沈 練,李 冉,魏超群,趙維艷,朱鵬飛,徐世春,戚雁武
(昆明物理研究所,云南昆明 650223)
微型節(jié)流制冷型紅外焦平面探測(cè)器具有結(jié)構(gòu)緊湊、重量輕便、降溫迅速等特點(diǎn),而被廣泛地應(yīng)用在導(dǎo)引頭和制導(dǎo)系統(tǒng)等領(lǐng)域。該種器件通常需要滿足快速啟動(dòng)的要求,即在幾秒內(nèi)就達(dá)到器件的制冷工作溫度,其制冷工作原理是在絕熱和不對(duì)外做功的條件下,高壓氣體經(jīng)過多孔物質(zhì)或小孔實(shí)現(xiàn)節(jié)流膨脹,最終使氣體溫度下降[1]。制冷機(jī)工作過程中,會(huì)吸收環(huán)境中的熱量,使氣體發(fā)生液化,從而冷凝成水;而與制冷機(jī)耦合的杜瓦冷指除了需要承受瞬時(shí)溫度變化外,還會(huì)處于制冷后冷凝水附著的情況。
杜瓦冷指是與制冷機(jī)耦合的關(guān)鍵部件,除了充當(dāng)冷端進(jìn)行熱量傳遞外,亦是作為探測(cè)器芯片的安裝面,起到結(jié)構(gòu)支撐作用[2]。其焊接質(zhì)量好壞直接影響到探測(cè)器芯片的成像質(zhì)量,也影響到制冷機(jī)的制冷效果,是紅外焦平面探測(cè)器組件的重要部件。因此對(duì)于微型節(jié)流制冷型紅外焦平面探測(cè)器杜瓦冷指的結(jié)構(gòu)研究尤其是材料的選擇,除了需要考慮其較好的傳熱效率,還應(yīng)關(guān)注由于冷凝水的存在,在長(zhǎng)期放置后產(chǎn)生的銹蝕隱患。
冷平臺(tái)材料選擇依據(jù)低漏熱和應(yīng)力最優(yōu)原則[3],常采用TC4 鈦合金(杜瓦冷指端面環(huán))與4J36 合金(杜瓦冷指端面芯)的釬焊形式,如圖1所示。TC4鈦合金具有較為優(yōu)異的低熱傳導(dǎo)系數(shù)及高屈服強(qiáng)度,從熱力學(xué)角度評(píng)價(jià)是最合適作為冷指薄壁的材料之一[3]。4J36 合金是杜瓦冷指中常用的冷平臺(tái)材料,其在-250℃~200℃較大溫區(qū)內(nèi)均有著較低的膨脹系數(shù),與芯片的適配性較好,因此制冷后引起的變形小,對(duì)芯片的作用應(yīng)力小,且該材料焊接性能較好[4]。但4J36 的導(dǎo)熱系數(shù)小,熱傳導(dǎo)較慢,制冷效率較低;同時(shí)需要通過鍍鎳工藝來保證鎳層覆蓋,防止制冷后長(zhǎng)期放置帶來的銹蝕隱患。與4J36 合金相比,純Ni 具備較大的導(dǎo)熱系數(shù),熱傳導(dǎo)快,制冷效率高;同時(shí)本身具有較好防銹蝕的作用,無需增加鍍鎳工藝,可作為微型節(jié)流制冷型紅外焦平面探測(cè)器杜瓦冷平臺(tái)材料的選擇之一。
圖1 杜瓦冷指焊接示意圖Fig.1 Schematic diagram of dewar cold finger welding
本文在考慮使用純Ni 替代4J36 合金的前提下,通過數(shù)值模擬分析了TC4 鈦合金與純Ni 釬焊結(jié)構(gòu)的適用性,并從釬焊方法和釬料類型的焊縫微觀組織以及接頭結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)的可靠性等方面對(duì)TC4 鈦合金與純Ni 的釬焊工藝進(jìn)行了研究。
為了獲得芯片與冷平臺(tái)更好的熱適配結(jié)果,往往會(huì)選擇彼此膨脹系數(shù)相近的材料,而滿足上述條件的低膨脹系數(shù)合金材料其熱導(dǎo)率通常又較低。因此,為了實(shí)現(xiàn)大幅度減小啟動(dòng)時(shí)間,提高制冷效率的目的,單純依靠冷頭外形結(jié)構(gòu)的優(yōu)化設(shè)計(jì)已無法滿足,需要從材料本身入手,即替換為具有高熱導(dǎo)率特性的材料。雖然Ni 具備傳熱快、制冷效率高和防銹蝕顯著等優(yōu)點(diǎn),但考慮到其具有較大的熱膨脹系數(shù),制冷后產(chǎn)生的熱應(yīng)力和形變會(huì)對(duì)芯片性能產(chǎn)生一定的影響,故需要增加合理的過渡結(jié)構(gòu)(如圖2所示)加以平衡,達(dá)到減小熱失配的目的。
