劉 輝 吳豐順 武占成 龔德權(quán) 王 晶 胡元偉 馬浩軒
(1.華中科技大學(xué) 材料科學(xué)與工程學(xué)院,湖北 武漢 430074;2.中國(guó)航天五院五一四所 院士專家工作站,北京 100086;3.武漢芯寶科技有限公司,湖北 武漢 430043)
靜電放電(electro static discharge,ESD)是一種常見的近場(chǎng)危害源,可形成高壓強(qiáng)電場(chǎng)、瞬間大電流,并伴有強(qiáng)電磁輻射,形成靜電放電電磁脈沖。隨著電子器件封裝集成度的不斷提高,許多靜電敏感元器件的耐壓閾值并不高[1],容易受到ESD 影響而導(dǎo)致失效。因此,需要對(duì)電子器件進(jìn)行ESD防護(hù)以減少損失。
對(duì)電子電路的 ESD 及電磁脈沖(electromagnetic pulse,EMP),目前普遍采用瞬態(tài)電壓抑制器(transient voltage suppressor,TVS)、壓敏電阻等分立器件對(duì)集成電路等敏感元件的引腳進(jìn)行一對(duì)一的保護(hù)[2]。King等[3]采用并聯(lián)電容和并聯(lián)齊納二極管的方法來實(shí)現(xiàn)ESD 的防護(hù),發(fā)現(xiàn)1 μF 電容和14 V 齊納二極管均可對(duì)半導(dǎo)體橋起到ESD防護(hù)的效果;Lü等[4]研究了壓敏電阻、TVS對(duì)電爆裝置在人體高壓模型下的靜電防護(hù)效果,發(fā)現(xiàn)只有瞬態(tài)二極管(transient voltage suppressor,TVS)可提供有效的ESD 保護(hù),使電爆裝置在50 kV 高壓下不被擊穿;De Conti 等[5]發(fā)現(xiàn)GDNMOS 薄膜和GDBIMOS 器件具有良好的電性能(觸發(fā)電壓、漏電流等),可用于高壓ESD防護(hù)。
本文介紹的全電路板抗脈沖防護(hù)方案,是以“疏導(dǎo)”的方式將電磁脈沖產(chǎn)生的能量在還不足以對(duì)電路系統(tǒng)產(chǎn)生危害前引導(dǎo)至能量吸收點(diǎn),并將其對(duì)地釋放,從而使電子電路及其脈沖敏感元件得到保護(hù)。
ESD 是在納秒量級(jí)的時(shí)間內(nèi)完成的,峰值電流可達(dá)幾十安培,瞬間功率十分巨大,產(chǎn)生的強(qiáng)電磁輻射可以感應(yīng)出幾百伏乃至上千伏的電勢(shì)。
電磁脈沖彈引爆時(shí),其電磁場(chǎng)將以光速到達(dá)場(chǎng)源覆蓋區(qū)域的電子裝備上的各個(gè)線路及元器件,根據(jù)GJB 1571A-97-RS105 關(guān)于脈沖波形的定義,在各線段上可感應(yīng)(50 000 V/100)×L(線段長(zhǎng)度,cm)的高壓電勢(shì)。當(dāng)感應(yīng)電壓高于元件的承受能力時(shí),元件或線段就會(huì)被擊毀。如果在電路中的每一條線段上加裝一個(gè)適當(dāng)?shù)目姑}沖元件,形成保護(hù)網(wǎng)絡(luò),將高壓信號(hào)通過抗脈沖元件對(duì)地釋放,則電子電路就可以具備對(duì)電磁脈沖攻擊的防護(hù)能力。
對(duì)集成電路而言,由于集成電路連接線及內(nèi)部電路結(jié)構(gòu)導(dǎo)致的信號(hào)延時(shí)在μs 數(shù)量級(jí),在選擇或制造保護(hù)元件時(shí),其開關(guān)速度(響應(yīng)時(shí)間)是最重要的因素,通常需要把啟動(dòng)響應(yīng)時(shí)間控制在5 ns以下,把電壓限幅響應(yīng)時(shí)間控制在10 ns以內(nèi)。為了獲取保護(hù)元件對(duì)脈沖的響應(yīng)信息,采用了傳輸線脈沖(transmission line pulse,TLP)測(cè)試技術(shù)[6]。TLP測(cè)試原理及測(cè)試電路如圖1所示。
