陳相洪,黃文剛,黃曉宗,陳彥冠,史凡萍
(1.中國電子科技集團公司第二十四研究所,重慶 400060;2.中國電子科技集團公司第十一研究所,北京 100015)
近年來,第三代紅外成像探測器正向大規(guī)模、多譜段、數(shù)字化方向發(fā)展,先進紅外焦平面電路片內(nèi)集成模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換器(ADC)實現(xiàn)高速數(shù)字信號輸出[1]。與單元紅外探測器不同,智能型紅外焦平面陣列不僅能將熱輻射轉(zhuǎn)化為微弱的電信號,而且還帶有讀出電路(ROIC),配合紅外焦平面探測器實現(xiàn)像元級模擬數(shù)字(AD)轉(zhuǎn)換、智能化圖像處理和數(shù)字輸出等功能,將獲取的面陣信號經(jīng)像元級方式處理后輸出[2-4]。因此對智能型紅外焦平面陣列的參數(shù)評價與對單元紅外探測器的參數(shù)評價有著很大不同,除了要對每個探測器像元的性能進行評估外,還應(yīng)對紅外焦平面陣列的智能算法進行參數(shù)評價[5]。
國外有公司專門研究紅外焦平面陣列性能測試系統(tǒng)。同時大部分紅外焦平面的制造商也擁有自己的測試系統(tǒng),來評估和測試紅外焦平面陣列的性能[6-7]。國外以色列SCD公司、法國Sofradir公司、美國的MIT林肯實驗室都推出了集成ADC讀出電路的紅外探測器組件和測試平臺[8-9],但都未提出能同時對像元級ADC的背景減除、盲元補償、非均勻性校正、開窗、像素合并、空間濾波、圖像均衡變換、時間延遲積分、動態(tài)范圍等多種數(shù)字功能的智能化焦平面的進行批測的測控平臺。
國內(nèi)中國電子科技集團公司第41研究所自主開發(fā)了一種光譜范圍為1~15 μm的相對光譜響應(yīng)測試系統(tǒng),專門用于測量紅外焦平面的光譜響應(yīng)范圍[10]。上海技術(shù)物理研究所對新研制的百萬級像素大規(guī)模陣列量子阱器件進行了性能參數(shù)測試與評估[11]。昆明物理研究所自主研制出探測器光譜響應(yīng)測試系統(tǒng),并對波長為1~3 μm的紅外探測器進行了相對光譜響應(yīng)測試[12]。但由于西方發(fā)達國家技術(shù)上的封鎖,我國對紅外探測技術(shù)、智能型紅外焦平面陣列技術(shù)的研究起步比較晚,因此,在這方面我國的發(fā)展明顯落后于西方發(fā)達國家[13]。國內(nèi)都是進行了系統(tǒng)級或無智能算法的單片電路進行測試系統(tǒng)的開發(fā),并未開發(fā)對像元級智能型紅外焦平面電路進行多種數(shù)字功能參數(shù)同時進行全面評估的測控系統(tǒng),且未能提出單片640×512陣列智能型紅外焦平面電路同時滿足多種數(shù)字功能的智能算法。
結(jié)合目前智能型國內(nèi)外紅外焦平面性能與評估技術(shù)的發(fā)展現(xiàn)狀,我國智能型紅外焦平面性能測試比較落后且還比較單一[14]。因此本文設(shè)計一套智能型紅外焦平面探測器性能測試與評估系統(tǒng),并提出了像元級ADC的背景減除、盲元補償、非均勻性校正、開窗、像素合并、空間濾波、圖像均衡變換、時間延遲積分等算法實現(xiàn)。
智能型紅外焦平面電路液氮成像測試系統(tǒng)是驗證紅外焦平面電路性能的核心平臺[15]。本文設(shè)計出一款智能型紅外焦平面電路液氮成像測試系統(tǒng),如圖1所示。
圖1 智能型紅外焦平面電路液氮成像系統(tǒng)
系統(tǒng)包括紅外攝像頭(Infrared Camera)、探測器(Detector)、杜瓦罐(Dewar)、待測電路板(DUT)、FPGA主控板(FPGA Main control)、cameralink圖像采集轉(zhuǎn)換板(Cameralink Image Acquisition Conversion Board)、PC模塊(PC Module)。
1)紅外攝像頭:用來將不同波長的紅外光進行投射傳遞給探測器。