圖2 杜瓦冷頭過渡結(jié)構(gòu)Fig.2 Dewar cold head transition structure
4J36 合金與純Ni 在低溫下(80 K)的線膨脹系數(shù)及導(dǎo)熱系數(shù)對(duì)比如表1所示。
對(duì)TC4+4J36 與TC4+Ni 釬焊結(jié)構(gòu)的冷平臺(tái)封裝后進(jìn)行Ansys 有限元仿真,網(wǎng)格劃分如圖3所示,采用六面體類型單元,最小單元尺寸0.6 mm,整個(gè)模型單元共計(jì)4387 個(gè),節(jié)點(diǎn)5825 個(gè)。并對(duì)比了兩種結(jié)構(gòu)在80 K 工作溫度下的芯片應(yīng)力和應(yīng)變以及降溫時(shí)間情況,結(jié)果見圖4 和圖5。
圖3 杜瓦冷頭封裝結(jié)構(gòu)模型網(wǎng)格劃分Fig.3 Mesh generation of dewar cold head packaging structure model
圖4 兩種結(jié)構(gòu)在80 K 工作溫度下芯片應(yīng)力和應(yīng)變情況Fig.4 Stress and strain of the two structures at 80 K
圖5 兩種冷指端面結(jié)構(gòu)芯片降溫時(shí)間曲線對(duì)比情況Fig.5 Comparison of cooling time curves of two cold finger end structure chips
從表2 中可以看出,通過過渡結(jié)構(gòu)平衡熱膨脹系數(shù)差異引起熱失配后,TC4+4J36 與TC4+Ni 釬焊結(jié)構(gòu)對(duì)應(yīng)的芯片處最大應(yīng)力分別為29.33 MPa 和34.72 MPa,最大應(yīng)變分別為2.75 μm 和2.93 μm,兩種結(jié)構(gòu)的仿真結(jié)果差異較小,在可接受范圍內(nèi)。從降溫時(shí)間上來看,TC4+4J36 結(jié)構(gòu)降至80 K 所需的時(shí)間為20 s,而TC4+Ni 結(jié)構(gòu)僅需9 s。
表2 兩種冷指端面結(jié)構(gòu)的芯片應(yīng)力、應(yīng)變及降溫時(shí)間結(jié)果對(duì)比匯總Table 2 Comparison and summary of chip stress,strain and cooling time results of two cold finger end structures
可以看出,增加過渡結(jié)構(gòu)的TC4+Ni 冷指端面,在滿足芯片應(yīng)力及變形要求的基礎(chǔ)上,極大地提升了制冷效率,并兼具更優(yōu)的耐蝕性,符合微型節(jié)流制冷型紅外焦平面探測(cè)器杜瓦冷指的適用性需求,故對(duì)該結(jié)構(gòu)的釬焊工藝研究具有工程實(shí)用意義。
本試驗(yàn)采用TC4 合金和純Ni 作為基體材料。表3為TC4 鈦合金的化學(xué)成分,表4 為純Ni 的化學(xué)成分。
表3 TC4 的化學(xué)成分Table 3 TC4 alloy chemical composition(wt/%)
表4 純Ni 的化學(xué)成分Table 4 Ni Chemical composition(wt/%)
為了避免由于溫度較高,引起TC4 鈦合金β 相晶粒長(zhǎng)大影響材料性能的問題,釬焊溫度必須低于其相變溫度(約960℃)。Ag-Cu 系釬料是常用于釬焊鈦合金的釬料類型之一[5],其釬焊溫度遠(yuǎn)低于TC4 相變溫度,同時(shí)具有屈服強(qiáng)度低及塑性好的特點(diǎn),可以最大限度地釋放焊接殘余應(yīng)力。
