)。所有錄用的會(huì)議論文將在中國科技核心期刊《計(jì)算機(jī)與數(shù)字工程》正刊上正式發(fā)表。

注意:所有投稿論文不得涉及國家秘密,請(qǐng)投稿前完成脫密處理。

五、組織機(jī)構(gòu)

主辦單位:武漢數(shù)字工程研究所 中國計(jì)量測(cè)試學(xué)會(huì)

承辦單位:國防科技工業(yè)微電子一級(jí)計(jì)量站

協(xié)辦單位:《計(jì)算機(jī)與數(shù)字工程》編輯部

聯(lián) 系 人:張明虎 劉倩

通信地址:武漢市74223信箱6分箱 郵編:430074

聯(lián)系電話:027-87533046 87534410 傳真:027-87534014

電子信箱:cmmt2008@gmail.com 網(wǎng)址:http://www.cmmt.org/cmmt2010