2)探測器:用來鍵合紅外焦平面芯片,提供一個液氮環(huán)境,并感應(yīng)紅外攝像頭投射進來的不同波長的紅外光,并與FPGA主控板相連。
3)杜瓦罐:真空的容器裝置,為DUT板提供液氮浸泡環(huán)境。
4)DUT板:板子放置電路測試夾具,承載智能型紅外焦平面電路,并浸泡在液氮中,與FPGA主控板相連。
5)FPGA主控制板:與DUT板和探測器相連。其中FPGA主控制板包括:電源控制模塊、時鐘控制模板、UART轉(zhuǎn)SPI模塊、數(shù)字采集模塊。電源控制模塊為DUT板和探測器提供電源,并程控改變電壓的大小來實現(xiàn)電路的調(diào)試;時鐘控制模塊為DUT板和探測器提供LVDS格式的時鐘信號,并能夠程控改變時鐘頻率來實現(xiàn)電路的調(diào)試。UART轉(zhuǎn)SPI模塊將SPI配置端傳輸過來的UART數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換為SPI數(shù)據(jù),對DUT板和探測器進行寄存器批量配置,來開啟電路不同功能;數(shù)字采集模塊為DUT板和探測器提供LVDS數(shù)字信號,并通過數(shù)字IO口進行數(shù)據(jù)傳輸。
6)Cameralink圖像采集轉(zhuǎn)換板:與圖像采集卡和FPGA主控板相連。通過cameralink通信協(xié)議采用了DS90CR287MTD芯片將FPGA采集回來的并行數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換為串行數(shù)據(jù),將轉(zhuǎn)換完成后串行數(shù)據(jù)傳輸給PC模塊的圖像采集卡進行識別。同時采用DS90LV049TMT芯片實現(xiàn)圖像采集卡數(shù)據(jù)接收成功后給FPGA進行反饋。cameralink圖像采集轉(zhuǎn)換板能夠?qū)崿F(xiàn)接收LVDS數(shù)據(jù)速率達2.38 Gbps,處理數(shù)據(jù)位寬達28位。cameralink圖像采集轉(zhuǎn)換板將FPGA主控板傳輸過來的并行數(shù)字信號進行cameralink總線協(xié)議轉(zhuǎn)換,將并行數(shù)據(jù)串行輸出給圖像采集卡。圖像采集卡圖像獲取速度達到255 MB/s;圖像數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換到主板內(nèi)存達到了1024 MB/s。
7)PC模塊:集成在PC機上,包括圖像采集卡和SPI配置端。圖像采集卡安裝在PC機上,圖像采集卡將通過視頻線纜傳輸過來的串行數(shù)據(jù)進行解析成像,并對電路全參數(shù)進行測試分析和數(shù)據(jù)保存;SPI配置端安裝在PC機上,SPI配置端將數(shù)據(jù)通過通用異步收發(fā)(UART)通信協(xié)議傳輸給FPGA主控板中的UART轉(zhuǎn)SPI模塊,對控制電路實現(xiàn)不同功能。智能型紅外焦平面電路液氮成像系統(tǒng)實物圖如圖2所示。
圖2 成像系統(tǒng)
整個測試系統(tǒng)工作流程如下:使用紅外攝像頭探測不同波長的紅外信號,通過探測器將紅外光模擬信號轉(zhuǎn)換為數(shù)字信號,并進行芯片級智能算法處理,然后將算法處理后的數(shù)字信號通過數(shù)字IO口將圖像數(shù)據(jù)回傳給FPGA主控板中的數(shù)字采集模塊,FPGA主控板對數(shù)字信號進行幀行分發(fā)圖像預(yù)處理,將預(yù)處理后的數(shù)據(jù)再次傳遞給cameralink圖像采集轉(zhuǎn)換板,圖像采集轉(zhuǎn)換板進行cameralink總線協(xié)議轉(zhuǎn)換,將并行數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換為串行數(shù)據(jù),接著將轉(zhuǎn)換好的數(shù)據(jù)傳遞給圖像采集卡,圖像采集卡通過上位機成像處理軟件進行圖像采集,然后通過圖像處理界面進行成像。