本試驗(yàn)采用AgCu28 和AgCuNi 作為釬焊材料,其主要成分、熔點(diǎn)及規(guī)格為如表5所示。兩種釬料規(guī)格均為φ0.5 焊料絲,并經(jīng)過酸洗及真空處理,保證表面氧化層的去除及清潔度。
表5 釬料的化學(xué)成分、熔點(diǎn)及規(guī)格Table 5 Chemical composition,melting point and specification of filler metal
常溫下鈦合金較穩(wěn)定,但隨溫度升高到大于250℃后,對(duì)氫、氧、氮等元素的吸收能力開始增強(qiáng),并與上述元素結(jié)合形成強(qiáng)度低且硬而脆的鈦化合物[6],從而引起焊接接頭脆化,最終影響焊接質(zhì)量。因此,氫氣及氮?dú)獾葰夥蘸附訜o法滿足焊接要求,而對(duì)焊接過程環(huán)境中的氧含量加以控制同樣重要。綜上分析,真空釬焊是較為理想焊接的方法。
本試驗(yàn)采用高溫真空釬焊和高頻真空釬焊的方法。結(jié)合釬焊材料的選擇,釬焊溫度及保溫時(shí)間如表6所示。釬焊過程中設(shè)備真空度應(yīng)優(yōu)于5.0×10-3Pa。
表6 釬焊溫度及保溫時(shí)間Table 6 Brazing temperature and holding time
為了獲得高強(qiáng)度的冷指端面焊接結(jié)構(gòu),在保證焊接強(qiáng)度的前提下,本試驗(yàn)對(duì)4 種釬焊接頭結(jié)構(gòu)(包括直邊、臺(tái)階、螺紋以及錐形)進(jìn)行了研究,釬焊后機(jī)加取樣的外形結(jié)構(gòu)示意圖如圖6所示。
圖6 四種焊接結(jié)構(gòu)示意圖Fig.6 Schematic diagram of four welding structures
本試驗(yàn)依據(jù)正交試驗(yàn)組合方式確定釬焊材料及釬焊方法的較佳選擇,并重點(diǎn)關(guān)注釬焊后的焊縫微觀組織特征(包括對(duì)脆性相生成和元素偏析情況的控制等)。同時(shí)在確定釬焊材料與釬焊方法較佳方案后,再對(duì)4 種釬焊接頭結(jié)構(gòu)的可靠性進(jìn)行研究。
將釬焊試件線切割獲得焊縫斷面,并用砂紙打磨后利用掃描電鏡觀察焊縫微觀組織,通過能譜測(cè)試釬焊界面的元素分布,分析元素?cái)U(kuò)散情況。同時(shí)按要求加工為力學(xué)性能測(cè)試試樣后在高壓檢測(cè)臺(tái)和壓力測(cè)試機(jī)上進(jìn)行接頭充耐壓及剪切強(qiáng)度性能測(cè)試。
圖7 為AgCu28 釬料高溫真空釬焊焊縫微觀組織形貌。焊縫區(qū)域以Ag-Cu 合金的共晶相(淺白色相,A 處)為主,而靠近Ni 母材側(cè)區(qū)域出現(xiàn)了一定程度的成分偏析現(xiàn)象。當(dāng)釬料熔化時(shí),由于濃度梯度存在且DNi>DCu(擴(kuò)散系數(shù)),因此大量Ni 擴(kuò)散進(jìn)入Ag-Cu 共晶相中,基于Cu 跟Ni 的無限固溶特性,形成Ni-Cu 固溶體(深色相,B、C 處)。同時(shí)少量Cu 和Ag 向Ni 母材擴(kuò)散,由于DCu>DAg(擴(kuò)散系數(shù)),導(dǎo)致該區(qū)域共晶釬料中Cu 的量不足,無法維持釬料成分在共晶點(diǎn)附近[6]。D 處為靠近TC4 側(cè),主要是以細(xì)微針狀組織形式存在,數(shù)量較少,元素間的擴(kuò)散及反應(yīng)程度較低。通過能譜分析(見表7)主要為Ti 和Cu 兩種元素,結(jié)合Ti-Cu 二元合金相圖分析可知主要為TiCu,此種金屬化合物為脆性相[7],數(shù)量過多會(huì)對(duì)焊縫接頭強(qiáng)度造成重要影響,因此焊接時(shí)需要控制其生成數(shù)量。
