摘要:對于車規(guī)級功率模塊,設計使用時間往往高達15年以上。因此對可靠性設計和封裝工藝控制提出更高的要求,這也大大增加了IGBT模塊封裝技術的難度。封裝過程中的每一個環(huán)節(jié)都需要精準設計和嚴格控制,從而保證PCM(控制器模塊)功率模塊在實際工況條件下的可靠性、耐久性。通過對某車輛PCM功率模塊腐蝕失效故障的原因分析,經(jīng)過一系列驗證分析,討論了引起PCM腐蝕失效的內外部因素,其中包括外部環(huán)境、單品PM結構、IGBT灌封工藝、散熱器外殼制造工藝等因素的影響。
關鍵詞:PCM;IGBT功率模塊;工業(yè)CT檢測;超聲波焊;熱固性樹脂;鋁合金點腐蝕
IGBT(Insulated Gate Bipolar Transistor)——絕緣柵雙極型晶體管是PCM(控制器模塊)的核心部件,具有驅動功率小而飽和壓降低的優(yōu)點,是一種高效、可靠的功率電子開關。因其節(jié)能、散熱穩(wěn)定等特點,廣泛應用于高電壓、大電流的電力電子系統(tǒng)中。
新能源汽車動力總成控制模塊中,IGBT起著控制功率輸出的作用,但由于車載工況功率高、溫度變化快速等較為苛刻的工況,IGBT經(jīng)常處于“極熱”或“極冷”工況(車規(guī)級設計溫度區(qū)間一般在-40~125℃)。一旦出現(xiàn)故障會導致車輛用電設備不能得到供電,嚴重時車輛無法啟動。
目前,車規(guī)級功率模塊采取的主流散熱方式為液冷散熱,鋁針式散熱基板,散熱性能好,造價低,廣為應用。再通過特定的技術將IGBT功率器件進行封裝,保證其在各種工況條件下有效發(fā)揮功用。
故障描述
某款混動車在道路行駛試驗9365km時故障燈點亮,根據(jù)故障碼提示對車輛PCM輸出進行絕緣檢測,阻值異常(測試值為0)。進一步拆解檢查發(fā)現(xiàn)內部單品PM表面有粉色晶狀物,同時表面鋁質散熱基板有腐蝕現(xiàn)象(見圖1),單品PM絕緣測試,其中一件絕緣失效。
分析驗證
1.腐蝕物分析
經(jīng)過紅外分析,粉色晶體主成分為冷卻液+氧化鋁(見圖2),能譜分析結果顯示其中F、K元素含量異常(見表1)。
2.腐蝕源分析驗證
對冷卻液分析,故障車中冷卻液F、K元素異常,冷卻原液不含F(xiàn)、K離子。對整個冷卻管路進行排查,前端中溫散熱器整體釬焊工序所使用釬焊劑為氟鋁酸鉀,主板釬焊后,底部會有釬劑殘留物(殘渣能譜檢測結果見表1)。
3.腐蝕驗證
設計一組浸泡試驗,驗證冷卻液中釬焊劑殘渣對散熱鋁質的腐蝕性。
1)驗證對象:A1050帶材(散熱片材質為A1050,制作工藝為壓鑄)。
2)驗證方法:從同一片A1050鋁帶上截取8塊樣片(15mm×30mm),浸泡于不同種類測試液中,在兩種溫度下浸泡一定時間,取出、沖洗,目視觀察,根據(jù)樣片變色情況判定氧化程度并排序。
經(jīng)高溫后的釬焊劑殘渣在冷卻液中溶解度會提高,溶入冷卻液中的F-、K+離子對鋁質散熱片有腐蝕作用。
溫度對腐蝕速度有很大的影響,溫度越高,腐蝕性越大(見表2和圖3)。
注:1)A→B→C→D→E→F氧化程度依次遞增。
2)浸泡液:1#溶液-冷卻液原液,2#溶液-故障車內冷卻液,
3#溶液-冷卻液原液+釬焊劑殘渣,4#溶液-冷卻液原液
+釬焊劑原料。
3)浸泡時間24h。
4.功率模塊IGBT各部分耐腐蝕性驗證
將IGBT功率模塊切塊浸泡于1:1HCl溶液中,觀察各組成部分腐蝕情況,并對各材料間的絕緣性進行測試。
結果表明,浸泡后絕緣層、Cu層、樹脂區(qū)域無明顯變化,鋁殼腐蝕溶解(見圖4)。
絕緣性能測試結果表明絕緣層保持絕緣功能。
5.故障IGBT功率模塊缺陷分析
(1)CT分析 對故障IGBT進行CT檢查,CT結果顯示芯部充填的樹脂有裂紋和空腔(見圖5),將CT鎖定故障點剖開,可觀察到故障位置已被嚴重腐蝕。
(2)IGBT結構分析 包括灌封分析和散熱基板結構分析。
1)灌封工藝分析。灌膠固化采用了二次灌封工藝,兩次灌封采用的都是熱固性樹脂,如圖6所示。
熱固性環(huán)氧樹脂,具有強度高、絕緣性好、耐熱、抗腐蝕等優(yōu)點。其缺點是性脆、力學性能較差,且固化反應不可逆。封裝后樹脂內收縮應力大,加之IGBT本身工況條件就是高低溫不斷變換,尤其在兩次灌封材料之間極易出現(xiàn)開裂,灌封過程真空度控制不好也會造成樹脂內部形成空洞等情況,此弊端在故障IGBT模塊上已得到證實。
先以有機硅凝膠灌封,硅凝膠內應力低、柔軟,粘附性強,能很好地附著在IGBT模組上,達到良好的防水防潮效果,同時也有一定的抗沖擊性。之后再以環(huán)氧膠二次灌封,經(jīng)固化后在硅凝膠上層形成一層密度大質地堅硬的保護層,起保護和強化模塊整體性的作用。這種灌封工藝目前已得到廣泛推廣運用。
2)散熱基板結構分析。散熱基板的成型工藝為壓鑄,材料采用了A1050。A1050是一種純鋁材料,具有良好的耐蝕性和焊接性能。鋁壓鑄工藝也是一種高效而廣泛應用的鑄造工藝,但由于高速填充,快速冷卻,型腔中氣體可能來不及排出,壓鑄件內常伴有一些細小氣孔。
散熱基板表面和近表面的微小孔隙在含F(xiàn)-溶液中開始是以亞穩(wěn)點蝕的方式形成最初的腐蝕點,隨著腐蝕程度加深,腐蝕坑慢慢深入擴大,逐步向穩(wěn)定點蝕轉化,且腐蝕速度也加快;散熱基板與外框采用超聲波焊接鏈接,焊接工藝需要,周邊設計厚度較薄(0.5mm)。點腐蝕作用下極易被腐蝕而穿透,冷卻液順裂紋滲入,造成IGBT絕緣失效。
結語
本次IGBT絕緣失效的主要原因如下:
(1)外因 冷卻管路中清潔度問題,管路中殘留的助焊劑殘渣,為鋁合金點腐蝕提供了腐蝕環(huán)境,是造成本次IGBT腐蝕失效的主要外部原因。
(2)內因 IGBT的灌封采用的二次熱固性樹脂灌封方式不適用于液態(tài)的工作環(huán)境,灌封內部一旦出現(xiàn)裂紋、孔洞等缺陷,若再遇散熱基板受損,液體便會滲入內部,造成IGBT絕緣短路,這是本次IGBT絕緣失效的重要內部原因。
內外因相互作用,促成了本次失效故障。后續(xù)通過控制管道清潔度、改進IGBT封裝工藝有效杜絕了這類絕緣失效問題。
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