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      基于腔衰蕩光譜技術(shù)的半導(dǎo)體光放大器增益測量

      2024-02-28 08:29:28景志廣陳海燕
      高師理科學(xué)刊 2024年2期
      關(guān)鍵詞:工作溫度增益半導(dǎo)體

      景志廣,陳海燕

      基于腔衰蕩光譜技術(shù)的半導(dǎo)體光放大器增益測量

      景志廣,陳海燕

      (長江大學(xué) 物理與光電工程學(xué)院,湖北 荊州 434023)

      提出并驗(yàn)證一種基于腔衰蕩光譜(CRDS)技術(shù)的半導(dǎo)體光放大器(SOA)增益測量方法.實(shí)驗(yàn)系統(tǒng)包括經(jīng)RF信號調(diào)制的DFB激光器、半導(dǎo)體光放大器、環(huán)形器、光纖布拉格光柵、耦合器、溫度控制器、光電探測器及示波器.導(dǎo)出了半導(dǎo)體光放大器增益與腔衰蕩時間之間的函數(shù)關(guān)系式.結(jié)果表明,腔衰蕩時間是半導(dǎo)體光放大器增益的函數(shù),增益是波長的函數(shù),給出了一種測量SOA增益的新方法及技術(shù)可行性.

      衰蕩光譜;半導(dǎo)體光放大器;腔衰蕩時間;增益測量

      增益是半導(dǎo)體光放大器(SOA)的重要參數(shù)之一[1],常見的SOA增益測量方法可以分為直接測量與間接測量兩種.直接測量可以在小范圍內(nèi)獲得較高的分辨率,其缺點(diǎn)是測量范圍小、數(shù)據(jù)處理復(fù)雜[2];間接測量是在測量SOA自發(fā)輻射光譜的基礎(chǔ)上,通過自發(fā)輻射與受激輻射之間的愛因斯坦關(guān)系計(jì)算出來[3].

      Pustakhod[4]等提出了一種快速多點(diǎn)擬合方法來測量SOA增益,測量范圍是1 400~1 600 nm.

      腔衰蕩光譜(CRDS)技術(shù)是一種具有高靈敏度的直接吸收測量技術(shù),通過測量腔內(nèi)光場的衰蕩時間,即可測量諧振腔損耗及引起腔損耗變化的外界物理因素,該技術(shù)廣泛應(yīng)用于光譜、氣體濃度測量及傳感等領(lǐng)域[5-8].本文利用CRDS技術(shù)測量了摻Er3+的光纖中,Er3+的摻雜濃度及光纖布拉格光柵的反射率[9-10],利用CRDS技術(shù)測量SOA增益,導(dǎo)出了SOA增益與腔衰蕩時間之間的函數(shù)關(guān)系式,利用擬合方法得到了SOA增益譜.

      1 SOA增益測量系統(tǒng)與原理

      SOA增益測量系統(tǒng)示意圖見圖1.由圖1可見,其包含經(jīng)RF(射頻)信號調(diào)制的DFB激光器(Opwit,CA9005,DFB-EML)、SOA、環(huán)形器、光纖布拉格光柵(FBG)、耦合器、溫度控制器(Opwit,CA8004)、光電探測器(PD,Thorlabs DET01CFC)及示波器(OSC,Tektronix. TDS2022B),環(huán)形腔的腔長約5 m.其中,經(jīng)RF信號調(diào)制的DFB激光器作為脈沖信號源,溫度控制器用于控制DFB激光器及FBG的工作溫度,F(xiàn)BG的反射率是溫度的函數(shù),通過調(diào)節(jié)FBG的工作溫度,即可調(diào)節(jié)FBG的反射率.帶寬為1.2 GHz的光電檢測器和示波器用于測量腔衰蕩光譜.SOA的增益測量分為三步:(1)確定波長;(2)測量衰蕩時間并確定在上述波長處SOA的相應(yīng)增益;(3)調(diào)節(jié)FBG的工作溫度,重復(fù)步驟(1)(2)以獲得其他波長處的腔衰蕩時間和SOA的相對增益,然后使用擬合方法確定SOA的增益曲線.

      圖1 SOA增益測量系統(tǒng)示意圖

      在某個諧振腔模式下,腔衰蕩時間為

      式中:為光纖有效折射率;為諧振腔的腔長;為真空中的光速;為腔的總損耗.