圖1 傳輸線脈沖測(cè)試原理及集成電路
進(jìn)行電路測(cè)試時(shí),外加脈沖信號(hào)源的脈沖寬度50 ns,脈沖電壓500 V;測(cè)試電路中集成電路引腳P1的連接線和內(nèi)部電路結(jié)構(gòu)導(dǎo)致的延時(shí)約為1 μs。對(duì)幾種元件進(jìn)行TLP 測(cè)試和性能對(duì)比,可以看出TVS 反應(yīng)靈敏,開關(guān)響應(yīng)時(shí)間在1 ns 內(nèi)將高壓脈沖吸收,放電速度也很快,從而保護(hù)集成電路等ESD、EMP敏感元件。
而測(cè)試電路中壓敏電阻作為保護(hù)器件的電壓響應(yīng)曲線顯示,壓敏電阻對(duì)高壓脈沖雖有鉗位作用,但其響應(yīng)速率較慢,鉗位曲線平緩,限幅響應(yīng)時(shí)間遠(yuǎn)大于10 ns,不太適用于集成電路抗高壓脈沖的場(chǎng)合。
在測(cè)試電路中,從高分子材料PESD 放電元件(Littelfuse PGB10603)的電壓響應(yīng)曲線可以看出,其開關(guān)響應(yīng)時(shí)間略大于TVS管,為5 ns左右,限幅響應(yīng)時(shí)間小于10 ns,可在30 ns內(nèi)將高壓脈沖能量吸收釋放完畢,使高電壓迅速趨向于0,適合應(yīng)用于抗脈沖防護(hù)的場(chǎng)合。
以上單體元件最大的不足是它們只能安裝在電路板的表面,為電路中需要保護(hù)的元器件引腳進(jìn)行一對(duì)一的保護(hù)。而如果PCB 中需要抗高壓脈沖的點(diǎn)很多,采用單體元件來保護(hù)則會(huì)占用大量板面面積。
上述采用多個(gè)分離器件進(jìn)行ESD、EMP 防護(hù)的方法占用了大量的PCB 表面積,這已成為電子產(chǎn)品微型化和進(jìn)一步發(fā)展的瓶頸問題。為達(dá)到電子電路高壓脈沖全防護(hù)的目的,理想的方式是利用電子電路載體PCB,在PCB 內(nèi)層制作基于電壓誘導(dǎo)變阻膜的高壓脈沖吸收網(wǎng)絡(luò)。這種薄膜在通常情況下是絕緣體,當(dāng)有一個(gè)異常高壓脈沖出現(xiàn)時(shí),它會(huì)變?yōu)閷?dǎo)體;當(dāng)這個(gè)電壓過后,它又恢復(fù)至絕緣狀態(tài),即膜相當(dāng)于是由電壓控制的開關(guān)。
電壓誘導(dǎo)變阻膜需要雙面覆銅,制作成芯板結(jié)構(gòu),然后經(jīng)刻蝕、層壓等PCB 制作工藝,成為PCB組成部分。電壓誘導(dǎo)變阻膜的制作工藝如下。
(1)材料。聚胺脂、環(huán)氧樹脂、聚酰胺樹脂、石墨烯、納米銅粉、鐵氧體粉末、氧化鋅等。
(2)導(dǎo)電粒子活化和純化預(yù)制。選取不同粒徑的銅粉或氧化鐵粉及粒徑8 μm 的球形銅粉,分別加入盛有純凈水的玻璃杯中,邊攪拌邊滲入濃度為90%的H2SO4,攪拌機(jī)調(diào)至120 r/min,60 min后濾出、洗凈、烘干,得到活化的導(dǎo)電粒子;然后將已活化的導(dǎo)電粒子放入純化液中浸潤(rùn)72 h 后濾出,獲得被活化和純化的粒徑小于1 μm 的片狀銅粉,或氧化鐵粉及圓珠顆粒導(dǎo)電粒子。
(3)純化液的制取。玻璃杯中加入200 mL 工業(yè)乙醇,然后投入50 g 生物蝦黃粉末,玻璃杯置升溫爐上,溫度調(diào)至45 ℃,攪拌8 h 后,將混合液置離心機(jī),收集甩出的液態(tài)物獲得純化液。
(4)球形銅粉改性。將已純化的100 g 球形銅粉投入盛有300 g工業(yè)乙醇的反應(yīng)釜中,滴入4 g環(huán)氧樹脂,封閉反應(yīng)釜,溫度控制在65 ℃,攪拌調(diào)至120 r/min,3 h 后濾出洗凈烘干,得到表面附著一層約80 nm厚度絕緣膜的改性非導(dǎo)電球形顆粒。