針對硬件測試系統(tǒng)開發(fā)相應(yīng)的軟件設(shè)計,首先對電路寄存器生成不同測試功能的SPI配置文件和FPGA配置文件,如圖3所示。SPI配置端將生成的SPI配置文件通過UART通信協(xié)議傳輸給FPGA主控板中的UART轉(zhuǎn)SPI模塊,UART轉(zhuǎn)SPI模塊將UART數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換為SPI數(shù)據(jù); FPGA配置端將生成的FPGA配置文件傳輸給FPGA主控板中的數(shù)字采集模塊,數(shù)字采集模塊生成低電壓差分信號(LVDS)數(shù)據(jù)格式的信號。最后將轉(zhuǎn)換好的SPI數(shù)據(jù)和LVDS信號對DUT板中的電路或探測器中的芯片分別進行SPI配置和FPGA配置,從而啟動紅外焦平面電路的智能算法。
SPI配置端是使用PC機上的Visual Basic(VB)軟件平臺自主開發(fā)的人機交互界面,如圖4所示。對SPI配置文件進行批量導(dǎo)入給FPGA主控板,FPGA主控板再對電路內(nèi)部的寄存器進行批量配置,同時能夠?qū)㈦娐穬?nèi)部的寄存器值通過FPGA進行批量回讀,并在PC端人機交互界面顯示。
圖4 SPI配置界面
上位機圖像處理軟件一般采用國外DALSA公司Sapera_LT軟件[16],現(xiàn)這個軟件由我們自主研發(fā),軟件程序可移植,可編程,實現(xiàn)國產(chǎn)化替代,功能全覆蓋,保證紅外焦平面電路每個像元和圖像測試的準(zhǔn)確性,國產(chǎn)IRCamExpert-CETC圖像處理軟件如圖5所示。
圖5 IRCamExpert-CETC圖像處理軟件
綜上所述,液氮測試系統(tǒng)對測試環(huán)境,測試效率和測試精度要求越來越高,搭建一個有效的測試系統(tǒng)是對智能型紅外焦平面陣列器件進行性能參數(shù)準(zhǔn)確評價的前提,同時需要提升智能型紅外焦平面電路的測試精度和測試范圍,提升批量測試的效率。本文提出的智能型紅外焦平面電路液氮測試系統(tǒng)有以下優(yōu)勢,如表1所示。
表1 測試系統(tǒng)優(yōu)勢
成像系統(tǒng)的測試流程,如圖6所示。智能型紅外焦平面電路液氮成像系統(tǒng)是基于行列級ADC讀出電路的評價方法進行設(shè)計[17-18],根據(jù)中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn) GB/T 17444-2013《紅外焦平面陣列參數(shù)測試技術(shù)》進行研究[19]。參數(shù)包括(不僅限于)以下功能參數(shù):背景減除、盲元補償、非均勻性校正、開窗、像素合并、空間濾波、圖像均衡變換、時間延遲積分(Time Delay Integration,TDI)、動態(tài)范圍等。
圖6 測試流程圖
基于 640×512探測器陣列進行了智能型紅外焦平面讀出芯片的測試,采用SMIC 40 nm CMOS工藝進行了流片。單個像元 ADC 面積≤30 μm×30 μm,讀出芯片面積22 mm×19 mm。下面對智能型紅外焦平面電路功能參數(shù)和動態(tài)范圍的算法和結(jié)果進行詳細說明[20-21]。
像素合并是以犧牲圖像分辨率為代價提高圖像的靈敏度,通常將2×2區(qū)域的像素合并為1個超大像素,相當(dāng)于增加了單像素的采光能力,增強了弱光條件下的拍攝效果。按式(1)進行像素合并。像素合并示意圖如圖7所示。
圖7 像素合并示意圖
Imerge(i,j)=Iin(2i-1,2j-1)+Iin(2i,2j-1)+Iin(2i-1,2j)+Iin(2i,2j)
(1)