表7 主要成分分析結(jié)果Table 7 Main composition analysis results
圖7 AgCu28 釬料高溫真空釬焊掃描電鏡照片F(xiàn)ig.7 SEM photo of high temperature vacuum brazing with AgCu28 Solder
高溫真空釬焊將工件和釬料進(jìn)行整體加熱,能夠精確地控制溫度并使溫度均勻化,避免了與Ti 元素過度反應(yīng)生成大量脆性相,保證焊縫較好的屈服強(qiáng)度及塑性,提高接頭強(qiáng)度。
圖8 為AgCuNi 釬料高溫真空釬焊焊縫微觀組織形貌。當(dāng)AgCuNi 釬料釬焊純Ni 材料時(shí),在同樣升降溫速率、釬料熔化保溫時(shí)間下,IMC 層厚度相較于AgCu28+高溫真空釬焊組合明顯增加(由0.42 mm 增加至0.55 mm),成分偏析現(xiàn)象也更加嚴(yán)重,且偏析從靠近純Ni 側(cè)開始,逐漸向焊縫中間區(qū)域遷移[8]。
圖8 AgCuNi 釬料高溫真空釬焊掃描電鏡照片F(xiàn)ig.8 SEM photo of high temperature vacuum brazing with AgCuNi solder
對(duì)于釬焊含有Ni 元素或存在鍍Ni 層的母材,以及向釬料中添加Ni 元素時(shí),釬焊焊縫會(huì)出現(xiàn)明顯的成分偏析現(xiàn)象;相較于AgCu28 釬料,AgCuNi 釬料的釬焊溫度更高,因此也增加了Ni 元素與Ag-Cu 釬料的互擴(kuò)散程度,加劇了焊縫偏析[8]。
對(duì)比兩種釬料在高溫真空釬焊下的焊縫微觀組織,成分偏析情況很難完全避免。因此,僅需要盡量控制偏析現(xiàn)象的程度,除了必要的冶金結(jié)合反應(yīng)外,盡可能保證焊縫區(qū)域?yàn)锳g-Cu 共晶相,依靠其較低屈服強(qiáng)度及較好的塑性等特點(diǎn),緩解應(yīng)力并降低接頭中的殘余應(yīng)力,提高接頭性能。而相較于AgCuNi 釬料,AgCu28 釬料由于Ni、Cu 遷移和固溶引起的焊縫元素偏析情況更低,對(duì)于TC4+Ni 的焊接結(jié)構(gòu)有較明顯的優(yōu)勢(shì)。
圖9 為AgCu28 釬料高頻真空釬焊焊縫微觀組織形貌。從圖中可以看出,區(qū)域Ⅰ的焊縫與其余焊縫區(qū)域存在較大差異,分別選取區(qū)域Ⅰ和區(qū)域Ⅱ進(jìn)行局部放大觀察,如圖10 和圖11所示。
圖9 AgCu28 釬料高頻真空釬焊掃描電鏡照片F(xiàn)ig.9 SEM photo for high frequency vacuum brazing of AgCu28 solder
圖10 區(qū)域Ⅰ的掃描電鏡照片F(xiàn)ig.10 SEM photo of region I
圖11 區(qū)域Ⅱ的掃描電鏡照片F(xiàn)ig.11 SEM photo of region Ⅱ
圖10 可以看出,區(qū)域Ⅰ的焊縫部分主要以Ag-Cu 共晶相(淺色相)的形式存在,同時(shí)存在少量的成分偏析。該區(qū)域與高溫真空釬焊的焊縫微觀組織形貌基本一致。
對(duì)區(qū)域Ⅱ進(jìn)行掃描電鏡觀察,從圖11 可以看出,焊縫中Ag-Cu 共晶相基本消失,取而代之的是生成大量枝晶狀體金屬間化合物,母材與焊縫間的界限較為模糊[9]。通過能譜分析,此時(shí)焊縫元素主要為Ti、Cu、Ni 及Ag。而從微觀組織形貌上分析,數(shù)量極少的Ag-Cu 焊料顆粒以共晶形式彌散于焊縫中,其余以Ti2Cu的形式結(jié)合生成大量脆性化合物,形狀類似樹枝狀且較為粗大。在靠近TC4 鈦合金和焊縫側(cè)生成了一條寬度約為87 μm 過渡區(qū),該區(qū)域主要是以細(xì)微針狀的組織形式存在,大量TiCu 脆性相富集其中,這主要是由于DCu>DAg(擴(kuò)散系數(shù)),因此在TC4 側(cè)富集并在高溫下形成TiCu 化合物。