      SOA在某個波長下的增益可用式(1)(2)計(jì)算獲得.然后,通過改變FBG的工作溫度,重復(fù)(1)(2)兩步,即可獲得SOA在不同波長下的增益,利用擬合方法,可得SOA的增益譜.

      2 結(jié)果與討論

      第二步得到不同波長下SOA的增益.通過改變FBG的工作溫度,重復(fù)(1)(2)兩步,可獲得SOA在不同波長下的增益(見表1).

      表1 SOA在不同波長下的增益

      第三步得到SOA的增益譜.利用擬合方法,可得SOA的增益譜(見圖3),所得SOA增益譜與其自發(fā)輻射譜一致[11].

      圖2 入射光信號波形和光纖環(huán)形腔典型衰蕩光譜

      圖3 SOA增益譜

      3 結(jié)論

      本文提出并實(shí)驗(yàn)研究了一種基于腔衰蕩光譜技術(shù)的SOA增益測量方法,該方法分為三步:(1)確定波長;(2)測量衰蕩時間并確定在上述波長處SOA的相應(yīng)增益;(3)調(diào)節(jié)FBG的工作溫度,重復(fù)步驟(1)和(2)以獲得其他波長處的腔衰蕩時間和SOA的相對增益,然后使用擬合方法確定SOA的增益曲線.所得SOA增益譜與其自發(fā)輻射譜一致.

      [1] KOTB A,ZOIROS K E,GUO C.Ultrafast performance of all-optical AND and OR logic operations at 160 Gb/s using photonic crystal semiconductor optical amplifier[J].Opt Laser Technol,2019,119:105611.

      [2] Saitoh T,Mukai T.1.5 μm GaInAsP traveling-wave semiconductor laser amplifier[J].IEEE J Quantum Elect,1987,23(5):1010-1020.

      [3] 劉磊,張新亮,黃德修.基于小波去噪和去卷積的半導(dǎo)體光放大器增益系數(shù)譜測量方法[J].中國激光,2007,34(6):846-850.

      [4] Pustakhod D,Williams K,Leijtens X.Fast and robust method for measuring semiconductor optical amplifier gain[J].IEEE J Sel Top Quant,2018,24:3100309.

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      [9] CHEN H,CHEN L,CHEN C,et al.Measurement of Er3+-doped concentration in optical fiber by using fiber Bragg grating Fabry-Perot cavity ring-down spectrum[J].Chin Opt Lett,2014,12:S10603.

      [10] LEI W,CHEN H.Reflectivity measurement of fiber Bragg grating by cavity ring-down spectroscopy technique[J].Optik,2018,172:526-530.

      [11] LUO M,CAO W,CHEN H.Fiber ring-cavity laser based on semiconductor optical amplifier[J].Int J Mod Phys B,2018,32:1850266.

      Gain measurement of semiconductor optical amplifier by cavity ring-down spectroscopy technique

      JING Zhiguang,CHEN Haiyan

      (School of Physics and Optoelectronic Engineering,Yangtze University,Jingzhou 434023,China)

      A novel method to measure the gain of semiconductor optical amplifier(SOA)by cavity ring-down spectroscopy(CRDS) technique is proposed and experimentally demonstrated.The experimental system consists of a DFB laser modulated by RF signal,a SOA,a circulator,a fiber Bragg grating,two couplers,a temperature controller,a photo detector,and an oscilloscope.The function relationship between the gain of SOA and the cavity ring-down time is derived.The results showed that the cavity ring-down time is a function of SOA gain,which is a function of wavelength.Provides a new method for measuring SOA gain and the technical feasibility.

      ring-down spectroscopy;semiconductor optical amplifier;cavity ring-down time;gain measurement

      O47

      A

      10.3969/j.issn.1007-9831.2024.02.010

      1007-9831(2024)02-0053-03

      2023-10-08

      景志廣(1995-),男,湖北黃岡人,碩士,從事光纖陀螺與光纖傳感研究.E-mail:614394606@qq.com

      陳海燕(1965-),男,湖北荊州人,教授,博士,從事激光原理與技術(shù)等研究.E-mail:hychen@yangtzeu.edu.cn

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