式中,Iin為相鄰兩行和兩列像素。像素合并在像元級實現(xiàn),通過對像素陣列的邏輯控制實現(xiàn)像素合并功能。當(dāng)像素合并使能,先緩存2行圖像數(shù)據(jù)進行行相加,再傳輸至列單元進行2列相加,實現(xiàn)2×2像素合并。
通過上位機SPI配置來啟動像素合并功能,設(shè)置工作在NOM模式,頻率f=100 MHz,幀頻fps=300 Hz,積分時間Ts=0.5 ms。圖8(a)為18 bit原始像素合并前的圖像,圖8(b)為20 bit像素合并后的圖像,均以20 bit灰度級進行顯示。像素合并后圖像更加清晰。
圖8 像素合并
雖然線性校正的優(yōu)點是算法簡單,但非均勻性校正過程中計算量小,適合于實時校正,因此選用最廣泛的兩步法來校正均勻性。紅外焦平面陣列在均勻輻射背景下任一像元的響應(yīng)輸出可以表示為:
Xij(φ)=Rijφ+Ωij
(2)
式(2)中,Xij(φ)為(i,j)像元的響應(yīng)輸出值;φ為輻射通量;Ωij為偏移量。
下面根據(jù)兩點校正原理推導(dǎo)兩點校正公式。式(2)給出了任一像元響應(yīng)輸出的數(shù)學(xué)模型,校正目的為:任一像元在任一輻射通量φ下的輸出信號Xij(φ)校正為整個焦平面陣列在輻射通量φ下的標(biāo)準(zhǔn)像元的響應(yīng)輸出信號Xn(φ),用靈敏度最高像元為標(biāo)準(zhǔn)像元。令:
Yij(φ)=Xn(φ)
(3)
為此在光路中插入一均勻輻射的黑體,根據(jù)上面式(2)可得到各像元在低溫TL和高溫TH下響應(yīng)輸出:
Xij(φ1)=Rijφ1+Ωij
(4)
Xij(φ2)=Rijφ2+Ωij
(5)
式中,φ1、φ2分別為各個像元在低溫TL和高溫TH下的輻射通量。進行歸一化處理得:
Xn(φ)=Rnφ+Ωn
(6)
令:
Xn(φ1)=mean(Xij(φ1))
(7)
Xn(φ2)=mean(Xij(φ2))
(8)
可解得:
Xn(φ)=KijXij(φ)+Bij
(9)
其中:
(10)
(11)
即為非均勻校正后的結(jié)果,其中Kij、Bij分別為兩點校正中的校正增益和校正偏移量。非均勻校正算法校正系數(shù)在片外求取,并提供增益校正系數(shù)表和偏移校正系數(shù)表,校正算法在像元級通過SPI配置實現(xiàn)來實現(xiàn),非均勻校正示意圖如圖9所示。
圖9 非均勻校正示意圖
通過上位機SPI配置來啟動非均勻校正功能,設(shè)置工作在NOM模式,頻率f=100 MHz,幀頻fps=300 Hz,積分時間Ts=5 ms。非均勻校正測試實例如圖10所示,圖10(a)為非均勻校正前的圖像,圖10(b)為非均勻校正后的圖像。啟動非均勻校正功能后,非均勻校正后圖像更準(zhǔn)確。
圖10 非均勻校正
背景減除主要是用來抑制背景噪聲,包括暗電流噪聲、1/f噪聲等。探測器成像時不僅包含目標(biāo)所產(chǎn)生的光電流,還包括自身暗電流等一系列噪聲,探測器輸出的即為實際成像,如果能獲取噪聲成像,便可用實際成像減去噪聲成像得到目標(biāo)圖像,通常在不透光環(huán)境下對黑體成像(曝光時間不變)得到噪聲圖像。
通過上位機SPI配置來啟動背景減除功能,設(shè)置工作在NOM模式,頻率f=100 MHz,幀頻fps=300 Hz,積分時間Ts=0.01 ms,偏壓基準(zhǔn)Vd=0.8 V,背景減除測試結(jié)果如圖11所示。
圖11 背景減除
在黑體圖像上加入隨機噪聲模擬背景,背景減除模塊通過實際圖像減去背景圖像獲取清晰的目標(biāo)圖像。圖11(a)為18 bit實際輸入的圖像,圖11(b)為背景減除后的目標(biāo)圖像,可以看出背景減除后目標(biāo)圖像更清晰。
盲元補償用其4-鄰域像元代替,定義替換順序為(上、右、下、左),按替換順序搜尋盲元4-鄰域像元,若為正常像元,則用該正常像元替換盲元,若該像元為盲元或已經(jīng)用于替換其他盲元,則繼續(xù)搜尋直至4-領(lǐng)域結(jié)束。以既定策略用盲元4-鄰域中的正常像元替換盲元的示意圖如圖12所示。盲元補償算法通過SPI配置來實現(xiàn)。
圖12 盲元補償示意圖