高頻真空釬焊利用高頻電流流經(jīng)工件表面產(chǎn)生電阻熱實(shí)現(xiàn)焊接,故其無法準(zhǔn)確控制焊接溫度且由于集膚效應(yīng)的存在(即通過焊接樣件截面上的電流分布不均勻,導(dǎo)致各部分溫差較大),其反應(yīng)特征為:釬料與母材相互反應(yīng)較為劇烈,焊縫區(qū)域中大量Ag 基固溶體流失,僅殘余極少的AgCu28 釬料,同時(shí)大量的Ti2Cu、TiCu 等脆性化合物生成,導(dǎo)致整個(gè)焊縫在較低應(yīng)力作用下,就可能引起裂紋的產(chǎn)生,最終整個(gè)釬焊接頭失效。
對(duì)比AgCu28 釬料在高溫真空釬焊和高頻真空釬焊下的焊縫微觀組織,由于高頻真空釬焊時(shí)釬焊溫度難以控制,僅能通過釬料的熔化情況進(jìn)行判定,且焊接過程中的集膚效應(yīng)存在,因此母材與釬料過度反應(yīng)的情況無法有效避免。而高溫釬真空焊可精確地控制溫度并使其均勻化,避免反應(yīng)過度進(jìn)行,盡可能減少脆性相的生成,使整個(gè)焊縫以AgCu 共晶形式存在,依靠其優(yōu)異的屈服強(qiáng)度及塑性,保證接頭強(qiáng)度。
1)充耐壓測(cè)試
充耐壓測(cè)試是考核杜瓦冷指在設(shè)計(jì)壓力下安全工作所必須的承載能力的方法(測(cè)試示意圖如圖12所示)。
圖12 充耐壓檢測(cè)試意圖Fig.12 Test intent of charge and withstand pressure test
采用高溫真空釬焊+AgCu28 釬料制備4 種結(jié)構(gòu)冷指端面,并封接成杜瓦冷指。在高壓檢測(cè)臺(tái)下依次完成3 組充壓試驗(yàn)(充壓壓力分別為2 MPa、3 MPa和4 MPa 下保壓時(shí)間10 min,每組完成3 次)和1 組耐壓試驗(yàn)(2 MPa 高壓氣體下保壓5 min,且檢漏儀測(cè)量漏率小于5×10-10Pa?m3/s)。
釬透率統(tǒng)計(jì)及充耐壓試驗(yàn)結(jié)果如表8所示。螺紋結(jié)構(gòu)是采用螺紋咬合及釬焊兩種方式共同連接,由于螺紋間的配合精度要求較高,致使加工難度增加,較難保證焊縫間隙的均勻性,因此對(duì)焊料流淌性控制較差,容易形成虛焊,最終焊接完成后冷指端面芯和環(huán)即發(fā)生了脫落;直邊結(jié)構(gòu)的釬透率高,但承受壓力作用時(shí)為純剪切應(yīng)力,強(qiáng)度較低,在充壓2 MPa 時(shí)就發(fā)生了焊縫破壞;臺(tái)階與錐形結(jié)構(gòu)都具有較好的試驗(yàn)結(jié)果,經(jīng)歷充耐壓試驗(yàn)后均檢測(cè)合格并滿足使用需求。
表8 試驗(yàn)結(jié)果統(tǒng)計(jì)Table 8 Test result statistics
2)剪切強(qiáng)度測(cè)試
在壓力測(cè)試機(jī)上對(duì)4 種結(jié)構(gòu)試樣進(jìn)行剪切強(qiáng)度測(cè)試(示意圖見圖13),測(cè)試速度小于2.0 mm/min,設(shè)定作用力上限500N,測(cè)試對(duì)比結(jié)果如表9所示。
表9 剪切強(qiáng)度測(cè)試對(duì)比結(jié)果Fig.9 Comparison results of shear strength test
圖13 剪切強(qiáng)度測(cè)試示意圖Fig.13 Shear strength test