(5)組分制備。A 組分:縮水甘油胺類環(huán)氧樹脂質(zhì)量比40%,環(huán)氧族類環(huán)氧樹脂質(zhì)量比17%,粒徑<2 nm 的氧化鋅微粉質(zhì)量比7%~25%,經(jīng)改性處理的氧化鐵粉質(zhì)量比4%~13%和片狀銅粉質(zhì)量比4%~13%,片狀石墨烯質(zhì)量比0.3%~1.0%,配制后人工攪拌初步共混,然后將上述配料加入三輥混煉機(jī)充分分散均勻后獲得電壓誘導(dǎo)變阻膜基體材料漿料A 組分。B 組分:將正丁醇、縮水甘油脂類環(huán)氧樹脂、聚酰胺樹脂加入攪拌容器中,攪拌機(jī)開至500 r/min,攪拌2 min,然后將步驟(4)中預(yù)制的粒徑8 μm 已改性處理的圓珠顆粒非導(dǎo)電粒子加入其中,繼續(xù)攪拌10 min 獲電壓誘導(dǎo)變阻膜基體材料漿料B組分。
(6)芯板制備。取出雙組分,按需量1∶1 配比,攪拌均勻后印刷成膜,雙面覆銅固化后將一面刻蝕成能量吸收矩陣層。芯板再按其他生產(chǎn)步驟完成余下的加工,獲得全抗電磁脈沖PCB。
對(duì)制備的高分子復(fù)合納米電壓誘導(dǎo)變阻膜[7]進(jìn)行TLP 測(cè)試,測(cè)試波形如圖2 所示,測(cè)試結(jié)果見表1,電壓誘導(dǎo)變阻膜TLP測(cè)試伏安特性曲線如圖3所示。
表1 高分子復(fù)合納米電壓誘導(dǎo)變阻膜性能測(cè)試結(jié)果
圖2 高分子復(fù)合納米電壓誘導(dǎo)變阻膜的傳輸線脈沖測(cè)試曲線
圖3 電壓誘導(dǎo)變阻膜傳輸線脈沖測(cè)試伏安特性曲線
從圖2 可看出,該膜對(duì)脈沖電壓能快速響應(yīng),限幅響應(yīng)時(shí)間小于10 ns;從圖3 可見,電壓誘導(dǎo)變阻膜任意點(diǎn)的觸發(fā)電壓、鉗位電壓及電流泄放能力對(duì)比高分子材料PESD 放電元件都有比較明顯的優(yōu)勢(shì),這種高分子復(fù)合納米電壓誘導(dǎo)變阻膜具備制作脈沖高壓全防護(hù)PCB理想的電性能。
普通電路板和有內(nèi)部保護(hù)單元的電路板如圖4所示。
圖4 普通電路板和有內(nèi)部保護(hù)單元的電路板
圖4(a)中,未加防護(hù)的普通電路板銅導(dǎo)線在強(qiáng)電磁脈沖(如電磁脈沖彈爆炸瞬間釋放的強(qiáng)電磁暴)作用下,瞬時(shí)在每厘米覆銅線上可感應(yīng)500 V 以上的高壓[8],如果沒有保護(hù)元件吸收,這個(gè)高壓也將會(huì)直接作用在PCB 的元器件上,導(dǎo)致器件損壞。未加防護(hù)的PCB,其元器件除受EMP 的影響外,還受ESD 的作用。ESD 具有高電壓、低電量、大電流和作用時(shí)間短的特點(diǎn),靜電荷產(chǎn)生方式有摩擦充電、離子充電、直接充電或電場(chǎng)感應(yīng)充電等[9]。人體靜電可達(dá)2~15 kV,在電子設(shè)備的運(yùn)輸、使用、維修全壽命過程中,可能通過接口電路觸碰到設(shè)備內(nèi)的線路,將人體高壓靜電傳遞給電路,如果沒有防護(hù),這將直接造成該線路的敏感元件損壞。
常用的EMP 防護(hù)措施主要有屏蔽、接地、濾波、加防護(hù)器件。而加防護(hù)器件是目前應(yīng)用比較廣泛、效果比較明顯的一種防護(hù)措施,也是抗EMP 加固研究的主要手段[10]。圖4(b)中加裝了由電壓誘導(dǎo)變阻膜制備的保護(hù)單元S,PCB上的每一條覆銅線都在電路板內(nèi)部與一個(gè)保護(hù)單元S正面相連,保護(hù)單元S反面接地。