通過上位機SPI配置來啟動盲元補償功能,設(shè)置工作在NOM模式,頻率f=100 MHz,幀頻fps=300 Hz,積分時間Ts=5 ms,盲元補償測試結(jié)果如圖13所示。圖13(a)為盲元補償前圖像,有很多死像元和過熱像元,圖13(b)為盲元補償后的圖像,可以看出死像元和過熱像元已被校正。
圖13 盲元補償
圖像開窗是為了更有效地觀察敏感區(qū)域ROI,為此將ROI區(qū)域從整幅圖像中取出來從而進行后續(xù)處理及顯示等操作。在原始圖像中隨機產(chǎn)生窗口;根據(jù)窗口位置及大小對原始圖像進行開窗,并返回開窗圖像。圖像開窗在像元級通過SPI配置來實現(xiàn),主要通過對像素陣列的讀邏輯控制實現(xiàn)開窗功能。當(dāng)開窗有效并給定圖像窗口后,其轉(zhuǎn)換為對應(yīng)行列的有效信號,指定相應(yīng)行列的數(shù)據(jù)輸出,從而實現(xiàn)開窗功能。圖像開窗示意圖如圖14所示。
圖14 開窗示意圖
通過上位機SPI配置來啟動開窗功能,設(shè)置工作在NOM模式,頻率f=100 MHz,幀頻fps=300 Hz,積分時間Ts=0.001 ms,開窗起點128×205,開窗大小384×205,測試結(jié)果如圖15所示。圖15(a)為開窗前圖像,紅線區(qū)域為窗口,圖15(b)為開窗后圖像,按既定窗口得到開窗圖像。開窗后圖像顯示紅線區(qū)域。
圖15 開窗
數(shù)字時間延遲積分(Time Delay Integration,TDI)即在數(shù)字域?qū)崿F(xiàn)時間延遲積分,對同一目標(biāo)多次曝光,通過延時積分來提高像元接受的目標(biāo)能量,可提高系統(tǒng)靈敏度、改善圖像非均勻性。
數(shù)字TDI示意圖如圖16所示,探測器向左掃描時,目標(biāo)依次在各級(n代表TDI級數(shù))TDI像元成像,T1時刻目標(biāo)成像在n列,T2時刻目標(biāo)成像在n-1列直到Tn時刻,目標(biāo)在各級TDI都有成像,將其累加并按照式(12)輸出得到TDI圖像的第一列,繼續(xù)掃描每次可輸出一列,從而得到最終的TDI圖像。
圖16 TDI示意圖
(12)
TDI在像元級實現(xiàn),主要通過正交傳輸與置位計數(shù)器初值實現(xiàn)。采集圖像時,像素陣列向掃描相反方向整體正交傳輸,將移位后的數(shù)據(jù)作為計數(shù)器初值,再次采集圖像、正交傳輸、置位初值,如此循環(huán),直至累加stage(stage為TDI級數(shù))次,開始輸出部分圖像,以后每采集一幀,就輸出部分圖像。TDI在像元級通過SPI配置來實現(xiàn)。
通過上位機SPI配置來啟動時間延遲積分功能,設(shè)置工作在TDI模式,頻率f=100 MHz,幀頻fps=300 Hz,積分時間Ts=0.01 ms,測試結(jié)果如圖17所示。圖17(a)為時間延遲積分前圖像,圖17(b)為時間延遲積分后圖像,從上往下進行時間延遲積分(TDI),從而使得滿屏產(chǎn)生第一行圖像像素的豎狀條紋。
圖17 時間延遲積分
空間濾波是在圖像內(nèi)對單像素及其鄰域做處理,通常可分為線性空間濾波與非線性空間濾波兩類。常見的線性空間濾波右均值濾波、圖像銳化等,常見的非線性空間濾波有中值濾波等。
空間濾波是在圖像空間借助模板進行鄰域操作完成的。S0為當(dāng)前進行濾波的像素,S1~S8是其3×3鄰域像素,K0~K8為對應(yīng)鄰域大小的模板,空間濾波即用模板K依次對圖像像素及其鄰域進行卷積運算實現(xiàn)濾波??臻g濾波示意圖如圖18所示,濾波過程按式(13)進行。
圖18 空間濾波示意圖
R=K0×S0+K1×S1+…+K8×S8
(13)