螺紋結(jié)構(gòu)分離時(shí)的平均剪切強(qiáng)度僅為1.44 MPa,焊縫中的虛焊點(diǎn)對(duì)其結(jié)合強(qiáng)度影響較大(如圖14所示);直邊結(jié)構(gòu)分離時(shí)的平均剪切強(qiáng)度為15.12 MPa,受純剪切強(qiáng)度的影響,焊縫強(qiáng)度較低,致使芯與環(huán)發(fā)生單側(cè)分離(如圖15所示);而錐形結(jié)構(gòu)和臺(tái)階結(jié)構(gòu)的剪切強(qiáng)度均大于23.42 MPa。結(jié)合充耐壓試驗(yàn)、釬透率及壓力測(cè)試結(jié)果,錐形結(jié)構(gòu)的可靠性最高。
圖14 冷指端面芯和環(huán)脫落(螺紋結(jié)構(gòu))Fig.14 The cold finger core falls off from the end face of the cold finger(Thread structure)
圖15 單側(cè)分離(直邊結(jié)構(gòu))Fig.15 Unilateral separation(Straight edge structure)
錐形結(jié)構(gòu)存在一定裝配困難,這是由于原結(jié)構(gòu)中冷指端面芯和環(huán)未設(shè)計(jì)定位結(jié)構(gòu),會(huì)導(dǎo)致裝夾時(shí)兩者間的配合間隙不均勻,因此需要操作者反復(fù)調(diào)試,確保最佳的裝配位置。
為了提高錐形焊接結(jié)構(gòu)的裝配效率,對(duì)原結(jié)構(gòu)進(jìn)行了優(yōu)化設(shè)計(jì)(如圖16所示)。在冷指端面芯處增加了導(dǎo)向柱定位,通過控制配合間隙來保證焊縫均勻性,這樣既能保證裝配效率又能提高裝配精度。
圖16 結(jié)構(gòu)優(yōu)化前后對(duì)比Fig.16 Comparison diagram before and after structural optimization
本文針對(duì)微型節(jié)流制冷型紅外焦平面探測(cè)器杜瓦冷指的適用性需求,對(duì)TC4+Ni 釬焊結(jié)構(gòu)的杜瓦冷指進(jìn)行了有限元仿真分析和釬焊試驗(yàn),采用AgCu28、AgCuNi 釬料與高溫真空釬焊、高頻真空釬焊的正交組合方式研究了釬焊接頭的焊縫微觀組織及結(jié)構(gòu)可靠性,得到以下結(jié)論:
①通過Ansys 有限元仿真分別計(jì)算了TC4+4J36與TC4+Ni(增加過度結(jié)構(gòu))杜瓦冷頭對(duì)應(yīng)芯片處的最大應(yīng)力、最大變形及冷頭降溫時(shí)間。兩者的最大應(yīng)力分別為29.33 MPa 和34.72 MPa,最大變形分別為2.75 μm 和2.93 μm,冷頭降溫時(shí)間分別為20 s 和9 s。可以看出,在均滿足芯片應(yīng)力及變形要求的前提下,后者的冷頭降溫時(shí)間為前者的一半,極大提升了制冷效率,同時(shí)后者具有更好的長(zhǎng)期防銹蝕性。因此使用純Ni 替代4J36 作為冷平臺(tái)材料滿足杜瓦冷指的適用性需求。
②通過正交試驗(yàn)分別對(duì)比AgCu28 釬料、AgCuNi釬料在高溫真空釬焊和高頻真空釬焊下的焊縫微觀組織,高溫真空釬焊+AgCu28 釬料的釬焊方法對(duì)于TC4+Ni 的焊接結(jié)構(gòu)具有顯著優(yōu)點(diǎn),可以更好的控制焊縫元素偏析,同時(shí)通過精確地溫度輸入和均勻化,避免了釬料與Ti 元素的過度反應(yīng),減少脆性相生成,提高了接頭強(qiáng)度及可靠性。
③通過對(duì)比直邊、臺(tái)階、螺紋以及錐形4 種焊接結(jié)構(gòu),錐形結(jié)構(gòu)可滿足釬透率大于95%、經(jīng)歷充耐壓試驗(yàn)漏率合格,剪切強(qiáng)度大于23.42 MPa 的測(cè)試要求,具有較高的可靠性,同時(shí)對(duì)其存在的裝配效率和精度問題進(jìn)行了結(jié)構(gòu)優(yōu)化設(shè)計(jì)。