當(dāng)電磁脈沖感應(yīng)作用在圖4(b)中的任意一條覆銅線時(shí),每條線段兩端會(huì)瞬間感應(yīng)(50 000 V/100)×L的高壓電勢(shì),若線長(zhǎng)為3 cm,則瞬間電勢(shì)U高達(dá)1 500 V;該電勢(shì)U會(huì)在5 ns 時(shí)間內(nèi)啟動(dòng)各線段對(duì)應(yīng)的保護(hù)單元S。在這個(gè)脈沖持續(xù)過程中,保護(hù)單元S將一直保持開啟狀態(tài),直至整個(gè)電磁脈沖過程結(jié)束,保護(hù)單元S才恢復(fù)關(guān)閉狀態(tài)。由于保護(hù)單元S對(duì)高壓脈沖的響應(yīng)非常快(<5 ns),而敏感元器件引腳電壓升高到損壞電壓的時(shí)間相對(duì)較長(zhǎng)(內(nèi)部阻容延時(shí)),因此,在敏感元器件引腳電壓升高到損壞電壓前,保護(hù)元件S開通,使敏感元器件引腳電壓得到鉗位,從而保護(hù)敏感元件。
當(dāng)人體觸碰到圖4(b)中的任何一條線段時(shí),靜電都會(huì)傳導(dǎo)給該線段。而保護(hù)單元S(保護(hù)單元S為電壓誘導(dǎo)變阻膜)的啟動(dòng)電壓小于500 V,開關(guān)響應(yīng)時(shí)間小于5 ns,限幅響應(yīng)時(shí)間小于10 ns,鉗位電壓小于65 V,在PCB 上的集成電路等電壓元器件尚未對(duì)高壓脈沖產(chǎn)生反應(yīng)時(shí),保護(hù)單元S即可將這個(gè)有害脈沖吸收泄放掉。因此,圖4(b)中任一條覆銅線無論是接觸到靜電電壓還是感應(yīng)到電磁脈沖高壓,這個(gè)高壓均會(huì)被保護(hù)單元S吸收掉,從而使線上的元件免受高壓脈沖傷害。
一種全抗高壓脈沖電路板實(shí)物如圖5 所示,該電路板上所有需要進(jìn)行高壓脈沖防護(hù)的線段有109 條,在這塊電路板夾層中對(duì)109 條線段都設(shè)置有背景防護(hù)點(diǎn)S,構(gòu)成S1~S109的高壓脈沖泄放網(wǎng)絡(luò)。該電路板的每個(gè)Cu 線段都有ESD 和EMP 防護(hù)能力。
圖5 一種全抗高壓脈沖保護(hù)電路板實(shí)物(4.0 cm×7.5 cm)
將該板的線段區(qū)分為7 大區(qū)域,然后對(duì)各區(qū)域線段分別進(jìn)行了ESD 多項(xiàng)指標(biāo)測(cè)量以及抗ESD能力測(cè)量,電性能見表2。從測(cè)試結(jié)果看,該P(yáng)CB的每一條非接地覆銅線對(duì)ESD 脈沖都具有完全的防護(hù)能力。
表2 全抗脈沖電路板對(duì)ESD的防護(hù)實(shí)測(cè)結(jié)果
鉗位電壓測(cè)試:方波發(fā)生器試驗(yàn)電壓設(shè)置為1 kV,脈沖寬度100 ns,示波器記錄鉗位電壓波形。
人體模型(human body model,HBM)放電測(cè)試:放電電壓設(shè)置為±4 kV,放電間隔1 s,正負(fù)電壓各測(cè)試3次。
在抗EMP 能力方面,全抗脈沖電路板采用電壓誘導(dǎo)變阻膜,其電流泄放能力超過50 A;二次擊穿電流達(dá)53.9 A,等效計(jì)算的抗瞬變脈沖感應(yīng)電壓能力可達(dá)80 kV。
本文介紹了一種利用高分子電壓誘導(dǎo)變阻膜來實(shí)現(xiàn)全電路板抗脈沖防護(hù)的方法。所用高分子誘導(dǎo)變阻膜由高分子基體材料和分散在其中的納米導(dǎo)電填料組成,由電壓誘導(dǎo)變阻膜制成芯板,在PCB夾層中構(gòu)建ESD和EMP防護(hù)背景網(wǎng)絡(luò),從而實(shí)現(xiàn)PCB 對(duì)瞬變脈沖的全電路防護(hù)。相較于普通PCB,全抗脈沖PCB 在受到高壓脈沖時(shí),保護(hù)單元能快速將這部分能量泄放掉,提升了其抗脈沖能力。利用高分子電壓誘導(dǎo)變阻膜在夾層中構(gòu)建防護(hù)網(wǎng),在不占用PCB 表面積情況下可降低生產(chǎn)成本。