線性空間濾波可以通過調(diào)節(jié)積分時間、計數(shù)器方向及正交傳輸在像元級實現(xiàn)。具體實現(xiàn)如圖19所示,需要對像素S0進行濾波:首先對S0進行|K0|倍時間積分,根據(jù)K0正負調(diào)節(jié)計數(shù)器正負開始曝光計數(shù),計數(shù)結(jié)束后將計數(shù)結(jié)果右移至S1位置并將此計數(shù)結(jié)果賦為S1計數(shù)器初值;根據(jù)K1正負及大小調(diào)節(jié)計數(shù)器正負及曝光時長開始計數(shù),計數(shù)結(jié)束后將計數(shù)結(jié)果下移至S2位置并將此計數(shù)結(jié)果賦為S2計數(shù)器初值,如此按圖19(a)所示經(jīng)歷(中心像素→右→下→左→左→上→上→右→右)9次曝光,8次正交傳輸后最終停留在S2位置上,即實現(xiàn)式(13),輸出即為濾波結(jié)果,圖像實現(xiàn)類似,如圖19(b)所示,整幅圖像正交傳輸即可實現(xiàn)。
圖19 像元級空間濾波示意圖
通過上位機SPI配置來啟動空間濾波功能,設(shè)置工作在自測試(SFT)模式,頻率f=100 MHz,幀頻fps=300 Hz,積分時間Ts=0.5 ms,偏壓基準(zhǔn)Vd=0.8 V,測試結(jié)果如圖20所示。像元級模擬線性空間濾波實現(xiàn)的過程。圖20(a)為18 bit空間濾波前圖像,圖20(b)為經(jīng)空間濾波后的圖像。空間濾波后顯示高亮的圖像輪廓。
圖20 空間濾波
直方圖均衡是為了提高灰度圖像的對比度,即提高圖像整體的反差程度,使得圖像的某些細節(jié)更便于觀察,從而改善圖像的視覺效果。
假設(shè)原灰度圖像的概率密度為pr(r),直方圖均衡后的圖像概率密度為pr(r),其中s=T(r),根據(jù)概率論可得到:
(14)
則可用原圖像的累積概率密度來表征圖像灰度級的轉(zhuǎn)換:
(15)
以此變得到轉(zhuǎn)換后的灰度級s=T(r),便可進行直方圖均衡化處理。
通過上位機SPI配置來啟動空間濾波功能,設(shè)置工作在NOM模式,頻率f=100 MHz,幀頻fps=300 Hz,積分時間Ts=0.001 ms,測試結(jié)果如圖21所示,橫坐標(biāo)為圖像灰度級范圍[0,2.5×105],縱坐標(biāo)為圖像灰度值[0,4000]。圖21(a)為原始圖像直方圖,灰度級集中在[75000,150000]間,使得在視覺效果上區(qū)別不明顯。圖21(b)均衡化后直方圖,圖像灰度均勻分布在整個灰度級,提高了圖像對比度,更便于觀察。
圖21 直方圖均衡
為了測試讀出電路陣列像元ADC的動態(tài)范圍,需要連續(xù)采集100幀圖像數(shù)據(jù),計算陣列每個像元的時域噪聲(標(biāo)準(zhǔn)差):
(16)
其中,i,j是像元坐標(biāo);f是幀編號;D(i,j)指像元(i,j)的100幀平均值;D(i,j,f)指第f幀圖像(i,j)坐標(biāo)像元的數(shù)。
計算整個面陣的平均時域噪聲:
(17)
計算18 bit ADC滿量程動態(tài)范圍:
(18)
用成像測試系統(tǒng)連續(xù)采集的100幀圖像數(shù)據(jù)計算整個面陣的平均時域噪聲為0.0213,按式(18)計算動態(tài)范圍:
(19)
綜上所述,總結(jié)本文提出的智能型紅外焦平面電路測試系統(tǒng)參數(shù)指標(biāo),如表2所示。結(jié)果表明系統(tǒng)能夠很好滿足智能型紅外焦平面電路的測試需求,完成對智能型紅外焦平面電路圖像功能測試,滿足典型值。
設(shè)計的智能型紅外焦平面電路液氮成像系統(tǒng)是一套對紅外探測器和紅外焦平面電路性能的驗證與評估系統(tǒng),具有紅外視頻圖像在線監(jiān)測和電路全參數(shù)批量測試的能力。提出了基于單片像元級ADC的多種圖像算法,并對紅外圖像預(yù)處理算法的整體結(jié)構(gòu)進行總結(jié),通過對一款640×512陣列的智能型紅外焦平面電路進行驗證和評估。相信對智能型紅外焦平面領(lǐng)域中,這些極具實用性的研究工作,將會推動未來更大陣列紅外焦平面成像技術(shù)和更加智能的紅外圖像算法的進一步發(fā)展。